Curso de metrologı́a por internet

Unidad 2-1 Módulo 2

Interpretación y utilización de los datos de un
certificado de calibración
Los resultados de una calibración de un elemento (patrón o instrumento) suelen recogerse en un
certificado de calibración. Estos datos se necesitan en la utilización posterior del elemento, ya sea
para medir o cuando dicho elemento se emplea en la calibración de otro dentro de la práctica habitual
de diseminación metrológica formando parte de una cadena de trazabilidad.

En el caso de un patrón, el resultado de su calibración se concreta en el valor de una magnitud y su

incertidumbre. Algunos patrones materializan varios valores de una magnitud, por ejemplo una caja
de décadas de resistencia eléctrica, pero esto no altera sustancialmente lo indicado.

Sin embargo, los instrumentos de medida que se utilizan para determinar una magnitud dentro de un
campo de medida, C, con una división de escala, E, han de tratarse con mayor atención. Normalmente,
los instrumentos de medida poseen muchos puntos dentro de su campo y no es posible calibrarlos en
todos. Por ejemplo, un micrómetro milesimal de exteriores (E = 0, 001 mm) con campo C = 25 − 50
mm posee una escala con 25 000 puntos y su calibración se efectúa en un número de puntos que suele
estar entre cinco y once. Una situación similar se presenta en cualquier instrumento de medida por lo
que lo más frecuente es que un instrumento se emplee en un punto en el que no ha sido calibrado.

La calibración de un instrumento proporciona, en cada punto de calibración, una corrección y su in-

certidumbre. Esta corrección suele denominarse corrección de calibración para diferenciarla de otras
correcciones que puedan ser necesarias. Para la utilización habitual de los instrumentos de medida,
la información local obtenida en los puntos de calibración suele globalizarse sobre todo o parte del
campo de medida. A tal fin se utilizan técnicas estadı́sticas apropiadas, como la regresión, o procedi-
mientos aproximados, más simples, como los que se presentan en los ejemplos de esta unidad.

La corrección se define mediante

corrección = valor del patrón − indicación del instrumento
En algunas áreas metrológicas como la eléctrica, suele utilizarse el error en vez de la corrección,
error = indicación del instrumento − valor del patrón

error = −corrección

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1. Certificado de calibración de un instrumento
Se conoce la información resultante de la calibración de un máquina Medidora de una Coordenada
Horizontal (M1CH) con división de escala E0 = 0,000 1 mm y campo de medida C0 = 300 mm. Un
extracto del certificado de calibración de la M1CH se presenta en la tabla 1.
Tabla 1

La M1CH se utiliza como patrón para la calibración de un sensor para medida de desplazamientos
con división de escala E = 0,000 5 mm y campo de medida C = 60 mm según un montaje similar al
de la figura 1 (esta calibración se analiza en detalle en la unidad 2.2).

Figura 1

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Sin embargo la información contenida en el certificado de calibración de la M1CH no es directamente
utilizable en la calibración del sensor. La razón estriba en que la M1CH debe utilizarse en puntos de
su escala diferentes a aquellos en los que fue calibrada. Por ejemplo, si el sensor se desea calibrar en
[0 - 6 - 12 - 18 - 24 - 30 - 36 - 42 - 48 - 54 - 60] mm, hay que tener en cuenta que la M1CH sólo fue
calibrada en [0, 30 y 60] mm.

Como se ha dicho, existen varias formas de solucionar este problema. A continuación se muestran
dos métodos sencillos que asumen una corrección de valor nulo sobre todo el campo de medida,
c0 (x) = 0. Estos métodos son más adecuados para aplicaciones industriales que los que se basan en la
interpolación de los resultados de las correcciones de calibración contenidas en el certificado. En el
ejemplo que se analiza la M1CH es suficientemente estable entre calibraciones sucesivas pero en otros
instrumentos puede ser necesario incorporar contribuciones para contemplar las derivas temporales.

2. Datos de calibración: alternativa 1

La primera alternativa es aceptar que la M1CH posee una especificación, fijada con anterioridad a la
realización de la calibración, que indica que sus correcciones de calibración c0k deben ser iguales o
inferiores a, por ejemplo, una ecuación del tipo A + B· L , donde L es el punto de la escala de la M1CH
y A y B son dos constantes.

