CPC 100 AppNote CTanDelta Measurement On RotM ESP

Nota de aplicación
Medición del factor de disipación / potencia y de la

capacitancia en máquinas rotatorias con CPC100/TD1
y CR500
Autores
Fabian Öttl Fabian.oettl@omicronenergy.com
Martin Anglhuber Martin.Anglhuber@omicronenergy.com
Fecha
23.03.2016
Producto OMICRON relacionado

CPC 100, CP TD1, CP CR500
Área de aplicación
Máquinas rotatorias
Versión
v1.1
ID del documento
ANP_16002_ENU
Resumen
En esta nota de aplicación se muestra cómo realizar mediciones del factor de disipación (factor de potencia)
y de la capacitancia en máquinas rotatorias utilizando el CPC 100 en combinación con el CP TD1 y el
CP CR500.
© OMICRON Página 1 de 36
Índice
1 Instrucciones de seguridad ..................................................................................................................3
2 Utilización de este documento .............................................................................................................3
2.1 Cualificación de los operadores y normas de seguridad ................................................................4
2.2 Medidas de seguridad ....................................................................................................................4
2.3 Documentos relacionados ..............................................................................................................4
3 Medición dieléctrica en máquinas rotatorias .....................................................................................5
3.1 Teoría del factor de disipación .......................................................................................................5
3.2 Factor de disipación o factor de potencia .......................................................................................6
4 Preparación de la prueba del factor de disipación ............................................................................8
4.1 Vista general del editor CPC y de la tarjeta de prueba ..................................................................8
4.1.1 Selección del parámetro correcto en la tarjeta de prueba TanDelta-PF ........................................... 9
5 Configuración de las mediciones ..................................................................................................... 10
5.1 Compensación ............................................................................................................................. 11
5.1.1 Elección de la compensación adecuada ......................................................................................... 11
5.1.2 Pasos para realizar la compensación ............................................................................................. 15
5.1.3 Tarjeta de prueba Fuente de alta tensión TD1 de OMICRON ........................................................ 16
5.1.4 Herramienta de compensación OMICRON Excel ........................................................................... 17
5.2 Preparación del equipo en prueba .............................................................................................. 18
5.3 Estructura del circuito de prueba ................................................................................................. 18
5.3.1 Medición de factor de disipación entre dos fases ........................................................................... 23
5.4 Vista general: Medición del factor de disipación paso a paso .................................................... 24
6 Evaluación de la medición ................................................................................................................. 25
6.1 Influencia de la compensación de potencial final ........................................................................ 25
6.1.1 Ejemplo práctico ............................................................................................................................. 28
6.2 Medición de la huella dactilar ...................................................................................................... 30
6.2.1 Comparación de fases .................................................................................................................... 30
6.3 Parámetros de la medición del factor de disipación .................................................................... 31
6.3.1 Casos de uso .................................................................................................................................. 32
6.3.2 Medición de capacitancia ................................................................................................................ 34
6.3.3 Limitación de la medición................................................................................................................ 34
Se ruega aplicar esta nota únicamente en combinación con el manual del producto correspondiente, que contiene varias
instrucciones de seguridad importantes. El usuario es responsable de toda aplicación en la que se utilice un producto de
OMICRON.
Desde este punto en adelante, OMICRON electronics GmbH, incluidas todas las oficinas internacionales, se denominará
OMICRON.
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microfilmación, reconocimiento óptico de caracteres y/o almacenamiento en sistemas informáticos, es necesario el
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© OMICRON 2015 Página 2 de 36

1 Instrucciones de seguridad
Esta nota de aplicación puede ser usada solamente en combinación con los manuales de producto
relevantes los cuales contienen todas las instrucciones de seguridad. El usuario es completamente
responsable por cualquier aplicación de uso de productos OMICRON.
PELIGRO
Muerte o herida grave causada por alta corriente o voltaje si no se cumplen
las medidas de protección respectivas.
 Lea cuidadosamente el contenido de esta instrucción así como los

manuales de los equipos relacionados antes de operarlos.
 Contacte soporte OMICRON si tiene preguntas o dudas sobre seguridad o
instrucciones de operación.
 Siga las instrucciones listadas en los manuales, especialmente las
instrucciones de seguridad, que esta es la única manera de evitar
accidentes que puedan ocurrir cuando se trabaja con sistemas de alto
voltaje o alta corriente.
 Sólo utilice los equipos relacionados para lo cual fueron diseñados con el
fin de garantizar una operación segura.
 La existencia de normas de seguridad nacionales para prevención de
accidentes y protección del medioambiental pueden complementar el
manual del equipo.
Sólo profesionales experimentados y competentes que hayan sido entrenados para trabajos con alto
voltaje o alta corriente pueden ejecutar esta nota de aplicación. Adicionalmente los siguientes
requisitos son necesarios:
• Autorizado para trabajar en ambientes de generación de energía, transmisión o distribución y
familiarizado con las prácticas de operación aprobadas en tales ambientes.
• Familiarizado con las cinco reglas de seguridad.
• Buen nivel de conocimiento de CPC 100, CP TD1 y CP CR 500
2 Utilización de este documento

Esta guía de aplicación proporciona información detallada sobre cómo medir y evaluar una medición del factor
de disipación (potencia) en una máquina rotatoria de alta tensión utilizando el equipo OMICRON CPC 100 en
combinación con el CP TD1 y el CP CR500.
Consulte las normas de seguridad nacionales e internacionales pertinentes a la utilización de alta tensión
(AT). Es necesario cumplir la norma EN 50191 ("The Erection and Operation of Electrical Test Equipment"
[Instalación y uso de equipos para pruebas eléctricas]), así como las normas de prevención de accidentes
vigentes en el país y en el lugar de utilización.

