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Contenido
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19
19
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iv
CONTENIDO
3.3
3.4
3.5
3.6
3.7
3.8
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orden
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CONTENIDO
4.6.1
4.6.2
4.6.3
4.6.4
4.6.5
v
Regresin lineal . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Ajuste a una funcin potencia y = AxM . . . . . . . . . . .
Ajuste aproximado a una curva . . . . . . . . . . . . . . . .
Ajuste polinomial . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Software para Anlisis Estadstico de Datos Experimentales
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5 Incertidumbre Experimental
5.1 Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
5.2 Propagacin de las Incertidumbres . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
5.2.1 Consideraciones de sesgo y precisin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
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133
133
138
143
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156
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II
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Adecuacin de la Seal
235
9 El amplificador operacional
237
9.1 Introduccin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 237
10 Confiabilidad
239
10.1 Confiabilidad de sitemas de medida . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 239
10.1.1 Principios fundamentales de sistemas de medida . . . . . . . . . . . . . . 239
A Clculo de funciones polinmicas para termocuplas
243
B Definiciones de las Unidades Bsicas del SI y del Radian y del Steradian1 249
B.1 Introduction . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 249
1
CONTENIDO
B.2
B.3
B.4
B.5
B.6
B.7
B.8
B.9
B.10
vii
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249
249
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250
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250
250
253
viii
CONTENIDO
Lista de Figuras
1.1
1.2
1.3
1.4
1.5
1.6
1.7
1.8
1.9
2.1
2.2
2.3
2.4
2.5
2.6
2.7
2.8
2.9
2.10
2.11
2.12
2.13
2.14
2.15
2.16
2.17
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Definicin de no linealidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta en mV de una termocupla tipo T (Cu/CuN i). . . . . . . . . . . . . .
Efectos de las entradas modificadora e interferente (a)Modificadora (b) Interferente.
Potencimetro. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Histresis. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Juego en engranajes. Ejemplo de histresis. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Ejemplo de resolucin y de potencimetro. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Bandas de error y funcin de probabilidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Funcin densidad de probabilidad. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Modelo general de un elemento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Calibracin de un elemento. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
(a) Histresis significativa (b) Histresis no significativa. . . . . . . . . . . . . . .
Comparacin del histograma con una funcin densidad de probabilidad gaussiana.
Error en la medida. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Sistema simple de medida de la temperatura. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Compensacin de un elemento no lineal. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Compensacin para entradas interferentes.(a) Usando entradas ambientales opuestas (b) Usando un sistema diferencial. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2.18 Transductor de fuerza en lazo cerrado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
ix
4
6
7
8
8
9
13
14
15
21
22
23
23
24
25
25
26
27
27
28
35
37
37
38
39
40
41
LISTA DE FIGURAS
2.19 Estimacin computacional del valor medido utilizando la ecuacin del modelo
inverso. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
3.1
3.2
3.3
3.4
3.5
46
3.10
3.11
3.12
3.13
3.14
3.15
3.16
3.17
3.18
3.19
3.20
3.21
3.22
3.23
3.24
3.25
3.26
3.27
4.1
4.2
4.3
4.4
4.5
4.6
3.6
3.7
3.8
3.9
48
50
51
53
55
56
57
59
60
61
62
63
66
68
69
70
71
72
73
74
75
76
77
78
79
80
88
LISTA DE FIGURAS
xi
4.15
5.1
6.1
6.2
6.3
Transductor potenciomtrico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Potencimetro angular. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta de una funcin logartmica: lnea continua A = 1, lnea de trazos
A = 10, lnea punteada A = 100. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta de una funcin exponencial: lnea continua A = 1, lnea de trazos
A = 10, lnea punteada A = 100. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Potencimetro trigonomtrico. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Red con potencimetro. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Potencimetro cargado con kR. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Grfico adimensional del error por unidad del potencimetro en funcin de la
rotacin del eje. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Potencimetro cargado. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Curvas de carga de potencimetros usados para formar funciones no lineales. . .
Red con potencimetros. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Digrama de bloques funcionales del AD5262. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Diagrama de bloques de la estructura interna de un potencimetro digital . . . .
Circuito RDAC equivalente. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Circuito de amplificacin para una termorresistencia. . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta para T > 0. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta para T < 0. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Detectores de temperatura resistivos: (a) alambre de platino (b) pelcula delgada.
Circuitos en puente Wheatstone para RTD: (a)Dos hilos (b) tres hilos . . . . . .
Circuitos para RTD. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Variacin de la temperatura de un termistor con respecto a su resistencia. . . .
Circuito con termistor. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
4.7
4.8
4.9
4.10
4.11
4.12
4.13
4.14
6.4
6.5
6.6
6.7
6.8
6.9
6.10
6.11
6.12
6.13
6.14
6.15
6.16
6.17
6.18
6.19
6.20
6.21
6.22
116
117
121
123
125
126
129
130
131
143
144
146
147
148
149
150
151
152
153
153
156
157
159
162
163
164
165
166
167
170
174
xii
LISTA DE FIGURAS
o
6.23 Respuesta de un termistor con B = 4000 y R
R1 = 1 (Lnea continua), 10 (Lnea
punteada) y 0.1 (Lnea de trazos), respectivamente. . . . . . . . . . . . . . . . .
6.24 Circuito con NTC en puente. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.25 Circuito con NTC como regulador de tensin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.26 Medida de caudal usando NTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.27 Respuesta normalizada de una PTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.28 Respuesta corrientetensin de un PTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.29 Familia de curvas para diferentes valores de temperatura ambiente. . . . . . . .
6.30 Circuito con un dispositivo PTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.31 Histresis en la respuesta de una PTC. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.32 Respuesta noramlizada de una fotorresistencia para algunos valores de . . . . .
6.33 Circuito simple con fotorresistencia. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.34 Respuesta de una fotorresistencia en una red. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.35 Respuesta de un fotodiodo a la excitacin. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.36 Circuito con fotodiodo. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.37 Relacin resistenciadeformacin para galgas tipo p (lnea continua) y tipo n
(lnea de trazos). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.38 Algunas configuraciones de galgas extensiomtricas de semiconductor (fabricadas
por BLH electronics). . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.39 Orientacin de galgas extensiomtricas en rosetas comunes: (a) rectangular (b)
equiangular. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.40 Roseta de galgas extesiomtricas. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6.41 Esquema bsico del LVDT. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
175
175
176
177
178
178
179
180
180
182
183
183
185
185
188
189
192
193
195
7.1
7.2
7.3
7.4
7.5
7.6
Termopar. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Termopar con unin de referencia. . . . . . . . . . . . . . . .
