Universidad Tecnológica de Santiago UTESA Ingeniería Electrónica

Diseño Electrónico: IET-921-001 Prof. Ing. Luciano Beato

Ing. Luciano Beato
Envase Termoeléctrico de Temperatura Controlada por Celdas de Peltier
Prueba #1

Inversión de polaridad mediante puente en H con Mosfet para Celdas de peltier

Definición:
En esta prueba se determinará si el método planteado para invertir la polaridad de las
Celdas de Peltier mediante un puente en H con Mosfet con el circuito presentado funciona
sin problemas.

Escenario o configuración de prueba:

Primero se armará el circuito de “Control de Celdas” presentado en una placa de pruebas
(protoboard), el cual es el siguiente.

Aquí el resultado del armado del esquemático presentado en el protoboard.

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Instrumentos utilizados fueron:

 Power suply con 12VDC y 5VDC de salida.
 Multímetro.
 Analog Discovery 2.
 Ordenador para interfaz del Analog Discovery 2.

Voltajes suministrados:
 Voltaje en el puente en H de 12v, en el Drain de los Mosfet de apertura y en el Pin 5
del optotransistor.
 Voltaje de 5v en el pin 1 del optotransistor (donde irá la señal PWM).

Resultados esperados:
Lo esperado en esta prueba es que cuando se le aplique la señal de 5v al optotransistor, este
active su transistor interno y permita el paso del voltaje al Gate de los Mosfets conectados
en sí para que exista un voltaje mínimo de 10.5v de alimentación con la polaridad deseada
en los puntos donde se conectará la carga (celda de peltier) según los Mosfets activados.

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Ejecución y resultados reales:

 Primera ejecución: Primero se activan los optotransistores con 5v, lo que activan a los
mosfet de una polaridad del puente, dando un valor con el multímetro de 4 voltios
aproximadamente. Se hizo la prueba para ambas polaridades y el resultado fue el
mismo.
 Segunda ejecución: Luego al intentarlo por segunda vez, notamos que los
optotransistores no se activan. Los optotransistores no accionaban ya que se habían
dañado, lo que implicó modificar el circuito base, agregando una resistencia de 220
ohm al pin 1, donde recibe la señal para su activación.
 Tercera ejecución: Ya con el optotransistor activándose y desactivándose sin dañarse,
seguimos con la prueba, y el resultado en los puntos de conexión de la celda seguía
dando 4v, lo que implicaba que los Mosfets no estaban activándose completamente. Y
nueva vez se analiza el circuito y se elimina la resistencia de 1kque estaba entre el pin
4 del optotransistor y el Gate de los Mosfet.
 Cuarta Ejecución: En esta los resultados después de las modificaciones fueron más
certeros a los resultados esperados, ya que en este el voltaje en los terminales de
conexión de las celdas era de 8.6 a 9.6 voltios sin carga y al conectarle una carga la
medición fue de 2.1 voltios.

Sin carga

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Con carga

Análisis de la prueba:
Analizando los resultados obtenidos con varias pruebas, se pudo determinar que de por sí el
esquemático de la parte de control de las celdas de peltier tenía errores de diseño, por lo que
se modificó, quedando el siguiente:

Comparando los resultados reales después de las modificaciones con los resultados
esperados, es aceptable puesto que el voltaje real con el que se energizará el circuito será de
14v mínimo y 15v máximo, y el utilizado en la prueba fue de 12v y haciéndose en
protoboard, con la cual hubo una pérdida de tensión al llegar a terminales de conexión de
las celdas de 2.4 a 3.4 voltios. También se percata de que los Mosfet necesitaran
disipadores por el calor generado por la carga que manejan.

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Prueba #2

Regulación de voltaje por medio del IC LM2596T

Definición:
En esta prueba se evaluara la configuración realizada para el IC LM2596T, el mismo es un
encapsulado de un convertidor DC-DC con la configuración Step-Down (Buck),
permitiendo así el uso de pocos componentes externos por si se desea tener un regulador
compacto manejando hasta 3A.