2.1 Cualificación de los operadores y normas de seguridad
Trabajar en dispositivos de alta tensión es extremadamente peligroso. Únicamente personal cualificado,
experimentado y autorizado debe realizar las mediciones. Antes de comenzar el trabajo, establezca
claramente las responsabilidades. El personal en periodo de capacitación sobre la preparación de las
mediciones deberá estar en todo momento bajo la supervisión de un operador experimentado mientras trabaja
con el equipo. La medición deberá cumplir las normas de seguridad nacionales e internacionales aplicables
que se indican a continuación:
 EN 50191 (VDE0104) "Erection and Operation of Electrical Equipment" (Instalación y uso de

equipos para pruebas eléctricas)
 EN 50110-1 (VDE 0105 Sección 100) "Operation of Electrical Installations" (Uso de instalaciones
eléctricas)
 IEEE 510 "Recommended Practices for Safety in High-Voltage and High-Power Testing"
(Prácticas recomendadas para seguridad en pruebas con alta tensión y alta potencia eléctrica)
 LAPG 1710.6 NASA "Electrical Safety" (Seguridad eléctrica)
Además, se deben cumplir las leyes y las normas internas de seguridad complementarias pertinentes.
2.2 Medidas de seguridad

Antes de iniciar una medición, lea las normas de seguridad del manual de referencia de los dispositivos
CPC 100, CP TD1 y CP CR500 y observe las instrucciones de seguridad específicas de esta nota de
aplicación al realizar las mediciones para protegerse de los riesgos de alta tensión.
2.3 Documentos relacionados
Título Descripción
Contiene información sobre la utilización del sistema de prueba
Manual de referencia del CPC 100
CPC 100 e instrucciones pertinentes en materia de seguridad.
Manual de referencia del CP TD1
CP TD1 e instrucciones pertinentes en materia de seguridad.
Manual de referencia del CP CR500
CP CR500 e instrucciones pertinentes en materia de seguridad.
Guía de aplicación: Medición de la
Contiene información general sobre la medición del factor de
capacitancia y del factor de disipación
disipación (factor de potencia) en diferentes activos.
con CPC 100 + CP TD1

3 Medición dieléctrica en máquinas rotatorias
El siguiente documento se aplica a todo tipo de barras individuales, bobinas o devanados completos
impregnados al vacío o envueltos con cinta rica en resina.
Las pruebas dieléctricas de las máquinas rotatorias pueden ayudar a identificar posibles problemas
en el aislamiento antes de que se produzcan defectos o daños. La medición dieléctrica se realiza con
una alta tensión de CA a la frecuencia nominal con el fin de obtener un comportamiento del sistema
de aislamiento cercano al real. La prueba no es destructiva para sistemas de aislamiento en buen
estado y se realiza durante una parada de la máquina.
3.1 Teoría del factor de disipación

En un condensador ideal sin pérdidas dieléctricas, la corriente del aislamiento está adelantada
exactamente 90° en función de la tensión aplicada. En un aislamiento real con pérdidas dieléctricas,
este ángulo es inferior a 90°. El aislamiento de una máquina eléctrica rotatoria puede modelizarse
mediante una capacitancia sin pérdidas con una resistencia óhmica paralela que represente las
pérdidas del sistema de aislamiento (Figura 1). Estas últimas son causadas por:
 Corrientes superficiales
 Corrientes de fuga
 Descargas parciales
 Pérdidas por polarización
Figura 1: Diagrama de circuito equivalente paralelo y diagrama vectorial de un sistema de aislamiento de máquina rotatoria.
La aplicación de una tensión a los componentes paralelos hace que fluya una corriente I C a través de
la capacitancia, así como a través de la resistencia IR. Por lo tanto, la corriente total I tiene un
componente resistivo y un componente capacitivo. Se puede suponer una relación causal entre las
pérdidas y la parte resistiva, ya que cuanto mayor sean las pérdidas, mayor será la corriente resistiva.
La causa del ángulo δ = 90° - φ es la parte resistiva de la corriente total y es proporcional a las
pérdidas, lo que conduce a la definición de la tan (δ) expresada en la Figura 1 como una indicación
del estado general del sistema de aislamiento de una máquina eléctrica:
1
tan⁡(δ) =
ω ∗ 𝐶𝑃 ∗ 𝑅𝑃
IR = U/Rp
IC = ωCpU

3.2 Factor de disipación o factor de potencia
Otro parámetro comúnmente utilizado en Norteamérica cuando se habla de pruebas dieléctricas en
máquinas rotatorias es el denominado factor de potencia. En este caso, la definición es diferente del
factor de disipación. Suponiendo de nuevo que el diagrama vectorial de Figura 1 muestra el factor de
potencia (PF) como el cociente entre la parte resistiva de la corriente I R y la corriente total I:
𝐼𝑅
𝑃𝐹 = = cos 𝜑
𝐼
tan 𝛿
𝑃𝐹 =
√1 + tan² 𝛿
Si el factor de disipación (tan δ) es muy pequeño –típicamente inferior al 10 %–, lo que puede darse
por sentado cuando se mide un aislamiento eléctrico de la máquina en buen estado, el factor de
disipación y el factor de potencia difieren en una cantidad despreciable y se puede suponer que tienen
el mismo valor. La Tabla 1 ofrece una idea acerca de esta afirmación.
Tabla 1: Comparación entre los valores de correlación del factor de potencia dieléctrico cos (φ) y el factor de disipación
dieléctrico tan (δ) y su diferencia (IEC 60034_27_3).
Factor de potencia Ángulo φ Ángulo δ Factor de disipación Diferencia

dieléctrico cos (φ) (grado) (grado) dieléctrico tan (δ)
Factor de potencia
dieléctrico cos (φ)
Se puede cambiar muy fácilmente entre las dos formas en el software del CPC, como se explica en
la Figura 2. Por razones de simplicidad y para evitar repeticiones, en el capítulo siguiente solo se
menciona el factor de disipación. Dado que la diferencia entre el factor de disipación y el factor de
potencia es mínima. En cuanto a las pruebas de máquinas rotatorias, todas las afirmaciones del
capítulo siguiente se aplican tanto al factor de disipación como al factor de potencia.

Figura 2: Cambio entre las dos formas de parámetro en una medición dieléctrica y vista global de la plantilla de la máquina
rotatoria de OMICRON según la página de inicio del CPC.

4 Preparación de la prueba del factor de disipación
La preparación de la prueba se puede realizar fácilmente en la oficina con la página de inicio del CPC.
OMICRON ofrece una plantilla para las pruebas de máquinas rotatorias, que puede adaptarse y
ampliarse a las necesidades individuales. La Figura 2 muestra esta plantilla, que se describe en este
capítulo más pormenorizadamente.
4.1 Vista general del editor CPC y de la tarjeta de prueba

La plantilla del generador se puede encontrar en la página de inicio del CPC (Figura 3).
Figura 3: Página de inicio del CPC con una ruta de acceso a la plantilla del generador
Al abrir el archivo de la plantilla, aparece el editor de CPC con la combinación de tarjetas de prueba
mostrada en Figura 4. La plantilla predeterminada consta de dos tarjetas de prueba de comentarios
y ocho tarjetas de prueba de factor de disipación.
Se muestra la formación de acuerdo con el procedimiento de prueba y requiere una medición de
capacitancia y una comprobación del circuito resonante con la información de la placa de
características del generador. La razón de estas dos mediciones se explica en el capítulo 5.
Después de realizar la medición, la plantilla Excel File Loader adopta automáticamente los datos de
medición del archivo de medición para obtener un informe rápido y fácil.
Ambas herramientas –la plantilla de prueba con las tarjetas de prueba y el Excel File Loader– pueden
ser adaptadas por el usuario de acuerdo a sus necesidades.
Para obtener una descripción detallada de la página de inicio del CPC, consulte el manual de
referencia del CPC 100.

