TEMA 4

MICROSCOPÍA DE FUERZAS ATÓMICAS (AFM)

1. UN POCO DE HISTORIA

1. Introducción

Desde que en los años 50 Richard Feynman pronunciara su célebre frase “there’s plenty
of room at the bottom”, la nanociencia y la nanotecnología se han convertido en dos de
los pilares fundamentales de la ciencia moderna. La nanotecnología, gracias a su
naturaleza interdisciplinar, se ha extendido y se extiende rápidamente en multitud de
disciplinas como pueden ser la ingeniería, la física, la química y las ciencias de la vida.

Aunque hay una cierta tendencia general a pensar que la palabra “nano” se restringe al
campo de la investigación más teórica, hay una gran variedad de productos de la vida
cotidiana que se benefician de esta aproximación revolucionaria a la ciencia y la
tecnología. La microelectrónica es quizá el campo que se ha beneficiado de manera más
inmediata, ya que todos conocemos las mejoras introducidas en los microprocesadores y
otros componentes electrónicos, cada vez más pequeños y potentes.

Sin embargo, las ciencias de la vida, la medicina y la cosmética, por citar solamente
unos casos, están introduciendo de manera exitosa nanopartículas en productos tan
comunes como protectores solares o tratamientos antiedad (1). En este sentido, es
importante destacar que este tipo de productos se han convertido en foco de atención del
ojo público debido a que no han sido testados de manera intensiva sobre seres humanos
y, por tanto, sus efectos a largo plazo permanecen desconocidos (1).

El diámetro nanométrico de las partículas utilizadas les permite penetrar la piel y entrar
en el flujo sanguíneo, hecho que las vuelve proclives a generar ciertos tipos de cáncer.
En esta situación tan incierta, las industrias relacionadas con la nanotecnología esgrimen
sus argumentos para publicitar los beneficios de sus productos y para introducirlos en
los mercados globales, hecho que cambiará el mundo de los artículos de consumo de
una manera definitiva. El estudio de la naturaleza en el rango nanométrico experimentó
un auge muy relevante desde la invención y desarrollo de las Microscopías de Sonda
Próxima (SPMs).

El primer miembro de esta prolífica familia de instrumentos fue la Microscopía de

Efecto Túnel (STM), desarrollada en los años 80 en los laboratorios centrales de IBM
Zurich (2) y famosa por ser la técnica mediante la cual se obtuvo la primera imagen con
resolución atómica de una superficie (Binnig y Rohrer, los padres de las SPMs, ganaron
el premio Nobel en 1986 por el desarrollo de estas técnicas). Esta tecnología se
convirtió rápidamente en la piedra de toque en lo referente al estudio de la catálisis y la
ciencia de superficies gracias a su resolución topográfica nunca vista anteriormente.

Sin embargo, su uso estaba restringido a muestras eléctricamente conductoras,

limitación que desapareció rápidamente con el desarrollo de la Microscopía de Fuerzas
Atómicas (AFM) (3), técnica mediante la cual todo tipo de muestras, esto es, aislantes y
conductoras, podían ser investigadas. Pese a que la resolución topográfica de las
imágenes obtenidas mediante AFM era menor que en el caso de las obtenidas por STM,
era todavía suficientemente buena como para proporcionar imágenes con detalles
subnanométricos en altura (dimensión vertical de las muestras) y su obvia versatilidad
extendió en gran manera el número de aplicaciones de estas técnicas a todo tipo de
campos científicos.

Ahora ya era posible obtener imágenes con una mínima preparación de muestra, tanto
en aire como en vacío o en una gran variedad de medios líquidos, principalmente
acuosos. Hoy en día, mediante el desarrollo de accesorios específicos, es incluso posible
realizar medidas topográficas en un rango de temperaturas que van desde los 4K (en
condiciones de ultra-alto vacío, UHV) hasta 250oC. Sin embargo, el AFM es mucho
más que una manera de obtener imágenes de la superficie de todo tipo de muestras;
debe ser considerado como una plataforma instrumental desde la que podemos acceder
al nanomundo con una resolución nunca vista hasta ahora.

En el campo de la ciencia de materiales, por citar un ejemplo, el AFM puede ser usado
como un indentador clásico con la particularidad de permitir controlar la fuerza vertical
ejercida sobre la muestra (Fv) con una resolución en el rango de los picoNewtons. Estas
nuevas posibilidades son extremadamente importantes, por ejemplo, para caracterizar
las propiedades mecánicas de capas delgadas y de los recubrimientos tecnológicos
avanzados usados en el diseño y producción de los llamados Sistemas Micro- y
NanoElectroMecánicos (MEMs y NEMs).