Respuesta tensin vs temperatura para algunas termocuplas.
Efecto piezoelctrico . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Circuito elctrico equivalente a un sensor piezoelctrico. . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
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204
208
209
212
214
220
8.1
8.2
8.3
8.4
8.5
8.6
8.7
8.8
8.9
Manmetro de tubo en U. . . . . . . . . . . . . . .
Manmetro de tipo recipiente. . . . . . . . . . . . .
Manmetro inclinado. . . . . . . . . . . . . . . . .
Barmetro de mercurio. . . . . . . . . . . . . . . .
Tubo Bourdon. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Probador de peso muerto. . . . . . . . . . . . . . .
Transductor de presin con galga extensiomtrica.
Transductor de presin con LVDT. . . . . . . . . .
Transductor de presin capacitivo. . . . . . . . . .
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222
224
225
226
227
227
228
229
229
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LISTA DE FIGURAS
8.10
8.11
8.12
8.13
D.1
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
Transductor de presin piezoelctrico.
Sensor de vaco McLeod. . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
xiii
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230
231
232
233
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 256
xiv
LISTA DE FIGURAS
Lista de Tablas
1.1
1.2
1.3
12
16
18
2.1
2.2
2.3
2.4
.
.
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.
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.
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.
29
30
31
33
4.1
4.2
4.3
4.4
4.5
4.6
.
.
.
.
.
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. .
95
96
112
118
132
132
6.1
6.2
6.3
6.4
6.5
.
.
.
.
.
158
158
160
172
193
xv
.
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. . . . . . . . . . . . . 252
xvi
LISTA DE TABLAS
Prlogo
La aplicacin del computador a la ciencia y la tecnologa ha permitido desarrollar herramientas de software y hardware las cuales han permitido conocer directamente el comportamiento
de sistemas fsicos. Como un siguiente paso en la teora del conocimiento de los sistemas, la
experimentacin ha llegado a ser el medio ms adecuado para el estudio de su comportamiento.
En ingeniera, se requieren experimentos diseados cuidadosamente para concebir y verificar los
conceptos tericos, desarrollar nuevos mtodos y productos, construir nuevos sistemas con, cada
vez, mayor complejidad y evaluar el comportamiento y optimizacin de los sistemas existentes.
El diseo de un sistema experimental o de medicin es una actividad inherentemente interdisciplinaria. Por ejemplo, el sistema de control e instrumentacin de una planta procesadora,
requiere el concurso de ingenieros qumicos, mecnicos, elctricos y de sistemas. Similarmente,
la especificacin de la instrumentacin para medir los terremotos y la respuesta dinmica de
las estructuras (edificios, puentes, carreteras, etc.), involucra los conocimientos de ingenieros
civiles, gelogos, ingenieros electrnicos, de sistemas. Basados en estos hechos, los tpicos presentados en este texto se han seleccionado para que sean de utilidad en el diseo de proyectos
experimentales interdisciplinarios, en el rea de medicin e instrumentacin de la medida.
La primera parte del libro tiene que ver con los elementos captadores de seal (elementos
primarios o sensores), mientras que la segunda parte se dedicar al estudio y aplicacin de los
sistemas de adecuacin de la seal para ser transferida a un sistema de cmputo donde ser
procesada o simplemente visualizada.
Una parte esencial en el texto es la parte experimental; se han desarrollado diferentes prcticas de laboratorio las cuales utilizan los dispositivos estudiados en clase para ser montados en
el laboratorio y observar y analizar su comportamiento. Tambin se ha pensado en el aspecto
de la simulacin de experimentos utilizando herramientas de software en tiempo real, como
R
R
LabView
y Matlab
xvii
xviii
PRLOGO
Parte I
Sensrica
Captulo 1
Introduccin
La instrumentacin trata de las tcnicas, los recursos, y mtodos relacionados con la concepcin de dispositivos para mejorar o aumentar la eficacia de los mecanismos de percepcin y
comunicacin del hombre [23].
La instrumentacin comprende dos campos principales: instrumentacin de medida e instrumentacin de control. En general, en el diseo de los sistemas de medida la atencin se centra en
el tratamiento de las seales o magnitudes de entrada, mientras que en los sistemas de control se
da especial importancia al tratamiento de las seales de salida. En el primer caso son de inters
los captadores o sensores y los transductores, mientras que en el segundo los dispositivos ms
relevantes son los accionadores o actuadores.
En la Figura 1.1 se representa un diagrama esquemtico de un posible sistema de control
automtico de un proceso.
Un anlisis de dicho diagrama muestra que las magnitudes fsicas captadas se convierten en
seales elctricas por los grupos captadores C1 , C2 , , Cn y C1 , C2 , Cm , conectados a los
amplificadores correspondientes que proporcionan seales de salida de un nivel adecuado para su
tratamiento por diversos equipos adicionales. Las seales en este esquema propuesto se agrupan
en dos bloques:
1. Seales S1 , S2 , . . . , Sn que se transmiten individualmente (nmero pequeo o instrumentacin
asociada es de bajo costo).
2. Seales S1 , S2 , . . . , Sm para cuyo tratamiento se requieren equipos muy costosos o especiales, o cuyo nmero es muy elevado (como por ejemplo, la medida de temperatura en
muchos puntos mediante un termmetro digital de alta precisin; la medida del tiempo con
un reloj atmico en las centrales elctricas para conocer el instante de salida y duracin
de un fallo en una subestacin o planta remota)
3
S2
Sn
S 1
S 2
S m
C2
Cn
MEM
C 1
C 2
C m
Amplificadores
Aparato
de
Medida
AGRUPAMIENTO
Y TRANSMISIN
SISTEMA FSICO
S1
C1
UNIDAD
DE
CLCULO
Registro
Indirecto
SEPARACIN
Controlador Doble
1.2
1.2.1
Datos Estticos
Se caracterizan por una evolucin lenta sin fluctuaciones bruscas ni discontinuidades. Un ejemplo
tpico podra ser la temperatura de un determinado punto en un sistema de gran inercia trmica.
Los datos de esta naturaleza estn asociados normalmente con magnitudes de especial importancia, realizndose a partir de ellos con frecuencia, clculos y anlisis relacionados directamente
con la evaluacin del funcionamiento del sistema y su rendimiento.