Figura 4: Vista de la plantilla del generador en el Editor de CPC
4.1.1 Selección del parámetro correcto en la tarjeta de prueba TanDelta-PF

La tensión más alta durante la prueba se define en normas nacionales o internacionales, o se obtiene
mediante los procedimientos de prueba internos de acuerdo con las necesidades del operador.
OMICRON sugiere medir el factor de disipación en pasos del 10 % de la tensión máxima definida
para la máquina. La rampa resultante se sigue de forma ascendente (es decir, desde el 10 % al 100 %
de la tensión máxima definida) y descendente (del 100 % al 10 % de la tensión máxima).
La razón para realizar la rampa en ambas direcciones es que se obtiene más información de los
resultados (en el capítulo 6 se ofrecen más detalles).
También son comunes los pasos del 20 % de la tensión de prueba. La única diferencia con la
sugerencia de OMICRON es una menor resolución de la medición de descargas parciales, que puede
realizarse en paralelo.
Los pasos de tensión se definen en la Lista de puntos de prueba automáticos de la tarjeta de prueba
TanDelta-PF del CPC. Si se realiza la medición en pasos hacia arriba y hacia abajo, no es posible
elegir exactamente la misma tensión para ambas rampas ya que no se puede ajustar en el dispositivo
un segundo punto de prueba automático con el mismo valor. En este caso basta con elegir una tensión
que difiere en 1 V del valor elegido (en el ejemplo de la Figura 5 5999 V en vez de 6000 V).
Figura 5: Lado izquierdo: Los Puntos de prueba automáticos difieren ligeramente en las rampas ascendente y descendente;
Lado derecho: Número de mediciones para un resultado de promedio

Si la frecuencia de medición es la misma que la frecuencia predeterminada del dispositivo (la
frecuencia predeterminada se puede comprobar presionando el botón de opciones del dispositivo y
yendo a la ficha "configuración del dispositivo"), el CPC utilizará un algoritmo de supresión de ruido
que realiza una medición en dos frecuencias diferentes y a continuación en la frecuencia nominal. El
resultado es una interpolación de las dos mediciones.
En cuanto a las máquinas rotatorias, el nivel de señal-ruido es mucho mayor, por lo que no es
necesario el algoritmo de supresión de ruido. Además, la compensación (véase el capítulo 5.1) se
optimiza para una sola frecuencia. Por lo tanto, ajuste la frecuencia predeterminada del dispositivo
en una frecuencia diferente a la frecuencia de prueba.
Una solución podría ser probar a 50,01 Hz si 50 Hz es la frecuencia nominal, o 60,01 Hz con 60 Hz
como frecuencia nominal.
Con el número de promedio marcado en la Figura 5, se elige el número de mediciones para

determinar un solo resultado. En el ejemplo mostrado en la Figura 5, se promedian seis mediciones
para un solo resultado y se realizan en cada paso de tensión. Cuando se realiza simultáneamente
una medición de DP, se puede variar la duración de un paso de tensión usando el número promedio.
En la pantalla del CPC (no en el editor de CPC), se muestra la duración aproximada del paso al
cambiar el valor.
La medida del factor de disipación debe realizarse en el modo GSTg-A+B como guarda de la corriente
desde la ruta paralela del CP CR500 (véase también la Figura 16). Lo mismo es de aplicación para
la medición de la capacitancia. La comprobación de la frecuencia de resonancia se realiza en el modo
GST para medir todo el circuito de medición.
5 Configuración de las mediciones

Para garantizar un sistema de peso ligero con una necesidad mínima de energía, la solución de
OMICRON es un sistema resonante paralelo junto con la capacitancia de prueba. Esto significa que
la gran capacitancia del equipo en prueba (representada por CPrueba) produciría una enorme
potencia aparente al aplicar alta tensión. Para minimizar esto, la capacitancia del objeto de prueba se
compensa con resonadores paralelos (CR 500). La potencia restante requerida se causa mediante
pérdidas y el resto de la potencia aparente que no se compensa de manera ideal. Esta se suministra
mediante el CPC 100 en combinación con el CP TD1. Para comprender mejor el concepto, consulte
el siguiente capítulo en Compensación.

5.1 Compensación
La imagen a) de la
Figura 6 muestra el principio de un sistema de resonancia paralelo; donde los resonadores paralelos
y la capacitancia de prueba se consideran ideales, lo que causa un mínimo de corriente de prueba
resultante Itotal como una suma vectorial de IPrueba e IComp.
Figura 6: Esquema de circuito equivalente del circuito de resonancia paralelo con diagrama vectorial
La imagen a) de la
Figura 6 representa un circuito resonante paralelo ideal, donde la capacidad y la inductividad teóricas
están libres de pérdidas. La imagen b) de la

Figura 6 representa el diagrama vectorial con componentes con pérdidas reales. La compensación
de la parte reactiva no se hace de manera perfecta, y la corriente total I total también tiene una parte
real. La parte real es el resultado de las pérdidas del propio equipo en prueba (que produce el ángulo
de pérdidas δ de la imagen), de las pérdidas en los cables hasta el equipo en prueba y de las pérdidas
del reactor de compensación.
No obstante Itotal es generalmente mucho más pequeña que la corriente de prueba necesaria IPrueba a
una determinada tensión y puede suministrarse mediante el CPC 100 en combinación con el CP TD1.
5.1.1 Elección de la compensación adecuada