Sin duda, este control de fuerza tan preciso representa una auténtica revolución en el
campo de la biofísica, ya que ahora son accesibles las propiedades mecánicas de células
individuales, proteínas y membranas celulares de manera experimental (4). El AFM
también es capaz de modificar la superficie de las muestras realizando rascados y
oxidaciones locales, permite caracterizar eléctrica (5) o incluso magnéticamente las
muestras y aplicar nano-gotas de disoluciones moleculares sobre superficies de manera
selectiva para crear patrones funcionalizados sobre todo tipo de sustratos.

Debido a todas estas razones, el AFM debe ser considerado como una plataforma para
explorar el nanomundo, como el núcleo de un sistema que constantemente es
actualizado con nuevos modos de trabajo, la implementación de los cuales está
demoliendo de manera paulatina e inexorable las barreras que todavía separan la
química, la física la biología y la ingeniería.

2. OPERACIÓN BÁSICA DEL AFM

El AFM se basa en el contacto mecánico entre una sonda (punta) microfabricada y la

superficie de la muestra de estudio (Fig. 1). Al tratarse de una técnica de barrido, la
punta escanea la superficie de la muestra y resuelve sus detalles superficiales a nivel
subnanométrico gracias a que el extremo de la punta es realmente pequeña (alrededor de
5 nanómetros de radio). En cierto modo, su operación se asemeja a la de un tocadiscos
de vinilo, en el que la aguja resigue los surcos gravados en el plástico. A medida que el
piezoeléctrico procede al escaneado en los ejes XY, la palanca que sostiene la punta se
deflexiona arriba o abajo (eje Z) y esta deflexión es detectada mediante un láser que
finalmente incide sobre la superficie de un fotodetector, el cual se encarga de seguir la
evolución de la sonda del microscopio. Usualmente, el piezoeléctrico encargado del
escaneado está situado debajo de la muestra, aunque existen ciertos modelos de
microscopio en los que la sonda es la encargada del escaneado y la muestra permanece
quieta durante el experimento. Los piezoeléctricos instalados en los AFMs modernos
permiten escanear regiones superficiales que pueden ir desde cientos de nanómetros
cuadrados hasta áreas de 200 micras de lado.

Figura 1. Esquema de un AFM. La sonda se mantiene en contacto con la superficie de

la muestra, lacual se mueve con gran precisión en el eje XY gracias a un escáner
piezoeléctrico. La deflexión de la palanca de la sonda es seguida mediante un láser que
es reflejado sobre un fotodetector, el cual permite detectar sus movimientos verticales
con una precisión subnanométrica

3. MODOS TOPOGRÁFICOS

Modo de contacto

En este modo topográfico, la sonda del AFM se encuentra en contacto íntimo con la
superficie de la muestra, manteniendo una deflexión de palanca constante, esto es,
aplicando una fuerza vertical constante sobre la muestra. A partir de este momento
inicial de contacto, el sistema de retroalimentación mantiene esta deflexión invariable
mientras la sonda escanea la superficie de la muestra en el plano XY mediante el
movimiento del piezoeléctrico en el eje Z. De hecho, esta respuesta del eje Z del
piezoeléctrico corresponde a la topografía de la muestra.

Este modo de trabajo permite obtener las imágenes de AFM con la máxima resolución
pero, debido a este contacto tan directo entre ambas interficies, puede resultar
demasiado agresivo y deformar la superficie de la muestra, creando desperfectos
superficiales o artefactos topográficos de todo tipo. Además, el radio de la punta crece
rápidamente debido a las fuerzas de fricción establecidas durante el escaneado. Todo
esto conlleva una degradación paulatina de la calidad de las imágenes obtenidas. Por
estas circunstancias, el modo de contacto está indicado solamente para la obtención
imágenes en las que la resolución vertical es absolutamente fundamental,
principalmente en casos en los que las medidas se realicen sobre materiales duros
(polímeros, metales, óxidos) (6) o bien ciertas muestras biológicas muy determinadas
que presenten una gran ordenación superficial (cristales de proteínas en dos
dimensiones o canales iónicos en membranas celulares, por citar un par de ejemplos).

