UNIVERIDAD DE ORIENTE

ESCUELA DE CIENCIAS APLICADAS E INGENIERIA

DEPARTAMENTO DE MECANICA
NUCLEO BARCELONA

LABORATORIO DE INGENIERIA MECANICA II

ASIGNACION
Practica No.1
María Osuna, CI 26.756.178

1) Que normas ASTM y COVENIN establecen las pautas paras: A) Preparación de

muestras para estudio metalográfico. B) Determinación de inclusiones no metálicas
en los aceros. C) Determinación del tamaño de grano en aceros, otros metales y
aleaciones específicas.

 ASTM E3 “Preparación metalográfica”- Norma COVENIN 2608-89

 ASTM E45 “Determinación de fracción de inclusiones en acero”-Norma
COVENIN 2608-89
 ASTM E112 “Método de prueba estándar para la determinación de tamaño de
grano”-Norma COVENIN 2169
 ASTM E1382 “Métodos de ensayo para la determinación de tamaño de grano
medio, utilizando semiautomática y automática de análisis de imágenes

2) ¿Cuál es el significado de los números indicados en los papeles de lija de carburo de

silicio? ¿Cómo se designa este número?

El numero indica el tamaño de grano y se designan con la cantidad de divisiones por

pulgada lineal que tiene el tamiz con el cual se ha obtenido.
 3) Indique cuatro tipos de abrasivos distintos cuyo uso sea común en las etapas de
preparación metalográfica.

 Nital, solución de alcohol y ácido nítrico.

 Oxido de aluminio (Al2O3)
 Silicio amorfo en suspensión coloidal (Si02)
 Brisol

4) Diferencias entre pulidoras de lija y pulidoras de paño.

Pulidora de lija Pulidora de paño

Es más abrasiva, su acabado es más rugoso Se utilizar para eliminar capas de
y es utilizada para eliminar o corregir deformación superficial y exponer la
irregularidades en la superficie. estructura del material.

5) ¿Qué es una micromarca? ¿Cuál es su uso en el análisis metalográfico?

Es una herramienta de medición que sirve para establecer condiciones de un material. Estas
condiciones pueden ser: dureza, resistencia, tamaño, entre otros.

6) Describa el principio de funcionamiento, partes importantes, limitaciones y usos de

los siguientes equipos:

Lupa estereográfica
Consta de una de sólo una lente biconvexa o plano- convexa, que proporciona una
amplitud moderada del objeto.
Microscopio óptico
 El principio de funcionamiento de un microscopio óptico se basa en la propiedad de
algunos materiales que permiten cambiar la dirección de los rayos de luz. Con este
fin, se fabrican lentes capaces de hacer converger o divergir los rayos de luz,
generando así la imagen aumentada a partir de distintas lentes. Algunas de ellas
montadas en el objetivo del microscopio y otras en el ocular.
 Ocular: lente situada cerca del ojo del observador. Capta y amplía la imagen
formada en los objetivos.
 Objetivo: lente situada en el revólver. Amplía la imagen, es un elemento vital que
permite ver a través de los oculares.
  Cabezal: es la cabeza del microscopio que te permite obtener mejores tomas del
objetivo.
 Condensador: lente que concentra los rayos luminosos sobre la preparación.
 Diafragma: regula la cantidad de luz que llega al condensador.
 Foco: dirige los rayos luminosos hacia el condensador.
 Tubo: es la cámara oscura que porta el ocular y los objetivos. Puede estar unida al
brazo mediante una cremallera para permitir el enfoque.
 Revólver: Es el sistema que porta los objetivos de diferentes aumentos, y que rota
para poder utilizar uno u otro, alineándolos con el ocular.
 Tornillos macro y micrométrico: Son tornillos de enfoque, mueven la platina o el
tubo hacia arriba y hacia abajo. El macrométrico, permite desplazamientos amplios
para un enfoque inicial y el micrométrico, desplazamientos muy cortos, para el
enfoque más preciso. Pueden llevar incorporado un mando de bloqueo que fija la
platina o el tubo a una determinada altura.
 Platina: Es una plataforma horizontal con un orificio central, sobre el que se coloca
la preparación, que permite el paso de los rayos procedentes de la fuente de
iluminación situada por debajo.
 Pinzas sujetadoras: Dos pinzas, sirven para retener el portaobjetos sobre la platina
y un sistema de cremallera que permite mover la preparación. Puede estar fija o
unida al brazo por una cremallera para permitir el enfoque.
 Brazo: Es la estructura que sujeta el tubo, la platina y los tornillos de enfoque
asociados al tubo o a la platina. La unión con la base puede ser articulada o fija.
 Base o pie: Es la parte inferior del microscopio que permite que este se mantenga
de pie.
El microscopio óptico es utilizado para examinar el aspecto y características
morfológicas de una muestra con mayor detalle, pero existen algunas limitaciones en su
uso.
Cuando un microscopio óptico con la luz transmitida, se utiliza en los aumentos muy
elevados, la imagen de los objetos del punto puede ser torcida. Pueden ser vistos como
discos confusos que sean rodeados por los anillos de difracción, conocidos como discos
airosos. Estos anillos limitan la capacidad del microscopio óptico de resolver los detalles
finos de la muestra.
El microscopio óptico tiene un aumento superior y una vista superfical pobre, en
comparación con un microscopio electrónico de barrido.
Microscopio electrónico de barrido (MEB)
Es un tipo de microscopio electrónico capaz de producir imágenes de alta resolución de
la superficie de una muestra, utilizando las interacciones electron-materia. Aplica un haz de
electrones en lugar de una de luz para formar una imagen.
 La muestra generalmente se recubre con una capa de carbono o una capa delgada de un
metal, como el oro, para darle carácter conductor. Posteriormente se barre la superficie con
electrones acelerados que viaja a través del canon. Un detector formado por los lentes,
basados en electroimanes, mide la cantidad e intensidad de los electrones que devuelve la
muestra, siendo capaz de mostrar figuras en tres dimensiones mediante imagen digital.
Con él se pueden observar los aspectos morfológicos de zonas microscópicas de
diversos materiales, además del procesamiento y análisis de imágenes obtenidas. Posee una
gran profundidad de campo, que permite enfocar gran parte de la muestra y produce
imágenes de alta resolución, de forma que las características más ínfimas de la muestra,
pueden ser examinadas con gran amplificación.
 Cañón de electrones: de aquí salen los electrones acelerados.
 Ánodo: parte del cañón de electrones que acelera los electrones emitidos desde el
cátodo por medio de un gran potencial positivo que los atrae.
 Diafragma concentrador: regula el paso de electrones hacia las lentes.
 Bobinas de alineamiento: alinea el tamaño del objetivo.
 Lente condensador 1: enfoca los electrones hacia el objetivo.
 Lente condensador 2: enfoca los electrones a mayor intensidad hacia el objetivo
reduciendo la imagen del filamento otorgando una mejor resolución.
 Stigmator: enfoca la muestra, reduciendo el astigmatismo.
 Bobinas deflectoras: barre un fino haz de electrones sobre la muestra punto por
punto y línea por línea.
 Detector de electrones secundarios: otorga resolución a la imagen reflectando los
electrones.
 Lente condensador 3: enfoca la imagen con la mayor resolución por electrones.
 Porta espécimen: se coloca la muestra a observar.
 Cámara porta espécimen: se colocan las muestras y se genera el vacío para la
muestra.
 Sistema de vacío: permite generar un haz de electrones de mayor intensidad.
El microscopio electrónico de barrido es altamente sensible a los campos magnéticos y
vibraciones causadas por otro equipo, lo cual puede interferir en su operación.
Microscopio de Fuerza atómica.
Es un instrumento mecano-óptico capaz de detectar fuerzas del orden de
los nanonewtons. Al rastrear una muestra, es capaz de registrar continuamente
su topografía mediante una sonda o punta afilada de forma piramidal o cónica.
 Un microscopio de fuerza atómica, forma imágenes de las superficies utilizando una
sonda o micropalanca, esta recorre la muestra haciendo una exploración línea por línea,
escanea la muestra en función de la posición generando una imagen.
La punta de AFM se encuentra montada en una micropalanca, a la cual se le hace
incidir un láser, así, cada vez que la punta sube o baja debido a la interacción con la
superficie que se encuentra analizando, la micropalanca reflecta la desviación del láser a un
fotodetector y es interpretada por el software generando una imagen.
Esta técnica permite obtener imágenes topográficas en 3D, hacer mediciones del orden
de los nm, detectar fuerzas de nN, hacer mediciones de visco-elasticidad y dureza de la
muestra, entre otras.
 Diodo láser
 Micropalanca
 Fotodiodo
 Tubo piezoeléctrico
Limitaciones de un microscopio de fuerza atómica:
El tiempo requerido para medir grandes superficies es muy elevado, ya que el área
escaneada, normalmente, no supera los 150x150 mm, y la altura máxima es de orden de
micras. La calidad de la imagen depende en gran medida de la geometría de la sonda. La
velocidad de escaneo suele ser lenta en comparación con otro tipo de microscopia como el
microscopio electrónico de barrido.
Analizador de imágenes metalográficas
En el campo de la materialografia, los análisis de imagen automatizados hacen
referencia a una evaluación digital cuantitativa de la imagen de una microestructura. Las
mediciones cuantitativas suelen ser la longitud, anchura y área, las cuales se utilizan para la
evaluación de las características metalográficas, tales como el tamaño del grano, las
inclusiones, las capas y fases, como otros constituyentes.
El uso de análisis de imagen para medir las dimensiones de las características
microestruturales, incluye seis pasos principales.
 Selección de muestras: elegir una muestra representativa, de interés.
 Preparación de la muestra: la superficie debe estar libre de defectos que puedan
interrumpir los sistemas de análisis de imágenes.
 Iluminación y filtros de imágenes: optimizar el contraste y asegurar el enfoque
 Digitalización de imagen: transforma la imagen análoga en vivo, en una captura
digitalizada.
 Procesamiento de la imagen: eliminar toda aquella información que pueda
interrupir el proceso y mejorar la imagen mediante filtros que optimicen la calidad.
 Medidas de la imagen: cuantificación, cálculos y resultados obtenidos del proceso.
Equipo portátil de preparación de réplicas metalográficas.
Hornos de tratamientos térmicos
Se utilizan para el calentamiento de piezas colocadas en su interior, muy por encima de
la temperatura ambiente, con el objetivo de fundir o ablandar los metales para una
operación posterior, pero también para añadirle ciertas propiedades y recubrir piezas con
otros elementos.
La temperatura en el tratamiento de metales desempeña un papel fundamental, pues
vuelve más blandos a los metales y les brinda las propiedades necesarias para proseguir con
las operaciones de deformación por medio de los procesos de flexión, de forja, extrusión o
laminación. Después de los tratamientos térmicos se desciende la temperatura de forma
brusca, que le aporta al metal mayor dureza o resistencia, pero una menor ductilidad.
Desventajas: Debido a la alta temperatura del metal, existe una rápida oxidación o
escamado de la superficie con un acompañamiento de un pobre acabado superficial, como
resultado del escamada, no pueden mantenerse tolerancias cerradas.