Para comprender mejor qué resonadores paralelos (CR 500) se utilizan para una determinada carga
capacitiva, se presenta un ejemplo de una medición real de una máquina de 56 MVA. El
hidrogenerador sometido a prueba tiene los siguientes datos:
 10 kV
 352 nF de capacitancia fase a tierra
 50 Hz
Para una medición monofásica se considera la tensión nominal como tensión de prueba.
Figura 7: Pruebas de la tan (delta) sin reactores de compensación
Sin compensación, la fuente tiene que proporcionar la totalidad de la corriente capacitiva IPrueba,
incluida toda la parte activa ITa (pérdidas del equipo en prueba) así como la parte reactiva I Tr. Este
caso se muestra en la Figura 7, donde la parte reactiva de la corriente de prueba –como de
costumbre– es mucho mayor que la parte activa. Como se ha mencionado anteriormente, la potencia
aparente máxima total, que debe proporcionar el CP TD1, se puede calcular como sigue:
𝑆 = 𝑈𝑇𝑒𝑠𝑡 ∗ 𝐼𝑇𝑒𝑠𝑡 = 𝑈 2 ∗ 𝑗𝜔𝐶𝑇𝑒𝑠𝑡 = 11,1𝑘𝑉𝐴
Estableciendo un circuito resonante paralelo, la parte reactiva capacitiva I Tr se puede compensar

mediante el CP CR 500. Considerando el circuito ideal de la

Figura 6, se puede suponer el sistema en resonancia si se cumple la condición siguiente:
1
=2∗𝜋∗𝑓∗𝐿
2∗𝜋∗𝑓∗𝐶
f frecuencia de prueba
C capacitancia del equipo en prueba
L reactancia del compensador
Por tanto el cálculo de la compensación es:
1
𝐿=
4 ∗ 𝜋2 ∗ 𝑓2 ∗ 𝐶
f frecuencia de prueba
C capacitancia del equipo en prueba
L reactancia del compensador
En nuestro ejemplo, haría falta un reactor paralelo de L Comp= 28,78 H para una compensación perfecta
mostrada en la Figura 8. La corriente resultante ITotal es la suma restante de la parte activa de la
inductancia con pérdidas, así como de la capacitancia con pérdidas.
Figura 8: Circuito resonante paralelo con diagrama vectorial

Como OMICRON ofrece reactores de 80 H y 40 H, la mejor compensación puede lograrse
conectando en paralelo un reactor de 40 H y un reactor de 80 H, lo que da como resultado una
reactancia de 26,6 H.
Figura 9: Compensación con los reactores de OMICRON
La corriente ITotal es ahora ligeramente más alta que en la Figura 9 y estará en el rango de los 100 mA
dependiendo de las pérdidas del equipo en prueba y el circuito de medición en general. Sin embargo,
no se requiere una compensación perfecta, ya que el CP TD1 puede proporcionar la corriente
requerida de 100 mA sin problemas.
El ángulo de pérdidas δ no se ve influido ya que la corriente que pasa por las bobinas de
compensación cuenta con conexión de guarda.

En general, se da una relación inversamente proporcional entre la capacitancia de prueba y la
reactancia de compensación (es decir, una capacitancia mayor requiere una inductancia de
compensación más pequeña; véanse las fórmulas anteriores). Se pueden conseguir valores más
pequeños para la inductancia de compensación conectando en paralelo múltiples reactores
CP CR500.
El siguiente diagrama muestra los tipos y magnitudes del CR 500 que se requieren para compensar
una determinada capacitancia. También muestra la corriente ITotal, que no está compensada y tiene
que suministrar el CPC 100 y el CP TD1. Se supone que la tensión de prueba es de 12 kV, la corriente
máxima de salida del CP TD1 es de 300 mA.
Figura 10: Ejemplo de diferentes conexiones de compensación mediante una capacitancia de prueba dada en nF
Sin ninguna compensación, el CPC 100 en combinación con el CP TD1 es capaz de suministrar una
carga capacitiva de 80 nF. Si el equipo en prueba tiene una capacitancia de por ejemplo 120 nF, hay
que conectar un reactor de compensación de 80 H en paralelo para alcanzar los 12 kV.
Hay que utilizar reactores de compensación para garantizar la compensación de capacitancias

mayores de 80 nF y también para las pruebas a la frecuencia nominal. Se puede utilizar una
combinación de 40 H / 80 H para compensar capacidades de hasta aproximadamente 450 μF. Para
capacidades mayores, se deben conectar en paralelo otros reactores de 40 H.
Los valores de arriba están calculados a 50Hz.
Debido al nivel de aislamiento de la salida de BT del CP CR500, no se permite la

conexión en serie de las bobinas ya que dañaría el dispositivo.
La elección de la mejor configuración de medición, es decir, la mejor compensación, se describe en

el siguiente capítulo 5.1.2.

5.1.2 Pasos para realizar la compensación
Hay dos maneras posibles de calcular la mejor compensación: hacerlo con el CPC 100 o bien en la
computadora usando la herramienta de cálculo de OMICRON. Ambas alternativas necesitan la
capacitancia del equipo en prueba frente a tierra. Si no se obtiene este valor de una medición anterior
o de una prueba de aceptación en fábrica, hay que medir la capacitancia en sitio utilizando la
configuración siguiente sin compensación:
Figura 11: Configuración de medición para medición de la capacitancia
La plantilla de prueba de OMICRON para máquinas rotatorias de la página de inicio del CPC
proporciona la tarjeta de prueba C-MEAS para medir la capacitancia del equipo en prueba.
Medición de la capacitancia del

equipo en prueba.
Después de calcular y conectar

los reactores de compensación
necesarios, se mide la frecuencia
de resonancia para garantizar
que la compensación se ha
realizado correctamente.
Realización de una prueba tan-

delta para cada fase (en este
caso, las tarjetas de prueba
adicionales están en la plantilla
para medir el factor de disipación
en un rango de frecuencias)
Figura 12: Vista general de la tarjeta de prueba de las máquinas rotatorias de OMICRON

Nota:
La tarjeta de prueba de frecuencia de referencia es una herramienta para verificar que la
compensación se realiza correctamente. Las mediciones, que identifican el factor de disipación de las
fases individuales, pueden llevarse a cabo a la frecuencia nominal.
Después de obtener el valor de capacitancia fase-tierra, el cálculo de la compensación se puede

hacer:
 manualmente (consulte el capítulo 5.1.1)
 utilizando la tarjeta de prueba de alta tensión de OMICRON
 utilizando la herramienta de compensación OMICRON Excel
5.1.3 Tarjeta de prueba Fuente de alta tensión TD1 de OMICRON

El uso de la tarjeta de prueba Fuente de alta tensión TD1 es una posibilidad para medir la capacitancia
del equipo en prueba, calcular la compensación correcta y medir la frecuencia de resonancia.
La tarjeta de prueba Fuente de alta tensión TD1 está diseñada para usar el CP TD1 como fuente de
alta tensión, pero no puede medir el factor de disipación. Sin embargo, dispone de la opción de medir
la capacitancia, calcular la compensación y medir la frecuencia de resonancia resultante.
Figura 13: Tarjeta de prueba Fuente de alta tensión; Detalle
Siguiendo la descripción de los puntos de la Figura 13:

1. Inserte una tensión de prueba: La tensión de prueba debe ser menor que la tensión nominal
de la máquina. Tenga en cuenta que no se realiza compensación alguna cuando se mide la
capacitancia, por tanto, se sugiere un nivel de tensión entre 500 V y 2000 V.
2. Compruebe la capacitancia del equipo en prueba y calcule la compensación: El cálculo
de la compensación se realiza automáticamente. Una vez definidas las bobinas CP CR500
disponibles, el dispositivo muestra la mejor configuración de la medición.
3. Segundo paso: Crear la configuración de la prueba. Presionando el botón de opciones,
aparecerá la pantalla de la Figura 14. En la tarjeta de prueba Fuente de alta tensión TD1
puede ingresar la cantidad y el tipo de CP CR500 disponibles para calcular la mejor
compensación en la configuración de la prueba. Conéctelos de acuerdo con la sugerencia de
la tarjeta de prueba.
4. Verifique que la compensación se realiza correctamente midiendo la frecuencia de
resonancia. El diagrama de cableado correspondiente se visualiza presionando el botón de
"Cableado". Nota: Aunque la frecuencia de resonancia no sea igual a la frecuencia nominal,
la medición se puede realizar a la frecuencia nominal, ya que el CPC 100 en combinación
con el TD1 es capaz de suministrar la potencia reactiva que falta.

Cantidad disponible
y tipo de CR500
Cantidad sugerida y tipo

de CR500 para usar y
calcular la frecuencia de
resonancia
Figura 14: Vista de la tarjeta de prueba de alta tensión pulsando el botón de opciones
5.1.4 Herramienta de compensación OMICRON Excel

La herramienta para el cálculo de la compensación necesaria para un equipo en prueba dedicado se
puede descargar en el área de clientes de la página principal de OMICRON. Esta herramienta calcula
la compensación óptima para todas las combinaciones posibles de todas las bobinas actualmente
disponibles para la prueba.
La corriente es la total necesaria del TD1 e incluye:

 La corriente que queda de la compensación si la frecuencia de resonancia no es la frecuencia
de prueba
 La parte activa de la corriente como resultado del factor de disipación (valor estimado, basado
en la experiencia de OMICRON)
 La parte activa de la corriente a partir de las pérdidas de las bobinas del CR500, como un
valor medio sobre una determinada cantidad de muestra de prueba.
Figura 15: Formulario de entrada - Todas las celdas amarillas son valores de entrada obligatorios proporcionados por el usuario

A continuación se ofrece una breve explicación de los diferentes valores de entrada:
 Frecuencia de prueba: Frecuencia a la que se realiza la prueba (normalmente frecuencia

nominal).
 Tensión de prueba más alta: La tensión más alta alcanzada durante la prueba.
 Capacitancia de prueba: Capacitancia del equipo en prueba que incluye capacitancias

adicionales (por ejemplo, condensadores de acoplamiento).
 Inductancia real requerida para una compensación perfecta: Valor teórico de inductancia
requerido para compensación exactamente a la frecuencia de prueba (frecuencia de prueba
= frecuencia de resonancia).
 Bobinas disponibles: Ingrese la cantidad de bobinas disponibles para la medición (tenga en

cuenta: la cantidad de CR500 ≠ cantidad de bobinas, 1 x CR500 = 2 bobinas).
 Bobinas para la mejor compensación: Mejor combinación de bobinas (con la corriente más
baja) para la compensación a la frecuencia de prueba ingresada.
 Inductancia real (con bobinas sugeridas): Inductancia total como resultado de las bobinas
sugeridas.
Después de rellenar el formulario de entrada, haga clic en el botón "Optimizar compensación" y se

ejecutarán todos los cálculos.
5.2 Preparación del equipo en prueba

En máquinas rotatorias, se mide generalmente la fase a tierra del aislamiento del estator. Como la
comparación de las diferentes fases es muy útil para el análisis, es importante separar las fases entre
sí (por ejemplo, abriendo el punto en estrella). Cualquier otro componente eléctrico, que esté
conectado directamente a las fases como cables, etc., también debe desconectarse, ya que de otro
modo influiría en la medición. Si esto no es posible, hay que tener en cuenta que estos componentes
también se incluirán en la medición.
5.3 Estructura del circuito de prueba

Antes de comenzar
Asegúrese de que el CPC 100, el CP TD1 y el CP CR500 están correctamente
conectados a tierra y el generador está desconectado de la línea. Siempre toque
primero los cables y terminales con un piquete de toma de tierra.
Por su propia seguridad:

Siga SIEMPRE las cinco normas de seguridad:
1. Desconectar la red eléctrica
2. Evitar la reconexión
3. Probar la ausencia de tensiones peligrosas
4. Conectar a tierra y cortocircuitar
5. Cubrir o acotar las partes activas cercanas

La formación del circuito de prueba se muestra en la Figura 16, donde algunos componentes están
marcados con números. La siguiente lista ofrece una vista global de los diferentes componentes:
1) Cable de puesta a tierra
2) Cable del amplificador del CPC 100
3) Cable serie del CPC 100 al CP TD1
4) Conexión de seguridad con el CP CR500
5) Conexión de guarda con el CP CR500
6) Cable de alta tensión desde CR500 al equipo en prueba
7) Cable de alta tensión del CP TD1
Figura 16: Configuración del circuito de prueba con los elementos numerados
Lo que sigue es una descripción de los elementos enumerados:
1) Cable de conexión a tierra

Antes de continuar con la configuración de la prueba o de encender el CPC 100, asegúrese
de que todos los dispositivos estén conectados a tierra correctamente.
2) Cable del amplificador del CPC 100:

La conexión de alimentación del CPC 100 al amplificador de tensión CP TD1
3) Cable serie del CPC 100 al CP TD1

Garantiza las comunicaciones entre el CPC 100 y el CP TD1.
4) Conexión de seguridad con el CP CR500

La conexión de seguridad al CP CR500 implementa el resonador en el sistema de seguridad
del CPC 100. Si hay un problema de sobrecorriente (por ejemplo, debido a una configuración
de prueba incorrecta), el CP CR500 detendrá la prueba automáticamente.
La conexión se realiza con el cable especial de accesorios que se muestra en la parte

izquierda de la Figura 17, donde el conector en serie sustituye al dongle de seguridad del
CPC 100 y el conector especial termina la entrada SAFETY A (Figura 17, lado derecho). El
dongle de seguridad también termina el conector SAFETY B.

