METROLOGIA DIMENSIONAL

NIVEL I

Bogotá D.C., 2014

 MICRÓMETRO EXTERIORES
NTC 4352 – DIN 863 (PARTE 1)
JIS B 7502
 MICRÓMETRO
DEFINICIÓN Instrumento de medición con la denominación del submúltiplo
del metro de m.
 PARTES
SUPERFICIES DE MEDICIÓN
YUNQUE DE
MEDICIÓN TAMBOR

HUSILLO DE
MEDICIÓN

TRINQUETE

AISLAMIENTO

ARCO
 PARTES

SEGURO DEL ESCALA TAMBOR

HUSILLO PRINCIPAL GRADUADO

CASQUILLO
GRADUADO
LINEA DE
REFERENCIA
17,795 mm
3,107 mm
6,415 mm
6,915 mm
10,611 mm
 RECOMENDACIONES
1. Seleccione el micrómetro que mejor se acerque a la aplicación, intervalo y
exactitud requerida.

2. No gire el micrómetro violentamente, no lo deje caer y evite golpes fuertes

3. Limpie el husillo y las caras de medición.

4. Permita la estabilización térmica del instrumento y la pieza a medir.

5. Limpie las caras antes de cada medición.

6. Utilice el trinquete de ajuste para medir.

7. Limpie las caras de medición después de ser utilizado.

8. Lubrique las caras con aceite limpio y las deje completamente cerradas.
 CAUSAS DE LOS ERRORES EN
LAS LECTURAS DE LOS
MICROMETROS
1. Errores del estado de las superficies de medición

Para su verificación se utilizan los planos ópticos paralelos según el número de franjas se
determina el error de planitud de las superficies.

2. Errores de paralelismo y perpendicularidad de las superficies de medición

Se presentan tres casos.

a. El eje de rotación y el eje de referencia no son paralelos.

b. El eje de rotación y el eje de referencia son paralelos pero su cara de medición no es

perpendicular.

c. El eje de rotación y el eje de referencia no son paralelos y la superficie de medición no

es perpendicular.
 ERRORES DE PARALELISMO Y
PERPENDICULARIDAD
El eje de rotación y el eje de referencia no son paralelos
 ERRORES DE PARALELISMO Y
PERPENDICULARIDAD
El eje de rotación y el eje de referencia son paralelos pero su cara de medición
no es perpendicular.
 ERRORES DE PARALELISMO Y
PERPENDICULARIDAD
El eje de rotación y el eje de referencia no son paralelos y la superficie de
medición no es perpendicular.
 ERRORES DE PARALELISMO Y
PERPENDICULARIDAD
Para determinar los errores de paralelismo y perpendicularidad se utiliza la
siguiente serie de planos ópticos.

INTERVALO (mm) ANCHO PLANO OPTICO (mm)

12,00
12,12
0 - 25
12,25
12,37
25,00
25,12
25 - 50
25,25
25,37
 ERRORES DE PARALELISMO Y
PERPENDICULARIDAD

Plano óptico de 12,00 mm

 ERRORES DE PARALELISMO Y
PERPENDICULARIDAD

Plano óptico de 12,12 mm

 ERRORES DE PARALELISMO Y
PERPENDICULARIDAD

Plano óptico de 12,25 mm

 ERRORES DE PARALELISMO Y
PERPENDICULARIDAD

Plano óptico de 12,37 mm

 ERRORES EN EL TORNILLO MICROMÉTRICO
Para determinar los errores del tornillo micrométrico se utilizan bloques patrón con
las siguientes longitudes nominales: 2,5 ; 5,1 ; 7,7 : 10,3 ; 12,9 ; 15 ; 17,6 ; 20,2 ;
22,8 y 25 mm.

2
1

Fmax
Error (m)

0
-1
-2

Combinación de bloques calibre (mm)

Fmáx: es la distancia entre las ordenadas del punto más alto y del más bajo en el
diagrama de desviación
ERRORES POR DEFORMACIÓN DEL ARCO

El arco debe ser tan

SOPORTE
rígido que, bajo una
fuerza de 10 N aplicada
entre las superficies de
medición, su deflexión no
sobrepase los valores
indicados en la tabla

10 N
 ERRORES POR PLANITUD DE LAS SUPERFICIES

FRANJAS DE INTERFERENCIA MEDIDAS CON UN PLANO ÓPTICO PARALELO

POR MEDIO DE LA LÁMPARA DE LUZ MONOCROMÁTICA. Medida entre franja y
franja es igual a 0,32 m.
INTERFEROGRAMAS CORRESPONDIENSTES A
DIFERENTES TIPOS DE SUPERFICIES
 ERRORES PERMITIDOS

Micrómetros desde 0 hasta 100 mm

Número de
Intervalo de F. máx Equivalencia Deflexión
líneas de
medición (mm) (m) (m) (m)
interferencia
0 hasta 25 4 6 2 2
25 hasta 50 4 6 2 2
50 hasta 75 5 10 3 3
75 hasta 100 5 10 3 3
 ERRORES PERMITIDOS

Micrómetros desde 100 hasta 200 mm

Intervalo de Número de
F. máx Equivalencia Deflexión
medición líneas de
(m) (m) (m)
(mm) interferencia
100 hasta 125 6 - 3 4
125 hasta 150 6 - 3 5
150 hasta 175 7 - 4 6
175 hasta 200 7 - 4 6
 ERRORES PERMITIDOS

Micrómetros desde 200 hasta 300 mm

Intervalo de Número de
F. máx Equivalencia Deflexión
medición líneas de
(m) (m) (m)
(mm) interferencia
200 hasta 225 8 - 4 7
225 hasta 250 8 - 4 8
250 hasta 275 9 - 5 8
275 hasta 300 9 - 5 9
 ERRORES PERMITIDOS

Micrómetros desde 300 hasta 400 mm

Intervalo de Número de
F. máx Equivalencia Deflexión
medición líneas de
(m) (m) (m)
(mm) interferencia
300 hasta 325 10 - 5 10
325 hasta 350 10 - 5 10
350 hasta 375 11 - 6 11
375 hasta 400 11 - 6 12
 ERRORES PERMITIDOS

Micrómetros desde 400 hasta 500 mm

Intervalo de Número de
F. máx Equivalencia Deflexión
medición líneas de
(m) (m) (m)
(mm) interferencia
400 hasta 425 12 - 6 12
425 hasta 450 12 - 6 13
450 hasta 475 13 - 7 14
475 hasta 500 13 - 7 15