Debido a la naturaleza de los datos estticos no suele ser necesario tratar individualmente
cada uno de los puntos que originan seales de un mismo tipo, siendo posible utilizar tcnicas
de muestreo con un solo equipo de medida compartido, lo cual simplifica y hace ms econmica
la instrumentacin requerida. Es frecuente, en este aspecto encontrar, por ejemplo, un slo
termmetro central para la medida de todas las temperaturas, un nico voltmetro de precisin
2.5
1.5
0.5
0
0
12.5
25
37.5
50
x
1.2.2
Datos transitorios
1.2.3
Datos dinmicos
Son de naturaleza peridica y se presentan en el funcionamiento estable y continuo de los sistemas. El registro de datos dinmicos es de especial inters en el anlisis de la respuesta en
rgimen permanente a excitacin senoidal, en el estudio de vibraciones, etc.
La mayora de las medidas efectuadas sobre datos peridicos en sistemas reales estn relacionadas con fenmenos oscilatorios en rgimen estacionario con un contenido en armnicos que
incluye frecuencias comprendidas entre varios Hz y algunas decenas de kHz, a excepcin de las
magnitudes elctricas para las cuales no puede fijarse ningn lmite concreto.
7
R e s p u e s t a a l e s c a l n
U (1 )
1 .4
1 .2
0 .8
Y (1)
A m plitud
0 .6
0 .4
0 .2
0
0
1 0
1 2
1 4
1 6
1 8
2 0
T ie m p o (s )
1.2.4
Datos aleatorios
La caracterstica ms distintiva de este tipo de datos es que sus parmetros fundamentales estn
sujetos a fluctaciones imprevisibles y su anlisis ha de efectuarse, en general, de acuerdo con
criterios estadsticos y de probabilidad. Se pueden distinguir tres categoras de datos aleatorios:
Datos que interesa registrar y analizar relacionados con magnitudes aparentemente aleatorias (por ejemplo, un electroencefalograma (EEG), un electrocardiograma (ECG), ciertos
datos meteorolgicos, etc.).
Datos aleatorios indeseables que aparecen mezclados con las seales de inters (ruidos,
interferencias, etc.).
Datos aleatorios de salida de un sistema ante una entrada asimismo aleatoria, aplicada
para fines de caracterizacin de su respuesta (tcnica de gran inters para el estudio de
sistemas complejos o no lineales) (ver Fig. 1.6).
2.5
1.5
0.5
0
0
12.5
25
37.5
50
x
5 0
1 0 0
1 5 0
2 0 0
2 5 0
3 0 0
3 5 0
4 0 0
1.3
10
1.4
Sensores primarios
Las magnitudes fsicas tratadas con sistemas electrnicos se deben convertir en seales elctricas,
como primer paso en el proceso de captacin. Los transductores son los dispositivos encargados
de llevar a cabo esta tranformacin. Los transductores incluyen siempre un componente o
componentes sensibles que reaccionan frente a la magnitud a medir o detectar proporcionando
una primera seal elctrica representativa de aquella, que usualmente precisa de algn tipo de
tratamiento analgico (amplificacin, adaptacin de impedancias, etc.). Estas clulas sensibles
son los denominados sensores o captadores.
Los sensores aprovechan frecuentemente las propiedades de ciertos materiales que se convierten en generadores de seal en presencia de determinadas excitaciones (termopares, cristales
piezoelctricos, etc.). En otros casos, se recurre a utilizar elementos de circuito pasivos (resistencias, condensadores, etc.) cuyos valores varan en funcin de la magnitud a convertir
y, en definitiva, los circuitos que forman parte generan seales elctricas equivalentes a dicha
magnitud.
1.4.1
11
1.5
Estructura de un transductor
12
Mecnica
Trmica
Elctrica
Magntica
Radiante
Qumica
Mecnica
Trmica
Elctrica
Magntica
Radiante
Qumica
(Fluido)
Efectos
mecnicos y
acsticos
(diafragma,
balanza de
gravedad,
ecosonda)
Expansin
trmica
(cinta bimetlica, termmetros de gas
y de lquido
en capilar de
vidrio) Efecto
radiomtrico
Efectos de
friccin (calormetro
de friccin).
Efectos de
enfriamiento.
Flumetros
trmicos
Piezoelectricidad. Piezoresistividad
Efectos R, L, C
Efectos
acsticos
dielctricos
Activacin de
reaccin
disocia
cin
trmica
Calentamiento
Joule
(Resistivo)
Efecto
Peltier
Ley de Biot
Savart
Medidores
y registradores electromagnticos
Efectos electropticos
(Efecto Kerr)
Efecto
Pockels
Electroluminiscencia
Efectos magnetopticos
(efecto
Faraday)
Efectos
Cotton
Mouton
y Kerr
Efecto foto
refractivo
Biestabi
lidad
ptica
Espectroscopa
(emisin y
absorcin)
Quimiluminiscencia
Calormetro
Celda de
conductividad
trmica
Efectos termomagnticos
(Ettingshausen
Nernst). Efectos
galvanomagnticos (efecto
Hall, magnetoresistencia)
Efectos fotoelctricos (fotovoltaico, fotoconductivo, fotogalvnico
y fotodielctrico)
Potenciometra
Conductimetra
Amperometra
Polarografa
Ionizacin de fla
ma. Efecto Volta
Efecto de campo
sensible a gases
Resonancia
nuclear
magntica
Electr
lisis
Electro
migracin
Foto
sntesis
diso
ciacin
1.5.1
13
Sonda
Elementos
Intermedios
Sensor
Preamp.
14
Zn
Transductor
+
Vn
-
Zs
Vs
Equipo de
tratamiento
+
vo ZL
-
ZL Zn vs + ZL Zs vn
Zs ZL + Zn ZL + Zs Zn
(1.5.1)
que demuestra que en la seal v0 de entrada al equipo de tratamiento existe una componente
debida a la seal vs de salida del transductor y otra debida a la interferencia, cuyo valor es:
vno =
Zs ZL
vn
Zs ZL + Zn ZL + Zs Zn
(1.5.2)
vno
Zs ZL
vn
=
v0
Zs ZL + Zn ZL + Zs Zn v0
(1.5.3)
15
los circuitos usuales. Esta ltima condicin es muy importante puesto que permite anular virtualmente el error de interferencia cuando la fuente de interferencia est acoplada de acuerdo
con el modelo propuesto (caso, por ejemplo, del acoplamiento capacitivo responsable de muchas
de las interferencias captadas por los sistemas de amplificacin de seales dbiles).
