METODO DE INYECCION DE DETECCION DE FALLAS

PROBLEMA IDENTIFICADO:

El problema que dio origen a esta investigación reside en la actualización el estado del arte, y
en la escasez de información de las diferentes técnicas y enfoques de inyección de fallas para
diversas demandas en circuitos digitales. Los enfoques y técnicas fueron clasificados en
función de la cantidad de hardware que necesitan. Elegir una técnica de inyección de fallas
depende de muchos factores, como el presupuesto, el tiempo y el conocimiento y la decisión
final la toma el usuario considerando estos factores.

Elegir un método apropiado para realizar el proceso de inyección de fallas en los circuitos
digitales puede ser un factor determinante para reducir los costos de funcionamiento,
disminuir el tiempo de comercialización de un producto y aumentar el rendimiento y la
precisión de un componente digital.

La alta sobrecarga computacional en los enfoques basados en software y los costos de equipo
inaccesibles en los enfoques basados en hardware motivan el uso de los enfoques basados en
emulación para realizar el proceso de inyección de fallas en circuitos digitales. Sin embargo,
elegir una técnica de inyección de fallas depende de muchos factores, como el presupuesto, el
tiempo y el conocimiento y la decisión final la toma el usuario considerando estos factores.

OBJETIVO PRINCIPAL:

• Ayudar a los investigadores y diseñadores de circuitos confiables a obtener

información sobre el estado del arte en las técnicas de inyección de fallas.

OBJETIVOS SECUNDARIOS:

• Motivar a la mejora de estas técnicas para una evaluación de confiabilidad más

eficiente de los diseños de circuitos digitales del mañana.
• Seleccionar con mayor eficacia el tipo de técnica de inyección de falla dependiendo
esta de la necesidad del diseñador.
• Comparar los tres tipos de enfoques de inyección de fallas, dando a conocer sus
ventajas y desventajas de cada una

MATERIALES Y METODOS

En el artículo, para encontrar las diferentes áreas sensibles donde ocurren las diferentes fallas
utilizan uno de los métodos más comunes que es la técnica de inyección de fallas. Dicha
técnica se puede clasificar en tres grupos principales.

a. Enfoque de inyección de fallas (físicas) basadas en hardware

b. Enfoque de inyección de falla de software basado en simulación
c. Enfoque de inyección de fallas basadas en emulación

En el inciso, para poder simular en qué condiciones se encuentre el diseño se necesitara un

marco de hardware, si se compara el inciso a con el inciso b, estos tienen una mejor velocidad
pero una mayor complejidad para su implementación por lo cual lo hace más costoso.

Como se describió en el párrafo anterior, se dice que el inciso b es más costoso, esto implica
que son más simples de implementar y que no necesita un hardware adicional para su
funcionamiento
El inciso c, es un poco más complicado ya que usan matrices de puertas programables de
campo FPGA, este ayuda para el aprovechamiento de la aceleración para el proceso de la
detección de fallas.

Figura 1 Métodos de fallas de Inyección

En la figura 1 se resume lo expuesto anteriormente sobre los métodos de inyección de falla

que puede encontrarse en los circuitos integrados.

PROPUESTA AL PROBLEMA

La optimización de selección de los diferentes enfoques de inyección de fallas para circuitos

integrados para ayudar a los investigadores a elegir la técnica más adecuada en función de las
demandas.

Estas diferentes técnicas están relacionadas con las fallas internas que suceden en las puertas
lógicas y por fallas ocurridas en el exterior del circuito integrado. El autor propone y explica los
tres tipos de enfoque de falla para la detección de estas, ya sea aplicando un software, un
hardware o basado en una emulación.

Explica cada uno de los enfoques, y la manera de cómo actúa para cada situación de cada
problema, hace referencia a las ventajas y desventajas que tienen cada uno. Los diferentes
tipos de análisis, las distintas variedades de atacar los circuitos integrados por los problemas, la
efectividad, la velocidad, el tiempo en que dan una respuesta. Añade también la explicación de
los datos almacenados para luego poder compararlos con los datos de fábrica y así poder
corregir los errores que se susciten en cualquier caso.

Menciona que las fallas “suaves” pueden convertirse en un error del circuito integrado, y para
poder verificar esas fallas “suaves” Estas fallas que luego se convierten en errores hacen que si
en cuando ocurra un pulso alto “1” las compuerta por donde vaya a pasar no lo identifique y
que ese problema se almacene en la compuerta digital creando una cadena de problemas, lo
cual tomaría más tiempo en detectar y deshacer la falla. Para corregir estas fallas y/o errores
es necesario escoger uno de los 3 enfoques que menciona en el documento, pero al escoger el
enfoque, este debe ser el más óptimo para el problema detectado.

