Ciencias Propiedades Mec Nicas

Ciencia de Materiales
Difraccin de Rayos X
Difractograma de Muestra M1, A.M. por 6 hrs.
600
Magnesio (36.62) Nquel (44. 51)

500
400
Intensidad
300
200
100
10 20 30 40 50 60 70
2 theta
INTRODUCCIN
Rayos X, descubiertos en 1895.
Radiacin electromagntica de longitud de onda en

torno a 1 (10-10 m), que es aproximadamente el
mismo tamao que un tomo.
En 1912 Max Von Laue postula:

1. Los R-X son ondas;
2. Los cristales poseen un arreglo atmico peridico;
3. La LDO de los R-X es del orden de la magnitud de
espaciamiento regular entre los tomos, por lo que stos
pueden actuar como centros de dispersin de R-X
Posteriormente confirman Friedrich y Knipping en un

cristal de CuSO4 5H2O
INTRODUCCIN
Cristalografa por R-X: tcnica en que el patrn

producido por la difraccin de R-X a travs de la red de
tomos cercanamente espaciados en un cristal es
registrada y analizada para revelar la naturaleza de la red.
Esto permite comprender el material y la estructura
molecular de una substancia.
Los espaciados en la red cristalina se determinan usando
la ley de Bragg.
Los electrones, en vez de los ncleos atmicos, son los
que interactan con los fotones entrantes de R-X.
Ampliamente usada en qumica y bioqumica para
determinar las estructuras de una inmensa variedad de
molculas, incluyendo compuestos inorgnicos, DNA y
protenas.
INTRODUCCIN
En qumica del estado slido y Ciencia de

Materiales, DR-X es una de las ms importantes
herramientas de caracterizacin:
Preparacin de la muestra relativamente simple,
Ensayo relativamente rpido.
La mayora de los materiales de ingeniera son
cristalinos, e incluso aquellos que no lo son,
entregan informacin til en experimentos de
DR-X.
Para cualquier compuesto, se puede determinar
el tamao y forma de su celda unitaria ms
fcilmente usando DR-X.
INTRODUCCIN
Se le ha usado en dos reas principales:
1. La caracterizacin de materiales cristalinos. Cada
slido cristalino tiene su difractograma caracterstico
nico que puede usarse como huella dactilar para su
identificacin. El patrn de los mximos de difraccin
puede ser usado para identificar materiales rpidamente
(gracias a la base de datos de difractogramas (PDF) de
JCPDS**).
2. La determinacin de su estructura. Ya identificado
el material, se puede determinar su estructura, es decir, el
empaquetamiento atmico, las distancias interatmicas,
los ngulos, etc. y cambios en la posicin o ancho del
mximo pueden usarse para determinar tamao de cristal,
pureza y textura.
*Powder Diffraction Files
**Joint Comitee on Powder Diffraction Standards or ICDD: International Centre for
Diffraction Data
Caracterizacin Cristalogrfica: Ley de Bragg
A partir de los postulados de Von Laue, W.H. Bragg y W.L.
Bragg establecieron las condiciones necesarias para explicar, de
una manera matemticamente simple, por qu las caras de un
cristal parecen reflejar los haces de R-X a ciertos ngulos de
incidencia, lo que condujo a la
Ley de Bragg:
las reflexiones procedentes de planos
sucesivos, en un arreglo peridico,
interferirn entre s y dicha
interferencia ser constructiva slo
cuando la diferencia de la longitud del
camino recorrido entre los rayos
procedentes de planos sucesivos es
igual a un nmero entero de veces la
LDO
Interferencia Ondulatoria
Constructiva Destructiva
Dos
Dos ondas
ondas fuera
en de fase
fase en
180o
Segn la desviacin 2, el cambio de fase causa interferencias constructiva (izquierda) o

destructiva (derecha)
Derivacin de la Ley de Bragg
2dsen = n (1)
Los rayos del haz
incidente son paralelos y
estn siempre en fase
hasta que el haz superior
choca con el plano
superior en el tomo z.
El segundo haz contina hasta el
prximo plano donde es dispersado por
el tomo B.
El segundo haz debe viajar la distancia
extra AB+BC para que ambos haces
continen viajando adyacentes y
paralelos.
Esta distancia extra debe ser un
mltiplo entero (n) de la longitud de
onda para que los haces permanezcan
Ver:
en fase:
http://www.eserc.stonybrook.edu/ProjectJava
/Bragg/
nl = AB+BC (2)
2dsen = n (1) nl = AB+BC (2)
d es la hipotenusa del tringulo recto

ABz. La distancia AB es opuesta a de
modo que,
AB = d sen (3)
Ya que AB = BC ec. (2) queda,
n= 2AB (4)
Substituyendo ec. (3) en ec. (4) se

tiene,
n= 2dsen (1)
Ley de Bragg
Si consideramos los planos mostrados en la Figura como planos atmicos
(100), entonces el menor ngulo de difraccin para estos planos
corresponder a n = 1, dado por
Estos planos tambin difractan cuando n = 2, o
que es equivalente a
De forma general, podemos concluir que
Planos atmicos (100)

n= 2dsen (1)
Ley de Bragg
, ngulo de Bragg o ngulo de reflexin: = arc sen(n/2d)
Mximo valor de seno = 1 ( = 90), n 2d.
n orden de reflexin (1, 2, 3, ...n) e indica reflexiones sucesivas por planos
cristalinos de una misma familia.
Dividiendo la expresin de la ley de Bragg por n:
2(d/n)sen = 2d hklsen =
Es decir que, una reflexin de orden n de los planos (hkl) se puede considerar como
reflexin de orden 1 de los planos (nh nk nl), con espaciado dhkl = d/n .
Equivalencia entre: a) reflexin (100) de segundo orden y b) reflexin (200) de primer orden
Produccin y deteccin de rayos X.
Los experimentos de difraccin de R-X

1. una fuente de R-X
2. La muestra a investigar
3. un detector para colectar los R-X difractados.
FUENTE: TUBO DE RAYOS X
Permite generar rayos X mediante la colisin de un haz de electrones de
alta velocidad contra un "blanco" o nodo metlico en un ambiente al
vaco bajo una diferencia de potencial del orden de 40 a 50 kV, con una
corriente de alrededor de 15 a 30 mA.
1. Ctodo (electrodo negativo): filamento de tungsteno, en cpsula metlica

de enfoque, que produce un flujo de electrones al calentarse hasta la
incandescencia por el paso de una corriente elctrica a travs de l.
2. nodo: impactado por haz de electrones del ctodo, produce rayos X
MUESTRAS
Las tcnicas o mtodos de difraccin se han diseado con el
propsito de detectar las direcciones e intensidades de los rayos X
reflejados por los planos cristalinos de una muestra.
Los procedimientos de identificacin de materiales requieren

muestras policristalinas, en trminos prcticos, pulverizadas.
Los mtodos de monocristal, por otro lado, se aplican al estudio y

determinacin de la estructura cristalina de los slidos.
Galio Cuarzo Cristales de Insulina

DETECTORES DE RAYOS X
Se basan en los efectos de interaccin de
la energa radiante con la materia.
1. Pelcula fotogrfica.
2. Detectores de estado slido
3. Detectores de ionizacin. Son los
usados en Difraccin.
DETECTORES DE IONIZACIN
Haz de radiacin penetra en el cilindro metlico del detector;
colisiona con un tomo de gas en el interior (argn, xenn o kriptn); se
produce un par in-electrn, es decir, el gas se ioniza.
El electrn ser acelerado hacia el alambre central (a un potencial
positivo con respecto al cilindro), mientras que el in positivo se mover
hacia la superficie metlica.
Cada vez que un electrn alcanza el nodo, contribuye a cargar el
condensador C, que se descarga a travs de la resistencia conectada en
serie, R, producindose en consecuencia un pulso electrnico.
Este pulso es amplificado y procesado por la unidad electrnica del
sistema, de modo que la seal final en pulsos por segundo, se obtendr en
un registrador de papel, cinta magntica, pantalla, etc..
Difractmetro de Polvos
El detector se desplaza circularmente alrededor de una muestra plana
pulverizada ubicada en el centro del instrumento;
La muestra gira, a su vez, en

torno de un eje normal al plano
del dibujo, de modo que para
cualquier ngulo que su
superficie forme con la direccin
del ngulo incidente, el haz
difractado forma un ngulo 2;
Consecuentemente, el acoplamiento mecnico entre el detector y

la muestra debe mantener una relacin rotacional 1:2.
Los rayos X provenientes de la fuente lineal
emergen con un pequeo ngulo de divergencia,
para cubrir totalmente la muestra;
al ser difractados por sta, convergen hacia una
rejilla receptora y entran luego al detector.
La distancia fuente - muestra es constante e igual
al radio del crculo del difractmetro, R.
El crculo definido por la fuente, la muestra y el
detector (foco) se denomina crculo de enfoque.
Su radio es variable y depende de la

posicin angular de la muestra y del
detector. La figura muestra dos
posiciones angulares diferentes.
Difractogramas
Dos maneras para medir intensidades en un difractmetro:
a) Los pulsos electrnicos se convierten en corriente estable, la cual
se cuantifica en un medidor de razn de pulsos, calibrado en
unidades de pulsos por segundo. Este tipo de circuito entrega, as,
una indicacin continua de la intensidad de rayos X.
El detector se posiciona en un ngulo inicial bajo, y luego se hace
girar a velocidad angular constante hasta barrer todo el rango (2) de
inters prctico. La seal se conecta a un registrador con carta de
papel, cuyo avance est sincronizado con el del detector (antiguo) o
modernamente a un computador.
Difractograma de muestra de NaCl con radiacin caracterstica de Cu

Difractogramas
Cont. a) El diagrama resultante muestra los mximos de difraccin
en trminos del ngulo 2, con intensidades relativas definidas por
las alturas de ellos en la carta, como se ve en la figura, para una
muestra de cloruro de sodio. La velocidad angular de barrido se
encuentra en un rango prctico de 0,5 - 2 grados/minuto en 2; el
lmite para 2 est alrededor de 160, siendo el tiempo de proceso
aproximadamente 30 minutos para una muestra normal.

