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Vídeo 1
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la red cristalina.
Los defectos puntuales son de una dimensión y tiene que ver con un punto en la red por
ejemplo una vacancia es la ausencia de un átomo en un nodo de la red cristalina en un
punto de la red que debería estar ocupado un átomo inicial. Un defecto intersticial es
cuando un átomo ocupa un lugar en la red que normalmente no está ocupado que no es un
nodo esto produce grandes distorsiones en la red pues en general el átomo es de mayor
tamaño que el intersticio que ocupa. Un átomo sustitucional se llama cuando un átomo de
la red es reemplazado por otro átomo diferente, el reemplazo puede ser de tamaño mayor
que los átomos que están alrededor o de tamaño menor, en ambos casos produce tensiones
en la red: de tracción y de compresión. Ejemplos:
Partimos de la red perfecta que la red perfecta a tener una vacancia. La vacancia produce
una distorsión en la red. Las vacancias son defectos estables a temperatura ambiente esto
quiere decir que termodinámicamente tiene que existir a temperatura ambiente, cuanto más
alta es la temperatura más cantidad de vacancias deben existir esto es por la propia
vibración de los átomos que necesitan de esos espacios vacantes. Solo a 0K podríamos
encontrar una estructura perfecta sin vacancias.
Defectos lineales son los responsables de la baja resistencia que tienen los metales. Son
defectos de una línea en una dimensión. Se crean durante la solidificación y deformación
plástica. Hay dos tipos dislocaciones: las educaciones de línea de borde o cuña y las
dislocaciones de hélice helicoidales o tornillo
Defectos volumétricos que son poros, grietas inclusiones extrañas, otras fases etc
APLICACIÓN DE LOS RAYOS X
- Caracterización por DRX de un cemento de aluminato de calcio
Interpretación del diafragma: Comparamos los picos de nuestro programa con los de varios
compuestos de la base de datos del ordenador. Cuando observamos coincidencias entre
nuestros picos y los de un compuesto específico incorporamos al difracto grama las líneas
que lo identifican. Así para interpretar un espectro de difracción es necesario tener
información previa de los posibles compuestos que constituyen la muestra, sin este
conocimiento previo no sería posible la identificación de ningún compuesto.
En este difracto grama se identificó los compuestos cristalinos típicos que se forman
durante la hidratación de un cemento de aluminato de calcio que son muy diferentes de los
que se pueden identificar en el difracto grama grano a un cemento portland, de esta manera
hemos podido caracterizar el cemento de aluminato de calcio.
- Difracción de rayos X
La estructura distribución y composición química de los cristales son algunas de las
características que se determinan con tecnología de punta como el difractómetro Expert
Proved Analytical, equipo versátil con el que se aplican las técnicas de difracción de rayos
x. Con esta técnica se puede conocer la composición química de un material cristalino y los
porcentajes de cada fase presente por medio de análisis cualitativos y cuantitativos.
Difractómetro de rayos-x: Funciona con un tubo que trabaja a una alta potencia, la cual
genera electrones que van a chocar con una placa y esta va a generar los rayos x que van a
salir del tubo, van a dirigirse hacia la muestra y esta muestra se puede mover con siete
movimientos en x,y,z, rotar en omega y ф y con esto vamos a poder interactuar los rayos x
con el material. Se observa la estructura cristalina y la composición química de este
material al detectar los rayos tejidos disfrazados de la muestra con el detector. Básicamente
consta del detector, la muestra y el tubo de rayos x.
La difracción de rayos x es una técnica no destructiva, que estudia la estructura de los
materiales, sirve para analizar metales, polímeros, catalizadores, productos, farmacéuticos,
recubrimientos o cerámicas y películas semiconductores, también es posible conocer la
composición de películas delgadas o nanométricas, es decir de un material depositado sobre
un sustrato ésta se conoce como técnica de Haz rasante. Un análisis más que se puede
realizar con la difracción de rayos x es la reflectometría, ésta se obtiene en unas curvas
donde la información es el espesor, la densidad y la rugosidad acerca de una o varias capas
que estén depositadas en la superficie de una muestra. Otra técnica que es posible realizar
en el equipo es la difracción de rayos x en alta resolución que es tecnología autorizada en la
preparación de las multi capas. Determina las características de películas xy parciales es
decir casi perfectas sobre sustratos monocristalinos. El estado de la muestra o la
información que quiera el solicitante obtener de ella ser el factor que determine cuál de las
cuatro técnicas se utilizará para realizar el análisis. Hay accesorios: para poder hacer
análisis de muestras en polvo preparadas con porta muestras, también cuenta con una óptica
especial para hacer análisis de películas delgadas de hacer los pases paralelos, para poder
medir películas en alta resolución ras. Cada uno de los accesorios es una de las ventajas
porque se obtiene información de diferentes tipos de muestras, para los haces incidentes a
la muestra y cuenta con dos detectores diferentes: un detector de línea y el detector de
áreas, para poder hacer análisis de estas muestras, también hay accesorios para la óptica
difractada. Entonces esos accesorios nos dan ventajas comparadas con los equipos
convencionales porque obtenemos información de un amplio panorama de muestras desde
muestras biológicas, muestras químicas o muestras médicas o farmacológicas para poder
hacer análisis de la estructura de los materiales en su composición química. Se han
estudiado muestras de pan congelado donde solicitaron el análisis de difracción de rayos x
para saber que se estaba formando en su producto ya que se degradaba cada cierto periodo
de tiempo. En el área de la medicina se puede conocer la estructura de los componentes
activos que hay en las pastillas y hasta estudiar sus rendimientos como.