En el artículo el autor se inclina por el enfoque basado en la emulación, por la eficiencia de los
resultados que otorga, el tiempo de actuación para la detección de fallas y permite que la
inyección de fallas se realice a gran escala.
DESARROLLO:

En el artículo se menciona sobre las diferentes fallas que ocurren en los circuitos integrados, ya
sea por condiciones ambientales, metros sobre el nivel del mar y la cantidad de radicación en
el lugar en donde se ubica la operación.

Antes de usar las diferentes técnicas para recuperar las condiciones de fallas es indispensable
detectar los diferentes lugares de áreas sensibles, conforme aparezca una falla es más
probable que esta se convierta en error y termine por afectar el funcionamiento normal del
circuito.

Inyección de fallas de software basada en simulación

Uno de los parámetros más importantes para evaluar la confiabilidad del circuito es la tasa de
error suave. Como no hay limitación para considerar los efectos de triple enmascaramiento en
los enfoques de inyección de falla basados en software, el SER del circuito se puede calcular
con alta precisión. Aunque en las otras dos técnicas de inyección de fallas se intenta considerar
los efectos de triple enmascaramiento durante la generación de errores suaves en el circuito,
pero los enfoques basados en software siguen siendo los mejores en el aspecto de la precisión.

Los enfoques de inyección de fallas basados en software se dividen en dos categorías

principales:

Enfoques dinámicos:

Para este enfoque, primero se inyecta una o más fallas en el circuito y luego, el circuito se
simula con diferentes vectores de entrada para calcular el número de fallas que se enganchan
y se convierten al error. En algunos enfoques dinámicos, la caracterización previa de
elementos se utiliza para simular el circuito. Este enfoque utiliza dos tipos de caracterizaciones
previas de elementos llamadas, lógica pre-caracterización y caracterización previa de flip-flop.

En la lógica pre-caracterización, se inyectan diferentes pulsos de corriente en la salida de

diferentes compuertas para generar diferentes anchos de pulso de los SET y luego, en las
características de voltaje-corriente se extraen de la biblioteca estándar para las puertas y se
almacenan en una tabla llamada “tabla de características de voltaje-corriente”.

En la caracterización previa del flip-flop, los pulsos de voltaje con diferentes anchos de pulso se
inyectan en las entradas de los flip-flops. Luego, se utiliza un contador para almacenar el
número de veces que se enclava el pulso transitorio, esta información se almacena en una
tabla conocida como la “tabla de tiempos”. Para calcular la velocidad de enmascaramiento
lógico de las puertas, se realiza una simulación lógica para diferentes vectores de entrada.

Enfoques estáticos:

En este enfoque se utilizan dos grupos de métodos, simbólicos y analíticos.

En los enfoques simbólicos, se utilizan estructuras de datos específicos como matrices o

gráficos para mantener la información sobre los efectos de triple enmascaramiento. Para hacer
el respectivo estudio, se modela los efectos de triple enmascaramiento en el BDD, la
información del pulso transitorio se mantiene en las estructuras de datos relacionadas de una
manera que cada nodo terminal, no solo contiene el valor de salida de la función lógica, sino
que también tiene la información sobre el pulso transitorio relacionado con este valor de
salida. Para propagar la falla, el BDD se construye desde la ubicación de la falla hasta la Salida
primaria (PO) del circuito para cada falla y, finalmente, se calcula el SER.

En los enfoques analíticos se aprovechan las ventajas de formulaciones matemáticas como la

satisfacción booleana o las reglas de probabilidad para evaluar los impactos de los efectos de
triple enmascaramiento. En los enfoques basados en la satisfacción booleana, primero el
problema de estimación SER se cambia a una satisfacción booleana equivalente al problema y
luego, al usar las herramientas de resolución de satisfacción booleana, se obtiene el SER. Otro
grupo de enfoques analíticos se basa en la propagación de probabilidad. En estos enfoques, la
probabilidad de que ocurra la falla se propaga en las rutas críticas utilizando las probabilidades
de la señal, en lugar de propagar la falla misma. En este enfoque, no se consideran los efectos
eléctricos y de enmascaramiento de temporización.

Inyección de falla basada en hardware

La inyección de fallas físicas se realiza mediante enfoques basados en contacto en los que se
perturba la interfaz externa del circuito integrado (sondas activas de nivel de clavija e inserción
de zócalo), o sin enfoques de contacto en los que algunas partes del diseño se bombardean
con los recursos energéticos externos (haces de láser, iones pesados, protones y neutrones)
para simular el verdadero entorno defectuoso de los componentes digitales. Por ello, son
extremadamente caros y los laboratorios que son capaces de inyectar fallas físicas están
limitados a unos pocos países del mundo.