Difractogramas
b) El detector se conecta a un circuito de medicin por pasos; el
ngulo 2 se fija durante un tiempo suficiente para medir un nmero
adecuado de pulsos, y luego se avanza a una nueva posicin angular
para repetir la operacin. En cada paso los pulsos de corriente se
cuentan electrnicamente, y luego se divide el nmero de ellos por el
tiempo transcurrido, para obtener el promedio de intensidad por paso.
Esta operacin es, evidentemente, discontinua y mucho ms lenta que
la descrita en (a), pero de resultados ms precisos; se puede llevar a
cabo en forma automtica con la mayor parte de los difractmetros
modernos, que incluyen un microprocesador en su diseo.

Difractogramas
Difractogramas
Difractograma de Muestra M1, A.M. por 6 hrs.
600
Magnesio (36.62) Nquel (44. 51)

500
400
Intensidad
300
200
100
10 20 30 40 50 60 70
2 theta
Difractograma de muestra cristalina de polvos

40
30
Intensidad relativa
20
10
10 20 30 40 50 60 70
2Theta
Difractograma de una muestra amorfa de polvos

Tenemos diamante?
Espaciados interplanares dhkl del diamante: 1.075,
1.261, y 2.06.
Si hay diamante en el material estudiado, habr
mximos de difraccin en el difractograma en valores
de 2 que corresponden a cada uno de los espaciados
dhkl que caracterizan al diamante.
Sea la LDO de los R-X usados, = 1.54
Los valores de 2 donde se encontrarn mximos son
aquellos que satisfacen la condicin de Bragg =
arc sen(/2dhkl)
dhkl 2
1,075 45,75 91,50 Ver:

http://www.eserc.stonybrook.edu/ProjectJava
1,261 37,63 75,27 /Bragg/
2,06 21,95 43,90

Tamao de Celda Unitaria de Cu
Se obtuvo el difractograma de Cu con R-X de = 1.315.
A un ngulo 2 de 50,5 grados, se encontr el mximo de

difraccin de primer orden.
Calcular el espaciado entre planos difractantes.
n= 2dsen d=n/2sen.
n=1; =25,25; = 1.315 d= 1.541

Anlisis Cuantitativo de las Fracciones Volumtricas
de Fases
1.Mtodo de Comparacin Directa
Se basa en que la intensidad de la radiacin difractada
por una fase en un mezcla, depende de la concentracin de
dicha fase.
2.Mtodo del Patrn Interno

La lnea de difraccin de la fase que est siendo
determinada es comparada con una lnea de una sustancia
patrn mezclada con la muestra en proporciones conocidas. Se
obtiene una curva de calibracin midiendo muestras que
tengan una concentracin conocida de la fase en estudio y una
cantidad constante de patrn.
Metalografa y Microscopa ptica

Introduccin
Metalografa: estudio microscpico de caractersticas
estructurales de un metal o de aleacin: tamao de
grano; tamao, forma y distribucin de varias fases e
inclusiones;
Ayuda a revelar tratamiento mecnico y trmico del
metal;
Ayuda a predecir su comportamiento.
El microscopio metalogrfico
Ilumina la superficie de una muestra metalogrfica,

opaca a la luz, por luz reflejada.
El microscopio metalogrfico
El microscopio ptico comn est
conformado por tres sistemas:
sistema mecnico: constituido por
una serie de piezas en las que van
instaladas las lentes que permiten el
movimiento para el enfoque.
sistema ptico: comprende un
conjunto de lentes dispuestas de tal
manera que produce el aumento de las
imgenes que se observan a travs de
ellas
sistema de iluminacin: comprende
las partes del microscopio que
reflejan, transmiten y regulan la
cantidad de luz necesaria para efectuar
la observacin a travs del
microscopio.
La parte mecnica del Microscopio
Comprende: el pie, el tubo, el revlver, el asa, la platina, el carro, el tornillo macromtrico y

el tornillo micromtrico. Estos elementos sostienen la parte ptica y de iluminacin, adems
permite los desplazamientos necesarios para el enfoque del objeto.
Pie: base sobre la que se apoya el microscopio.
Tubo: cilndrico, ennegrecido internamente para evitar los reflejos de la luz. En su extremidad
superior se colocan los oculares.
Revlver. Pieza giratoria en la cual se enroscan los objetivos. Al girar el revlver, los
objetivos pasan por el eje del tubo y se colocan en posicin de trabajo, la cual se nota por el
ruido de un pin que lo fija.
Platina: pieza metlica plana en la que se coloca la muestra a observar. Presenta un orificio en
el eje ptico del tubo que permite el paso de los rayos luminosos.
Carro: dispositivo colocado sobre la platina que permite deslizar la muestra con movimiento
ortogonal de adelante hacia atrs y de derecha a izquierda.
Tornillo macromtrico. Girando este tornillo, asciende o desciende el tubo del microscopio,
deslizndose en sentido vertical gracias a una cremallera. Estos movimientos largos permiten
el enfoque rpido de la preparacin.
Tornillo micromtrico. Mediante el movimiento casi imperceptible que produce al deslizar el
tubo o la platina, se logra el enfoque exacto y ntido de la preparacin. Lleva acoplado un
tambor graduado en divisiones de 0,001 mm que se utiliza para precisar sus movimientos y
puede medir el espesor de los objetos.
Sistema ptico
El sistema ptico es el encargado de reproducir y aumentar las imgenes mediante

el conjunto de lentes que lo componen. Est formado por los oculares y los
objetivos.
Los oculares: constituidos generalmente por dos lentes, dispuestas sobre un tubo corto.
Los oculares generalmente ms utilizados son los de: 8X, 1OX, 12.5X, 15X. La X se
utiliza para expresar en forma abreviada los aumentos.
Los objetivos: producen aumento de las imgenes de los objetos y, por tanto, se hallan
cerca de la muestra que se examina. Los objetivos utilizados corrientemente son de dos
tipos: objetivos secos y objetivos de inmersin.
Los objetivos secos se utilizan sin necesidad de colocar sustancia alguna entre ellos y la
muestra. En la cara externa llevan una serie de ndices que indican el aumento que producen, la
abertura numrica y otros datos. As por ejemplo, si un objetivo tiene estos datos: plan 40/0,65 y
160/0,17, significa que el objetivo es planacromtico, su aumento 40 y su abertura numrica
0,65, calculada para una longitud de tubo de 160 mm. El nmero de objetivos vara con el tipo
de microscopio y el uso a que se destina. Los aumentos de los objetivos secos ms
frecuentemente utilizados son: 6X, 1OX, 20X, 45X y 60X.
El objetivo de inmersin est compuesto por un complicado sistema de lentes. Para observar a
travs de este objetivo es necesario colocar una gota de aceite de cedro entre el objetivo y la
muestra, de manera que la lente frontal entre en contacto con el aceite de cedro. Generalmente,
estos objetivos son de 1OOX y se distingue por uno o dos crculos o anillos de color negro que
rodea su extremo inferior.
Sistema de Iluminacin
Este sistema tiene como finalidad dirigir la luz natural o artificial de tal manera que
ilumine la preparacin u objeto que se va a observar en el microscopio. Comprende los
siguientes elementos:
El espejo. Tiene dos caras: una cncava y otra plana. Goza de movimientos en todas las
direcciones. La cara cncava se emplea de preferencia con iluminacin artificial, y la plana,
para iluminacin natural (luz solar). Modernamente se prescinde del espejo en la fabricacin de
microscopios, ya que stos traen incorporada una lmpara colocada en el eje del microscopio.
Condensador. El condensador est formado por un sistema de lentes, cuya finalidad es
concentrar los rayos luminosos sobre el plano de la preparacin. El condensador se halla debajo
de la platina. El condensador puede deslizarse sobre un sistema de cremallera mediante un
tornillo que determina su movimiento ascendente o descendente.
Diafragma. Generalmente, el condensador est provisto de un diafragma-iris, que regula su
abertura y controla la calidad de luz que debe pasar a travs del condensador.
Trayectoria del Rayo de Luz a travs del Microscopio
El haz luminoso procedente de la lmpara pasa directamente a travs del diafragma al
condensador. Gracias al sistema de lentes que posee el condensador, la luz es
concentrada sobre la preparacin a observar. El haz de luz penetra en el objetivo y sigue
por el tubo hasta llegar el ocular, donde es captado por el ojo del observador.
Campo del Microscopio
Crculo visible que se observa a travs del

microscopio. O, porcin del plano visible observado a
travs del microscopio.
Si el aumento es mayor, el campo disminuye; o sea,
el campo es inversamente proporcional al aumento
del microscopio.
Para medir el dimetro del campo del microscopio
con cualquiera de los objetivos se utiliza el
micrmetro.
Un haz de luz
horizontal es
reflejado, por medio
de un reflector de
vidrio plano, hacia
abajo a travs del
sistema inferior de lentes,
objetivo, sobre la superficie
de la muestra.
Parte de la luz reflejada desde la
superficie de la muestra se
amplifica al pasar a travs del
objetivo, y contina hacia arriba a
travs del reflector de vidrio
plano;
Luego, lo amplifica el ocular
(sistema superior de lentes).
El poder de amplificacin del
objetivo y del ocular est grabado
en la base de la lente.
La amplificacin total es igual a
la amplificacin del objetivo por
la del ocular.
Probeta se ubica ms all del
punto focal frontal del objetivo:
se obtiene una imagen primaria
real mayor que el objeto y
situado al otro lado del sistema
de lentes del objetivo.
El tamao de esta imagen primaria
depende de las distancias relativas a que
se encuentran del objetivo, el objeto y su
imagen. La distancia a que tal imagen se
forma, con relacin siempre al objetivo,
depende de la distancia focal de este
elemento, y de la distancia a que se
encuentra el objeto con relacin al punto
focal frontal del objetivo.
La imagen primaria , formada en la
posicin adecuada, es amplificada por el
ocular.
Para lograr que la imagen primaria se
forme en la posicin debida con respecto
al ocular, se debe enfocar el microscopio.
La distancia entre ocular y objetivo es fija
y corresponde a la longitud mecnica del
tubo del microscopio.
Microscopios metalogrficos con diferentes tipos de objetivos (x5, x10, x40,
x100); a) directo, b) con estilo de platina invertida.
Propiedades de los
objetivos
Apertura numrica:
Define los detalles ms pequeos
de un objeto que puede resolver.
El objetivo recibe, para formar la
imagen, un cono de luz mayor que
el que podra recibir el ojo desnudo.
La cantidad de luz que penetra en el objetivo aumenta al crecer la amplitud
angular del cono citado.
De la magnitud de este cono dependen, en parte, la claridad de la imagen y
la resolucin de los detalles finos del objeto.
La cantidad de luz depende, adems, del ndice de refraccin del medio que
separa el objetivo del objeto y a travs del cual pasan los rayos que
formarn la imagen.
Propiedades de los objetivos
La apertura numrica, A, se puede expresar por el producto del ndice de

refraccin n del medio, y el seno de la mitad de la amplitud angular del
cono en cuestin.
A = n sen
Propiedades del microscopio
Poder de resolucin:
distancia mnima entre dos puntos prximos que pueden verse separados.
El ojo normal no puede ver separados dos puntos cuando su distancia es
menor a una dcima de milmetro.
depende fundamentalmente de la apertura numrica y de la longitud de
onda de la luz empleada en la iluminacin.
Si toda la apertura del objetivo queda baada por la luz, el poder de
resolucin es:
l
d
2. A
d = distancia mnima entre dos detalles observables distintamente,
expresada en las unidades de longitud que se emplean para medir la
longitud de onda
El poder separador mximo conseguido es de 0,2 dcimas de micra (en el
microscopio electrnico, el poder separador llega hasta 10 ngstrom)
Propiedades del microscopio
Poder de definicin:
Se refiere a la nitidez de las imgenes obtenidas, sobre todo respecto a sus
contornos.
Esta propiedad depende de la calidad y de la correccin de las aberraciones de
las lentes utilizadas.
Aumento del microscopio

