Está en la página 1de 15

Informe 1

Practica de laboratorio No 1

Medición directa e indirecta

Medición directa e indirecta

1.1 OBJETIVO

Los objetivos de la presente práctica de laboratorio son las siguientes:

- Familiarizarse con la nomenclatura usada en metrología.


UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta

- Efectuar mediciones simples.

- Identificar los parámetros involucrados en una medición.

- Aprender a consultar las especificaciones de los instrumentos utilizados.

- Efectuar cálculos de errores e incertidumbre de medición.

- Consultar y aplicar la documentación “Guía para Estimar la Incertidumbre de la Medición GUM”

1.2 INTRODUCCION TEORICA

EQUIPOS Y MATERIALES

- Fuentes de tensión.

- Multímetros digitales.

- Placa de montaje o protoboard

- Conductores o conectores.

- Resistencias de 1 kΩ.

PROCEDIMIENTO

MEDICIÓN DIRECTA DE UNA TENSIÓN CONTINUA

Para realizar la medición de tensión aplicando el método directo, considerar el circuito de la


figura1.1.

Figura 1.1 Fuente de Tensión

Importante: A lo largo de la práctica, nunca se debe alterar o ajustar el valor de la fuente de


tensión.

Procedimiento de evaluación y expresión de la incertidumbre


Las etapas a seguir para evaluar y expresar la incertidumbre del resultado de una medición, tal como se
presentan en la Guía, pueden resumirse como sigue:

Cece 2
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta

1) Expresar matemáticamente la relación existente entre el mensurando Y y las magnitudes de entrada Xi de


las que depende Y según Y = f(X1, X2,….., XN). La función f debe contener todas las magnitudes, incluyendo todas
las correcciones y factores de corrección que pueden contribuir significativamente a la incertidumbre del
resultado de medición

2) Determinar xi el valor estimado de la magnitud de entrada Xi, bien a partir del análisis estadístico de una
serie de observaciones, bien por otros métodos

3) Evaluar la incertidumbre típica u(xi) de cada estimación de entrada xi. Para una estimación de entrada
obtenida por análisis estadístico de series de observaciones, la incertidumbre típica se evalúa tal como se
describe en “evaluación Tipo A de la incertidumbre típica”. Para una estimación de entrada obtenida por otros
medios, la incertidumbre típica u(xi) se evalúa tal como se describe en “evaluación Tipo B de la incertidumbre
típica”

4) Evaluar las covarianzas asociadas a todas las estimaciones de entrada que estén correlacionadas. Calcular el
resultado de medición; esto es, la estimación y del mensurando Y, a partir de la relación funcional f utilizando
para las magnitudes de entrada Xi las estimaciones xi obtenidas en el paso 2

6) Determinar la incertidumbre típica combinada uc(y) del resultado de medida y, a partir de las incertidumbres
típicas y covarianzas asociadas a las estimaciones de entrada. Si la medición determina simultáneamente más
de una magnitud de salida, calcular sus covarianzas.

7) Si es necesario dar una incertidumbre expandida U, cuyo fin es proporcionar un intervalo y  U, y + U en el


que pueda esperarse encontrar la mayor parte de la distribución de valores que podrían, razonablemente, ser
atribuidos al mensurando Y, multiplicar la incertidumbre típica combinada uc(y) por un factor de cobertura k,
normalmente comprendido en un margen de valores entre 2 y 3, para obtener U= k uc (y).
Seleccionar k considerando el nivel de confianza requerido para el intervalo.

8) Documentar el resultado de medición y, junto con su incertidumbre típica combinada uc(y), o su


incertidumbre expandida U. Utilizar una de las formas de expresión recomendadas. Describir también, cómo
han sido obtenidos los valores de y y de uc(y) o U.

Registrar los datos en base a las especificaciones de los multímetros seleccionados en las tablas siguientes.

MULTÍMETRRO 1

tipo Digital
Modelo CEI 123
Núm. de dígitos 1
3 D
2
Tención DC

Cece 3
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta

Escala adecuada 20[V]

Resolución 10[mv]
Error limite o ±(0.8%lectura +1D)
exactitud
Impedancia de 10[MΩ]
entrada

MULTÍMETRO 2

tipo Digital
Modelo PM 2518 rms
multímetro
PHILIPS
Núm. de 4D
dígitos
Tención DC
Escala auto escala
adecuada
Resolución 1[mV ]
Error limite E=± ( 1 %lectura+ 0.02%Margen )
o exactitud
Impedancia 10[MΩ]
de entrada

Evaluación tipo A

La incertidumbre de una magnitud de entrada X obtenida a partir de observaciones repetidas bajo condiciones
de repetibilidad, se estima con base en la dispersión de los resultados individuales.
Si V (voltaje) se determina por “n” mediciones independientes, resultando valores v1,v2, …… vn, el mejor
estimado de V es el promedio de vi
n
1
V =v i= ∑v
n i =1 i

La dispersión de los resultados de la medición


v1,v2, …… vn para la magnitud de la entrada V se


n
1
expresa por su desviación estándar S(V )= ∑ (V −V )2
n−1 i=1 i
experimental:

Cece 4
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta

S(V )
ui=u A (v )=
i
√n
Cabe mencionar que n es el número de mediciones
La incertidumbre estándar u(v ) de V se obtiene
i
repetidas para evaluar V según da ecuación para
finalmente mediante el cálculo de la desviación calcular el promedio se determinó por un número
estándar experimental de la media: distinto (y grande) de mediciones.
S (V ) No se puede dar una recomendación general para el
u(v )=S(v)=
i
√n número ideal de las repeticiones n, ya que éste
depende de las condiciones y exigencias (meta para la
Así que resulta que la incertidumbre estándar de V: incertidumbre) de cada medición específica. Hay que
O también llamada incertidumbre tipo A considerar que:
• Aumentar el número de repeticiones resulta en una


n
1 1 reducción de la incertidumbre tipo A, la cual es
u(v )=u A (v )=
i i
√n n−1 ∑ (V i−V )2
1
i=1
proporcional a
√n
Para una medición que se realiza por un método bien • Un número grande de repeticiones aumenta el
caracterizado y bajo condiciones controladas, es tiempo de medición, que puede ser
razonable suponer que la distribución (dispersión) de contraproducente, si las condiciones ambientales u
los vi no cambia, o sea se mantiene prácticamente otras magnitudes de entrada no se mantienen
igual para mediciones realizadas en diferentes días, constantes en este tiempo.
por distintos metrólogos, etc. (esto es, la medición • En pocos casos se recomienda o se requiere n
está bajo control estadístico). En este caso esta mayor de 10 Por ejemplo cuando se caracterizan
componente de la incertidumbre puede ser más instrumentos o patrones, o se hacen mediciones o
confiablemente estimada con la desviación estándar calibraciones de alta exactitud.
S(V ) obtenida de un solo experimento anterior, que • Para determinar el impacto que tiene n en la
con la desviación estándar experimental S(V )obtenida incertidumbre expandida hay que estimar su
por un número n de mediciones, casi siempre influencia en el número de grados efectivos de
pequeño, según la ecuación. libertad
La incertidumbre estándar de la media se estima en
este caso por: Otras fuentes de incertidumbre que se evalúan con
este método son la reproducibilidad y las obtenidas al
hacer una regresión lineal.

EVALUACION TIPO B
- Conocimiento sobre las características o el
Las fuentes de incertidumbre tipo B son cuantificadas comportamiento del sistema de medición.
usando información externa u obtenida por
experiencia. Estas fuentes de información pueden ser: Por conveniencia, los valores u2(xi) y u(xi) así
- Certificados de calibración. evaluados, se denominan respectivamente varianza
- Manuales del instrumento de medición, Tipo B e incertidumbre típica Tipo B.
especificaciones del instrumento.
- Normas o literatura. A partir de las expresiones de los errores
- Valores de mediciones anteriores. correspondientes a los instrumentos utilizados, y

Cece 5
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta

empleando el promedio de los valores medidos de


tensión y corriente, se tiene: Considerando además una distribución de
probabilidad rectangular, como situación más
Einstrumentro=Evoltímetro=EV=±(0.8%lectura +1D) desfavorable que no siempre es cierta, la
incertidumbre a causa del error del instrumento de
(Dato del multímetro Einstrumentro=Evoltímetro=EV= es el medición es:
error del instrumento)
E instrumrnto Evoltimetro
u(Error) = =
Por otra parte, la resolución de cada uno de ellos es: √3 √3
Resinstrumrnto
Para determinar ahora la incertidumbre típica de
La resolución es la más mínima magnitud que el Tipo B, se recurre a los coeficientes de sensibilidad C i
instrumento de medición puede mostrar en su data empleando para su cálculo el promedio de los valores
displey medidos de tensión y corriente, serán:
Incertidumbre a causa de la resolución del ∂Y
instrumento de medición C i=
∂ Xi
Resinstrumento Resolucion
Entonces la incertidumbre típica de Tipo B, será:
2 2
u(Res) = =
√3 √3

u B=± C2i [ u2( Erro) +u2( Res ) ] +C2i +1 [ u 2( Erro) +u2( Res )]

Incertidumbre típica de la estimación de salida


Considerando ahora todas las contribuciones a la incertidumbre típica (Tipo A y Tipo B), podemos escribir:

u( Y )=√ u A (Y )+u B (Y )
2 2

Nota: observar que el cálculo precedente podría haberse obviado, dado que, para este ejercicio, la
contribución a la incertidumbre típica de Tipo A es despreciable frente a la de Tipo B

Incertidumbre expandida de medida


La incertidumbre expandida de medida U, se calcula multiplicando la incertidumbre típica u(y) de la estimación
de salida y por un factor de cobertura k.

Cece 6
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta

U =k∗u(Y )

Cuando se puede atribuir una distribución normal (gaussiana) a la magnitud medida y la incertidumbre típica
asociada a la estimación de salida tiene la suficiente fiabilidad, el factor de cobertura más utilizado es k=2. La
incertidumbre expandida asociada corresponde a una probabilidad de cobertura de, aproximadamente, un
95%.
-El número de grados de libertad vi para la
La hipótesis de una distribución normal no siempre componente de incertidumbre de Tipo A, (n-1), es
puede confirmarse experimentalmente con facilidad. igual a 5.

Sin embargo, cuando varios componentes de la - El número de grados de libertad vi para las
incertidumbre (por ejemplo, N > 3), derivados de componentes de incertidumbre de Tipo B es infinito (
distribuciones de probabilidad bien definidas de ∞ ).
magnitudes independientes (por ejemplo,
distribuciones normales o rectangulares), realizan Con lo cual ya estamos en condiciones de calcular el
contribuciones comparables a la incertidumbre típica número efectivo de grados de libertad, vi empleando
asociada a la estimación de salida, se cumplen las la expresión de Welch-Satterhwaite
condiciones del Teorema del Límite Central y puede
suponerse, con un elevado grado de aproximación, 4
u(Y )
que la distribución de la estimación de salida es v eff = 4
normal.
N
u
∑ vi(Y )
i=1 i
Según lo visto, para determinar la incertidumbre
expandida de medida para este caso, se deberá Donde: vi Es el número de grados de libertad para la
determinar el factor de cobertura k que asegure,
componente de incertidumbre de Tipo A.
según lo pedido en el enunciado del ejercicio, un
Y es igual a (n-1)
intervalo de confianza de aproximadamente el 95 %.
Para ello, según lo visto antes, se tendrán en cuenta
Por lo que, para una probabilidad de cobertura (p) del
las siguientes consideraciones:
95 % e ∞ grados de libertad, se obtiene un factor de
cobertura k (t p ( V ) )=1.96 según la tabla

Cece 7
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta

Y considerando el factor de cobertura obtenido, k=1,96, la incertidumbre expandida asociada será:

U =k∗u(Y )

Por lo que, el resultado de la medición, expresado de la forma presentada en el punto 5, (y ± U), será:

Cece 8
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta

Evaluación tipo “B”: U =±0,103990


Error limite o exactitud según los datos que Y =Y ± U
proporciona en fabricante del instrumento de
medición Por lo que, el resultado de la medición, expresado en
la forma presentada será:
E=± ( 100
0.8
∗V )+1 D
Y =Y ± U
Donde E es el error límite o exactitud del instrumento
V = ( 9.99± 0,103990 ) [v ]
de medición, entonces:

E=± ( 100
0.8
∗9.99[v ] ) +1 [ 10 x 10
−3
]

E=± 0.08992 Calculo de la medición del multímetro No2

Error limite o exactitud E=± 0.08992 Evaluación tipo “A”:

El mejor estimador de incertidumbre típica u(V ) se i

obtiene de del cálculo de la:

Desviación estándar experimental = S(V ) de la


muestra, Y el tamaño de muestra “n” según las
Incertidumbre a causa del Error limite o exactitud siguientes ecuaciones:


n
1
E 0.08992
S(V )= ∑
n−1 i=1
(V i −V )
2

u(Error) = = =¿
√3 √3 S(V )
u(Error) =0.051915 u A (v )=
i
√n
Incertidumbre a causa de la resolución del Entonces:
instrumento de medición
Resinstrumento Resolucion
2 2
u(Res) = =
√3 √3
−3
10 ×10
2
u(Res) = =2.8868 ×10−3
√3

Para determinar ahora la incertidumbre típica de


Tipo B, se recurre a:
Los coeficientes de sensibilidad C i empleando para
su cálculo el promedio de los valores medidos de
tensión y corriente, serán:

Cece 9
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta

E=± ( 1001 9.9947 [v ]+ 5000


2
10[v ] )

Error limite o exactitud E=± 0.103947

Incertidumbre a causa del Error limite o exactitud

E 0.103947
u(Error) =S ( X )= = =¿
I
√3 √3
u(Error) =0.060014

Incertidumbre a causa de la resolución del


instrumento de medición

Resinstrumento Resolucion
Incertidumbre tipo A
2 2
u(Res) = =
S(V ) √3 √3
u A (V ) =
√n
1[mV ]
2 −3
u(Res) = =0.288675 ×10
u A (V ) =
2.52825
=7,99504 ×10
−35 √3
√10
Para determinar ahora la incertidumbre típica de
Evaluación tipo “B”: Tipo B, se recurre a:

Error limite o exactitud según los datos que Los coeficientes de sensibilidad C i empleando para
proporciona en fabricante del instrumento de su cálculo el promedio de los valores medidos de
medición tensión y corriente, serán:
E=± ( 1 %lectura+ 0.02%Margen )
∂Y
C i=
Donde E es el error límite o exactitud del instrumento ∂ Xi
de medición, entonces: En el caso v=v

E=± ( 1001 lectura+ 5000


2
Margen ) C i=
∂Y
∂ Xi
=1
Entonces la incertidumbre típica de Tipo B, será:
E=± ( 1
100
Promedio+
2
5000
Margen )
Remplazando valores:

u B=± Ci [ u( Erro) +u( Res ) ]
2 2 2

Cece 10
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta

u B=± √ 1[(0.060014)2 +( 0.288675× 10−3 )2 ]


Y =Y ± U

V = ( 9.9947 ±0.12003 ) [v ]
u B=± 0.060015

Incertidumbre típica de la estimación de salida En conclusión


Considerando ahora todas las contribuciones a la
incertidumbre típica (Tipo A y Tipo B), podemos Multímetro No1
escribir: V = ( 9.99± 0,103990 ) [v ]

u( V ) =√ u 2A (Y ) +u2B(Y ) Multímetro No2


V = ( 9.9947 ±0.12003 ) [v ]
u( V ) =√ (7,99504 ×10
−35 2 2
) +(± 0.060015)
El multímetro No1 es el más preciso aunque la
u( V ) =±0.060015 diferencia no es demasiada, en todo caso ambos
multímetros tienen una excelente precisión
Nota: observar que el cálculo precedente podría
haberse obviado, dado que, para este ejercicio, la
contribución a la incertidumbre típica de Tipo A es
despreciable frente a la de Tipo B.

Incertidumbre expandida de medida


La incertidumbre expandida de medida U, se calcula
multiplicando la incertidumbre típica u(y) de la
estimación de salida y por un factor de cobertura k.

U =k∗u(Y )

Cuando se puede atribuir una distribución normal


(gaussiana) a la magnitud medida y la incertidumbre
Calculo de la medición del multímetro No1
típica asociada a la estimación de salida tiene la
suficiente fiabilidad, el factor de cobertura más Evaluación tipo “A”:
utilizado es k=2. La incertidumbre expandida asociada
corresponde a una probabilidad de cobertura de, El mejor estimador de incertidumbre típica u(V ) se i

aproximadamente, un 95%. obtiene de del cálculo de la:

U =2∗(± 0.060015) Desviación estándar experimental = S(V ) de la


muestra. Y el tamaño de muestra “n” según las
U =±0.12003 siguientes ecuaciones:


n
1
n−1 ∑
2
S(V )= (V i −V )
Por lo que, el resultado de la medición, expresado en i=1

la forma presentada será:

Cece 11
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta

S(V ) tipo Digital


u A (v )= =0,01621562[V ] Modelo CEI 123
i
√n
Núm. de 1
3 D
dígitos 2
Modo DC
Amperím VOLT
amperímetro
No ഥሻ૛
ሺࢂ࢏ െࢂ
etro 1
R [Ω]
[V] ഥ
ࢂ࢏ െࢂ Escala 200[mA ]
1 0,00992 993 9,851 -0,005958 0,00003550 adecuada
2 0,00992 993 9,851 -0,005958 0,00003550 Resolución 10[uA ]
3 0,00992 993 9,851 -0,005958 0,00003550 Error limite o ±(1 %rdg+3 D)
4 0,00992 993 9,851 -0,005958 0,00003550 exactitud
5 0,00993 993 9,86 0,003972 0,00001578 Impedancia
6 0,00993 993 9,86 0,003972 0,00001578 de entrada
7 0,00993 993 9,86 0,003972 0,00001578
8 0,00993 993 9,86 0,003972 0,00001578
9 0,00993 993 9,86 0,003972 0,00001578
10 0,00993 993 9,86 0,003972 0,00001578 Evaluación tipo “B”:


ࢂ Error limite o exactitud según los datos que
0,009926 993 ഥሻ૛ 0,00023665
9,857 ෍ ሺࢂ࢏ െࢂ
‫ܣ‬ҧ proporciona en fabricante del instrumento de
࢏ୀ૚
medición
ࡿሺࢂሻ=

ഥሻ૛ ൌ
σ ࢔ ૚ሺࢂ࢏ െࢂ 0,00512783
࢔െ૚ ࢏ൌ E=±(1%rdg+ 3 D)
ࡿ Donde E es el error límite o exactitud del instrumento
‫ۯ ܝ‬ሺ‫ܑܞ‬ሻ ൌሺࢂሻ 0,001621562
૚૙ de medición, entonces:

E=±
(( 1
100 )
∗9.926[mA ] +3 ( 10[uA])
)
E=129,26[uA]
Error limite o exactitud E=129,26[uA]

Incertidumbre a causa del Error limite o exactitud

E 129,26[uA]
u(Error) = = =¿
√3 √3
u(Error) =74,6282958[uA ]

Incertidumbre a causa de la resolución del


instrumento de medición

Cece 12
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta

contribución a la incertidumbre típica de Tipo A es


Resinstrumento Resolucion despreciable frente a la de Tipo B.
2 2
u(Res) = = Incertidumbre expandida de medida
√3 √3 La incertidumbre expandida de medida U, se calcula
−6
multiplicando la incertidumbre típica u(y) de la
10 ×10 estimación de salida y por un factor de cobertura k.
2 −6
u(Res) = =2.8868 ×10
√3 U =k∗u(Y )

Cuando se puede atribuir una distribución normal


(gaussiana) a la magnitud medida y la incertidumbre
Para determinar ahora la incertidumbre típica de
típica asociada a la estimación de salida tiene la
Tipo B, se recurre a:
suficiente fiabilidad, el factor de cobertura más
Los coeficientes de sensibilidad C i empleando para
utilizado es k=2. La incertidumbre expandida asociada
su cálculo el promedio de los valores medidos de corresponde a una probabilidad de cobertura de,
tensión y corriente, serán: aproximadamente, un 95%.
∂Y ∂ V
C i= = =993 [Ω ] U =2∗(± 0,075923[V ])
∂ X i ∂ Ii
U =±0,15184575

Entonces la incertidumbre típica de Tipo B, será:

Por lo que, el resultado de la medición,



u B=± Ci [ u( Erro) +u( Res ) ]
2 2 2
expresado en la forma presentada será:

Y =Y ± U
u B=± √ (993 [Ω ])2 [(74,6282958 [uA ])2+(2.8868[uA])2 ]

u B=± 0,074161[V ]
V = ( 9,857 ±0,15184575 ) [V ]

Incertidumbre típica de la estimación de salida


Considerando ahora todas las contribuciones a la
incertidumbre típica (Tipo A y Tipo B), podemos
escribir:

u( V ) =√ u A (Y ) +u B(Y )
2 2

u( V ) =√ (0,01621562[V ])2 +(0,074161[V ])2

u( V ) =±0,075923 [V ]

Nota: observar que el cálculo precedente podría


haberse obviado, dado que, para este ejercicio, la

Cece 13
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta

Error limite o exactitud según los datos que


proporciona en fabricante del instrumento de
Calculo de la medición del multímetro No2
medición
Evaluación tipo “A”:
E=± ( 0.5%L+ 0.1%M )
El mejor estimador de incertidumbre típica u(V ) se i
Donde
obtiene de del cálculo de la:
L= lectura, M=margen o escala
Desviación estándar experimental = S(V ) de la
Donde E es el error límite o exactitud del instrumento
muestra. Y el tamaño de muestra “n” según las
de medición, entonces:
siguientes ecuaciones:

S(V )=
1
√ ∑ (V −V )2
n−1 i=1 i
n
E=± (( 100
0.5
∗10,7 [mA ])+
1
100
(20 [mA ])
)
E=0,2535[mA]
S(V )
u A (v )= =0.122801[V ]
i
√n Error limite o exactitud E=0,2535[mA ]

Amperímet R ഥሻ૛
ሺࢂ࢏ െࢂ Incertidumbre a causa del Error limite o Exactitud
No [V] ഥ
ࢂ࢏ െࢂ
ro 1 [Ω]
1 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077 E 0,2535[mA ]
u(Error) = = =0.14635[mA ]
2 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077 √3 √3
3 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077
4 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077 u(Error) =0.14635[mA ]
5 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077
6 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077 Incertidumbre a causa de la resolución del
7 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077 instrumento de medición
8 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077
9 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077 Resinstrumento Resolucion
10 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077
2 2


࢔ u(Res) = =
‫ܣ‬ҧ 0,0107 ഥሻ૛ 1,35720770
993 10,6251 ෍ ሺࢂ࢏ െࢂ √3 √3
࢏ୀ૚

૚ ࢔ ഥ ૛ 10 ×10−6
ࡿሺࢂሻ= σ࢏ൌ૚ሺࢂ࢏ െࢂሻ ൌ
0,38833086
࢔െ૚ 2 −6
u(Res) = =2.8868 ×10

‫ۯ ܝ‬ሺ‫ܑܞ‬ሻ ൌሺࢂሻ 0,122801
√3
૚૙

Para determinar ahora la incertidumbre típica de


Tipo B, se recurre a:
Los coeficientes de sensibilidad C i empleando para
su cálculo el promedio de los valores medidos de
tensión y corriente, serán:

Evaluación tipo “B”:

Cece 14
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta

∂Y ∂ V
C i= = =993 [Ω ]
∂ X i ∂ Ii U =2∗(± 0.1902835063[ A ])

U =±0.3805670126 [ A ]¿
Entonces la incertidumbre típica de Tipo B, será:


u B=± C2i [ u2( Erro) +u2( Res ) ] Por lo que, el resultado de la medición,
expresado en la forma presentada será:

u B=± √ (993 [Ω ])2 [(0.14635[mA ])2+(2.8868[uA])2 ] Y =Y ± U

u B=± 0,14535381[V ]
V = (10,6251 ± 0.3805670126 ) [V ]

Incertidumbre típica de la estimación de salida


Considerando ahora todas las contribuciones a la
incertidumbre típica (Tipo A y Tipo B), podemos
escribir:

u( V ) =√ u A (Y ) +u B(Y )
2 2

u( V ) =√ (0.122801[V ]) +(0,1453538[ V ])
2 2

u( V ) =±0.1902835063 [ A]

Nota: observar que el cálculo precedente podría


haberse obviado, dado que, para este ejercicio, la
contribución a la incertidumbre típica de Tipo A es
despreciable frente a la de Tipo B.

Incertidumbre expandida de medida


La incertidumbre expandida de medida U, se calcula
multiplicando la incertidumbre típica u(y) de la
estimación de salida y por un factor de cobertura k.

U =k∗u(Y )

Cuando se puede atribuir una distribución normal


(gaussiana) a la magnitud medida y la incertidumbre
típica asociada a la estimación de salida tiene la
suficiente fiabilidad, el factor de cobertura más
utilizado es k=2. La incertidumbre expandida asociada
corresponde a una probabilidad de cobertura de,
aproximadamente, un 95%.

Cece 15

También podría gustarte