7) Defina: a) Metalografía, b) Material policristalino y monocristalino, c) Ataque,

d) Inclusiones, e) Tamaño de grano ASTM, f) Acero hipoeutectoide, f)
Magnificación, g) Perlita, h) espaciado interlaminar en colonias perlíticas, i)
perlita gruesa.

Metalografía: La metalografía es el estudio de la microestructura de todos los tipos de

aleaciones metálicas. Puede definirse con más precisión como la disciplina científica de
observar y determinar la estructura química y atómica y la distribución espacial de los
constituyentes, inclusiones o fases en aleaciones metálicas.
Material Policristalino: Es un agregado de pequeños cristales de cualquier sustancia, a los
cuales, por su forma irregular, a menudo se les denomina cristalitas o granos cristalinos.
Material Monocristalino: Es un material en el que la red cristalina es continua y no está
interrumpida por bordes de grano hasta los límites de la muestra.
Ataque: El ataque es un proceso químico o electrolítico que se emplea tras los
procedimientos de esmerilado y pulido metalográficos.
Inclusiones: Es cualquier material que queda atrapado dentro de un cristal de mineral
durante su formación y crecimiento.
Tamaño de grano ASTM: El tamaño de grano se expresa, según norma ASTM, mediante
el número G obtenido de la expresión:
Número de granos / pulg2 a 100X = 2G-1
Donde G es el número de tamaño de grano de uno a ocho; este método se aplica a metales
que han recristalizado completamente. Según el mismo criterio, se considera:
 Grano grueso cuando G < 5 (diámetro de grano 62 micras)
 Grano fino cuando G > 7 (diámetro de grano 32 micras)
Acero Hipoeutectoide: Se denomina acero hipoeutectoide a los aceros que según el
Diagrama hierro-carbono tienen un contenido en carbono inferior al correspondiente a la
composición eutectoide (0,77 % de C). El acero hipoeutectoide está formado por una
mezcla de ferrita más perlita.
Magnificación: Es la cantidad o grado de ampliación de un objeto.
Perlita: Es la microestructura formada por capas o láminas alternas de las dos fases (ferrita
y cementita) durante el enfriamiento lento de un acero a temperatura eutectoide.
Espaciado interlaminar en colonias perlíticas: El espaciado interlaminar es uno de los
parámetros morfológicos que caracterizan a la estructura perlítica. Es el reflejo de la
cinemática de difusión en el frente de la transformación austenita-perlita, y una variable
microestructural importante en la determinación de las propiedades mecánicas de los aceros
perlíticos.
PERLITA GRUESA: Es más dúctil que la perlita fina a consecuencia de la mayor
restricción de la perlita fina a la deformación plástica. 