La relacin entre el dimetro aparente de la imagen y el dimetro o longitud
del objeto
Esto quiere decir que si el microscopio aumenta 100 dimetros un objeto, la
imagen que estamos viendo es 100 veces mayor que el tamao real del objeto.
Para calcular el aumento de un microscopio, basta multiplicar el aumento del
ocular por el aumento del objetivo.
Por ejemplo, si estamos utilizando un ocular de 10X y un objetivo de 45X, el
aumento a que estamos viendo la muestra ser: 1OX x 45X = 450X, lo cual
quiere decir que la imagen del objeto est ampliada 450 veces.
Muestreo
El xito en el estudio microscpico depende en mucho del cuidado que

se tenga para preparar la muestra
procedimiento sencillo, pero requiere de una tcnica desarrollada slo
despus de prctica constante.
Interesa examinar una superficie de una muestra que proporcione una

imagen exacta de la estructura que se desea analizar. Para ello,
se debe obtener una superficie plana, sin rayaduras, semejante a un

espejo;.
no deben existir deformaciones, arranques, relieves ni bordes
redondeados;
no se debe introducir ningn elemento extrao y
no se deben producir daos trmicos.
Muestreo
La seleccin de una muestra para estudio microscpico puede ser muy

importante. Si lo que se va a investigar es una falla, se debe escoger la
muestra ms prxima al rea de la falla y comparrsele con una
tomada de la seccin normal o sana.
Si el material es blando, como metales o aleaciones no ferrosas y

aceros no tratados trmicamente, la seccin puede obtenerse por corte
manual con una segueta. Tanto para materiales blandos como duros, la
seccin puede obtenerse mediante un disco cortador abrasivo, el cual
es un plato delgado fabricado de un abrasivo y un ligante de tipo
adecuado, que gira a alta velocidad.
Muestreo
El disco queda definido por la combinacin del abrasivo y el ligante.
Para el corte de metales se utiliza Al2O3 o SiC como abrasivos y baquelita
como ligante; para el corte de materiales arriba de HV 700, se usa diamante
o CBN (nitruro cbico de boro) ligados por metal o baquelita.
En cualquier caso, la muestra debe mantenerse fra durante la operacin de
corte.
La figura muestra tres tipos de mquinas de corte por disco y varios discos
de corte.
Mquinas de corte por disco: a) de alta potencia y para piezas de gran

tamao; b) de sobremesa; c) de precisin. c) Discos de corte.
Desbaste y pulido
Esmerilado burdo o tosco

Montaje
Pulido intermedio o desbaste fino
Pulido fino
Pulido Electroltico
Ataque
Desbaste y pulido
Esmerilado burdo o tosco

Desbaste y pulido
Montaje
a) Muestra montada en baquelita, b) Muestra montada
en lucita, c) Muestra sostenida en un dispositivo de
sujecin de metal.
Desbaste y pulido
Pulido intermedio o desbaste fino

Desbaste y pulido
Pulido fino
a) Paos de pulido. b) Superficie de la muestra despus del pulido

final, amplificacin 50x.Los puntos negros son impurezas de xido.
Desbaste y pulido
Ataque
a) Fotomicrografa de la diferencia en composicin qumica de las fases. b)

Fotomicrografa de hierro puro, c) Ilustracin del aspecto microscpico de las
fronteras de grano que aparecen como lneas oscuras.
Introduccin
Resolucin de microscopa ptica limitada por su

longitud de onda: algunas dcimas de micra;
Haz de electrones acelerados posee naturaleza
ondulatoria, siendo su longitud de onda inversamente
proporcional a su energa;
Tercera dcada del siglo XX, construccin del primer
microscopio electrnico de transmisin.
20 aos despus, construccin del primer
microscopio electrnico de barrido.
El microscopio electrnico
MET 1930 MET moderno.

Microscopio Electrnico de Barrido MEB (SEM)
Permite la observacin y el anlisis de superficies a travs de

imgenes obtenidas mediante un sistema ptico electrnico.
En ciencia e ingeniera de materiales, caracterizacin estructural y
qumica de stos, proporcionando informacin morfolgica y
estructural como:
tamao de grano; composicin qumica, identificacin de fases;
permite realizar simultneamente anlisis cuantitativos y
cualitativos, estudios estructurales por microscopa de alta
resolucin y anlisis espectroscpicos por prdida de energa de
electrones.
Componentes principales:
Fuente de electrones y Lentes
Fuente de electrones:
Contiene el filamento del cual, stos son
extrados.
Dos tipos de filamentos segn el mtodo
empleado para la emisin de electrones:
termoinicos
de emisin de campo.
Filamentos termoinicos:
La emisin se produce por el calentamiento del

filamento haciendo pasar corriente a travs de l .
Filamentos termoinicos de W y de LaB6

Filamentos de emisin de campo o
ctodo fro:
o La emisin se produce como o Las intensidades pueden ser
consecuencia de la aplicacin de mucho mayores a las obtenidas
un elevado campo elctrico. No con emisin termoinica.
requieren de calentamiento.
Filamento de W de emisin de campo

Comparacin de Filamentos en MEB
Termoinicos Emisin de Campo

Condicin W LaB6 Fro W con ZrO2
Vacio (mbar) <10-4 <10-6 <10-10 <10-8
Corriente del haz 1 pA - 1A 1 pA - 1A 1 pA - 300pA 1 pA - 5nA
Vida media (h) 100 600 >1000 >2000
Dispersin de energa, (eV) 1-2 0,5 - 2 0,2 - 0,4 0,3
Dimetro de la fuente 20 - 50 m 10 - 20 m 5 - 10 nm 15 nm
Funcin de Trabajo (eV) 4,45 2,66 4,5 2,8
Temperatura de Trabajo (K) 2800 1400-2000 300 1800

Lentes
Reducen al mximo el dimetro del haz de electrones

y lo focalizan sobre la muestra.
Con filamentos termoinicos: dos o tres lentes para
conseguir una reduccin del haz hasta los niveles
deseados (50 m a 50nm)
Con filamentos por emisin de campo, el dimetro
inicial es mucho menor (10 - 15 nm) por lo que se
requiere un nmero menor de lentes.
Lentes
Un lente electromagntico consta de una bobina por la que circula corriente

y una pieza polar cilndrica situada en su interior.
En la pieza polar se establece un campo magntico cuya estabilidad est
dada directamente por las fluctuaciones de la corriente.
Un lente de este tipo es capaz de focalizar un haz de electrones y
proporcionar imgenes electrnicas focalizadas.
El electrn, al entrar en un campo magntico uniforme, con una velocidad
(v) perpendicular al campo magntico (H), describir una circunferencia,
sin embargo, si su velocidad es paralela al campo, la fuerza de Lorentz es
nula y su trayectoria no se modificar. En general, si la velocidad del
electrn forma un cierto ngulo con el campo, una componente originar
un movimiento circular, mientras que otra, la paralela al campo, provocar
un desplazamiento uniforme. Entonces, la trayectoria del electrn es una
hlice contenida en una superficie cilndrica.
Lentes
Si a partir del punto P en la figura (b), diverge un haz de electrones de igual

energa (igual velocidad) en direcciones poco inclinadas con respecto a H,
ser focalizado en el punto P.
y
H
vy a) Trayectoria de un haz de
v R
P z electrones en un campo
vz magntico uniforme.
P
y
H b) Focalizacin de un haz
ligeramente divergente de
R
P z electrones, por un campo
magntico uniforme.
P
d
Resolucin, Contraste y Profundidad de
Campo
Resolucin: funcin del dimetro del haz, cuanto menor sea
ste, se podrn definir detalles ms finos, sin embargo, cuanto
menor sea este dimetro, la intensidad del haz tambin es
menor y consecuentemente se tendr ms ruido, menor
contraste y menor velocidad de barrido.
En aparatos como el MEB XL 30 de Philips, la resolucin es
de 3,5 nm y 2 nm con filamentos de W y LaB6
respectivamente.
El contraste es funcin de la intensidad del haz, del tiempo de
exposicin y del nmero de puntos para formar la imagen.
La profundidad de campo de un MEB, corresponde a la
distancia a lo largo del eje del microscopio a travs de la cual
la imagen se mantiene enfocada, (disminuye a mayores
amplificaciones).
Resolucin y Profundidad de Campo comunes en
MEB y Microscopio ptico
Profundidad de Campo
Amplificacin Resolucin MEB MO
100 1 m 200 m 2 m
200 500 nm 100 m 0,7 m
1000 100 nm 20 m -
5000 20 nm 4 m -
10000 10 nm 2m -
Seales de las Interacciones entre el Haz y la
Muestra en el MEB
Un punto de la superficie
de una muestra
alcanzado por un haz de
electrones da origen a
distintas seales las que
pueden ser detectadas
independientemente y
proporcionan
informacin
complementaria.
Muestra en el MEB
Las interacciones del haz y la
muestra producen dispersin,
elstica o inelstica.
Dispersin elstica: las
trayectorias de los electrones
del haz incidente son
modificadas sin alterar su
energa cintica, produciendo
de esta manera los electrones
primarios o retrodispersados.
Muestra en el MEB
Dispersin inelstica: los
electrones transfieren
parte de su energa a los
tomos que componen la
muestra y generan
diversas seales
productos de fenmenos
diversos como electrones
secundarios, electrones
auger, rayos x y
catodoluminiscencia .
De acuerdo con la seal detectada, el
MEB es capaz de operar en diferentes
"modos" o formas, cada una de las
cuales presenta caractersticas
particulares y proporciona informacin
complementaria a la simple
observacin ptica.
Modos de Operacin del Microscopio Electrnico de Barrido