Mediante el uso de más de un CP CR500, la conexión entre los diferentes CP CR500 se
realiza con el cable especial para accesorios. La entrada SAFETY B del último CP CR500 se
termina con el dongle de seguridad.
Figura 17: Cable de conexión para la implementación del CP CR500 en el concepto de seguridad del CPC 100
5) Conexión de guarda con el CP CR500:

La conexión de guarda con el CP CR500 garantiza que el propio resonador no influya en los
resultados de medición. La conexión de guarda se realiza con el cable de medición del
CP TD1 que conecta el conector especial en el zócalo (véase la Figura 17, izquierda).
6) Cable de alta tensión desde CR500 al equipo en prueba:

La conexión desde el CP CR500 al equipo de prueba se realiza con los cables rojos de la
Figura 18 utilizando el soporte que proporciona suficientes zócalos para 4 bobinas y el cable
de alta tensión del CD TD1.
Figura 18: Conexión de los cables del CP CR500 al equipo en prueba y soporte para la conexión al equipo en prueba.
Los cables del CP CR500 son cables no apantallados y, por tanto, pueden ser punto de inicio
de actividad de descargas parciales, cuando tocan el potencial de tierra. Especialmente
cuando se realiza en paralelo una medición de la tan (delta) y una medición de descargas
parciales (DP), este factor influye en la medición de las DP. La imagen de la derecha de la
Figura 19 muestra una configuración de prueba sin DP para una medición en paralelo de la
tan (delta) y la actividad de DP de la máquina.

1) Alimentación de alta tensión para medición
combinada del factor de disipación y de
descargas parciales
2) Las conexiones a los terminales se
mantienen a una distancia segura de
cualquier potencial de tierra mediante papel
Nomex
3) Tubo de material plástico para garantizar que
los cables no estén en contacto con el suelo
Figura 19: Configuración de medición en el emplazamiento del generador para una medición combinada del factor
de disipación y de descargas parciales (observe que los cables rojos no están en contacto con tierra)
La imagen izquierda de la Figura 19 muestra un CP CR500 totalmente conectado con el

conector especial del cable de seguridad, el cable de medición del CP TD1 conectado al
zócalo (conector cónico azul) y el dongle de seguridad que termina el conector SAFETY B.
En este caso, se utilizan ambas bobinas del CP CR500. La carcasa se conecta a tierra a
través del cable de conexión a tierra y se conecta al tornillo de conexión a tierra.
7) Impedancia de bloqueo BLI1:

Un dispositivo de filtro pasivo cuando se miden en paralelo la tan (delta) y las descargas
parciales, lo que permite la medición de descargas parciales en el mismo punto en el que
tiene lugar la inyección. La BLI1 bloquea las perturbaciones de alta frecuencia procedentes
de la fuente.
8) Cable de alta tensión del CP TD1

La conexión al CP TD1 es un cable apantallado en el que la corriente de apantallamiento
tiene una guarda interna.
Importante para que no influya en los resultados de la medición es la sección de la conexión

de alta tensión al equipo en prueba, que tiene un recubrimiento contra estrés para garantizar
una compensación de potencial suave desde la alta tensión al apantallamiento del cable.
Bajo alta tensión, esta sección no debe tocar ninguna parte conectada a tierra y, por tanto,
debe estar a una distancia adecuada de cualquier parte conectada a tierra en relación con la
salida de alta tensión.
Arriba se muestra un ejemplo en la Figura 20 donde la primera sección del cable de la
impedancia de bloqueo BLI 1 no está en contacto con ningún componente de tierra.

Figura 20: Conexión de alta tensión a la BLI 1 para una medición combinada del factor de disipación y de DP con
condensador de acoplamiento y el sistema MPD

5.3.1 Medición de factor de disipación entre dos fases
Además de la medición de una fase, una medición común es medir entre dos fases. En este caso la
capacitancia del fin de devanado (o cabeza de bobina) entre dos fases es medida y la corriente a
tierra es guardada. Por eso, un segundo cable es conectado a la fase donde se realiza la medida. La
Figura 21 muestra un ejemplo de una medición de fase U a fase V (U-V).
Figura 21. Arreglo para medición de factor de disipación entre fases U y V.
Ya que el modo de prueba cambia del modo GST-guarda (GST-A+B), los ajustes de la tarjeta de
prueba en la CPC deben modificarse también. Usando el arreglo descrito arriba el canal B es la
entrada de medición por lo tanto el modo UST-B es seleccionado (Figura 22).
Figura 22: Tarjeta de prueba CPC con modo UST-B

5.4 Vista general: Medición del factor de disipación paso a paso
• Prepare la prueba en la oficina

Preparación
• Mida la capacitancia si no se obtiene el valor por otra fuente

• Debido al diseño simétrico, las tres fases tienen valores similares
Capacitancia del
equipo en prueba
• Conecte la cantidad necesaria de bobinas CP CR500 para establecer

el circuito resonante paralelo
Compensación
• Verifique que la compensación es la correcta midiendo la frecuencia

de resonancia.
Realice la prueba • Realice la medición del factor de disipación
• Analice los resultados de la prueba exportando los datos al Excel

Análisis de los
File Loader
resultados

6 Evaluación de la medición
Las máquinas rotatorias son pequeños productos en serie o no en serie con características de
materiales muy variadas. No existe un límite general con respecto al factor de disipación, aun
consultando al fabricante. Sin embargo, la medición del factor de disipación proporciona una
indicación confiable sobre el estado general de la máquina rotatoria comparándola con la medición
para la huella digital utilizando las mismas condiciones. En los capítulos siguientes se facilita
información más detallada.
6.1 Influencia de la compensación de potencial final

La compensación de potencial final (EPG) es una zona semiconductora en el devanado final de las
máquinas de media tensión. Se puede encontrar con diversas denominaciones en la documentación
técnica: compensación semiconductora, compensación del estrés del devanado final o el mencionado
EPG son solo algunas de las denominaciones que indican la misma zona, mostrada en la Figura.
Atención: La EPG no es lo mismo que la protección anticorona exterior (OCP) que es la capa
conductora o barniz en el extremo del aislamiento de la pared principal en la sección de ranura.
Compensación
de potencial
final (EPG)
Figura 23: Posición de la compensación de potencial final (EPG) en la barra individual
La pintura o cinta semiconductora provoca una reducción definida del potencial de alta tensión
desde los contactos de soldadura al núcleo de chapas conectado a tierra. Aunque se aplique el
aislamiento en el área del devanado final, esta área está en potencial de alta tensión debido al
acoplamiento capacitivo. La parte de ranura, por definición, tiene el potencial de tierra, por lo tanto,
se crea una superficie limítrofe con altos gradientes de potencial en la zona del devanado final.
Sin la EPG aparecerían altos gradientes de campo eléctrico en el núcleo de chapas, que causarían
altas descargas como se muestra en la Figura 24.