En estos enfoques, no es posible inyectar fallas en todas las ubicaciones deseadas del
componente que conducen a resultados incorrectos o inexactos durante los experimentos. Sin
embargo, estos enfoques son muy rápidos y si los experimentos se realizan de la manera
correcta, los resultados obtenidos estarán muy cerca del entorno real. En los enfoques de
inyección de fallas por contacto, el proceso de inyección de fallas generalmente se realiza
utilizando una herramienta de nivel de pin en la cual las fallas se inyectan a través de las
sondas conectadas a los pines del IC (es decir, chips de procesador).

Por otro lado, en los enfoques de inyección de falla física sin contacto hay un dispositivo que
genera los haces que pueden corromper el funcionamiento normal del circuito para simular el
impacto de partículas en algunas partes de este. Estos haces generalmente consisten en láser,
iones pesados, protones y neutrones. Además, la intensidad de los haces generados es
ajustable para reducir la potencia de los haces, ya que, al realizar una radiación de haz de alta
potencia en las partes sensibles del circuito, el componente puede destruirse.

Inyección de fallas basadas en emulación

Las técnicas de emulación de fallas intentan beneficiarse de la velocidad de los enfoques

basados en hardware y la precisión de los enfoques basados en software. Los enfoques de
inyección de fallas basados en emulación no necesitan ninguna instalación especial utilizada en
los enfoques de inyección de fallas físicas, lo que los hace más rentables, otra ventaja de este
enfoque es que no hay limitación en la elección de las ubicaciones de fallas. Para superar estos
desafíos, se necesita una solución para implementar un marco rápido y rentable para la
inyección de fallas. Una de las técnicas más populares en el enfoque de inyección de fallas
basado en emulación es emular el comportamiento del circuito utilizando “Field-
Programmable Gate Array (FPGA)” en presencia de fallas. Por lo tanto, FPGA emula el
comportamiento esperado del circuito en condiciones específicas, lo que brinda una velocidad
impresionante al diseñador durante el proceso de inyección de fallas.
Los enfoques de inyección de fallas basados en emulación son divididos en las siguientes
categorías según la forma en que se implementan:

Enfoques basados en la reconfiguración de hardware:

El procedimiento general de este método se muestra en la siguiente imagen:

En estos métodos, en el primer paso, el diseño se describe con uno de los "Hardware
Lenguajes de descripción (HDL)" al considerar el tipo de marco FPGA. Luego, al sintetizar el
diseño y generar el archivo de bits (que es un archivo ejecutable para ejecutarse en FPGA), el
diseño se descarga en el FPGA. Estas cadenas de bits incluyen la información sobre la
configuración del diseño en el FPGA durante la operación y un conjunto de entradas iniciales
para el circuito. Después de inyectar cada falla y analizar los efectos de estas mismas, es
necesario eliminar la falla inyectada y llevar el circuito nuevamente al estado inicial para
prepararlo para las inyecciones de fallas adicionales. Cabe señalar que la duración de cada falla
debe ser lo suficientemente larga como para que se observen los efectos de propagación de
fallas. La gran ventaja de usar la reconfiguración de hardware para la emulación de fallas es
aplicar la cadena de bits defectuosa solo a una parte del circuito, en lugar de todo el circuito.
Elegir las partes sensibles del circuito es uno de los más importantes pasos para validar la
confiabilidad de un circuito. Dado que el tiempo transcurrido en el enfoque de reconfiguración
de hardware es proporcional al número de partes seleccionadas para inyectar las fallas, los
diseñadores siempre han tratado de limitar las partes seleccionadas para la reconfiguración.

El enfoque de reconfiguración de hardware es el más rápido entre los enfoques basados en

emulación. Sin embargo, debe tenerse en cuenta que, el marco de conexión entre la
computadora host y el FPGA juega el papel más importante en la velocidad de emulación de
fallas y siempre se conoce como el cuello de botella de estos enfoques. Por lo tanto, sin tener
un sustrato de conexión eficiente entre la computadora host y el FPGA, en realidad no habrá
ninguna aceleración en este enfoque en comparación con los otros enfoques de inyección de
fallas.
Enfoques basados en instrumentación:

Se puede lograr una aceleración impresionante utilizando los enfoques de reconfiguración de

hardware en comparación con los enfoques basados en software. Sin embargo, en esta
categoría, el FPGA debe reconfigurarse varias veces para inyectar fallas en diferentes partes
del circuito. En este enfoque, se agrega una parte adicional generalmente llamada "
saboteador " al circuito para cada ubicación de falla que es responsable de cambiar el valor de
la señal específica con respecto al modelo de falla elegido por el diseñador. La parte del
saboteador puede ubicarse en la entrada de la parte combinacional o secuencial del circuito. El
diseñador define la ubicación de esta parte con respecto al modelo de falla elegido. El
diseñador solo agrega las partes de saboteador al circuito una vez en las primeras etapas del
diseño. Por lo tanto, para configurar el FPGA, el archivo de bits se descarga en el FPGA
haciendo que este enfoque sea mucho más rápido que el enfoque de reconfiguración de
hardware, cada parte de saboteador tiene una señal de activación que se activa en los ciclos
definidos para la inyección de fallas.

Como se mencionó anteriormente, uno de los desafíos en los enfoques de emulación de fallas
es la complejidad de modelar los efectos eléctricos y de enmascaramiento de temporización,
debido a que las herramientas de diseño digital son incapaces de considerar los retrasos de
temporización después del proceso de sintetización para modelar los retrasos del circuito en el
FPGA al analizar los efectos de un SET. Luego, cada demora de las compuertas se considera
como un múltiplo integral de la base Al calcular los nuevos valores de retardo para cada
compuerta del circuito, el retardo de las compuertas se puede implementar utilizando los
registros de desplazamiento. Al implementar el retraso de las puertas en FPGA, modelando el
enmascaramiento eléctrico y de tiempo los efectos que dependen de los retrasos de la puerta
serán posibles para considerar el efecto de enmascaramiento eléctrico. Este enfoque se basa
en muestrear la cantidad de voltaje que pasa a través de las compuertas de tal manera que
cambiar el nivel de voltaje de alto a bajo y de bajo a alto se muestrea y almacena en el FPGA.
Basado en los cambios en la curva de voltaje, el contador comienza a contar en orden
ascendente o descendente y si el nivel de voltaje excede o es inferior al límite específico
mientras el contador está contando, se determina el efecto de enmascaramiento eléctrico.

RESULTADOS Y DISCUSION

Según el análisis hecho por el autor, se realizó una comparación de los tres tipos de
comparación resultando así sus beneficios y desventajas de uno con el otro.

Uno de los inconvenientes más resaltantes para la realización de este artículo es la falta de
familiaridad con los términos que el autor menciona, como por ejemplo la diferencia entre una
falla y un error, el enmascaramiento, diagrama de decisión binaria BDD, el lenguaje de
descripción hardware (HDL), estimación de SER, la utilización del dispositivo programable
llamado FPGA. Estos diferentes términos no se dieron a conocer en el curso de circuitos
digitales y es por ende que no hay una familiaridad con los términos.

Otro de los inconvenientes es la diversidad de referencia del autor que realiza para explicar
cada diferencia de los enfoques, dejando ideas inconclusas para la explicación que detalla y
para el entendimiento del lector.
El autor nos da una idea de la inyección de fallas y motivar al investigador y diseñadores de
circuitos confiables para mejorar aún más estas técnicas, pero discrepo con el autor ya que en
mi opinión deja muchas dudas al momento de leerlo y poder entender ciertas cosas. Para
poder evaluar bien este tema es necesario tener una base sobre los términos que utiliza para
el desarrollo del artículo.

Desde mi punto de vista considero que si se dio la solución al problema, ya que el objetivo de
este artículo es la recopilación de información respecto a la inyección de fallas en circuitos
digitales para un análisis más eficiente desde el punto de vista de cada diseñador.

CONCLUSION

Cada enfoque tiene su manera y su forma de trabajar, de acuerdo al problema que se tenga en
frente.

Al tener encuentra la forma de trabajar de cada enfoque, esto conlleva también a un costo
mayor o menor, al tiempo de respuestas y tiempo de actuación.

Los diferentes tipos de software, hardware y formas de atacar un problema fueron buena
utilidad para poder llevar a cabo la solución de fallas o errores.

Se conocieron términos y procesos como enmascaramiento, diagrama de decisión binaria,

dispositiva programable llamado FPGA. Términos y procesos que conllevan a una mejor
solución del problema.

APORTE

El mundo cada vez se está volviendo más electrónica, y por ende saldrán a relucir las
diferentes fallas que pueden ocurrir en los procesos de los integrados.

Como este tipo de detección de fallas ya existen en el marcado laboral de los circuitos
integrados, seria Profundizar el estudio de las detecciones ara poder realizar una mejora ya sea
en funcionamiento o costo, o sino también para el descubrimiento de otro tipo de detección
de fallas.