Modo Seal detectada y visualizada Informacin Resolucin Aprox.
Reflexivo Electrones primarios o retrodispersados (ER) Composicin, 1000

Topografa
Emisivo Electrones secundarios (ES) Topografa 100
Rayos X Rayos x caractersticos Composicin 1 m
Auger Electrones Auger Composicin 1 m
Ctodo Fotones Composicin 1000
luminiscen
cia
Absorcin Corriente absorbida por la muestra Topografa 1 m
Conductivo Corrientes inducidas en la muestra Conductividad 1000
inducida
Efecto de la Interaccin del Haz con la
Muestra
La resolucin en un MEB, est
directamente relacionada con las
dimensiones de la zona excitada por el
haz primario sobre la muestra.
Cuando un haz de electrones incide
sobre la superficie de la muestra, los
distintos procesos de interaccin con
los tomos de la misma hacen que los
electrones del haz primario se
dispersen dentro de un volumen que
tiene aproximadamente la forma de
una pera.
La resolucin en cada uno de los modos
est determinada por las dimensiones
del volumen donde se generan las
seales respectivas. El volumen de
interaccin de los electrones depende
bsicamente del nmero atmico del
material que compone la muestra y del
potencial acelerador.
Muestra
Electrones secundarios: producidos en
todo el volumen de excitacin; sus
energas son muy bajas, 10 a 50 eV, se
recombinan totalmente con los tomos
de la muestra al atravesar distancias
del orden de 200 .
En consecuencia, slo la porcin del
volumen de excitacin prximo a la
superficie contribuye a la emisin de
electrones secundarios que pueden
llegar al detector. Entonces es la
imagen de mayor resolucin.
Resolucin mxima de 100 en el
modo emisivo, operando con un haz de
energa superior a los 20 kV.
La resolucin empeora al disminuir la
energa del haz incidente, debido a que
aumenta la difusin transversal de los
electrones dentro de la muestra
Muestra
A diferencia de los secundarios,

los electrones retrodispersados
(primarios o retrodifundidos),
procedentes de las interacciones
elsticas, provienen del total del
volumen de excitacin, debido a su
alta energa (de unos 10 kV para un
haz incidente de 20 kV).
Por lo tanto la mejor resolucin de
las imgenes obtenidas con
electrones retrodispersados (modo
reflexivo) es de slo unos 1000 .
Muestra
Electrones Auger y radiacin de rayos
x caracterstica, son consecuencia de
interacciones inelsticas entre el haz y
la muestra.
Cuando un tomo es ionizado, pueden
producirse dos mecanismos para que el
tomo recupere su estado original. El
primero es el salto de un electrn
desde un nivel superior al ionizado,
salto tras el cual el tomo emite un
fotn. El segundo, involucra tambin el
llenado del nivel ionizado por otro
electrn de un nivel superior, sin
embargo, la energa liberada es
transferida a otro electrn que
abandona el tomo, en consecuencia no
hay emisin de fotn sino de otro
electrn, el cual es llamado, en honor al
descubridor de este proceso electrn
Auger. Ambos casos, fotn y electrn
Auger, se relacionan con energas
caractersticas de los tomos de la
muestra y por lo tanto, pueden ser
empleados para anlisis qumico.
Propiedades Mecnicas: Ensayos de

Traccin, Impacto, Dureza y Fatiga
Introduccin
Propiedades mecnicas: dureza,

resistencia, ductilidad, tenacidad,
resistencia ante cargas cclicas.
Ensayos que permiten determinar el
comportamiento de un material ante la
aplicacin de una carga.
Los resultados de estas pruebas
constituyen las propiedades mecnicas
del material:
Introduccin
Dureza. Tres tipos:
Resistencia al corte o abrasin
Prueba de rayadura
Prueba o ensayo de lima
Dureza elstica
Shore
Resistencia a la indentacin:
dureza Brinell
dureza Rockwell
dureza Vickers
microdureza
Introduccin
Ensayo de traccin :
Lmite proporcional y lmite elstico
Punto y resistencia de cedencia o fluencia
Resistencia lmite
Resistencia a la ruptura
Ductilidad
Mdulo de la elasticidad o mdulo de Young
Resiliencia
Tenacidad
Introduccin
Ensayo de impacto:
Charpy
Izod
Ensayo de fatiga:
Duracin a la fatiga para un esfuerzo en
particular
Lmite de resistencia a la fatiga
El Ensayo de traccin se realiza bajo
la norma ASTM E-8 ASTM A 370,
o bien la norma chilena NCH 200,
entre otras.
Su importancia radica en que es vlido

y aceptado para especificacin de
materiales en ingeniera.
Esfuerzo y deformacin (stress y strain)
Esfuerzo (stress): Fuerza por unidad de rea.

Resistencia (strength) oposicin que ofrece el cuerpo al
esfuerzo aplicado.
Deformacin (strain) cambios en las dimensiones del cuerpo
debido al esfuerzo. El esfuerzo para una carga axial tensil o
una compresiva, se calcula como la carga por unidad de rea.
(psi) o (MPa)
La deformacin total en cualquier direccin es el cambio total
de una dimensin del cuerpo en esa direccin, y la
deformacin unitaria es la deformacin por unidad de longitud
en esa direccin. (0/1) o (%).
Ensayo de traccin
Una muestra o probeta preparada

especficamente se coloca en las cabezas de la
mquina de prueba y se somete a una carga
axial por medio de un sistema de carga de
palanca mecnico o hidrulico.
La fuerza se indica en un disco calibrado.
Si se conoce el rea transversal original de la
muestra, puede calcularse el esfuerzo
desarrollado a cualquier carga.
Ensayo de traccin
El alargamiento se mide
en una longitud
establecida, generalmente
2 pulg, por un disco
medidor llamado
extensmetro.
La deformacin unitaria se
determina dividiendo el
alargamiento medido por
la longitud original
marcada en la probeta.
Muestra tensil fijada a un extensmetro
Deformacin elstica y plstica
Deformacin elstica no permanente: la aplicacin de

una fuerza (tensil) aumenta la distancia interatmica
sin romper los enlaces. Al retirar la fuerza, se retorna
a la separacin original.
Deformacin plstica permanente: deslizamiento de
planos atmicos, generacin de dislocaciones.
P
i Offset yield strength: Lmite elstico convencional
A0
Resistencia tensil o UTS
Esfuerzo de fractura
Deformacin
uniforme
Deformacin a fractura
l
i
l0
Grfica esfuerzo-deformacin
a) acero dctil; b) un acero frgil.

Mdulo de elasticidad o mdulo de Young: E
La pendiente de la recta es
realmente la constante de
proporcionalidad entre
esfuerzo y deformacin (ley
de Hooke) cuando se est
abajo del lmite de
proporcionalidad, y se
conoce como mdulo de
elasticidad o mdulo de
Young:

E

Mdulo de Young: E
El mdulo est relacionado con

las fuerzas que unen los tomos
en el material.
Una pendiente elevada en la
grfica de las fuerzas vs
espaciado interatmico en la zona
de equilibrio indica que se
requieren grandes fuerzas para
separar los tomos y producir la
deformacin elstica del metal, lo
cual indica que ste tiene un alto
mdulo de elasticidad.
Las fuerzas de unin y, por lo
tanto, el mdulo de Young, son
mayores para los metales de alto Curva fuerza - espaciamiento
punto de fusin interatmico
Mdulo de Young: E
E, indicacin de la rigidez de un
material, se mide en GPa
(GN/m2);
E del acero es 207 GPa
aproximadamente,
E del aluminio es 69 GPa.
Por ende, el acero es
aproximadamente tres veces
ms rgido que el aluminio
El mdulo de elasticidad es una
propiedad muy til de la
Ingeniera y aparecer en
frmulas relacionadas con el
diseo de vigas y columnas, en
las que la rigidez es importante.
Comparacin del comportamiento

elstico del acero y del aluminio
Mdulo de Young: E
Mdulo de Young: E
Mdulo de Young: E
Mdulo de Young: E
Mdulo de Young: E
Mdulo de Young: E
Mdulo de Young: E
Propiedades de tensin:
Lmite proporcional (Proportional limit).
La parte inicial de la
grfica esfuerzo-
deformacin puede ser
aproximada por la recta
OP.
En este intervalo, el
esfuerzo y la deformacin
son proporcionales entre s
(Ley de Hooke).
El esfuerzo en el lmite del
punto de proporcionalidad
P se conoce como lmite de
proporcionalidad.
Lmite elstico (Elastic limit)
En el intervalo elstico, al retirar

la carga, la aguja del
extensmetro regresa a cero.
Al aumentar la carga, se alcanza
un punto en que la aguja no
regresar a cero, lo que indica
que hay una deformacin
permanente;
El lmite elstico puede definirse
como el esfuerzo mnimo al que
ocurre la primera deformacin
permanente.
Para la mayora de los materiales
estructurales, el lmite elstico
tiene casi el mismo valor
numrico que el lmite de
proporcionalidad.
Punto o lmite de cedencia o fluencia
(Yield point)
En ciertos materiales dctiles se
alcanza un esfuerzo a partir del
cual el material contina
deformndose sin incremento de la
carga, punto Y.
El esfuerzo puede disminuir,
resultando en un punto de cedencia
superior y uno inferior.
El punto es relativamente fcil de
determinar y la deformacin
permanente es pequea.
Valor a considerar en el diseo de
muchas partes para maquinaria
cuya utilidad se afectara si
ocurriera una gran deformacin
permanente.
Vlido slo para materiales que
exhiban un punto de cedencia bien
definido.
(Yield point)
(Yield point)
(Yield point)
(Yield point)
Resistencia a la cedencia o fluencia
(Yield strenght)
La mayora de los materiales no ferrosos y
los aceros de alta resistencia no tienen un
punto de cedencia definido. Aqu, la mxima
resistencia til corresponde a la resistencia
de cedencia: esfuerzo al cual un material
exhibe una desviacin especificada de la ley
de Hooke.
Por lo general, este valor se determina por el
"mtodo de la deformacin permanente
especificada" (offset method).
La deformacin especificada OX se marca
sobre el eje de la deformacin. Luego, se
traza la lnea XW paralela a OP, localizando
de esta manera el punto Y interseccin de la
lnea XW con la curva esfuerzo-
deformacin.
El valor del esfuerzo en el punto Y indica la
resistencia de cedencia o fluencia.
El valor de la deformacin permanente
especificada est generalmente entre 0.10 y
0.20% de la longitud calibrada.
Fenmeno del punto de fluencia
El fenmeno de punto de fluencia se da

en algunos materiales que contienen
solutos especialmente intersticiales
como el acero de bajo contenido en
carbono y consiste en la aparicin de
una oscilacin de la curva esfuerzo
deformacin cerca del inicio de la
deformacin plstica
Acero de Construccin A 44
Resiliencia
Es la capacidad de un material para
absorber energa cuando se deforma
elsticamente
Mdulo de Resiliencia
Corresponde a la energa de deformacin
por unidad de volumen requerida para
deformar el material hasta el lmite
elstico
1 1 0 J
2
U R 0 0 0 0
3
2 2 E 2E m
Material E(GPa) 0 (MPa) UR(kPa)
Acero medio C 207 310 232
Acero alto C 207 965 2250
Duraluminio 72 124 107
Cobre 110 28 3.5
Goma 0.0010 2.1 2140
Acrlico 3.4 14 28
Para el caso de un resorte?