1.5.2
Una disposicin que se utiliza en ciertos transductores de alta precisin, corresponde a la configuracin en lazo cerrado de los denominados servotransductores, cuyo esquema bsico se representa
en la Fig. 1.9.
Sonda
+
_
Sensor de
captacin
Amplificador
Elemento
Intermedio
Sensor de
lectura
v0
= Ks Kl vi
(1.5.4)
(1.5.5)
Por lo tanto, la seal de salida del sensor de lectura es proporcional a la magnitud de entrada.
Como puede observarse, en el caso de alta amplificacin, el lazo de realimentacin tiende a anular
la diferencia entre la salida de la sonda y el elemento intermedio.
16
1.6. CLASIFICACIN
17
1.6
Clasificacin
18
Tensomtricos
De condensador
De reactancia variable
De inductancia
Generadores de frecuencia
Digitales
Electromagnticos
Fotoelctricos
De efecto Hall
Codificadores angulares
Codificadores lineales
Fotoelsticos
Captulo 2
Caractersticas estticas de un
sistema de medida
2.1
Introduccin
Este captulo tiene que ver con caractersticas estticas o de estado estacionario; stas son
las relaciones que pueden ocurrir entre la salida y la entrada u de un elemento cuando u
es o bien un valor constante, o valor que cambia muy lentamente. El comportamiento del
sistema de medida est condicionado por el sensor empleado. Se plantean dos conceptos bsicos
relativos al concepto de la medida: exactitud y precisin. La exactitud est relacionada con las
caractersticas fundamentales de la estructura de la materia y est acotada por el principio de
incertidumbre. La precisin tiene que ver esencialmente con el sistema empleado para realizar
la medicin. Toda medida lleva asociado inevitablemente un error. El error del sistema es
una medida de la diferencia entre el valor del punto de consigna (set point) de la variable
controlada y el valor real de la variable que entrega la dinmica del sistema. De acuerdo con la
instrumentacin utilizada, puede estimarse la magnitud del error, adoptndose las precauciones
necesarias para reducir su valor a lmites aceptables de acuerdo con la precisin requerida. La
determinacin del error supone el conocimiento del valor exacto, considerndose en la prctica
como valores exactos los derivados de los patrones de medida disponibles. En muchos casos; sin
embargo, se toman como patrones las curvas de calibracin suministradas por los fabricantes
de los equipos de medida cuando no es necesaria una precisin extrema.
2.2
Caractersticas Sistemticas
Las caratersticas sistemticas son aquellas que pueden ser cuantificadas exactamente por medios
grficos o matemticos. Estas son distintas de las caractersticas estticas las cuales no pueden
ser cuantificadas exactamente.
19
20
max min
(u umin )
(2.2.1)
min =
umax umin
o sea,
ideal = ku + a
donde
k = pendiente de la recta ideal =
y
max min
umax umin
(2.2.2)
(2.2.3)
(2.2.4)
(2.2.5)
21
N
100%
max min
(2.2.6)
En muchos casos (u) y por lo tanto N (u) se pueden expresar como polinomios de u, es
decir,
m
X
ai ui
(2.2.7)
(u) = a0 + a1 u + a2 u2 + + am um =
i=0
Un ejemplo es la variacin de temperatura como consecuencia de la variacin de la tensin termoelctrica en la unin de dos metales distintos. Para una termocupla tipo T
(cobre-constantan), los primeros cuatro trminos en el polinomio que relacionan la tensin
E(T )V y la temperatura T de la unin en C son:
E(T ) = 38.74T +3.319102 T 2 +2.071104 T 3 2.195106 T 4 +O(T ) hasta T 8 (2.2.8)
donde O(T ) significa trminos de orden superior. Para el rango desde 0 hasta 400 C,
puesto que E = 0 mV a T = 0 C y E = 20.869 mV a T = 400 C (ver Fig. 2.2), la
ecuacin de la lnea recta ideal es:
Eideal = 52.17T
(2.2.9)
22
3300
T + 273
(2.2.11)
d
=K
du
(2.2.12)
es decir, para el transductor de presin anterior, d/du = 1.6 103 mA/P a. Para la
termocupla cobre-constantan la sensibilidad dE/dT a T C est dada por:
dE
= 38.74 + 6.638 102 T + 6.213 104 T 2 8.780 106 T 3 + O(T )
dT
la cual tiene un valor aproximado de 50V C 1 a 200 C.
(2.2.13)
23
Sesgo de Cero =
Pendiente =
Pendiente =
Sesgo de Cero =
Figura 2.3: Efectos de las entradas modificadora e interferente (a)Modificadora (b) Interferente.
(a) Una entrada modificadora la cual hace que la sensibilidad lineal del elemento cambie. As, si uM es la desviacin en una entrada ambiental modificadora del valor
estndar (uM es cero en condiciones estndar), entonces esta produce un cambio en
la sensibilidad lineal desde k hasta k + kM uM (Fig. 2.3(a)).
24
(2.2.14)
Un ejemplo de una entrada modificadora es la variacin Vs en el voltaje de alimentacin Vs del sensor de desplazamiento potenciomtrico mostrado en la Fig. 2.4.
Un ejemplo de una entrada interferente est dado por las variaciones en la temperatura de unin de referencia T2 de una termocupla.
7. Histresis. Para un valor dado de u, la salida es diferente dependiendo de si u est
aumentando o est disminuyendo. La histresis es la diferencia entre estos dos valores de
(Fig. 2.5), es decir,
(2.2.15)
H(u) = (u)u (u)u
expresada
La histresis se cuantifica usualmente en trminos de la histresis mxima H,
fsd %
H
100%
max min
(2.2.16)
Un simple sistema de engranajes (Fig. 2.6 ) para convertir movimiento lineal en rotatorio
proporciona un buen ejemplo de histresis. Debido al juego en los dientes de los engranajes, la rotacin , para un valor dado de x, es diferente dependiendo de la direccin del
movimiento lineal.
25
uR
100%
umax umin
(2.2.17)
26
1
2h
2h
h
h
0
ideal h >
27
p (x)
Densidad
de probabilidad
2.3
Si los efectos de histresis y resolucin no estn presentes en un elemento pero los efectos ambientales y no lineales s, entonces la salida de estado estacionario del elemento estar dada
por
(2.3.1)
= ku + a + N (u) + kM uM u + kI uI
La Fig. 2.10 muestra esta ecuacin en forma de diagrama de bloques para representar las
Modificador
Interferente
Entrada
Salida
Esttico
Dinmico
28
Instrumento
Patrn
Instrumento
Patrn
Elemento o sistema
a ser calibrado
Instrumento
Patrn
Instrumento
Patrn
2.4
2.4.1
29
Incremento
de
precisin
Patrn Primario
Patrn de transferencia
Patrn de laboratorio
peso muerto. La precisin del patrn de transferencia debe encontrarse por calibracin respecto
del patrn de presin primario. Esto conduce al concepto de escala de rastreabilidad la cual se
muestra en forma simplificada en la grfica siguiente.
