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FACULTAD DE INGENIERÍA
ESCUELA ACADÉMICO PROFESIONAL DE INGENIERÍA DE
MATERIALES
CURSO:
DOCENTE:
INTEGRANTES:
TURNO:
TRUJILLO – PERÚ
2018
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I. OBJETIVOS:
1.1.- Caracterizar la zona de la unión de soldadura de haceros al carbono haciendo
uso uso de la microscopia óptica.
Tabla 02. Composición química del alambre en % peso del material de aporte
Dual Shield II K2, con composición química carbono-manganeso y de
diámetro 1.2 mm para el proceso FCAW.
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Fig. 02. (a) ZAC y (c) Definición de las diferentes regiones de la ZAC en
soldadura de una sola pasada, (b) diagramas de fases Fe-Fe3C.
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insolubles, más fino será el tamaño final de grano, Figura 02(c). No solo
aumentan la nucleación, sino que también actúan como barreras al
crecimiento de los granos, Yurioka y Suzuki, (1990: 217-249).
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- Carbono Equivalente
En las soldaduras, los valores de dureza altos se han considerado como
indicadores, en general, de potenciales problemas como la fisuración en
frío, comportamiento frágil de las uniones soldadas, etc. Como el carbono
es el elemento que más influye en la templabilidad y en la dureza final
de un acero, se ha considerado conveniente denominar carbono
equivalente (CE) al índice que permite correlacionar la composición
química de un acero con su tendencia a presentar estructuras frágiles
cuando éste es sometido a un proceso de soldadura. El CE de un acero es
una medida de su tendencia potencial a fisurarse durante o después de la
soldadura. Algunas de las expresiones más empleadas en la actualidad
son: a) La fórmula del CE del IIW:
El criterio que se emplea con el CE es que cuanto más alto sea su valor,
el acero tendrá mayor dificultad para ser soldado. Una clasificación algo
genérica de la soldabilidad de los aceros en función de su CE:
Aceros con un CE < 0.2-0.3% tienen buena soldabilidad.
Aceros con un CE > 0.4% tienen riesgo de fisuración en frio en la ZAC.
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- MICROSCOPÍA ÓPTICA.
- Fundamentos Técnicos de la Microscopía Óptica
Elementos estructurales que constituyen un microscopio óptico (figura 1),
teniendo como referencia un microscopio tipo estándar:
- Lentes: ocular (próxima al ojo) y objetivo (próxima a la muestra)
- Platina: plataforma donde se encuentra el portaobjetos de la muestra. Puede
ser móvil en un plano (XY), por lo que puede tener asociado dos mandos
que permitan el movimiento. La platina puede ser circular y tener una
graduación en grados, lo cual es muy útil cuando se trabaja con luz
polarizada en microscopios petrográficos.
- Revolver: Estructura circular donde se colocan los diferentes objetivo.
También puede llevar asociados huecos para colocar filtros.
- Anillos de enfoque: macrométrico, para un ajuste grosero del foco, y
micrométrico, para un ajuste fino del foco.
- Condensador: se encuentra debajo de la platina y está formado por una o
un conjunto de lentes que condensan el haz luminoso sobre la muestra. En
el condensador se colocan la mayoría de elementos que se interponen o
filtran la luz con el fin de conseguir un contraste de la muestra. Dependiendo
de los elementos que se interponen obtenemos los distintos tipos de
microscopía óptica
- Diafragma: se suele encontrar asociado al condensador y regula la entrada
de luz a la muestra al cerrarse o abrirse unas piezas móviles (iris), de tal
manera que el haz luminoso tiene mayor o menor diámetro. Este sistema
permite modificar la profundidad de campo de la muestra, es decir que el
grosor de enfoque (eje Z) sea mayor o menor. También existe un diafragma
en el cuerpo del estativo interpuesto a la fuente de luz, con el que se controla
la cantidad de luz que llega al diafragma.
- Estativo: es el conjunto de piezas que sostienen y estabilizan el resto de
elementos anteriormente citados.
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Para aprovechar el rendimiento óptico total del microscopio, en particular del objetivo,
el condensador, el diafragma de campo luminoso y el diafragma de apertura deberían
estar ajustados según el principio de iluminación de KÓHLER, Estas reglas básicas
para el ajuste del microscopio se describen más detalladamente en el párrafo siguiente
- Ajustes para luz transmitida-campo claro según KÖHLER.
o El microscopio debe estar conectado, con la lámpara halógena encendida.
o Regular la claridad de la imagen mediante el regulador de tensión en el
estativo del microscopio.
o Poner un preparado con contrastes fuertes en la platina de desplazamientos
en cruz.
o Intercalar en caso dado la óptica frontal del condensador, se recomienda el
objetivo de menor aumento y llevar el condensador mediante el mando para
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movimiento vertical hasta el tope superior. El tope tiene que estar ajustado
de tal manera que el preparado no sea levantado por el condensador.
o Intercalar el objetivo 10x mediante el revólver portaobjetoss y enfocar el
preparado mediante el mando de enfoque.
o Cerrar el diafragma de campo luminoso, hasta que se pueda ver (aunque
poco nítido) en el campo visual ,
o Bajar el condensador mediante el mando para movimiento vertical (4-13/5 ó
sea 4-14/3) hasta que el borde del diafragma de campo luminoso aparezca
con suficiente nitidez.
o Centrar la imagen del diafragma de campo luminoso mediante los dos
tornillos de contraje situados en el portacondensador
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3.1.- MATERIALES:
3.2.- EQUIPOS:
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V. RESULTADOS:
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(c)
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(b)
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Fotomicrografía del METAL BASE, encontramos (a) ferrita poligonal (PF), (b)ferita
Widmanstatten (WF), (c) bainita(B)
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CRECIMIENTO DE GRANO
ZONA DE
FUSION
ZONA
ZAC
ZONA
INTERCRITI
CA
METAL
BASE
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VII. CONCLUSIONES:
Se pudo identificar las 4 zonas en la muestra de acero P460NL1 (zona de
fusión, zona intercritica, zona ZAC y zona de metal base) con la
metalografía realizada con la ayuda de un microscopio Leica.
En la zona de fusión se observó gran cantidad de Ferrita en el borde de
grano, así como una menor presencia de Ferrita Widmanstatten y Ferrita
Acicular.
En la zona intercritica notamos la presencia de microcostituyentes como:
Bainita Superior o Arborecente (BS), y (b)Bainita Inferior o acicular (BI)
En la zona ZAC se obvervo la presencia de Martensita(M), Ferrita cuasi-
Poligonal(FCP) y algunos microcostituyentes de Ferrita Poligonal (FP).
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