Acero alto C (Resortes)
Acero estructural
Resiliencia
Resistencia lmite, R. a la traccin,
o R. Mxima a la traccin o UTS.
Al aumentar la carga, el esfuerzo y la deformacin se incrementan,
porcin de la curva YM, hasta alcanzar el esfuerzo mximo en el punto
M; la UTS es la resistencia mxima desarrollada por el material, basada
en el rea transversal original. Un material dctil contina alargndose
ms all de M; uno frgil se rompe al alcanzar la resistencia lmite
(punto M=B).
Resistencia a la ruptura
Material dctil: hasta M,

deformacin uniforme a lo largo de
la longitud de la barra.
En UTS, deformacin localizada o
formacin de cuello y la carga
diminuye al decrecer el rea.
Esta elongacin en forma de cuello
es una deformacin no uniforme y
ocurre rpidamente hasta el punto en
que el material falla.
La resistencia a la ruptura (punto B),
determinada al dividir la carga de
ruptura por el rea transversal
original, es siempre menor que la
resistencia lmite.
Para un material frgil, la resistencia
lmite y la resistencia de ruptura
coinciden.
Probeta de traccin antes y despus

del ensayo
Ductilidad
Se determina a partir de la cantidad de deformacin que soporta hasta que se

fractura. Dos mediciones:
Alargamiento: se juntan, despus de la fractura, las partes de la muestra y se
mide la distancia entre las marcas puestas en la muestra antes de la prueba:
L f L0
Alargamiento (%) = x100
L0
donde Lf = longitud de la medida final; L0 = longitud de la medida original,
generalmente 2 pulg.
Debe especificarse la longitud de la medida original, ya que el porcentaje de

elongacin variar de acuerdo con la longitud original.
Reduccin en rea: Se mide el rea transversal mnima de las mitades rotas y

con la frmula: A0 A f
Reduccin en rea (%) = x100
A0
donde A0 = rea transversal original; Af = rea transversal final
Ductilidad
Material dctil, curva esfuerzo-

deformacin con mximo en el
UTS
Material ms frgil, UTS coincide
con el punto de falla.
Material extremadamente frgil,
como cermicos, coinciden Y, UTS
y esfuerzo de ruptura.
Un material que presente al menos
cierta ductilidad, asegura que si el
esfuerzo aplicado es demasiado
alto, el componente se deforme
plsticamente antes de romperse.
Un fabricante desear un material
dctil de manera que pueda
producir piezas de formas
complicadas sin que el material se
rompa durante el proceso.
Comportamiento esfuerzo-deformacin
de materiales frgiles y dctiles
Esfuerzo real-deformacin real
La prueba convencional de tensin descrita

antes dar valiosa informacin hasta
aproximarse y llegar al punto de cedencia.
Ms all de este punto, los valores de
esfuerzo son ficticios, ya que el rea
transversal real se reducir
considerablemente. Se define el esfuerzo real
y la deformacin real por las siguientes
ecuaciones:
F
Esfuerzo real: t
A
dl l A
Deformacin real: t l0
ln ln 0
l0 A
donde A es el rea instantnea sobre la que Relacin entre el diagrama esfuerzo

se aplica la fuerza F. La expresin ln (A0/A)
debe utilizarse despus de iniciada la real-deformacin real, y el diagrama
estriccin. esfuerzo-deformacin de uso en
ingeniera.
Esfuerzo y deformacin verdaderos
P dl lf
v d v v ln
A l l0
Se cumplen las siguientes relaciones
v ln1 i
v i 1 i
Estas ecuaciones son vlidas
hasta la deformacin uniforme
Ms all de este punto se cumple que:
A0 D0
v ln 2 ln
A D

v-v
ii

Deformacin verdadera local en el
cuello
Es la deformacin necesaria para
deformar la muestra desde la carga
mxima hasta la fractura. Se calcula a
partir de
Au
ln
n
v
Af
Resiliencia vs Tenacidad
Resiliencia: Energa absorbida en el campo elstico. rea bajo la

curva en el intervalo elstico. Medida de la energa por unidad de
volumen que puede absorber un material sin sufrir deformacin
permanente y que, por tanto, libera al retirar la carga (Resiliencia =
mdulo de recuperacin).
Tenacidad: Energa absorbida en el campo plstico. Capacidad de un

material para absorber energa y deformarse plsticamente antes de
fracturarse. rea bajo la totalidad de la curva esfuerzo-deformacin
en el ensayo de traccin. sta es principalmente una propiedad del
intervalo plstico, ya que slo una pequea parte de la energa total
absorbida es energa elstica que puede recuperarse cuando se
suprime el esfuerzo
Efectos trmicos
Las propiedades a la tensin son afectadas de manera importante por

la temperatura. El esfuerzo de fluencia, la resistencia a la tensin y el
mdulo de elasticidad disminuyen a temperaturas elevadas, en tanto
que la ductilidad, como medida del grado de deformacin en la
fractura, comnmente se incrementa.
El efecto de la temperatura a) en la curva esfuerzo-deformacin y b) en las

propiedades a la tensin de una aleacin de aluminio.
Efecto de T sobre el Mdulo de
Young)
Material Tamb 477 K 700 K 810 K 922 K
Acero al Carbono 207 186 155 134 124
Acero inoxidable
193 176 159 155 145
austentico
Aleaciones de titanio 114 97 74 70
Aleaciones de aluminio 72 66 54
por qu ocurre esto?

FRACTURA DCTIL
FRACTURA FRGIL
Fractura Dctil Fractura Frgil
Ensayo de Doblado
Este ensayo sirve para

obtener una idea aproximada Se comienza el ensayo
sobre el comportamiento del colocando las piezas sobre
acero a la flexin o esfuerzo dos apoyos, cuya
de doblado. separacin est
normalizada.
Se aplica luego una fuerza
controlada que aumenta
paulatinamente hasta que la
probeta se dobla
completamente o
comienzan a aparecer las
primeras grietas.
ENSAYO DE FLEXIN
Flexin en tres puntos
Flexin en cuatro puntos

POR QU EL ENSAYO DE FLEXIN?
La resistencia a la traccin da menor que la

resistencia a flexin, porque en el caso del ensayo de
traccin, todo el manto est sometido a carga.
El ensayo de flexin permite discernir el defecto que
produce la fractura
En tres puntos da mayor resistencia que en cuatro
puntos, porque en este caso, existe slo un punto
sometido a carga mxima.
Ensayo de Charpy
(impacto)
Inventado en la Dcada de 1920

por el Francs George
CHARPY
Norma
ASTM E-23
Ensayo de impacto
Aunque la tenacidad de un material puede obtenerse

calculando el rea bajo el diagrama esfuerzo-deformacin, la
prueba de impacto indicar la tenacidad relativa:
comportamiento en funcin de una muesca en particular
La muestra Charpy se coloca en un tornillo de banco de
manera semejante a una viga sencilla soportada en ambos
extremos.
Por lo general, se utilizan muestras tipo muesca. Dos tipos de
muesca de tipo general se utilizan en pruebas de flexin por
impacto: la muesca ojo de cerradura y la muesca en V.
Ensayo Charpy.
a) Dispositivo del ensayo Charpy. b) Muestras tpicas

Ensayo Izod.
Adems de la muestra
Charpy existe la
muestra Izod.
sta se coloca en el
tornillo de banco de
modo que un extremo
quede libre y sea por
tanto una viga en
voladizo
Descripcin
Un pndulo oscilante de
peso fijo es elevado a una
altura estndar,
dependiendo del tipo de
muestra a probar.
El pndulo tiene una
cantidad definida de
energa potencial. Cuando
el pndulo se libera, esta
energa se convierte en
energa cintica hasta que
golpea a la muestra.
La muestra Charpy se golpea atrs de la muesca en V; la muestra Izod, colocada

con la muestra en V de cara al pndulo, se golpea arriba de la muesca en V.
Descripcin
Parte de la energa del

pndulo se utiliza para
romper la muestra; en el
lado opuesto el pndulo se
eleva a una altura menor
que aquella con que inici
su movimiento.
El peso del pndulo por la
diferencia de alturas
indicar la energa
absorbida por la muestra,
o sea la resistencia al
impacto de la muestra con
muesca.
Clculo
Sin considerar las prdidas,

la energa usada al fracturar
una probeta puede
computarse como sigue:
Energa inicial = W.H =
W.R.(1 - cosA)
Energa despus de la
ruptura = W.H = W.R.(1 -
cosB)
Energa para fracturar la Para resultados exactos: correccin
por
probeta = W.(H - H) = W.R prdida al arrastre de aire,
(cosB - cosA) por la energa absorbida por la
friccin en el rodamiento de la
mquina y por el brazo indicador
por la energa usada al mover la
pieza de ensayo rota.
Resultados del ensayo de impacto
Temperaturas elevadas: gran deformacin y estiramiento de la probeta antes