El elemento se calibra usando los patrones del laboratorio, los cuales deben ser calibrados a s
mismos por los patrones de transferencia, y estos a su vez deben ser calibrados usando el patrn
primario. Cada elemento de la escala debe ser ms preciso que el anterior en forma significativa.
Luego de haber introducido los conceptos de patrn y rastreabilidad se puede ahora discutir
con ms detalle, distintos tipos de patrones. El sistema internacional de medida (SI) incluye
siete unidades bsicas y dos suplementarias que son compiladas y definidas en el Apndice B.
Las unidades de todas las cantidades fsicas pueden ser derivadas de estas unidades bsicas
y suplementarias. En el Reino Unido el Laboratorio Nacional de Fsica (National Physical
Laboratory N.P.L.) es el responsable de la realizacin fsica de todas las unidades bsicas y
muchas de las unidades derivadas correspondientes. El N.P.L. es por lo tanto el guardin de los
patrones primarios en ese pas. Hay patrones secundarios guardados en el Servicio de Calibracin
Britnico (B.C.S.). stos han sido calibrados con los patrones del N.P.L. y estn disponibles
para calibrar los patrones de transferencia.
En el N.P.L., el metro se defini usando la longitud de onda de la radiacin de un lser de
helio-nen estabilizado con yodo. La reproducibilidad de este patrn es de 3 partes en 1011 y la
longitud de onda de la radiacin ha sido relacionada precisamente con la definicin del metro en
trminos de la velocidad de la luz. El patrn primario se usa para calibrar interfermetros de
lser secundarios los cuales a su vez se usan para calibrar cintas, galgas y barras de precisin.
Una escala simplificada de rastreabilidad para longitud se muestra en la Tabla 2.2.
El prototipo internacinal del kilogramo est hecho en platinio-iridio y est guardado en la
Agencia Internacional de Pesos y Medidas (B.I.P.M.) en Pars. El peso de una masa m es la
30
BIMP y NPL
NPL
BCS o Industria
BCS o Industria
BIPM:
NPL:
BCS:
Longitud
Radiacin laser HeNe
de longitud de onda
de 633 nm
Calibracin interferomtrica
laser de calidad de referencia
para patrn de longitud
Calibracin de galgas
y de equipos de medida
Precisin
3 en 1011
1 en 107
1 en 106
1 en 105
1 en 104
~17
~256.15
~20.3
~252.85
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
24.5561
54.6584
83.8058
234.3156
273.16
302.9146
429.7485
505.078
629.677
933.473
1234.93
1337.33
1357.77
248.5939
218.7916
189.3442
38.8344
0.01
29.7646
156.5985
231.928
419.527
660.323
961.78
1064.18
1084.62
Nmero
1
31
definidos en el ITS90.
Sustancia
Estado
He
eH2
eH2
( He)
eH2
( He)
Ne
O2
Ar
Hg
H2 O
Ga
In
Sn
Zn
Al
Ag
Au
Cu
T
V
G
V
G
T
T
T
T
T
M
F
F
F
F
F
F
F
Wr (T90 )
0.00119007
0.00844974
0.09171804
0.21585975
0.84414211
1.00000000
1.11813889
1.60980185
1.89279768
2.56891730
3.37600860
4.28642053
32
Lampard. Usando puentes a.c., los patrones de capacitancia y frecuencia se pueden usar para
calibrar resistores estndar. El patrn primario del voltio se basa sobre el efecto Josephson en
la superconductividad; ste se usa para calibrar patrones secundarios de voltaje, usualmente las
bateras saturadas de cadmio de Weston. El amperio tambin puede ser llevado a cabo usando
una balanza de corriente modificada. Como antes, la fuerza debida a una corriente I se equilibra
con un peso conocido mg, pero tambin se hace una medicin separada para el voltaje e inducido
en la espira cuando sta se mueve a una velocidad u. Igualando las fuerzas mecnica y elctrica
se obtiene la ecuacin
eI = mgu
(2.4.1)
Se pueden hacer medidas precisas de m, u y e usando patrones secundarios que puedan ser
rastreados de nuevo con los patrones primarios del kilogramo, el metro, el segundo y el voltio.
Idealmente se debe definir la temperatura usando la escala termodinmica, es decir la relacin
P V = R
(2.4.2)
13.8033
24.5561
54.3584
83.8058
34
16
12
25
0.25
1.9
1.5
3.3
Mercurio (T)
Agua (T)
Galio
Indio
234.3156
273.16
302.9146
429.7485
5.4
7.5
2.0
4.9
7.1
0.73
1.2
3.3
Estao
Zinc
Aluminio
Plata
505.078
692.677
933.473
1234.93
3.3
4.3
7.0
6.0
2.2
2.7
1.6
5.4
Oro
Cobre
1337.33
1357.77
6.1
3.3
10.0
2.6
33
34
2.5
m
X
aq uq
(u)I =
q=0
m
X
aq uq
(2.5.1)
q=0
Si la histresis es significativa, entonces la separacin de las dos curvas ser mayor que
la dispersin de los puntos de datos alrededor de cada curva individual (Fig. 2.12(a)) La
histresis H(u) est entonces dada por la ecuacin (2.2.15), es decir,
H(u) = (u)u (u)u
(2.5.2)
Si, por otra parte, la dispersin de los puntos alrededor de cada curva es ms grande que la
separacin de las curvas (Fig. 2.12(b)), entonces H no es significativo y los dos conjuntos
de datos se pueden entonces combinar y as obtener un solo polinomio (u). La pendiente
k y el cruce por cero a de la lnea recta ideal unen los puntos mnimo y mximo (umin , min )
y (umax , max ) y pueden hallarse de la ecuacin (2.2.3). La funcin no lineal N (u) puede
entonces encontrarse usando (2.2.5):
N (u) = (u) (ku + a)
(2.5.3)
35
Abajo
Arriba
(a)
(b)
36
1
2
=
(2.5.4)
u uM
(umin + umax ) uM
Supngase que un cambio en la entrada produce un cambio en y sta ya ha sido
identificada como una entrada interferente con un valor conocido kI . Entonces se debe
calcular un valor no cero de kM antes de que se pueda asegurar que la entrada es tambin
modificadora. Puesto que
(umin +umax )
= kI uI,M + kM uI,M
2
entonces
2
kI
(2.5.5)
kM =
(umin + umax ) uI,M
kM =
3. Prueba de repetibilidad. Esta prueba podr ser llevada a cabo en el ambiente de trabajo
normal del elemento, es decir, en la planta, o en un cuarto de control, donde las entradas
ambientales uM , uI estn sujetas a variaciones aleatorias experimentadas usualmente. La
seal de entrada u deber mantenerse constante en un valor medio del rango y la salida
medida sobre un perodo extendido, idealmente varios dias, obtenindose un conjunto de
valores k , k = 1, 2, . . . , N . El valor medio del conjunto se puede encontrar usando
N
X
= 1
k
N
(2.5.6)
k=1
(2.5.7)
k=1
2.6
La precisin es una propiedad del sistema de medida completo, ms que de un simple elemento.