Modo de contacto intermitente

El modo de contacto intermitente es quizá el modo topográfico más comúnmente

empleado debido a que permite interactuar de manera muy suave con la muestra,
manteniendo su integridad y la de la sonda de AFM (Fig. 2b). Además, la consistencia
de los datos obtenidos, gracias a la mínima deformación de muestra, es notable (Fig. 3e,
f). En este modo topográfico, la sonda de AFM oscila a su frecuencia de resonancia en
el eje Z a una amplitud de vibración constante, la cual es controlada por el sistema de
retroalimentación. Así, el extremo de la sonda contacta de manera intermitente con la
superficie de la muestra y obtiene su perfil topográfico. La naturaleza de este contacto
intermitente es suficiente para que la sonda sea capaz de seguir la topografía de la
muestra y obtener imágenes con gran resolución vertical mientras aplica una fuerza
vertical muy baja sobre la superficie de estudio. Debido a estas bondades, este modo
puede ser usado para todo tipo de especímenes y es fundamentalmente indicado para
material biológico (8), tanto en aire como en medio líquido (9). Varias tentativas están
en curso para combinar este modo topográfico con otras técnicas que puedan aportar
información química de la muestra, como podrían ser la Espectroscopía de Infrarojo
(IR), Espectroscopía Raman o la Microscopía Elipsométrica de Barrido de Campo
Cercano (SNEM) (10).

Una de las principales desventajas del AFM es la falta de información composicional de

la muestra de estudio. Sin embargo, el Modo de Fase, un modo secundario derivado del
contacto intermitente (Fig. 3d), puede proporcionar información cualitativa en este
sentido; este modo secundario, obtenido de manera paralela a la imagen de contacto
intermitente, se basa en la diferente cantidad de energía disipada por la muestra a
medida que la sonda de AFM “golpea” su superficie en cada ciclo de oscilación. En este
sentido, los materiales más blandos absorben (disipan) más energía que los materiales
más rígidos, hecho que se materializa en un diferente desplazamiento de la fase de la
oscilación en cada uno de los casos.
Figura 2. Los dos modos básicos topográficos de AFM. a) en el mode de contacto, la
sonda resigue la superficie de la muestra en contacto íntimo mientras el lazo de
retroalimentación mantiene la deflexión de la palanca de la sonda constante. b) En el
modo de contacto intermitente, la sonda oscila de manera sinusoidal en el eje Z y
solamente contacta con la muestra de manera esporádica. En este caso, el lazo de
retroalimentación actúa, no sobre la deflexión de la palanca sino sobre la amplitud de la
oscilación de la misma. Esta magnitud es también registrada por el fotodetector
mediante el seguimiento del movimiento del láser sobre el mismo.

Modo Peak Force®

En este modo topográfico la sonda de AFM contacta la superficie de la muestra y se

separa de la misma a una frecuencia de 0.5 a 2 KHz. En cada ciclo, la fuerza vertical
ejercida por la sonda sobre la superficie de la muestra se controla de manera muy
precisa para maximizar la duración de la sonda y reducir al mínimo la deformación y el
daño ocasionado a la muestra. Ya que este control está totalmente implementado en el
software y se efectúa de manera automática, el modo Peak Force® es extremadamente
interesante para usuarios noveles y expertos que precisan de una alta resolución
topográfica. Además, la calidad de imagen sin precedentes proporcionada por este modo
debida al bajo desgaste al que es sometida la sonda lo convertirán en un nuevo estándar
en el campo de la metrología mediante AFM. Un ejemplo ilustrativo de estas virtudes se
puede apreciar en la Fig. 3a) y b), en la cual se muestran imágenes de nanopartículas
con un diámetro de 10 nanómetros depositadas sobre silicio. La imagen a) corresponde
a datos capturados en el modo de contacto intermitente y b) corresponde a la imagen
obtenida mediante Peak Force®. En el caso b), las partículas aparecen
significativamente más pequeñas que en a), a pesar de estar escaneándose exactamente
la misma muestra; esta diferencia es debida a que la resolución lateral (en el plano XY)
de las imágenes de AFM depende en gran medida del radio de la sonda utilizada.
Inicialmente, las sondas empleadas en ambos modos tienen el mismo radio pero el
modo de contacto intermitente es más agresivo y desgasta el extremo de la sonda
rápidamente desde los 2 nanómetros iniciales a un valor alrededor de 5 nanómetros
simplemente después de unas pocas líneas de escaneado. El modo Peak Force® es más
suave y mantiene el radio inicial durante mucho más tiempo. Como resultado, la
resolución lateral de las imágenes obtenidas en este segundo modo es mayor y el
diámetro de las nanopartículas medido experimentalmente es mucho más cercano a su
valor real.
Figura 3. Imágenes topográficas obtenidas mediante AFM en muestras poliméricas,
derivadas de la industria microelectrónica y de la biología. Tamaño de las imágenes: a)
y b) 500x500nm2; c) y d) 30x30μm2; e) 50x50 μm2; f) 12x12μm2. Las imágenes a) y
b) corresponden a la misma muestra, demostrando que el modo Peak Force® está
menos influenciado por el radio de la sonda de AFM usada, lo cual resulta en partículas
con un diámetro mucho más cercano a la realidad. Las imágenes c) y d) fueron
obtenidas simultáneamente; la imagen de fase mostrada en d) ejemplifica un contraste
composicional que es imposible de detectar en la imagen topográfica c).