de fracturarse.
Temperaturas bajas: poca deformacin en el punto de fractura.
La temperatura de transicin es aquella a la cual el material cambia de
presentar una fractura dctil a una frgil.
Ensayo de Tenacidad
Liberty Ships:
2700 fabricados
400 fisurados
20 se partieron en dos
Titanic
Muestras del TITANIC
Un material que vaya a estar

sometido a impacto durante su
funcionamiento debe tener una
temperatura de transicin inferior
a la temperatura de operacin. Por
ejemplo, la temperatura de
transicin del acero utilizado para
un martillo de carpintero debe ser
menor que la temperatura
ambiente para evitar la fractura de
la herramienta.
No todos los materiales presentan una temperatura de transicin. Los metales BCC
tienen temperatura de transicin, pero la mayora de los metales FCC no la tienen.
Los metales FCC pueden absorber altas energas, y stas decrecen gradual y
lentamente conforme disminuye la temperatura.
Curvas de Transicin
La energa de impacto
corresponde al rea
delimitada por la curva
esfuerzo real-
deformacin real. Los
materiales que
presentan alta
resistencia y alta
ductilidad, tienen una
tenacidad adecuada.
Los cermicos, por
otro lado, tienen escasa
tenacidad debido a que
son quebradizos y
virtualmente no
presentan ductilidad.
Las muescas provocadas por un mecanizado, fabricacin o

diseo deficientes, ocasionan concentracin de esfuerzos,
reduciendo la tenacidad del material. La sensibilidad a las
muescas de un material puede evaluarse comparando las
energas absorbidas por probetas con muesca y sin ella.
Las energas absorbidas por probetas con muescas son
mucho menores si el material es sensible a las muescas.
La energa absorbida y la temperatura de transicin son

muy sensibles a las condiciones de carga. Una mayor
rapidez de aplicacin de la energa de impacto a la muestra
reducir la energa absorbida e incrementar la temperatura
de transicin.
La configuracin de la muesca puede afectar el

comportamiento; una grieta superficial permite absorber
menores energas que una muesca en V.
Debido a que frecuentemente no es posible predecir o

controlar todas estas condiciones, el ensayo de impacto se
utiliza mejor para la comparacin y seleccin de los
materiales, que para obtener criterios de diseo.
Ensayos de dureza
Dureza no es una propiedad fundamental de un

material, sino que est relacionada con sus
propiedades elsticas y plsticas, incluyendo
resistencia a la fluencia, endurecimiento por
trabajo, UTS, mdulo de elasticidad.
Metals Handbook: "Resistencia del metal a la
deformacin plstica, usualmente por
indentacin. Es la habilidad de un metal de
resistir ser permanentemente deformado (doblado,
quebrado, o su forma cambiada) al aplicar una
carga. A mayor dureza, mayor la resistencia a la
deformacin.
Ensayos de dureza
Tambin puede referirse a rigidez o temple o a

resistencia al rayado, abrasin, o corte.
El valor de dureza sirve slo como comparacin
entre materiales o tratamientos.
Un valor de dureza no puede utilizarse
directamente en trabajos de diseo.
El procedimiento de prueba y la preparacin de la
muestra suelen ser sencillos y los resultados
pueden utilizarse para estimar otras propiedades
mecnicas.
Dureza Mohs
En mineraloga, resistencia de una sustancia a ser rayada
por otra.
Escala: diez minerales estndar en orden de incremento de
dureza. 1: talco; 2: yeso, etc., hasta 9: corindn y 10:
diamante.
Si un material es rayado por el 6 y no por el 5, el valor de
dureza est entre 5 y 6.
La escala no es uniforme. Cuando la dureza de los
minerales es examinada por otro mtodo de prueba de
dureza, se encuentra que los valores estn muy cercanos
entre 1 y 9 y que hay gran diferencia en dureza no
cubiertas entre 9 y 10.
Ensayo de lima
La pieza a prueba se somete a la accin de corte de una
lima de dureza conocida, para determinar si se produce un
corte visible. La prueba generalmente se emplea en la
industria como aceptacin o rechazo de una pieza.
En muchos casos, sobre todo con aceros para herramientas,
cuando el acero se trata trmicamente, ser suficientemente
duro, tal que si se pasa una lima por la superficie, sta no
se cortar. No es raro encontrar especificaciones de
tratamiento trmico que digan simplemente "tratar
trmicamente hasta que el material tome dureza a prueba
de lima". Al pasar una lima por la superficie, se puede
examinar con rapidez un gran nmero de partes tratadas
trmicamente para determinar si el tratamiento ha sido
satisfactorio
Dureza Elstica
Se mide por medio de un
escleroscopio.
Mide la dureza en trminos de la
elasticidad del material.
Principio: mide la altura del rebote
de un martillo en cada libre sobre
una pieza; la diferencia con la
altura original indica la energa
cintica absorbida en el impacto.
A mayor dureza de la pieza, mayor
el rebote, y mayor ser el nmero
arbitrario en la escala.
Muy utilizado para medir dureza
de plsticos y gomas.
For hardness determination of plastics and elastomers according to A,
D, B, C, DO, O and OO scales. Used in the hardness determination on
all natural and synthetic rubber products, acrylic glass, acetates,
casting resin, polyester, themoplastics, PVC, neoprenes and etc
The digital durometer HPE, serves for the hardness determination of
rubber, elastomers, and plastics within the durometer ranges A, D, B,
O, OO, C, and DO.
Resistencia a la Indentacin
Dureza por indentacin: resistencia de un material a la

indentacin.
Es el tipo usual de ensayo de dureza, en el cual se presiona,
directamente o por un sistema de palanca, un indentador
cnico o redondo sobre la superficie bajo una carga
conocida substancialmente esttica.
La dureza se expresa, para una carga y marcador
especificados, por un nmero inversamente proporcional a
la profundidad de la indentacin o proporcional a una
carga media sobre el rea de mella.
Dureza Brinell
Se determina forzando una esfera

de acero duro o carburo de un
dimetro especificado bajo una
carga dada sobre la superficie de
un material y midiendo el
dimetro de la indentacin.
El nmero Brinell se obtiene
dividiendo la carga, en kg, por el
rea real de la superficie de la
indentacin, en mm2.
Dureza Brinell
Procedimiento estndar: bola de acero endurecido de 10

mm de dimetro; carga: 500 kg para metales no ferrosos
blandos como Cu o latn, 1500 kg para Al fundido y 3000
kg para metales ferrosos.
Tiempo de presin de la bola sobre la muestra: ferrosos:
mn. 10 seg; no ferrosos: 30 seg.
El dimetro de la impresin es medido usando un
microscopio que contiene una escala ocular, generalmente
graduada en dcimos de milmetro, que permite
estimaciones de hasta casi 0.05 mm.
Nmero de Dureza Brinell:
Para facilitar, hay tablas para

convertir el dimetro de la
grabacin al BHN
Designacin
XY HB: indica prueba estndar, bola de 10 mm y

carga de 3000 kg, por 10 a 15 seg.
Nmeros complementarios indican las condiciones
de prueba:
Dimetro de la bola/carga/duracin de la carga.
Ejemplo, 75 HB 10/500/30 indica una dureza
Brinell de 75 medida con una bola de 10 mm de
dimetro y una carga de 500 kg aplicada por 30
seg.
Lmite superior : 500 HB con bola ordinaria; 650 HB con
bola de carburo de tungsteno.
Conforme el material a prueba sea ms duro, hay
tendencia a que el propio marcador de muescas se
empiece a deformar y las lecturas no sern exactas.
La bola Brinell produce una indentacin profunda y ancha,
de modo que el ensayo promedia la dureza de una gran
cantidad de material (ms que los otros ensayos), lo que da
cuenta de estructuras de mltiples granos, y de cualquier
irregularidad en la uniformidad de la aleacin.
AB9000 Automatic
NB3010 System for Brinell System
Brinell Hardness Automatic Brinell
PB7000 Brinell Hardness
A basic Brinell hardness tester
Tester
hardness tester with displays the hardness
With automatic operation the
semi-automatic result without using a
7000 Series Brinell Tester
operation. NB3010 is Brinell scope. Used for
provides a lot of capability in a
a cost-effective high volume testing
basic Brinell tester package.
Brinell tester using without operator
The tester uses a hydraulic
deadweights with a influence. Uses a
load system delivered through
pneumatic load Rockwell-type method
a Belleville spring
system to apply and with a standard Brinell
measurement system which
remove the loads. ball and test load to
accurately controls the load.
Operates in most all read out directly in
Brinell scales. Brinell scales.
Portable Pin Brinell C-Clamp Portable Hydraulic Brinell
Lowest Cost Brinell Tester - the Pin Brinell Tester
uses a calibrated shear pin to control the A very versatile portable Brinell tester
amount of load applied. Consistent loading that uses a hydraulic ram to apply the
regardless of operator. Tests in 100 - 730 load. Accuracy calculated to 1/2 of 1%
equivalent Brinell range. of load.
Ensayo Rockwell
El ensayo Rockwell es el mtodo ms comn y verstil

para medir dureza:
Es generalmente ms fcil de realizar y ms preciso
que otros mtodos.
Puede ser usado en todos los metales, excepto en
condiciones donde la estructura o condicin superficial
del metal introducira mucha variacin, donde la
indentacin sera muy grande para la aplicacin o
donde el tamao o forma de la muestra prohbe su uso.
Ensayo Rockwell
Se basa en el incremento diferencial en la profundidad de

la impresin al aplicar primero una carga menor y luego
una mayor. Los nmeros no tienen unidad. Se indican en
alguna escala (A, B, C, , V).
Indentador: bola de acero de un dimetro especificado o
cono con punta de diamante de 120 y radio de punta 0.2
mm, llamado Brale.
El tipo de indentador y la carga determinan la escala.
Procedimiento
Se eleva la muestra lentamente contra
el marcador hasta aplicar una carga
menor (A) de 3 10 kg que asienta el
indentador, produce una penetracin
inicial y ayuda a remover los efectos,
en el ensayo, de irregularidades
superficiales. En esencia, la carga
menor crea una superficie uniforme
para aplicar la carga mayor. Se pone
el dial en cero.
Se aplica la carga mayor (B) a travs
de un sistema de palanca de carga.
Despus de que la aguja del disco
llega al reposo, tiempo para que
ocurra la recuperacin elstica (C), se
quita la carga mayor, y con la carga
menor todava en accin se lee la
posicin final (D) y se convierte a un
nmero de dureza Rockwell en el
dial.
Procedimiento
La manija de operacin debe regresarse suavemente a su

posicin inicial para quitar la carga mayor; golpearla puede
producir un error de varios puntos en el dial. Se debe tener
cuidado de asentar firmemente el yunque y el marcador.
Cualquier movimiento vertical en estos puntos resulta en
un registro de una profundidad adicional en el medidor y,
por tanto, en una lectura de dureza falsa.
El funcionamiento de la mquina debe ser verificado
frecuentemente con bloques de prueba estndar
proporcionados por el fabricante.
Como el ensayo Brinell, el Rockwell mide resistencia a la
penetracin, pero midiendo la profundidad de la impresin
en vez del rea.
Impresin poco profunda da un nmero grande e indica un
material duro; impresin profunda da un nmero pequeo
e indica material blando.
La mquina Rockwell, indica la dureza directamente en el
dial.
Este dial es un medidor de profundidad graduado.
Tipos
Hay dos mquinas Rockwell:

Probador normal para secciones relativamente
gruesas.
Probador superficial para secciones delgadas.
Superficies levemente carburadas, partes pequeas
o partes que puedan colapsar bajo las condiciones
del ensayo regular.
Tipos
Probador normal
Carga menor, 10 kg
En materiales blandos como aleaciones de cobre, aceros suaves, y
aleaciones de aluminio: bola de acero de dimetro 1/16; carga
mayor 100 kg; dureza en escala "B".
En materiales ms duros, como fundicin blanca y muchos aceros:
cono de diamante de 120; carga mayor hasta 150 kg; dureza en
escala "C".
Escalas ms comunes: B y C. Otras escalas usan bolas de 1/8, 1/4 y
1/2 de pulgada de dimetro y cargas de 60, 100 y 150 kg.
Designacin: nmero de dureza seguido de "HR" (Hardness
Rockwell), seguido de letra especificando la escala. Ejemplo: 60
HRB, indica dureza 60 en la escala B.
Tipos
Probador Superficial
Carga menor, 3 kg.
Mismos indentadores.
Carga mayor, 15, 30 45 kg, dependiendo del
indentador.
Bola de 1/16", se aade una "T" (thin sheet). Ejemplo:
15T-22, indica dureza superficial 22, con carga de 15
kg y bola de acero.
Cono de diamante de 120, se reemplaza la "T" por
"N".
Aplicaciones
Escala Carga mayor (kg) Tipo de marcador de muescas Materiales tpicos probados
A 60 Cono de diamante Materiales duros en extremo, CW, etc.

B 100 Bola de 1/16 Materiales de dureza media, aceros al carbono bajos y medios, latn,
bronce, etc
C 150 Cono de diamante Aceros endurecidos, aleaciones endurecidas y revenidas (tratadas).
D 100 Cono de diamante Acero superficialmente cementado.

E 100 Bola de 1/8 Hierro fundido, aleaciones de aluminio y magnesio.
F 60 Bola de 1/16 Bronce y cobre recocidos.

G 150 Bola de 1/16 Cobre al berilio, bronce fosfrico, etc.
H 60 Bola de 1/8 Placa de aluminio.
K 150 Bola de 1/8 Hierro fundido, aleaciones de aluminio.
L 60 Bola de Plsticos y metales suaves, como el plomo.
M 100 Bola de Igual que la escala L.
P 150 Bola de Igual que la escala L.
R 60 Bola de Igual que la escala L.
S 100 Bola de Igual que la escala L.
V 150 Bola de Igual que la escala L.
Rockwell machines, with dial (left) and with digital display (right)
for Rockwell A, B, C and superficial hardness testing.
Ensayo Vickers o de pirmide de
diamante
El instrumento utiliza un
marcador piramidal de
diamante de base cuadrada con
un ngulo incluido de 136
entre las cargas opuestas.
La ventaja de usar diamante
para el indentador es que no se
deforma a lo largo del uso y
tiempo.
El intervalo de carga est
generalmente entre 1 y 120 kg.
diamante
Funciona bajo el mismo principio que el probador Brinell,
y los nmeros se expresan en trminos de carga y rea de
la impresin.
Como resultado de la forma del marcador, la impresin
sobre la superficie de la muestra ser un cuadrado oscuro
sobre un fondo claro.
La impresin Vickers se lee con ms facilidad para medir
el rea que la impresin circular del mtodo Brinell.
La longitud de la diagonal del cuadrado es medida por
medio de un microscopio equipado con un micrmetro
ocular que contiene filos mviles. La distancia entre los
filos se indica en un contador calibrado en milsimas de
mm.
diamante
Por lo general, hay tablas para convertir la diagonal
medida al nmero de dureza piramidal Vickers (HV) o por
medio de la frmula:
1.854L
HV
d2
donde:
L = carga aplicada, en kg
d = longitud de la diagonal del cuadrado de la impresin, en
mm.
La designacin es XX HV. Usualmente se especifica la
carga al citar HV.
Procedimiento
La muestra se posiciona en un yunque con base
con hilo de tornillo y se eleva lentamente contra el
indentador.
Con la palanca de inicio activada, se aplica
lentamente la carga.
Luego se libera la carga y se desciende el yunque.
La aplicacin y remocin de la carga es controlada
automticamente.
Se miden las diagonales de la indentacin usando
el microscopio. Las diagonales se promedian.
diamante
Ventajas:
lecturas extremadamente precisas,
Varias cargas dan prcticamente nmeros de dureza idnticos en un
material uniforme, lo que es mejor que cambiar arbitrariamente la
escala, como en los otros mtodos.
Se usa slo un tipo de indentador para todos los tipos de metales y de
tratamientos superficiales.
Como resultado de la lentitud en las cargas aplicadas, el probador
Vickers es til para medir la dureza de hojas muy delgadas, as como
secciones pesadas. Tambin se usa en materiales cermicos.
Aunque adaptable y muy precisa para ensayar los materiales ms

blandos y los ms duros, bajo cargas variables, la mquina Vickers es
una unidad fija bastante ms cara que las mquinas Brinell o
Rockwell.
Ensayo de microdureza
Microdureza se refiere al uso de impresiones

pequeas.
Las cargas de prueba estn entre 1 y 1000 g
Permite medir dureza en materiales pequeos,
frgiles, pelculas o capas, etc.
Hay dos tipos de marcadores empleados para la
prueba de microdureza:
la pirmide de diamante Vickers de base cuadrada
de 136
el marcador Knoop de diamante alargado.
Ensayo de microdureza
El marcador Knoop tiene forma
piramidal que produce una
impresin en forma de
diamante, y tiene diagonales
largas y cortas a una razn
aproximada de 7:1.
La frmula piramidal empleada
tiene incluidos ngulos
longitudinales de 17230 y
ngulos transversales de 130.
La profundidad de impresin es
como de 1/30 de su longitud.
La diagonal ms larga de la impresin es medida
pticamente con el ocular de un micrmetro de rosca.
El nmero de dureza Knoop es el resultado de dividir la
carga entre el rea de la impresin. Por lo general se
utilizan tablas para convertir la longitud diagonal medida
al nmero de dureza Knoop (HK), o mediante la frmula:
donde 14.229
L = carga aplicada, en kg HK
d2
d = longitud de la diagonal mayor, en mm.
Analog hardness tester for
Digital Low Load Tester for Vickers, Vickers, Knoop, Brinell and
Brinell, and Knoop Load range HV 0.1 - Scoring With Micro and
HV 30 Macro load attachments
Aplicaciones tpicas de las pruebas de
dureza por indentacin
BRINELL ROCKWELL ROCKWELL VICKERS MICRODUREZA
SUPERFICIAL
Acero estructural Partes acabadas, tales como Las mismas que las Las mismas que para la Superficies plateadas.
y otras secciones cojine-tes, vlvulas, tuer-cas, Rockwell estndar, Rockwell y Rockwell Revestimientos como laca,
laminadas. pernos, engra-najes, poleas, excepto donde se superficial, excepto donde se barniz o pintura.
La mayor parte rodi-llos, pasadores, pi- requiere una pene- requiere ms exactitud o Lminas delgadas y materiales
de las votes, topes, etc. tracin menos pro-funda menor penetracin como en: muy delgados, hasta de 0.0001
fundiciones, Herramientas de corte, tales como en: Partes cementadas delgadas, pulg.
incluyendo el como sierras, cuchillas, Partes cementadas de 0.005 a 0.010 pulg. Para establecer los gradientes
acero, hierro cinceles, tijeras. delgadas hasta 0.01 pulg. Materiales delgados, hasta de endurecimiento.
fundido y Herramientas de formado. Materiales delgados 0.005 pulg. Bimetales y materiales
aluminio. Fundiciones y forja-dos hasta 0.006 pulg. Partes de acabado fino, con el laminados.
La mayor parte pequeos. Carburos cementados. fin de evitar una operacin de Partes o reas muy pequeas,
de los fraguados. Hojas metlicas. Metales en polvo. remocin. como engrana-jes de reloj,
Alambre de dime-tro Secciones delgadas, tales bordes de herramientas de
grande. como tuberas. corte, crestas de filetes en
Contactos elctricos Estructuras dbiles. cuerdas, puntos pivote, etc.
Hojas o partes pls-ticas. Espesor del chapeado. Materiales muy frgiles o
Partes cementadas. quebradizos (indentador de
Carburos cementados. Knoop), como silicio,
germanio, vidrio, esmalte de
dientes.
Materiales opacos, claros o
translcidos.
Metales en polvo.
Para investigar constitu-yentes
individuales de un material.
Para determinar la dureza del
grano o la dureza de la frontera
del mismo.
Convertidor de valores de dureza
on line:
http://www.efunda.com/units/hardness/convert_hardnes
s.cfm?HD=HS&Cat=Steel#ConvInto
<<The hardness value is below the acceptable range of the
HS 57 approximately* = particular hardness scale. >>The hardness value is above the
acceptable range of the particular hardness scale. ###The hardness
value is near the limit (within 15%) of the acceptable range of the
particular hardness scale.
Hardness
Suggested
Symbol Amount Name
Range
HB (3000) 396 Brinell 10 mm Standard 3000 80~445
kgf
HB (500) >> Brinell 10 mm Standard 500 89~189
kgf
HB (Tungsten 3000) 395 Brinell 10 mm Tungsten 3000 80~620
kgf
HB (Indentation) 3.08 mm Brinell Indentation 6~2
HK 437 Knoop 97~920
HM 4 Mohs 1~10
HRA 72 Rockwell A-Scale 59~86
HRB >> Rockwell B-Scale 41~100
HRC 43 Rockwell C-Scale 19~69
HRD 57 Rockwell D-Scale 39~77
HRF >> Rockwell F-Scale 88~100
HR-15N 82 Rockwell Superficial 15N 69~94
HR-15T >> Rockwell Superficial 15T 77~93
Approx. TS 1367 MPa Tensile Strength (Approx.) 390~2450
HV 419 Vickers 20~1800
* The many hardness tests listed here measure hardness under different
experimental conditions (e.g. indenters made in different sizes, shapes, and
materials, and applied with different loads) and reduce their data using
different formulae. As a result, there is NO direct analytic conversion
between hardness measures. Instead, one must correlate test results across the
multiple hardness tests. This calculator is based on hardness data compiled
from ASM Metals Reference Book 3rd ed, published by ASM International,
and Machinery's Handbook 25th ed, published by Industrial Press. The
calculator curve-fits multiple hardness data onto a common polynomial basis
and then performs an analytic conversion. The accuracy of the conversion
depends on the accuracy of the provided data and the resulting curve-fits, and
on the valid ranges spanned by the different hardness tests. Converted
hardness values should be used for comparative purposes only.
Exactitud de cualquier prueba o ensayo
de dureza por indentacin
a) Condicin del marcador de muescas. El achatamiento de la bola
producir errores en el nmero de dureza; la bola debe ser revisada
frecuentemente para detectar cualquier deformacin permanente y
debe descartarse cuando ocurra tal deformacin. Los marcadores de
diamante deben revisarse en busca de cualquier seal de astillado.
b) Exactitud de la carga o esfuerzo aplicado. El probador debe aplicar
cargas dentro del intervalo establecido con errores mnimos. Las
cargas mayores a la cantidad recomendada no deben utilizarse para
obtener as pruebas exactas.
c) Cargas o esfuerzos aplicados con impacto. Adems de producir
lecturas de dureza inexactas, el impacto a la carga puede daar los
marcadores de diamante.
d) Condicin de la superficie de la muestra. Lisa y representativa del
material en buen estado. Cualquier orificio, costra o grasa debe
eliminarse por esmerilado o pulido.
e) Espesor de la muestra. Suficientemente gruesa para que no aparezca
alguna protuberancia sobre la superficie opuesta a la de la impresin.
El espesor recomendado: por lo menos diez veces la profundidad de la
impresin.
f) Forma de la muestra. Mayor exactitud con superficie plana y
perpendicular al eje vertical del indentador. Una muestra larga debe
sujetarse para que no se ladee. En muestra cilndrica, preparar, si es
posible, una superficie plana y usar un yunque en V para soportar la
muestra, a menos que se esmerilen bases planas paralelas en lados
opuestos del cilindro, en cuyo caso se puede utilizar un yunque plano.
Si se hace una prueba de dureza Rockwell en una muestra redonda
menor de 1 pulg. de dimetro sin haber esmerilado una cara plana, la
lectura observada debe ajustarse por un factor de correccin apropiado.
g) Localizacin de las impresiones.
Las impresiones deben estar al menos a 2 dimetros de distancia del
borde de la muestra y separadas al menos 5 dimetros cuando se
utilicen bolas para la prueba de dureza.
h) Uniformidad del material.

