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CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS Y METROLOGA EN LA
CONSTRUCCIN DE UN BUQUE EN GRADA
Salvador Naya1 y Jos ngel Fraguela2
1
Departamento de Matemticas. Escuela Politcnica Superior. Universidad de A
Corua. (salva@udc.es)
2
Departamento de Ingeniera Naval y Ocenica. Escuela Politcnica Superior.
Universidad de A Corua. (fraguela@cdf.udc.es)
RESUMEN
1. INTRODUCIN
La Metrologa entendida como la ciencia de las mediciones, tiene como objetivo el estudio de
la incertidumbre que se produce en los procesos de medicin. Para ello estima la variabilidad
y la repetitividad (RyR) de las medidas con la intencin de ajustar lo mejor posible las
caractersticas de calidad a sus valores deseados. Al igual que en el control estadstico de
procesos se definen ndices para medir la capacidad de los procesos en metrologa tambin
son habituales ndices para verificar el instrumento de medicin y la repetitividad de las
medidas.
Una vez introducido el problema sobre las dos posibles formas de controlar los procesos en el
contexto de calidad, en la segunda seccin presentaremos las ideas bsicas de ambas tcnicas,
la tercera seccin se presentar una aplicacin real de un control de procesos y la metrologa
en la medicin de los paneles utilizados en la construccin de un buque en un Astillero y,
finalmente, la ltima seccin, estar dedicada a las conclusiones.
Un grfico de control bien diseado debe avisar, lo antes posible, de la aparicin de una causa
especial de variabilidad y ayudar a su identificacin y eliminacin. Es muy importante, en
consecuencia, que todo el grfico de control que se implante venga acompaado de su
correspondiente plan de reaccin, que precise las medidas que deben adoptarse en funcin de
la naturaleza de las posibles seales de falta de control que puedan aparecer. Los lmites que
aparecen en un grfico de control indican la variabilidad que cabe esperar para el estadstico
graficado (por ejemplo la media de n observaciones) en el caso de que el proceso se halle bajo
control, es decir, actuando slo las causas comunes de variabilidad. Debe quedar claro que
estos lmites de control no tienen en principio nada que ver con las especificaciones
establecidas para la caracterstica estudiada. Es, en efecto, muy frecuente que lmites de
control calculados aplicando las frmulas estndar de los manuales que no se adaptan a la
naturaleza de un determinado proceso, se traduzcan en reiteradas falsas alarmas (el grfico
indica una salida de control a pesar de que el proceso est realmente bajo control) que
finalmente generan una falta de confianza en el grfico y su abandono.
Los grficos de control tienen unas sencillas frmulas que dependen de la media de las
submuestras y de estimaciones de la desviacin tpica, para lo que se suelen usar las medias
de las desviaciones de cada submuestra o las medias de los recorridos, en funcin de esto se
obtienen las siguientes expresiones, en las que los valores de las constantes estn tabulados en
funcin del tamao de la submuestras.
LCI = X A S LCI = X A R
1
2
Grfico X Grfico X
LCS = X + A S LCS = X + A R
1 2
LCI = B3 S LCI = D3 R
Grfico S Grfico R
LCS = B4 S LCS = D4 R
En la Figura 1 de la seccin siguiente puede verse uno de estos grficos en el que se aprecian
distintas submuestras fuera de control. La Figura 2 representa la salida para un grfico tipo S.
Es un error muy frecuente en la industria la confusin entre ambos aspectos de control y, en
particular, la creencia de que los grficos de control clsicos del SPC son los que indican, a
partir de las seales de salidas de control, la necesidad de adoptar una decisin de regulacin
del proceso manejando una variable compensatoria. Una seal de falta de control (si el
grfico se ha construido correctamente) indica la aparicin en el proceso de una causa
especial que debe ser identificada, pero el proceso, aun hallndose bajo control, puede
presentar una variabilidad indeseable que quizs sea posible reducir manejando
adecuadamente variables compensatorias mediante el EPC. En definitiva, SPC y RyR no son
dos alternativas excluyentes, sino dos enfoques complementarios, y ambos deben ser
utilizados, siempre que sea posible, para optimizar el control de un proceso.
Finalmente, hemos utilizado una opcin distinta a los grficos de Shewhart. Esta ltima
propuesta consiste en hacer uso de los grficos de sumas acumuladas, propuestos por vez
primera por Page en 1954, tambin llamados grficos CUSUM. A diferencia de los grficos
clsicos, la decisin sobre si el proceso est o no bajo control se toma tras el anlisis
sistemtico de toda, o de la mayor parte, de la serie temporal de medias. El grfico CUSUM
presenta, adems, la ventaja de que tiene un ARL (Average Run Length) del orden de la
mitad de un grfico tipo Shewhart. Teniendo en cuenta que el ARL es una buena medida para
comparar dos grficos de control ya que representa la longitud media del nmero de muestras
necesarias hasta encontrar una seal de fuera de control.
Figura 3: Grfico CuSum para la variable de inters, lmite elstico del acero.
4. CONCLUSIONES
Como conclusin a lo anteriormente expuesto podra resaltarse la ventaja que tiene combinar
mtodos que permiten controlar la variabilidad de los procesos, como es el caso del control
estadstico de procesos, con mtodos que lo que persiguen es verificar que las mediciones
sean correctas como el caso del control de incertidumbre que proponen las tcnicas de
Metrologa.
Adems hemos visto que el empleo de los grficos CUSUM suponen una mejora en el control
estadstico por cuanto tienen en cuenta toda la serie de estudio y evitan el problema que de la
seleccin de tamaos de submuestras.
Finalmente, hemos analizado los distintos ndices de metrologa para controlar las mediciones
y los hemos relacionado con los ndices de capacidad utilizados en el control estadstico
aplicando estos resultados a los procesos de construccin tpicos de un astillero.
REFERENCIAS
Nembhard H, Changpetch P. (2006). Detected monitoring using cuscore charts for seasonal
time series. Quality and Reliability Engineering International. 10,766-786.
Del Castillo E. (2002). Statistical Process Adjustment for Quality Control. Wiley. New York.
Montgomery D. C. (2005). Introduction to Statistical Quality Control (5th edn). Wiley. New
York.