Para poder declarar que la M1CH es conforme con esa especificación ha de verificarse, en todos los
puntos de calibración,
|c0k | + U(c0k ) ≤ A + B · zk

Este análisis se corresponde con la práctica habitual de reducir la tolerancia de especificación de la

magnitud a verificar en la incertidumbre de medida de dicha magnitud, recogido también en ISO [1]
desde 1 998. Por el momento no se consideran casos dudosos, es decir, la imposibilidad de declarar
conformidad se identifica como no conformidad.

Por ejemplo, si la especificación es A = 0, 9 µm y B = 5 × 10−6 (véase tabla 2) podrı́a declararse

conformidad con especificaciones puesto que en todos los puntos se cumple la desigualdad |c0k | +
U(c0k ) ≤ A + B · zk .

Tabla 2

z c(z) U[c(z)] |c(z)| + U[c(z)] A+B·L

(mm) (µm) (µm) (µm) (µm)

0 +0,0 0,8 0,8 0,90

30 +0,2 0,8 1,0 1,05
60 +0,4 0,8 1,2 1,20
90 -0,2 0,9 1,1 1,35
120 +0,3 0,9 1,2 1,50
150 +0,2 0,9 1,1 1,65
180 +0,5 0,9 1,4 1,80
210 +0,5 1,0 1,5 1,95
240 +0,7 1,0 1,7 2,10
270 +0,9 1,0 1,9 2,25
300 +0,8 1,1 1,9 2,40

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Por ejemplo, si la especificación es A = 1,0 µm y B = 2 × 10−6 (véase tabla 3) no podrı́a declararse
conformidad con especificaciones puesto que existen puntos (60, 180, 210, 240, 270 y 300 mm) en
los cuales |c0k | + U(c0k ) > A + B · zk .

Tabla 3

z c(z) U[c(z)] |c(z)| + U[c(z)] A + B · L (µm)

(mm) (µm) (µm) (µm) (µm)

0 +0,0 0,8 0,8 1,00

30 +0,2 0,8 1,0 1,06
60 +0,4 0,8 1,2 1,12
90 -0,2 0,9 1,1 1,18
120 +0,3 0,9 1,2 1,24
150 +0,2 0,9 1,1 1,30
180 +0,5 0,9 1,4 1,36
210 +0,5 1,0 1,5 1,42
240 +0,7 1,0 1,7 1,48
270 +0,9 1,0 1,9 1,54
300 +0,8 1,1 1,9 1,60

2.1. Ejercicio:
Si el resultado de la calibración de la tabla 2 en el punto de 120 mm debe resultar
conforme, ¿cuál es el mı́nimo valor admisible para el coeficiente A, en µm, si B =
· 10-6 ?

Amin =

µm

2.2. Ejercicio:
¿La M1CH de la tabla 2 cumple con la especificación: “Las correcciones de cali-
bración son iguales o inferiores a A + B · L , siendo A = 1.0 µm y B = 4 · 10-6 ”?

La M1CH es conforme con la especificación

La M1CH no es conforme con la especificación

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 2.3. Ejercicio:
¿La M1CH de la tabla 2 cumple con la especificación: “Las correcciones de cali-
bración son iguales o inferiores a A + B · L , siendo A = 1,9 µm y B = 0 ”?

La M1CH es conforme con la especificación

La M1CH no es conforme con la especificación

2.4. Ejercicio:
¿La M1CH de la tabla 3 cumple con la especificación: “Las correcciones de cali-
bración son iguales o inferiores a A + B · L , siendo A = 1,0 µm y B = 3 · 10-6 ”?

La M1CH es conforme con la especificación

La M1CH no es conforme con la especificación

2.5. Ejercicio:
Si el resultado de la calibración de la tabla 3 en el punto de 300 mm debe resultar
conforme, ¿cuál es el mı́nimo valor admisible para el coeficiente B si A = µm?
Exprese B con dos cifras significativas.