4. NANO TRIBIOLOGIA Y NANOMECÁNICA

Espectroscopia de Fuerzas

La sonda de AFM puede ser usada como un nanoindentador para testear la respuesta
mecánica de todo tipo de muestras (11,12,13). Su principal ventaja es que las medidas
pueden realizarse con una resolución espacial en los ejes XY en el rango nanométrico y
que la fuerza vertical aplicada sobre la muestra puede ser tan pequeña como unas
decenas denanoNewtons. Consideremos un caso práctico en el que tengamos una matriz
polimérica con nanopartículas embebidas en la misma; un indentador clásico sería capaz
de obtener el módulo de Young (E) de una región superficial en el rango milimétrico,
mientras que el AFM es capaz de realizar nanoindentaciones locales de manera
independiente en la matriz y en las nanopartículas. Además, la profundidad de muestra
testeada puede mantenerse también en el rango nanométrico, mientras que en el caso del
indentador clásico no es posible separar las propiedades superficiales de las del material
en bulk. Este hecho es realmente interesante en el campo de la biología, donde las
muestras usualmente tienen grosores en el rango de las micras y donde es
extremadamente difícil obtener información nanomecánica cuantitativa mediante otras
técnicas (Fig. 4). En los CCiTUB (Centros Científicos y Tecnológicos de la Universidad
de Barcelona), se han medido valores de E de agregados de proteínas depositados sobre
mica de manera cuantitativa (14), aunque nuestro principal sector de actuación ha sido
la caracterización de membranas de fosfolípidos y nanomateriales. En este campo, se ha
caracterizado de manera cuantitativa la fuerza vertical necesaria para indentar
membranas celulares en una gran variedad de medios líquidos y condiciones salinas
(15), diferentes valores de pH (16) y diferentes composiciones fosfolipídicas
(17,18,19,20). En lo que concierne a monocapas, se han realizado experimentos en los
que se ha demostrado que los ácidos grasos y los tioles se deforman de una manera
cuantizada y progresiva bajo la presión ejercida por la sonda de AFM, aportando valiosa
información acerca del empaquetamiento bidimensional de estas estructuras (21,22). En
lo que refiere a los materiales duros, la exploración y comparación de los valores de E
obtenidos por métodos clásicos y mediante AFM están llevando a la comprensión de las
diferentes propiedades mecánicas mostradas por los materiales en función del volumen
de interacción entre indentador y muestra (profundidad de la huella) (11,12,13). Otros
parámetros que pueden extraerse de estos experimentos nanomecánicos, también
llamados curvas de fuerza, son la fuerza de adhesión entre sonda y muestra, la fuerza
vertical necesaria para deformar de manera permanente la superficie de estudio y la
fuerza necesaria para desencadenar una transición elastoplástica.
Figura 4. Medidas nanomecánicas realizadas mediante AFM. a) Cuando una muestra es
comprimida mediante una sonda de AFM, se obtiene una curva de fuerza. En el caso de
materiales mono/muticapas, es posible cuantificar de manera muy precisa la fuerza
vertical necesaria para indentar la muestra (esta rotura se muestra como una
discontinuidad en la curva de aproximación (roja) mostrada en la figura 4a. b) Imágenes
de proteínas globulares obtenidas mediante AFM en la superficie de las cuales se han
realizado curvas de fuerza. Un mapa del valor de E se ha añadido a las imágenes
topográficas. c) La nanomecánica de las membranas fosfolipídicas puede ser
caracterizada, al igual que la fuerza de rotura de las membranas en función de la
longitud de las cadenas hidrocarbonadas de los fosfolípidos depositados sobre un
sustrato (en este caso, su longitud varía entre 14 y 20 carbonos).