La precisin se cuantifica utilizando el error de medicin , es decir:
= valor medido valor verdadero
(2.6.1)
(2.6.2)
En esta seccin se utilizar el modelo esttico de un elemento simple, para calcular la salida y adems el error de medida para un sistema completo de varios elementos. Se concluye
examinando mtodos de reduccin del error del sistema.
37
40
20
0.97
0.98
0.99
1.00
1.01
1.02
1.03
Voltios
Figura 2.13: Comparacin del histograma con una funcin densidad de probabilidad gaussiana.
2.6.1
(2.6.3)
ecuacin entradasalida para un elemento ideal con sesgo cero, para i = 1, . . . , n, donde ki es la
sensibilidad lineal o pendiente (ecuacin (2.2.3)). De all se observa que 2 = k2 u2 = k2 k1 u, 3 =
1 =
1
1
Valor
verdadero
2 =
2
2
Valor
medido
(2.6.4)
(2.6.5)
38
As, si
k1 k2 k3 kn = 1
(2.6.6)
Termocupla
1
Temperatura
verdadera
40 V/C
V
2
1000 V/ V
f. e. m.
Indicador
V
voltios
25 C / V
Temperatura
medida
2.6.2
El error de un sistema de medida depende de las caractersticas no ideales de cada elemento del
sistema. Usando las tcnicas de calibracin, se puede identificar cuales elementos en el sistema
tienen el comportamiento no ideal ms dominante. Se puede entonces, proyectar estrategias de
compensacin para estos elementos, las cuales producirn reducciones significativas en el error
total del sistema. Esta seccin bosqueja mtodos de compensacin para efectos no lineales y
ambientales.
Uno de los mtodos ms comunes de corregir un elemento no lineal es introducir un elemento
de compensacin no lineal en el sistema. Este mtodo se ilustra en la Fig. 2.16. Dado un
elemento no lineal, descrito por U (u), se necesita un elemento de compensacin C(U ), tal que
Elemento no lineal
no compensado
Termistor
12
2
298
Compensacin del
elemento no lineal
Resistencia
Temperatura
348
Voltaje
V
1.0
12
Puente de deflexin
1.0
39
Total
298
348
40
+
+
E le m e n to s in c o m p e n s a r
si
E le m e n to d e
c o m p e n s a c i n
+
+
+
_
+
+
Figura 2.17: Compensacin para entradas interferentes.(a) Usando entradas ambientales opuestas (b) Usando un sistema diferencial.
+
_
Fuerza
de entrada
Elemento
sensor
Fuerza de
balanceo
41
Amplificador de
ganancia alta
Tensin
de salida
Fb
Elemento de
retroalimentacin
el sistema tal que los dos efectos tiendan a cancelarse. Este mtodo se ilustra para entradas
interferentes en la Fig. 2.17 y puede ser fcilmente extendido para entradas modificadoras.
Un ejemplo es la compensacin para variaciones en la temperatura T2 de la unin de referencia
de una termocupla. Para una termocupla de cobre-constantan, se tiene kI uI igual a 38.74T2 V
de modo que se requiere un elemento de compensacin con una salida igual a +38.74T2 V .
Un ejemplo de un sistema diferencial (Fig. 2.17(b)) es el uso de dos galgas extensomtricas
pareadas en las ramas adyacentes de un puente, para proporcionar compensacin por cambios
en la temperatura ambiente. Un galga mide una fuerza de tensin +f y la otra, una fuerza de
compresin igual f . El puente sustrae efectivamente las dos resistencias de modo que el efecto
tensor sea el doble y los efectos ambientales se cancelen totalmente.
Un mtodo importante de compensacin es el uso de realimentacin negativa de alta
ganancia para entradas modificadoras y no linealidades. La Fig. 2.18 ilustra la tcnica par un
transductor de fuerza. El voltaje de salida de un elemento sensor de fuerza, sujeto a una entrada
modificadora, se amplifica con un amplificador de alta ganancia. La salida del amplificador se
realimenta a un elemento (v. gr., una bobina y un iman permanente) el cual proporciona una
fuerza de balanceo opuesta a la fuerza de entrada.
42
= F i Fb
VO = kkA F
(2.6.7)
Fb = kF VO
es decir
VO
= Fi kF VO
kkA
de lo cual se obtiene
VO =
kkA
1 + kF kkA
(2.6.8)
Ecuacin para la fuerza del transductor con realimentacin negativa. Si la ganacia del amplificador kA se hace grande, tal que sea satisfecha la condicin
kF kkA 1
(2.6.9)
1
Fi
kF
(2.6.10)
entonces
VO
Esto quiere decir que la salida del sistema depende solamente de la ganancia kF del elemento
de realimentacin y es independiente de las ganancias k y kA de la trayectoria directa. Esto
significa que, suponiendo que se cumple la condicin anterior, los cambios en k y kA debidos
a entradas modificadoras y/o efectos no lineales, tienen efectos despreciables sobre VO . Esto
puede confirmarse repitiendo el anlisis anterior reemplazado k con k + kM uM , de lo cual se
obtiene
(k + kM uM )kA
FIN
(2.6.11)
VO =
1 + kF (k + kM uM )kA
la cual otra vez se reduce a
VOUT
FIN
kF
si
kF (k + kM uM )kA 1
(2.6.12)
Ahora, por supuesto, se debe asegurar que la ganacia kF del elemento de realimentacin no
tenga cambios debidos a efectos no lineales o ambientales. Puesto que el amplificador entrega
ms de la potencia requerida, el elemento de realimentacin puede disearse para baja capacidad
de manejo de potencia, dando mayor linealidad y menor suceptibilidad a entradas ambientales.