Sin EPG Con EPG
Figura 24: Intensidad de campo simulada sin EPG y con EPG
La Figura 25 muestra la simulación teórica del área EPG, que suaviza el potencial eléctrico en la
superficie limítrofe entre alta tensión y tierra.
Figura 25: Diferentes sondas de prueba sin EPG (arriba); EPG en el lado izquierdo (centro); y con EPG (abajo); (Weidner,
2008)
El carburo de silicio (SiC) es el componente primario y es responsable del comportamiento del área
de compensación de potencial final durante la prueba del factor de disipación. Es muy conocido en el
sector de los abrasivos y se aplica como relleno en un barniz o como componente de cinta en la barra.
Puede suponerse un comportamiento eléctrico como microvaristores. Su mecanismo de conducción
se muestra en la Figura 26.

Figura 26: Ilustración esquemática de la influencia de diferentes mecanismos de conducción de una barrera Schottky.
Después de alcanzar la tensión de ruptura VBD, el micro-varistor actúa como conductor. Para la
medición del factor de disipación esto da como resultado un comportamiento de conducción
dependiente de la tensión en la zona del devanado final. Actúa como una derivación al aislamiento
de la pared de tierra. Dependiendo de las propiedades del material, el punto de avalancha se alcanza
antes o después y hace que la medición del factor de disipación sea una medición de la huella digital
como se ha dicho. Este comportamiento eléctrico del carbono de silicio conduce al diagrama de
circuito equivalente que se muestra en la Figure 27.
Figura 27: Diagrama de circuito equivalente de la compensación de potencial final
Otra influencia del comportamiento de la EPG se puede ver en la medición de la capacitancia.

Conforme aumenta la tensión, la capa de SiC se vuelve cada vez más conductora. Dependiendo de
la tensión, "extiende" la capa OCP. Por lo tanto, un aumento en el valor de la capacitancia es normal
durante una medición desde 0,1 Un hasta 1,0 Un (Un es la tensión de prueba más alta). La actividad
de DP (actividad de descargas parciales) también influye en el valor de la capacitancia, ya que cambia
las propiedades dieléctricas de los espacios vacíos en el aislamiento. El efecto del aumento de la
capacitancia puede observarse en todas las máquinas, independientemente de que hayan estado en
funcionamiento durante años (muy probablemente con alta actividad de DP) o que sean máquinas
nuevas (muy probablemente con baja actividad de DP).

Figura 28: Rutas de corriente durante una medición de la tan (delta) – Las corrientes de EPG se mencionan como "Corrientes
superficiales"
6.1.1 Ejemplo práctico

Para demostrar la influencia de la compensación de potencial final, se modificó un solo miembro de
una bobina de 6 kV raspando un hueco de aislamiento en la OCP. Esto permite una medición con la
posibilidad de conectar una guarda para las corrientes superficiales y medir los parámetros
dieléctricos puros del aislamiento de la pared de tierra.
El principio se explica en la Figura 29, donde la sección de ranura simulada representa el electrodo
de medición y se utilizaron los electrodos de guarda como entrada A o B en el CP TD1.
Electrodos de guarda
Huecos del recubrimiento

semiconductor de la ranura
Ranura simulada
Al circuito Al circuito Al circuito

de guarda de medición de guarda
Figura 29: Miembro modificado de la bobina de acuerdo con IEEE 286/2000, 2001

Los resultados se representan en la Figura 30, donde en el lado izquierdo se muestra la configuración
de medición sin electrodos de guarda y en el lado derecho la medición con electrodos de guarda.
Con anillos
de guarda
Sin anillos
de guarda
Figura 30: Resultados de las diferentes configuraciones de medición
Para la medición sin anillos de guarda, se puede observar un aumento mucho mayor de la tan (delta),
ya que la EPG es relativamente conductora y responsable de un aumento casi lineal. El valor inicial
para ambos diagramas es casi igual, ya que la EPG no es conductora a 600 V.
En el lado derecho de la Figura 30, el valor de la tan (delta) es casi igual hasta 3 kV y comienza a
aumentar lentamente hasta el 2 %, en comparación con el 3,75 % en la configuración de medición
sin anillos de guarda.

6.2 Medición de la huella dactilar
Como la medición del factor de disipación forma parte de la medición para la huella digital y se ve
muy influida por las corrientes superficiales del devanado final (que se han descrito), el estado de la
zona del devanado final deberá ser el mismo para lograr una medición reproducible. Por lo tanto, es
recomendable limpiar esta parte del devanado para asegurarse de que la superficie esté limpia y seca
y conseguir condiciones reproducibles para cada medición sin rutas de corriente adicionales.
IMPORTANTE:
Antes de limpiar el área del devanado final, busque trazas de DP (por ejemplo, polvo blanco) y
documéntela para la medición en paralelo del factor de disipación y las DP (Figura 31).
Las trazas proporcionan una indicación de la actividad de DP en el devanado final y también el posible
mecanismo de falla.
Figura 31: Trazas de descargas parciales en el área del devanado final ("polvo blanco")
La comparación de las diferentes medidas en función del tiempo en las mismas circunstancias (por
ejemplo, superficie, temperatura, humedad del devanado final) ofrece la mejor posibilidad de evaluar
el estado del devanado.
6.2.1 Comparación de fases

Si no hay resultados de huella digital disponibles, la comparación entre fases puede ser una solución
equivalente adecuada para lograr una indicación confiable del estado de la fase. Debido a la
estructura simétrica de los devanados de estator del generador, solo deberá haber ligeras variaciones
en los resultados de las diferentes fases

Figura 32: Ejemplo de una comparación de fases
La medición representada en la Figure 32 muestra un ejemplo de una comparación entre fases de un

devanado en buen estado. Una comparación entre las fases muestra un incremento similar de la tan
(delta) entre cada uno de los pasos. El valor absoluto del factor de disipación es similar para las tres
fases también. Además, la histéresis de la rampa ascendente y descendente muestra el mismo
comportamiento. Un análisis de tendencias con una medición realizada cuatro años antes indicó
consistencia a través del tiempo (esta medición no se muestra en la gráfica).
6.3 Parámetros de la medición del factor de disipación

Cuatro parámetros son esenciales para analizar los resultados de una medición del factor de
disipación:
 Factor de disipación a bajas tensiones (primer paso de tensión) como valor de huella digital
 Delta tan (delta) en cada intervalo para identificar el incremento de tan (delta) más alto
 Tip-up característico de la tan (delta) entre los diferentes pasos de tensión predefinidos (por
ejemplo 0,6 Un y 0,2 Un)
 Forma de la curva de la rampa de tan (delta)
Utilizando el método de OMICRON con la rampa descendente, se puede incluir en el análisis un

quinto parámetro, la histéresis de DP. Esto da una indicación sobre la actividad de DP en el devanado
(palabras clave: tensión de inicio y de extinción). Una histéresis superior de la tan (delta) es un
indicador de mayor actividad de DP en el aislamiento de la pared de tierra. Generalmente, se puede
realizar una evaluación comparando los valores absolutos de la tan (delta) o usando la gráfica del
factor de disipación con la tensión.