Gracias al modo de trabajo Quantitative NanoMechanics® (QNM) derivado de la

tecnología Peak Force® desarrollada por Bruker, todos los parámetros mecánicos
citados en este capítulo se pueden obtener de manera cuantitativa y a tiempo real
mientras se captura una imagen topográfica de la superficie de la muestra (Fig. 5). El
rango de valores de E accesibles mediante este tipo de medidas va desde las
decenas/centenares de KPa (muestras biológicas blandas, monocapas, proteínas) hasta
100GPa (metales, óxidos, recubrimientos duros).

Figura 5. Cristales de sal depositados sobre una superficie de mica y analizados

mediante QNM. Este modo nanomecánico permite obtener información muy precisa
sobre parámetros nanomecánicos de las muestras que aportan detalles sobre las
propiedades fisicoquímicas de la superficie de las mismas. Tamaño de la imagen
mostrada: 20x20μm2.

Microscopia de Fuerzas de Fricción (FFM, LFM)

El modo FFM es capaz de cuantificar las propiedades nanotribológicas de una gran

variedadde muestras (23). Este tipo de medidas tienen un gran interés cuando es preciso
estudiarespecímenes provenientes del campo de la ciencia de materiales y es
especialmente útil para caracterizar el rendimiento de capas delgadas y recubrimentos
avanzados (24). En los últimos años, el modo FFM también se ha aplicado a capas
orgánicas, tanto en aire como en líquido, llegando a obtener información que había sido
imposible abordar hasta la fecha con otras técnicas (25,26,27). El principio de operación
de la FFM es el siguiente: la muestra es escaneada por la punta de AFM en la dirección
que es perpendicular al eje principal de la palanca de la sonda de AFM (Fig. 6a). De
esta manera, se crea una torsión lateral de la palanca que puede ser experimentalmente
detectada siguiendo el movimiento del láser en un fotodetector provisto de cuatro
cuadrantes. Esta desviación lateral del láser es proporcional a la fuerza de fricción (Ff)
establecida entre la sonda y la superficie de la muestra, que a su vez es proporcional a la
fuerza vertical ejercida por la sonda de AFM sobrela muestra (cuantificada como el
desplazamiento vertical del láser en el fotodetector). Ff se puede medir de manera
cuantitativa en el rango de fuerzas comprendido entre las decenas de picoNewtons y los
centenares de nanoNewtons en función de la rigidez de la sonda de AFM usada. La Fig.
6b) muestra una vista frontal de la palanca y de la punta de la sonda de AFM y como el
movimiento de escaneado durante el experimento de FFM crea una torsión lateral de la
palanca, la cual a su vez es transducida como una desviación lateral en el fotodetector.

Figura 6. Principio de operación del FFM. a) La dirección de escaneado perpendicular

al eje principal de la palanca de la sonda de AFM crea un momento de torsión que es
proporcional al valor de Ff establecido entre la sonda y la muestra. b) La respuesta de
fricción puede medirse en función de la fuerza vertical aplicada por la sonda sobre la
superficie de la muestra para obtener parámetros nanomecánicos tan importantes en el
mundo del diseño industrial como el coeficiente de fricción o la energía disipada
durante el deslizamiento.

5. CARACTERIZACIÓN ELECTRÓNICA Y MAGNÉTICA DE MUESTRAS

AFM de Conducción (C-AFM)

El C-AFM es un modo de trabajo secundario derivado del modo topográfico de contacto

que caracteriza las variaciones de conductividad en muestras tanto de baja como de alta
conductividad. El principio de operación es muy simple: se aplica una diferencia de
potencial entre una sonda de AFM recubierta con un film conductor y la muestra;
cuando ambas interficies están en contacto, una determinada intensidad de corriente
eléctrica (I) fluye a través de la interfase. Gracias al diseño del preamplificador de alta
ganancia, valores de intensidad tan pequeños como decenas de femtoAmperios pueden
ser detectados y medidos cuantitativamente. De hecho, el tipo de información final
obtenida es un mapa superficial de I juntamente a una imagen topográfica (28). La
posibilidad de realizar este tipo de medidas es de especial importancia para la industria
fotovoltaica y microelectrónica pero también para el desarrollo de nuevos
nanomateriales como nanotubos (29) y grafeno (30), donde la conductividad de
componentes extremadamente pequeños debe ser medida con gran precisión. Las
variaciones del valor de I obtenidas en los mapas indica la presencia de defectos en los
materiales semiconductores, el control y caracterización de los cuales es de vital
importancia en los procesos de fabricación. Además, la posibilidad de controlar la
posición de la sonda de AFM en el rango nanométrico permite al usuario emplazar la
sonda sobre un punto específico de la superficie de la muestra, ejercer una determinada
fuerza vertical y aplicar simultáneamente una rampa de potencial determinada para
realizar un experimento de Intensidad vs. Voltaje en el rango nanométrico.