Bmin = ·10−6

Una vez confirmada la especificación de la M1CH, puede admitirse que, en cualquier punto de su
escala, su corrección de calibración pertenece al intervalo ±(A + B · L) y que se distribuye uniforme-
mente sobre el mismo. En estas condiciones, la estimación de c0 (z) en cualquier punto z de la escala
de la M1CH resulta:

A+B·L
c0 (z) = 0 u[c0 (z) = 0] = √ con un número infinito de grados de libertad
3

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3. Datos de calibración: alternativa 2
Una segunda alternativa es substituir las correcciones de calibración contenidas en el certificado de
calibración por correcciones de calibración nulas c0 (z) = 0 (es decir, en la práctica esto supone no
aplicar las correcciones de calibración) con incertidumbres ampliadas de modo que las correcciones
no aplicadas se incorporen a la incertidumbre. Finalmente se dispondrı́a de una corrección nula válida
para todo el campo de medida cuya incertidumbre podrı́a responder, por ejemplo, a una ecuación del
tipo U[c0 (L) = 0] = A0 + B0 · L. La ecuación elegida deberı́a verificar la siguiente desigualdad para
todos los puntos de calibración:

|cok | + U(cok ) ≤ U[c0 (zk ) = 0] = A0 + B0 · zk

En la práctica la elección de las constantes A0 y B0 se realiza de modo que verificándose siempre la

desigualdad anterior se obtenga una incertidumbre U[c0 (L) = 0] lo mas baja posible.

Figura 2

Volviendo a la M1CH cuyas correcciones de calibración se muestran en la figura 2, se puede observar

(véase figura 3) que los puntos crı́ticos respecto de la verificación de la desigualdad |c0k | + U(c0k ) <=
U[c0 (zk ) = 0] = A0 + B0 · zk serı́an z = 60 mm y z = 270 mm.

Se puede entonces obligar a que la lı́nea A0 + B0 · zk pase por los puntos z = 60 mm y z = 270 mm. Se
obtiene entonces el siguiente sistema de dos ecuaciones con dos incógnitas (las constantes A0 y B0 ):

A0 + B0 · 60000 µm = 1,2 µm

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 A0 + B0 · 270000 µm = 1,9 µm
Su resolución conduce a A0 = 1 µm y B0 = 10−6 /3 (véase figura 3).

Figura 3

Faltarı́a aún por determinar el factor de recubrimiento k. En los puntos crı́ticos (aquellos en los que
|c0k | + U(c0k ) = U[c0 (zk ) = 0] = A0 + B0 · zk la probabilidad de cobertura serı́a cercana al 97,5 %, dado
que:

uno de los extremos del intervalo ±(A0 + B0 · zk ) coincide con uno de los extremos del intervalo
c0k ± U(c0k ).
La probabilidad de cobertura indicada en el certificado de calibración es del 95 %. Ahora bien,
si se tomara una probabilidad de cobertura del 97,5 % asumiendo una distribución normal se
obtendrı́a un factor de cobertura k=2,24.

Sin embargo, por coherencia con el resultado obtenido en la √

alternativa 1, se supondrá una distribución
uniforme que conduce a un menor factor de cobertura k = 3.

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 3.1. Ejercicio:
El certificado de calibración de la M1CH proporciona los siguientes resultados:

Punto de Corrección de Incertidumbre de la

calibración calibración corrección
zk (mm) c0k (µm) U[c0k ] (µm)
0 0,0 0,3
30 +0,1 0,4
60 +0,2 0,4
90 +0,3 0,4
120 +0,3 0,5
150 +0,2 0,5
180 +0,5 0,6
210 +0,5 0,6
240 +0,4 0,7
270 +0,3 0,7
300 +0,3 0,8

Determine la ecuación U[c0 (zk ) = 0] = A0 + B0 · zk según la alternativa 2.

a) A0 = µm b) B0 = ·10−6

3.2. Ejercicio:
Continuando con el ejercicio anterior (alternativa 2), determine el valor y la incerti-
dumbre expandida (k = 2) de la corrección de calibración en el punto de la escala
de valor z = mm, expresando los resultados con dos cifras significativas.

a) c0 (z) = µm b) U[c0 (z)] = µm

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4. Datos de calibración: alternativa 3
Existe aún una tercera alternativa y para ello se va a seguir el procedimiento descrito en la guı́a
ISO-GUM [2] en su apartado F.2.4.5. La idea básica es utilizar una corrección de calibración global
c0 (z) = cG distinta de cero pero constante a lo largo de la escala del instrumento.