8) ¿Cómo se genera una imagen ampliada a través del microscopio

metalográfico?

Se genera mediante un amplificador, el amplificador incrementa el tamaño aparente de

un objeto, incrementando la imagen del objeto en la retina del ojo.
Se puede decir que los microscopios, consiste en dos componentes ópticos (: el sistema
de lentes objetivo, que tiene una distancia focal muy corta y está emplazado muy cerca del
objeto; y el ocular, que tiene mayor longitud de distancia focal, menor amplificación, y que
proyecta la imagen más allá, sobre la retina del ojo. Las lentes del objetivo proyectan una
imagen real (la imagen intermedia) del objeto hacia arriba en el cuerpo del microscopio
sobre el plano de la imagen del objetivo conjugado con la imagen primaria. La distancia
desde el plano focal anterior del objetivo al primer plano de la imagen dentro del cuerpo del
microscopio se refiere a la longitud óptica del tubo.
Dependiendo del tipo de microscopio y del ocular, el plano de imagen primaria debe
estar dentro del cuerpo del microscopio o dentro del ocular. Las lentes del objetivo forman
una imagen real en el cuerpo del microscopio que actúa como el objeto para la lente ocular.
El ocular en cambio actúa como un amplificador simple para formar una gran imagen
virtual a la distancia en la que el ojo puede distinguir de la mejor manera (25 cm).
Finalmente, la imagen virtual se convierte en objeto para el ojo y es proyectada como una
imagen real sobre la retina. Desde que las lentes objetivo y ocular actúan en serie, la
amplificación total de un microscopio es función de la amplificación del objetivo
multiplicado por la amplificación del ocular.
9) Compare mediante dibujos esquemáticos e imágenes típicas los microscopios:
A) Óptico para metalografía (MO) y B) Electrónico de Barrido (MEB).
 10) Indique en que consiste los siguientes métodos para determinación de tamaño
de grano: a) Método de intersectos, b) Método de Jeffries.

METODO PLANIMETRICO O DE JEFFRIES:

Define el tamaño de grano en términos de la cantidad de granos por unidad de área, el
área de grano promedio o el diámetro de grano promedio. Este método involucra un
recuento real del tamaño de grano en un área determinada. El número de granos por unidad
de área, NA, se usa para determinar el tamaño de grano G. La precisión de este método
depende del número de granos contados, pero ´esta puede llegar a ser del ± 0.25 del número
de tamaño de grano si se realiza un gran esfuerzo, lo más normal es obtener precisiones del
0.5. En este método se inscribe un cırculo o un rectángulo de área conocida, que debe
contener al menos 50 granos. Una vez definida el área, se den contar los granos. La suma
total de granos enteros contenidos en el área definida más la mitad de los granos
intersectados con la circunferencia o con el rectángulo, componen el número total de granos
encerrados.
La cifra obtenida esta aumentada si se ha mirado por un microscopio por lo que hay que
multiplicar por el número de Jeffries, f, y se obtendrá el número de granos por pulgada
cuadrada, NA. El problema que presenta este método es que requiere áreas superiores a
5000mm2 y no se dispone de técnicas manuales que permitan obtener una superficie plana
al tratarse de más de 7 centímetros el área requerida.
METODO DE INTERSECTOS:
Este método consiste en contar el número de granos que intersectan con una línea,
trazada según la norma. De igual forma que en el caso anterior la precisión depende del
número de intersecciones granos-línea se cuenten, pero esta puede llegar a ser del ± 0.25
del número de tamaño de grano si se realiza un gran esfuerzo, lo más normal es obtener
precisiones del 0.5. Para un mismo nivel de precisión que el método de planimetría, este
procedimiento de intersección es más rápido ya que se requiere contar un menor número de
granos.
La norma ASTM E112-96 ha de ser utilizada solo para la determinación del tamaño de
grano en el plano. Dicha distribución debe ser uniforme, de no ser así, no se pueden aplicar
estos procedimientos. No obstante, estos métodos son solo una recomendación que puede
proporcionar datos que no son definitivos.