Microscopia de fuerzas Magnéticas (MFM)

El MFM es un modo de trabajo secundario derivado del contacto intermitente que

permite al usuario mapear gradientes de campo magnético generados por la superficie
de la muestra. Gracias al uso de una sonda de AFM recubierta con un film magnético, la
imagen topográfica y de gradiente magnético de la superficie pueden obtenerse de
manera simultánea. Así, la resolución espacial de esta técnica ha permitido por vez
primera abordar el estudio de imanes moleculares de manera individual y de capas
delgadas magnéticas deforma extremadamente local (31) (Fig. 7).

Para poder operar en este modo de trabajo, es necesario utilizar una sonda de AFM
recubierta con un film ferromagnético. Mientras se desarrolla el escaneo de la muestra
en modo contacto intermitente de la manera usual, la interacción magnética establecida
entre la sonda y la superficie de la muestra induce pequeñas variaciones en la fase de la
vibración de la palanca, señal que se considera como proporcional a las variaciones del
campo magnético superficial de la muestra. Esta técnica se utiliza para examinar
materiales que presentan magnetismo de manera natural pero también estructuras en las
que se ha escrito información magnética de manera deliberada (Fig. 7a y 7b).

Medidas de Potencial Superficial (SP)

El SP es un modo de trabajo secundario derivado del contacto intermitente que permite

alusuario mapear los cambios en el potencial superficial de la muestra de estudio. Para
ello, esnecesario utilizar una sonda que sea sensible a las cargas eléctricas, siendo
común el uso de una sonda convencional recubierta con un film conductor, como podría
ser diamante dopado (muy adecuado por presentar una alta resistencia al desgaste).
Cabe destacar que no es necesario que la muestra sea conductora, ya que una muestra
aislante también puede mostrar cargas superficiales. En este sentido, el modo no se basa
en la medida de la intensidad de corriente que fluye a través del circuito sonda-muestra
(como sería el caso del C-AFM) porque no se aplica ninguna diferencia de potencial
entre ambas superficies. Esta técnica, por ejemplo, puede aplicarse para detectar las
sutiles diferencias de carga generadas por la formación de monocapas orgánicas sobre
un sustrato o para identificar diferentes dominios composicionales en una bicapa de
fosfolípidos de varios componentes. Cabe destacar que una técnica ligeramente más
refinada llamada Microscopia de Fuerzas de Potencial Superficial (SPFM) es capaz de
detectar interacciones de la misma naturaleza pero operando en auténtico no-contacto.
Por tanto, el SPFM es capaz de obtener imágenes de nano-gotas de líquidos depositadas
sobre superficies, siendo de especial interés para el estudio de lubricantes en dos
dimensiones (33) y para estudios de corrosión (34).

Figura 7. Los granos de ferrita presentes en la superficie de una cinta de vídeo

analógico se pueden detectar topográficamente a) de manera simultánea a los dominios
magnéticos b) mediante el uso del MFM. De la comparación de las dos imágenes
obtenidas cabe destacar que no existe ningún tipo de correlación entre las dos señales
obtenidas, es decir, no hay ningún tipo de interferencia entre ambas señales.. Las figuras
c) y d) corresponden a la topografía y a la señal de carga superficial (SP) de una muestra
metálica. El análisis de estas dos imágenes muestra que, aunque la topografía es
relativamente plana, la señal de SP es capaz de discernir dominios que pueden ser
relacionados con gradientes composicionales reales.

Glosario

SPM. Scanning Probe Microscope

STM. Scanning Tunnelling Microscope

AFM. Atomic Force Microscope

UHV. Ultra High Vacuum . Vertical Force

Fv. vertical Force

MEMs. MicroElectroMechanical Systems

NEMs. NanoElectroMechanical Systems

SNEM. Scanning Near Field Ellipsometer Microscopy

E. Young’s modulus

QNM. Quantitative Nanomechanical Property Mapping

Fł. Friction Force

FFM o LFM. Friction Force Microscopy (o Lateral Force Microscopy)

C-AFM. Conductive AFM

I. Current Intensity

V. Potential

SP. Surface Potential

SPFM. Surface Potential Force Microscopy