Escenario o configuración de prueba:

Se procedió a realizar el armado del circuito en PCB, optamos por esta opción y no la del
uso del Breadboard para minimizar las perdidas, adjunto foto del circuito esquemático:

Foto del circuito armado:

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Instrumentos utilizados:
 Power supply con 12VDC y 24VDC de salida.
 Banco de baterías.
 Multímetro.
 Osciloscopio.

Resultados esperados:
Lo esperado en esta prueba es que cuando se le aplique el voltaje de entrada al convertidor
con un rango máximo de 15VDC el voltaje de salida sea de 5VDC fiables libres de posibles
transitorio y que se pueda suministrar la corriente necesaria para la alimentación de los
elementos de control que tenemos.

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Prueba#3

Interacción por el Protocolo UART de la pantalla HMI y el Microcontrolador

Definición:
En esta prueba se verificará la interacción de la HMI con el microcontrolador en cuanto a la
trama de datos enviadas y también la respuesta del microcontrolador hacia la HMI todo por
el protocolo UART.

Esceneario:
 Primero: Se cargarán diferentes programas para fines de pruebas en la HMI y en el
microcontrolador.
 Segundo: Se conectará la HMI al circuito elaborado.
 Tercero: Se energizará el circuito con las baterías.
 Cuarto: Se probaran los elementos de configurados en la pantalla con fines de que el
microcontrolador de una respuesta en base al objeto presionado de la pantalla.

Resultados esperados:
Se espera que la interacción entre la HMI y el microcontrolador sea lo más rápido posible,
dando la información requerida y ejecutando el proceso que debe de procesar el
microcontrolador antes de devolver el resultado a la HMI.

Prueba#4

Evaluación de entradas y salidas del Microcontrolador en el PCB

Definición:
Se realizara una pequeña prueba de las entradas y salidas del PCB confirmando que las
señales lleguen a su destino.

Esceneario:
 Primero: Se cargarán diferentes programas para fines de pruebas en las entradas y
salidas en el microcontrolador.
 Segundo: Se conectarán leds a los puertos del Microcontrolador.
 Tercero: Se energizará el circuito con las baterías.
 Cuarto: Se comprobara que las señales lleguen a su destino y que no hayan pérdidas en
las líneas de cobre.

Resultados esperados:
Se espera que no hallan líneas solapadas y que no existan perdidas por la mala adherencia
del cobre, para la confirmación de esto usamos señales generadas por el microcontrolador
en los diferentes puertos y por medio de leds confirmamos que la conducción de la
corrientes estén correctas.

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Prueba# 5

Interacción por el Protocolo bluetooth del smartphone y el Microcontrolador

Definición:
En esta prueba se verificará la interacción del smartphone con el microcontrolador en
cuanto a la trama de datos enviadas y también la respuesta del microcontrolador hacia el
smartphone todo por el protocolo Bluetooth en combinación del protocolo UART.

Esceneario:
 Primero: Se cargarán unos programas para fines de pruebas smartphone y en el
microcontrolador.
 Segundo: Se energizará circuito elaborado.
 Tercero: Se conectará el smartphone con el microcontrolador por medio de bluetooth.
 Cuarto: Se probaran los elementos de configurados en el smartphone con fines de que
el microcontrolador de una respuesta en base al objeto presionado de la app.

Resultados esperados:
Se espera que la interacción entre el smartphone y el microcontrolador sea lo más rápido
posible, dando la información requerida y ejecutando el proceso que debe de procesar el
microcontrolador antes de devolver el resultado al smartphone por medio del bluetooth.

Prueba# 6

Prueba de los módulos de temperatura

Definición:
Aquí confirmaremos que la señal recibida de cada uno de los módulos sea la misma y que
el programa generado muestre la temperatura ambiente correcta con porcentajes mínimos
de error.

Esceneario:
 Primero: Se carga software con las calibraciones para el sensor según RL (datasheet)
para fines de pruebas en el microcontrolador.
 Segundo: Se energizará circuito elaborado.
 Tercero: Se realizara diferentes mediciones y comparando los valores medidos con
otros equipos que realicen lecturas de la temperatura.

Resultados esperados:
Calibrar el software para que se pueda visualizar la temperatura ambiente correcta y asi
tener un control optimo de la temperatura de los alimentos.

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