Dos dispositivos comunmente utilizados (transmisores de corriente), los cuales emplean este
principio se discutirn ms adelante .
La rpida disminucin de costo en los circuitos digitales integrados en los aos recientes ha
significado que los microcomputadores estn siendo ahora muy usados como elementos procesadores de seal en sistemas de medida. Esto significa que ahora se pueda utilizar la tcnica
43
de estimacin por computador del valor medido. Para este mtodo se requiere un buen
modelo de los elementos del sistema. Anteriormente se vi que la salida de estado estacionario
de un elemento est dada en general por una ecuacin de la forma:
= ku + a + N (U ) + kM uM u + ku uI
(efecamb)
Esta es la ecuacin directa; aqu es la variable dependiente la cual est expresada en trminos
de las variables independientes u, uM , uI . Anteriormente se vi cmo la ecuacin directa puede
derivarse de un conjunto de datos obtenidos en un experimento de calibracin.
Las caractersticas de estado estacionario de un elemento tambin se pueden representar por
una ecuacin alternativa. Esta es la denominada ecuacin inversa; aqu la seal de entrada
u es la variable dependiente y la salida y las entradas ambientales uI , uM son las variables
independientes. La forma general de esta ecuacin es
0
uM + kI0 u
u = k + N() + a+ kM
(2.6.13)
donde los valores de k0 , N 0 (), a0 etc., son completamente diferentes de los de la ecuacin directa.
Por ejemplo, las ecuaciones directa e inversa para una termocupla cobreconstantan (tipo T ),
con unin de referencia a 0 C son:
Directa
E = 3.845 102 T + 4.682 105 T 2 3.789 108 T 3 + 1.652 1011 T 4 mV
Inversa
T = 22.55E 0.5973E 2 + 2.064 102 E 3 3.205 104 E 4 C
donde E es la f.e.m de la termocupla y T la temperatura de la unin medida entre 0 y 400 C.
Ambas ecuaciones fueron derivadas usando un polinomio de mnimos cuadrados ajustado a los
datos de la norma BS 4937 [4]; para la ecuacin directa, E es la variable dependiente y T la
variable independiente, mientras que para la ecuacin inversa T es la variable dependiente y
E la variable independiente. La ecuacin directa es la ms til para estimacin del error,
mientras que la ecuacin inversa es la ms til para reduccin del error.
El uso de la ecuacin inversa en estimacin por computador del valor medido, se implementa
mejor en varias etapas. Con referencia a la Fig. 2.19, stas son:
1. Tratar el sistema no compensado como un solo elemento. Usando el procedimiento de
calibracin explicado antes (o cualquier otro mtodo de generacin de datos) los parmetros
k0 , a0 , etc., en el modelo de ecuacin inversa
0
u = k 0 u + N 0 (u) + a0 + kM
uM u + kI0 uI
44
(2.6.14)
donde b es cualquier error residual cero y k epecifica cualquier escala de error residual.
7. El coeficiente de correlacin
Pn
i i
q
r = P i=1 P
n
n
2
2
i=1 i
i=1 i
(2.6.15)
entre y ahora podr ser evaluado. Si la magnitud de r es mayor que 0.5, entonces hay
una correlacin razonable entre los datos de y ; esto significa que el error sistemtico
de la ecuacin
=
u
(2.6.16)
est presente y se puede proceder al paso ocho para corregirlo. Si la magnitud de r es
menor de 0.5 entonces no hay correlacin entre los datos de y , esto significa que los
errores son aleatorios y no se puede hacer correccin.
45
8. Si es necesario, se puede usar la ecuacin (2.6.14) para calcular un valor medido mejorado
0 = = (k + b)
El sistema de medida de desplazamiento de la Fig. 2.19 muestra este mtodo. El sistema sin
compensacin consiste de un sensor de desplazamiento inductivo, un oscilador y un disparador
Schmitt. El sensor tiene una relacin no lineal entre la inductancia L y el desplazamiento x, el
oscilador tiene una relacin no lineal entre la frecuencia f y la inductancia L. Esto significa que
la ecuacin inversa del modelo, relaciona el desplazamiemto x y la frecuencia f de la seal de
salida del disparador Schmitt, y tiene la forma no lineal mostrada. El estimador consiste de un
contador de pulsos de 16 bits y un computador. El computador lee el estado del contador al
principio y al final de un intervalo de tiempo fijo y as mide la frecuencia f de la seal de pulsos.
El computador entonces calcula x de la ecuacin inversa del modelo usando los coeficientes del
modelo almacenados en la memoria.
46
Medidas de entrada
del medio ambiente
Valor
real
Computador
Estimador
Presentacin
de datos
Valor
medido
Estimado
Sistema sin compensacin
Desplazamiento
verdadero
mm
No lineal
No lineal
Sensor
inductivo
Oscilador
Estimador
Disparador
Schmitt
Contador
de pulsos
16 - bit
pulso/s
Desplazamiento
medido
Ecuacin
inversa del modelo
0 a 65,535
Computador
-4 2
Figura 2.19: Estimacin computacional del valor medido utilizando la ecuacin del modelo
inverso.
