En la siguiente tabla se muestran el número de disconformidades observados en 26 muestras

sucesivas de 100 tarjetas de circuitos impresos construir la grafica de control C o defectos por m

Límite Límite Límite

Muestra Defectos
Inferior Central Superior
1 16 6.33 19.62 32.90
2 18 6.33 19.62 32.90
3 12 6.33 19.62 32.90
4 15 6.33 19.62 32.90
5 21 6.33 19.62 32.90
6 5 6.33 19.62 32.90
7 28 6.33 19.62 32.90
8 20 6.33 19.62 32.90
9 31 6.33 19.62 32.90
10 25 6.33 19.62 32.90
11 20 6.33 19.62 32.90
12 24 6.33 19.62 32.90
13 16 6.33 19.62 32.90
14 19 6.33 19.62 32.90
15 10 6.33 19.62 32.90 Grafica
16 17 6.33 19.62 32.90
17 13 6.33 19.62 32.90 45
18 22 6.33 19.62 32.90 40
19 18 6.33 19.62 32.90 35
30
20 39 6.33 19.62 32.90
25
21 30 6.33 19.62 32.90 20
22 24 6.33 19.62 32.90 15
23 16 6.33 19.62 32.90 10
24 19 6.33 19.62 32.90 5
25 17 6.33 19.62 32.90 0
1 2 3 4 5 6
26 15 6.33 19.62 32.90
510 Colum
observados en 26 muestras
de control C o defectos por muestra

Respuestas de la pregunta 1

S 4.43
LIC 6.33
LC 19.62
LSC 32.90

Grafica de control de las disconformidades de

circuitos impresos
45
40
35
30
25
20
15
10
5
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26

Column C Column D Column E Column F

Se puede observar en la grafica que se encuentra fuera de control.