El procedimiento descrito en el apartado F.2.4.5 de la guı́a ISO-GUM asume que como resultado de
la calibración se ha obtenido una curva de calibración c(z) = cG constante.

El procedimiento a seguir serı́a el siguiente * :

Determinar la corrección de calibración de calibración global cG utilizando la siguiente expresión

(valor medio de la curva de calibración):
N0
cG = 1 P
N0
c0k
k=1

Determinar la componente de la incertidumbre uD asociada al desajuste entre la corrección global

cG y las correcciones c0k :
s
N0
uD = 1
(c0k − cG )2
P
N0 −1
k=1

Determinar la incertidumbre tı́pica media uC de las correcciones de calibración c0k :

s
N0
uC = 1
u2 (c0k )2
P
N0
k=1

Determinar la repetibilidad media s0 :

s
N0
s0 = 1
s20k
P
N0
k=1

La incertidumbre tı́pica de la corrección de calibración global cG serı́a entonces:

q
u(cG ) = u2D + uC2

Y la incertidumbre tı́pica de las lecturas corregidas z0 = z + cG utilizando la corrección de

calibración global cG y supuesto que se hubiera repetido una única vez la medida serı́a:
q
u(z ) = u2D + uC2 + s20
0

En el caso de haber repetido

P la medida n veces, la incertidumbre tı́pica de las lecturas corregidas
z0 = z̄ + cG (siendo z̄ = ni=1 zi /n) serı́a:
q
s20
u(z ) = u2D + uC2 +
0
n
* En el apartado F.2.4.5 aparecen integrales dado que se asume que dispone de una curva de calibración. Cuando, como en el caso actual, se dispone

de un número finito de correcciones de calibración, las integrales se convierten en sumatorios

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 4.1. Ejercicio:
El certificado de calibración de la M1CH proporciona los siguientes resultados:

Punto de Corrección de Incertidumbre de la

calibración calibración corrección Repetibilidad
zk (mm) c0k (µm) U[c0k ] (µm) s0 (µm)
0 0,0 0,3 0,2
30 +0,1 0,4 0,3
60 +0,2 0,4 0,3
90 +0,3 0,4 0,3
120 +0,3 0,5 0,3
150 +0,2 0,5 0,4
180 +0,5 0,6 0,4
210 +0,5 0,6 0,3
240 +0,4 0,7 0,4
270 +0,3 0,7 0,5
300 +0,3 0,8 0,4

Las incertidumbres expandidas han sido determinadas utilzando un factor de co-

bertura k = 2.
Determine:

La corrección global cG :

cG = µm

La incertidumbre expandida U(cG ) de la corrección global cG (para un factor

de cobertura k = 2:

U(cG ) = µm

La incertidumbre expandida U(z0 ) (para un factor de cobertura k = 2) de la

lectura corregida z0 = z + cG supuesto que únicamente se repite una vez la
medida:

U(z0 ) = µm

La incertidumbre expandida U(z0 ) (para un factor de cobertura k = 2) de la

lectura corregida z0 = z̄ + cG , siendo z̄ = ni=1 zi /n, supuesto que la medida
P
se repite n = 10 veces:

U(z0 ) = µm

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5. Referencias
[1] ISO 14253-1-1998, Geometrical Product Specifications (GPS) - Inspection by measurement of
workpieces and measuring equipment - Part 1:Decision rules for proving conformance or no-conformance
with specifications, 19 págs. También como UNE-EN ISO 14253-1: 1999.
[2] JCGM/WG 1: JCGM 100:2008 Evaluation of measurement data - Guide to the expression of
uncertainty in measurement, GUM 1995 with minor corrections, First edition 2008, corrected version
2010, 14+120 p. Existe traducción al español de la edición en inglés de 2008, realizada por el CEM
y publicada como edición digital 1 en español (3a edición en español 2009), NIPO 706-10-001-0,
12+130 págs., accesible por Internet en la página web del CEM.

Curso elaborado para el CEM por el LMM-ETSII-UPM

a partir de los textos preparados por los profesores
que se relacionan al principio de cada Módulo.

c Centro Español de Metrologı́a

NIPO: 074-12-016-X
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