6.3.1 Casos de uso
Los siguientes ejemplos de diferentes mediciones deberán dar una idea de la diversidad de las
posibles gráficas del factor de disipación. Las mediciones proceden de diferentes máquinas de alta
tensión, que representan diferentes etapas de deterioro. Se realizó una medición en paralelo de DP.
Figura 33: Ejemplo de medición de tan (delta) (1)
El ejemplo de la Figura 33 muestra un valor de factor de disipación relativamente constante a

tensiones más bajas. A 4 kV, la EPG es más conductora Aproximadamente a la misma tensión,
también comienza la actividad de DP. Esto se confirmó con la medición en paralelo de la DP. El
incremento de la tan (delta) es de aproximadamente el 2 % comenzando desde el 1 % a 1 kV hasta
el 3 % a 12 kV.
Figura 34: ejemplo de medición de la tan (delta) (2)

El ejemplo de la Figura 34 muestra un generador de 1968 con baja actividad de DP (sin histéresis de
DP hasta 6 kV) y una EPG relativamente no conductora hasta 4 kV. En general el valor de la tangente
(delta) es bastante bajo para una medición de todo el devanado y aumenta del 0,6 % al 0,85 %.
Figura 35: ejemplo de medición de la tan (delta) (3)
La Figura 35 muestra los resultados de un generador nuevo. La máquina no muestra actividad de DP,
pero tiene una EPG muy conductora. Por lo tanto el valor de la tan (delta) aumenta hasta cerca del
4 %. Otro parámetro que aumenta el factor de disipación es el hecho de que la máquina es un
hidrogenerador muy lento con sección de espacio relativamente corto pero un alto número de
espacios. Esto significa una mayor área de superficie del devanado de final en comparación con la
parte de la ranura.

6.3.2 Medición de capacitancia
La medición de capacitancia se realiza en paralelo a la medida de la tan (delta) y actúa como una
medición de huella digital, como en el caso del factor de disipación.
Como se mencionó anteriormente en la descripción de la EPG, la capacitancia aumentará debido al

comportamiento del área semiconductora. La Figura 36 muestra dos mediciones de capacitancia
diferentes con un incremento máximo de ~ 3 % y ~ 4 %.
a) b)
Figura 36: Medición de la capacitancia de dos generadores diferentes con un incremento del valor de capacitancia de ~ 3 % y
~4%
En la Figura 36, a) es la medición de capacitancia a partir de la medición del factor de disipación en

la Figura y en la Figura 36, b) se correlaciona con la medición de la Figura .
6.3.3 Limitación de la medición

El factor de disipación medido es un valor integrador de todo el devanado. Por tanto, el valor no
representa la parte más deteriorada del devanado, ya que un valor de factor de disipación grande
puede deberse a vacíos distribuidos por todo el devanado o a unas cuantas barras o bobinas muy
envejecidas.
Este último caso es potencialmente más grave para la longevidad del devanado. En tales casos,
cuando se pueden observar valores de factor de disipación elevados o valores de factor de tip-up
elevados, deben realizarse investigaciones adicionales como inspecciones visuales o mediciones de
DP.

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Medición del factor de disipación / potencia y de la

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 LAPG 1710.6 NASA "Electrical Safety" (Seguridad eléctrica)

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5.1.1 Elección de la compensación adecuada

Figura 7: Pruebas de la tan (delta) sin reactores de compensación

𝑆 = 𝑈𝑇𝑒𝑠𝑡 ∗ 𝐼𝑇𝑒𝑠𝑡 = 𝑈 2 ∗ 𝑗𝜔𝐶𝑇𝑒𝑠𝑡 = 11,1𝑘𝑉𝐴

Estableciendo un circuito resonante paralelo, la parte reactiva capacitiva I Tr se puede compensar

© OMICRON 2015 Página 12 de 36

Por tanto el cálculo de la compensación es:

Figura 8: Circuito resonante paralelo con diagrama vectorial

© OMICRON 2015 Página 13 de 36

Figura 9: Compensación con los reactores de OMICRON

© OMICRON 2015 Página 14 de 36

Hay que utilizar reactores de compensación para garantizar la compensación de capacitancias

Los valores de arriba están calculados a 50Hz.

Debido al nivel de aislamiento de la salida de BT del CP CR500, no se permite la

La elección de la mejor configuración de medición, es decir, la mejor compensación, se describe en

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Figura 11: Configuración de medición para medición de la capacitancia

Medición de la capacitancia del

Después de calcular y conectar

Realización de una prueba tan-

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Después de obtener el valor de capacitancia fase-tierra, el cálculo de la compensación se puede

5.1.3 Tarjeta de prueba Fuente de alta tensión TD1 de OMICRON

Figura 13: Tarjeta de prueba Fuente de alta tensión; Detalle

Siguiendo la descripción de los puntos de la Figura 13:

© OMICRON 2015 Página 17 de 36

Cantidad sugerida y tipo

5.1.4 Herramienta de compensación OMICRON Excel

La corriente es la total necesaria del TD1 e incluye:

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 Frecuencia de prueba: Frecuencia a la que se realiza la prueba (normalmente frecuencia

 Capacitancia de prueba: Capacitancia del equipo en prueba que incluye capacitancias

 Bobinas disponibles: Ingrese la cantidad de bobinas disponibles para la medición (tenga en

Después de rellenar el formulario de entrada, haga clic en el botón "Optimizar compensación" y se

5.2 Preparación del equipo en prueba

5.3 Estructura del circuito de prueba

Por su propia seguridad:

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Lo que sigue es una descripción de los elementos enumerados: