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Practica de laboratorio No 1
1.1 OBJETIVO
EQUIPOS Y MATERIALES
- Fuentes de tensión.
- Multímetros digitales.
- Conductores o conectores.
- Resistencias de 1 kΩ.
PROCEDIMIENTO
Cece 2
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta
2) Determinar xi el valor estimado de la magnitud de entrada Xi, bien a partir del análisis estadístico de una
serie de observaciones, bien por otros métodos
3) Evaluar la incertidumbre típica u(xi) de cada estimación de entrada xi. Para una estimación de entrada
obtenida por análisis estadístico de series de observaciones, la incertidumbre típica se evalúa tal como se
describe en “evaluación Tipo A de la incertidumbre típica”. Para una estimación de entrada obtenida por otros
medios, la incertidumbre típica u(xi) se evalúa tal como se describe en “evaluación Tipo B de la incertidumbre
típica”
4) Evaluar las covarianzas asociadas a todas las estimaciones de entrada que estén correlacionadas. Calcular el
resultado de medición; esto es, la estimación y del mensurando Y, a partir de la relación funcional f utilizando
para las magnitudes de entrada Xi las estimaciones xi obtenidas en el paso 2
6) Determinar la incertidumbre típica combinada uc(y) del resultado de medida y, a partir de las incertidumbres
típicas y covarianzas asociadas a las estimaciones de entrada. Si la medición determina simultáneamente más
de una magnitud de salida, calcular sus covarianzas.
Registrar los datos en base a las especificaciones de los multímetros seleccionados en las tablas siguientes.
MULTÍMETRRO 1
tipo Digital
Modelo CEI 123
Núm. de dígitos 1
3 D
2
Tención DC
Cece 3
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta
Resolución 10[mv]
Error limite o ±(0.8%lectura +1D)
exactitud
Impedancia de 10[MΩ]
entrada
MULTÍMETRO 2
tipo Digital
Modelo PM 2518 rms
multímetro
PHILIPS
Núm. de 4D
dígitos
Tención DC
Escala auto escala
adecuada
Resolución 1[mV ]
Error limite E=± ( 1 %lectura+ 0.02%Margen )
o exactitud
Impedancia 10[MΩ]
de entrada
Evaluación tipo A
La incertidumbre de una magnitud de entrada X obtenida a partir de observaciones repetidas bajo condiciones
de repetibilidad, se estima con base en la dispersión de los resultados individuales.
Si V (voltaje) se determina por “n” mediciones independientes, resultando valores v1,v2, …… vn, el mejor
estimado de V es el promedio de vi
n
1
V =v i= ∑v
n i =1 i
√
n
1
expresa por su desviación estándar S(V )= ∑ (V −V )2
n−1 i=1 i
experimental:
Cece 4
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta
S(V )
ui=u A (v )=
i
√n
Cabe mencionar que n es el número de mediciones
La incertidumbre estándar u(v ) de V se obtiene
i
repetidas para evaluar V según da ecuación para
finalmente mediante el cálculo de la desviación calcular el promedio se determinó por un número
estándar experimental de la media: distinto (y grande) de mediciones.
S (V ) No se puede dar una recomendación general para el
u(v )=S(v)=
i
√n número ideal de las repeticiones n, ya que éste
depende de las condiciones y exigencias (meta para la
Así que resulta que la incertidumbre estándar de V: incertidumbre) de cada medición específica. Hay que
O también llamada incertidumbre tipo A considerar que:
• Aumentar el número de repeticiones resulta en una
√
n
1 1 reducción de la incertidumbre tipo A, la cual es
u(v )=u A (v )=
i i
√n n−1 ∑ (V i−V )2
1
i=1
proporcional a
√n
Para una medición que se realiza por un método bien • Un número grande de repeticiones aumenta el
caracterizado y bajo condiciones controladas, es tiempo de medición, que puede ser
razonable suponer que la distribución (dispersión) de contraproducente, si las condiciones ambientales u
los vi no cambia, o sea se mantiene prácticamente otras magnitudes de entrada no se mantienen
igual para mediciones realizadas en diferentes días, constantes en este tiempo.
por distintos metrólogos, etc. (esto es, la medición • En pocos casos se recomienda o se requiere n
está bajo control estadístico). En este caso esta mayor de 10 Por ejemplo cuando se caracterizan
componente de la incertidumbre puede ser más instrumentos o patrones, o se hacen mediciones o
confiablemente estimada con la desviación estándar calibraciones de alta exactitud.
S(V ) obtenida de un solo experimento anterior, que • Para determinar el impacto que tiene n en la
con la desviación estándar experimental S(V )obtenida incertidumbre expandida hay que estimar su
por un número n de mediciones, casi siempre influencia en el número de grados efectivos de
pequeño, según la ecuación. libertad
La incertidumbre estándar de la media se estima en
este caso por: Otras fuentes de incertidumbre que se evalúan con
este método son la reproducibilidad y las obtenidas al
hacer una regresión lineal.
EVALUACION TIPO B
- Conocimiento sobre las características o el
Las fuentes de incertidumbre tipo B son cuantificadas comportamiento del sistema de medición.
usando información externa u obtenida por
experiencia. Estas fuentes de información pueden ser: Por conveniencia, los valores u2(xi) y u(xi) así
- Certificados de calibración. evaluados, se denominan respectivamente varianza
- Manuales del instrumento de medición, Tipo B e incertidumbre típica Tipo B.
especificaciones del instrumento.
- Normas o literatura. A partir de las expresiones de los errores
- Valores de mediciones anteriores. correspondientes a los instrumentos utilizados, y
Cece 5
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta
u( Y )=√ u A (Y )+u B (Y )
2 2
Nota: observar que el cálculo precedente podría haberse obviado, dado que, para este ejercicio, la
contribución a la incertidumbre típica de Tipo A es despreciable frente a la de Tipo B
Cece 6
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U =k∗u(Y )
Cuando se puede atribuir una distribución normal (gaussiana) a la magnitud medida y la incertidumbre típica
asociada a la estimación de salida tiene la suficiente fiabilidad, el factor de cobertura más utilizado es k=2. La
incertidumbre expandida asociada corresponde a una probabilidad de cobertura de, aproximadamente, un
95%.
-El número de grados de libertad vi para la
La hipótesis de una distribución normal no siempre componente de incertidumbre de Tipo A, (n-1), es
puede confirmarse experimentalmente con facilidad. igual a 5.
Sin embargo, cuando varios componentes de la - El número de grados de libertad vi para las
incertidumbre (por ejemplo, N > 3), derivados de componentes de incertidumbre de Tipo B es infinito (
distribuciones de probabilidad bien definidas de ∞ ).
magnitudes independientes (por ejemplo,
distribuciones normales o rectangulares), realizan Con lo cual ya estamos en condiciones de calcular el
contribuciones comparables a la incertidumbre típica número efectivo de grados de libertad, vi empleando
asociada a la estimación de salida, se cumplen las la expresión de Welch-Satterhwaite
condiciones del Teorema del Límite Central y puede
suponerse, con un elevado grado de aproximación, 4
u(Y )
que la distribución de la estimación de salida es v eff = 4
normal.
N
u
∑ vi(Y )
i=1 i
Según lo visto, para determinar la incertidumbre
expandida de medida para este caso, se deberá Donde: vi Es el número de grados de libertad para la
determinar el factor de cobertura k que asegure,
componente de incertidumbre de Tipo A.
según lo pedido en el enunciado del ejercicio, un
Y es igual a (n-1)
intervalo de confianza de aproximadamente el 95 %.
Para ello, según lo visto antes, se tendrán en cuenta
Por lo que, para una probabilidad de cobertura (p) del
las siguientes consideraciones:
95 % e ∞ grados de libertad, se obtiene un factor de
cobertura k (t p ( V ) )=1.96 según la tabla
Cece 7
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta
U =k∗u(Y )
Por lo que, el resultado de la medición, expresado de la forma presentada en el punto 5, (y ± U), será:
Cece 8
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta
E=± ( 100
0.8
∗9.99[v ] ) +1 [ 10 x 10
−3
]
√
n
1
E 0.08992
S(V )= ∑
n−1 i=1
(V i −V )
2
u(Error) = = =¿
√3 √3 S(V )
u(Error) =0.051915 u A (v )=
i
√n
Incertidumbre a causa de la resolución del Entonces:
instrumento de medición
Resinstrumento Resolucion
2 2
u(Res) = =
√3 √3
−3
10 ×10
2
u(Res) = =2.8868 ×10−3
√3
Cece 9
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta
E 0.103947
u(Error) =S ( X )= = =¿
I
√3 √3
u(Error) =0.060014
Resinstrumento Resolucion
Incertidumbre tipo A
2 2
u(Res) = =
S(V ) √3 √3
u A (V ) =
√n
1[mV ]
2 −3
u(Res) = =0.288675 ×10
u A (V ) =
2.52825
=7,99504 ×10
−35 √3
√10
Para determinar ahora la incertidumbre típica de
Evaluación tipo “B”: Tipo B, se recurre a:
Error limite o exactitud según los datos que Los coeficientes de sensibilidad C i empleando para
proporciona en fabricante del instrumento de su cálculo el promedio de los valores medidos de
medición tensión y corriente, serán:
E=± ( 1 %lectura+ 0.02%Margen )
∂Y
C i=
Donde E es el error límite o exactitud del instrumento ∂ Xi
de medición, entonces: En el caso v=v
Cece 10
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V = ( 9.9947 ±0.12003 ) [v ]
u B=± 0.060015
U =k∗u(Y )
√
n
1
n−1 ∑
2
S(V )= (V i −V )
Por lo que, el resultado de la medición, expresado en i=1
Cece 11
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E=±
(( 1
100 )
∗9.926[mA ] +3 ( 10[uA])
)
E=129,26[uA]
Error limite o exactitud E=129,26[uA]
E 129,26[uA]
u(Error) = = =¿
√3 √3
u(Error) =74,6282958[uA ]
Cece 12
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Y =Y ± U
u B=± √ (993 [Ω ])2 [(74,6282958 [uA ])2+(2.8868[uA])2 ]
u B=± 0,074161[V ]
V = ( 9,857 ±0,15184575 ) [V ]
u( V ) =√ u A (Y ) +u B(Y )
2 2
u( V ) =±0,075923 [V ]
Cece 13
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S(V )=
1
√ ∑ (V −V )2
n−1 i=1 i
n
E=± (( 100
0.5
∗10,7 [mA ])+
1
100
(20 [mA ])
)
E=0,2535[mA]
S(V )
u A (v )= =0.122801[V ]
i
√n Error limite o exactitud E=0,2535[mA ]
Amperímet R ഥሻ
ሺࢂ െࢂ Incertidumbre a causa del Error limite o Exactitud
No [V] ഥ
ࢂ െࢂ
ro 1 [Ω]
1 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077 E 0,2535[mA ]
u(Error) = = =0.14635[mA ]
2 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077 √3 √3
3 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077
4 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077 u(Error) =0.14635[mA ]
5 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077
6 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077 Incertidumbre a causa de la resolución del
7 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077 instrumento de medición
8 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077
9 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077 Resinstrumento Resolucion
10 0,0107 993 10,6251 0,368403 0,13572077
2 2
ഥ
ࢂ
u(Res) = =
ܣҧ 0,0107 ഥሻ 1,35720770
993 10,6251 ሺࢂ െࢂ √3 √3
ୀ
ഥ 10 ×10−6
ࡿሺࢂሻ= σൌሺࢂ െࢂሻ ൌ
0,38833086
െ 2 −6
u(Res) = =2.8868 ×10
ࡿ
ۯ ܝሺܑܞሻ ൌሺࢂሻ 0,122801
√3
Cece 14
UMSS – FCyT – Ingeniería Electrónica Medidas Electrónicas: Medición directa e indirecta
∂Y ∂ V
C i= = =993 [Ω ]
∂ X i ∂ Ii U =2∗(± 0.1902835063[ A ])
U =±0.3805670126 [ A ]¿
Entonces la incertidumbre típica de Tipo B, será:
√
u B=± C2i [ u2( Erro) +u2( Res ) ] Por lo que, el resultado de la medición,
expresado en la forma presentada será:
u B=± 0,14535381[V ]
V = (10,6251 ± 0.3805670126 ) [V ]
u( V ) =√ u A (Y ) +u B(Y )
2 2
u( V ) =√ (0.122801[V ]) +(0,1453538[ V ])
2 2
u( V ) =±0.1902835063 [ A]
U =k∗u(Y )
Cece 15