Si hay variaciones estructurales y qumicas en el material, a mayor
rea de impresin ms exacta ser la lectura de dureza promedio. Para
obtener una dureza promedio verdadera para el material, es necesario
tomar muchas lecturas si el rea de impresin es pequea.
TH130
The TH130 Integrated Hardness Tester utilizes state-of-the-art micro-electronic technology. This uniquely designed pocket-size
instrument comes with a pocket sized carrying case and incorporates a hardness impact probe, microprocessor and data display
in a single, compact unit.
The TH130 provides exceptional reliability for a wide measuring range, and is capable of automatically converting and displaying
measurements into Brinell, Rockwell, Leebs, Vickers and Shore hardness values. This instrument can be configured with an
optional printer for real time and batch printing.
TYPICAL APPLICATIONS
Onsite testing of large and/or heavy component, items already installed as parts of a machine
During manufacture especially of mass produced components
In the stores for material identification

Fractura
ac K c
Kc : Factor crtico de Intensidad de
tensiones
a
Modos de Fractura
(a) (b) (c)
Modo I: Tensin Modo II: en Plano Modo III: Cizalle

Dependencia entre
Kc y el espesor del
material K IC
2
Bc 2,5
ys
KI

Tensin Plana
TP + DP Deformacin Plana
KIC
Bc Espesor
Como detectar una grieta
Ultrasonido
Tintas penetrantes
Corriente Eddy
Partculas magnticas
Rayos X
Tipos de Grietas
K I a 2a
K I 1,12 a
a
Fatiga
traccin

compresin
mx
mn N
Ciclos
CURVAS S-N (Wohler)
Esfuerzo
Aplicado FCC
BCC
N de ciclos
Fatiga
Ensayo de fatiga
En muchas aplicaciones, un componente se somete a la

aplicacin repetida de un esfuerzo inferior al de fluencia del
material.
Este esfuerzo repetido puede ocurrir como resultado de cargas
de rotacin, flexin, o aun de vibracin.
Aunque el esfuerzo sea inferior al punto de fluencia, el metal
puede fracturarse despus de numerosas aplicaciones del
esfuerzo.
Este tipo de falla es conocido como fatiga.
Ensayo de fatiga
Un mtodo comn para medir la resistencia a la fatiga es

el ensayo de la viga en voladizo rotatoria.
El extremo de una probeta mecanizada cilndrica se monta en un dispositivo

acoplado a un motor. En el otro extremo se suspende un peso.
Ensayo de fatiga
La muestra soporta inicialmente una El esfuerzo en cualquier punto de

fuerza de tensin que acta en la la probeta pasa por un ciclo
superficie superior, mientras que la completo que va de cero a
superficie inferior se comprime. mxima tensin, y de cero a
mxima compresin.
Despus que la muestra gira 90, los sitios que originalmente

estaban en tensin y en compresin no reciben esfuerzo alguno
sobre ellos. Despus, a una rotacin de 180, el material que
estaba originalmente en tensin est ahora en compresin y
viceversa.
Ensayo de fatiga
Despus de un nmero suficiente de ciclos, la muestra puede fallar.

Generalmente, se ensayan varias muestras a diferentes esfuerzos aplicados
y los esfuerzos se grafican en funcin del nmero de ciclos que lleva a la
ruptura.
Resultados del Ensayo de fatiga
Duracin a la fatiga para un esfuerzo en particular. Indica cuanto dura un

componente cuando un esfuerzo se aplica repetidamente al material.
Si se va a disear
una pieza de acero
de herramientas
que debe soportar
100.000 ciclos
durante su vida til,
entonces debe
disearse de
manera que el
esfuerzo aplicado
sea menor que
90.000 psi
Lmite de resistencia a la fatiga: esfuerzo por debajo del cual la falla por
fatiga nunca ocurre.
Para evitar que se rompa una herramienta de acero, se debe asegurar que el
esfuerzo aplicado nunca sea mayor que 60.000 psi.
Algunos materiales, incluyendo algunas de las aleaciones de aluminio, no

tienen un lmite de resistencia real. Los esfuerzos aplicados deben ser lo
suficientemente bajos, de modo que la falla no ocurra durante la vida til
de componente.
A menudo se
especifica la
resistencia a la
fatiga, o esfuerzo
por debajo del cual
no ocurre la falla
durante 500
millones de ciclos
de repeticin del
esfuerzo.
Las fisuras o grietas de fatiga se inician en la superficie del material al que

se aplica el esfuerzo, donde los esfuerzos son mximos. Cualquier defecto
de diseo o de fabricacin en la superficie concentra los esfuerzos y
propicia la formacin de una fractura por fatiga. Algunas veces se obtienen
superficies muy pulidas para minimizar la posibilidad de falla por fatiga.
La resistencia a la fatiga se relaciona tambin con la resistencia del material
en la superficie. En muchas aleaciones ferrosas o a base de hierro, el lmite
de resistencia a la fatiga es aproximadamente la mitad de la resistencia a la
tensin del material. Esta relacin entre ese lmite y la resistencia citada es
la relacin de fatiga:
lmite de resistencia a la fatiga
Relacin de Fatiga = 0.5
resistencia a la traccin
Si la resistencia a la traccin en la superficie del material se incrementa,
tambin aumenta la resistencia a la fatiga.
La dureza de un metal limita la facilidad con que puede ser

maquinada, puesto que la tenacidad disminuye al aumentar la
dureza.
La tenacidad es una combinacin de alta resistencia y
ductilidad media.
Es la habilidad de un material o metal de resistir a la fractura,
ms la habilidad de resistir a la falla despus de iniciarse el
dao.
Un metal tenaz es el que puede aguantar un esfuerzo
considerable, aplicado lenta o sbitamente, y que se deformar
antes de fallar.
Tenacidad es la habilidad de un material de resistir el inicio de
la distorsin permanente ms la habilidad de resistir choque o
absorber energa.

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Calcular el espaciado entre planos difractantes.

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2.Mtodo del Patrn Interno

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Ilumina la superficie de una muestra metalogrfica,

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La apertura numrica, A, se puede expresar por el producto del ndice de

Aumento del microscopio

El xito en el estudio microscpico depende en mucho del cuidado que

Interesa examinar una superficie de una muestra que proporcione una

se debe obtener una superficie plana, sin rayaduras, semejante a un

La seleccin de una muestra para estudio microscpico puede ser muy

Si el material es blando, como metales o aleaciones no ferrosas y

Mquinas de corte por disco: a) de alta potencia y para piezas de gran

Esmerilado burdo o tosco

Esmerilado burdo o tosco

Pulido intermedio o desbaste fino

a) Paos de pulido. b) Superficie de la muestra despus del pulido

a) Fotomicrografa de la diferencia en composicin qumica de las fases. b)

Resolucin de microscopa ptica limitada por su

MET 1930 MET moderno.

Permite la observacin y el anlisis de superficies a travs de

La emisin se produce por el calentamiento del

Filamentos termoinicos de W y de LaB6

Filamento de W de emisin de campo

Termoinicos Emisin de Campo

Corriente del haz 1 pA - 1A 1 pA - 1A 1 pA - 300pA 1 pA - 5nA

Vida media (h) 100 600 >1000 >2000