Captulo 3
Introduccin
3.2
3.2.1
Un buen ejemplo para un elemento de primer orden puede ser un sensor de temperaura con una
seal elctrica de salida, v. gr., una termocupla o un termistor. El elemento desnudo (sin funda)
se pone en un fluido (Fig. 3.1). Inicialmente en t = 0 (justo antes de t = 0), la temperatura
del sensor es igual a la temperatura del fluido, es decir, T (0 ) = TF (0 ). Si la temperatura
47
48
(3.2.1)
d
[T T (0 )]
dt
(3.2.2)
Definiendo T = T T (0 ) y TF = TF TF (0 ) como las desviaciones de las temperaturas de las condiciones iniciales en reposo, la ecuacin diferencial que describe los cambios de
temperatura del sensor es
dT
UA(TF T ) = mC
dt
es decir,
mC dT
+ T = TF
(3.2.3)
UA dt
Esta es una ecuacin diferencial lineal en la cual dT /dt y T se multiplican por coeficientes constantes; la ecuacin es de primer orden porque dT /dt es el mayor derivador
kg J kg 1 C 1
J
=s
=
W m2 C 1 m2
W
y se le refiere como la constante de tiempo para el sistema. La ecuacin diferencial es ahora
dT
+ T = TF
dt
(3.2.4)
(3.2.6)
(3.2.7)
1
T (s)
=
1
+
s
T F (s)
(3.2.8)
(3.2.9)
50
donde T
es la sensibilidad en estado estacionario del sensor de temperatura. Para un
elemento ideal T
sera igual a la pendiente k de la lnea recta ideal. Para elementos no
d
= dT
, como el
lineales, sujetos a pequeas fluctuaciones de temperatura, se puede tomar T
uando dE
dT a 100 C, usando la ecuacin (2.2.13), con lo cual se obtiene
E
T
se encuentra eval-
E
= 46 V C 1
T
As, si la constante de tiempo de la termocupla es = 10 s, la relacin dinmica global entre
los cambios en la fem y la temperatura del fluido es
E(s)
1
= 46
1 + 10s
T (s)
(3.2.10)
3.2.2
El sensor elstico mostrado en la Fig. 3.3 que convierte una fuerza de entrada F en un desplazamiento de salida x, es un buen ejemplo de un elemento de segundo orden. El diagrama es un
kx
Resorte k
Masa
vx
Amortiguador
(3.2.13)
y
m
x + kx + x = F
Definiendo a F y a x como las desviaciones en F y en x de las condiciones de reposo del
estado inicial,
F
= F F (0 ),
x = x,
x = x x(0 )
x=x
(3.2.14)
52
(3.2.16)
coeficiente de amortiguacin =
2 km
entonces m/k = 1/ 2n , /k = 2/ n y la ecuacin (3.2.15) se puede expresar en su forma
estndar:
1 d2 x
1
2 dx
+ x = F
(3.2.17)
+
2
2
n dt
n dt
k
Con el fin de encontrar la funcin de transferencia para el elemento, se requiere de la transformada de Laplace de la ecuacin (3.2.17). Usando una tabla de transformadas se tiene que
2
1
1 2
[s
x(s) sx(0 ) x(0
)] +
[s
x(s) x(0 )] +
x(s) = F (s)
2
n
n
k
(3.2.18)
2
2
(3.2.19)
x(s) = n F (s)
s + 2 n s + 2n
k
As
x(s)
1
= G(s)
k
F (s)
donde 1/k = sensibilidad en estado estacionario K, y
G(s) =
2n
s2 + 2 n s + 2n
(3.2.20)
La Fig 3.4 muestra un elemento elctrico anlogo, un circuito de la serie L-C-R. Las ecuacioens correspondientes a esta red estn dadas a continuacin:
V = iR +
di
q
+L
C
dt
53
>
i
+
V
dq
dt
as
L
1
dq
d2 q
+R + q =V
2
dt
dt C
(3.2.21)
o
d2 q R dq
1
1
+
q= V
+
2
dt
L dt LC
L
(3.2.22)
3.3
C
L
(3.2.23)
(3.2.24)
Con el fin de identificar la funcin de transferencia G(s) de un elemento, se debern usar seales
de excitacin normalizadas. Las dos seales de excitacin ms comunes son el escaln y la onda
seno. En esta seccin se examina la respuesta de los elementos de primer y segundo orden ante
dichas seales.
54
3.3.1
1
s
(3.3.1)
As, si un elemento de primer orden con G(s) = K/(1 + s) est sujeto a una seal de entrada
en escaln, la transformada de Laplace de la seal de salida del elemento ser
fo (s) = G(s)fi (s) =
K
s(1 + s)
(3.3.2)
A
1
B
fo (s) = K
=K
+
(1 + s)s
(1 + s)
s
Igualando los coeficientes de las constantes se obtiene B = 1, e igualando los coeficientes de
s se llega a 0 = A + B , es decir, A = .
As
"
#
1
1
fo (s) = K
=K
(3.3.3)
s (1 + s)
s (s + 1 )
Realizando la transformada inversa de Laplace de la ecuacin (3.3.3) se llega a
t
fo (t) = K u(t) exp
t
fo (t) = K 1 exp
(3.3.4)
55
fo(t)
2.5
7.5
(3.3.5)
2n
s2 + 2 n s + 2n
(3.3.6)
As + B
1 2
s
2n
2
n s + 1
C
s
56
100
75
50
25
0
0
1.25
2.5
3.75
5
x
(s + 2n )
1
2
s s + 2n s + 2n
(s + 2n )
1
s (s + n )2 + 2n (1 2 )
(s + n )
1
n
2
2
2
2
s (s + n ) + n (1 ) (s + n ) + 2n (1 2 )
(3.3.7)
Hay tres casos a considerar dependiendo si es mayor que 1, igual a 1, o menor que 1.
Caso 1 Si = 1 Sistema con amortiguacin crtica, entonces
1
1
n
fo (s) =
s s + n (s + n )2
(3.3.8)
(3.3.9)
57
q
q
fo (t) = 1 en t cos n (1 2 )t + q
sin n (1 2 )t
2
(1 )
(3.3.10)
q
q
(3.3.11)
La cual representa la respuesta a un escaln por un elemento de segundo orden con sobreamortiguacin.
y
1.5
1.25
0.75
0.5
0.25
0
0
2.5
7.5
10
12.5
15
x
Figura 3.7: Respuesta a un escaln de un sistema de segundo orden: rojo, < 1, negro, = 1,
azul, > 1.
La forma de las respuestas normalizadas se muestran en la Fig. 3.7.
58
p
k/m = 102 rads1
k m = 0.5
2
Inicialmente en t = 0 , una fuerza en reposo F (0 ) = 10N causa un desplazamiento en reposo
de (1/103 ) 10 metros, es decir, 10mm. Supngase que en t = 0 la fuerza se incrementa
repentinamente de 10 a 12 N, es decir, hay un cambio en escaln F de 2 N . El cambio x(t)
en el desplazamiento se encuentra usando
=
(3.3.12)
es decir,
1
2 [1 e50t (cos 86.6t + 0.58 sin 86.6t)] [m]
103
= 2 [1 e50t (cos 86.6t + 0.58 sin 86.6t)] [mm]
x(t) =
(3.3.13)
3.3.2
La transformada de Laplace de una onda senoidal est dada por f(s) = /(s2 + 2 ). As si una
onda seno de amplitud u
es la entrada a un elemento de primer orden, entonces la transformada
de Laplace de la seal de salida es
fo (s) =
1
1 + s s2 + 2
fo (s) =
=
1
s +
u
2 u
+
1 + 2 2 1 + s 1 + 2 2 s2 + 2
u
1
cos + s sin
2 u
+
2
2
2
2
1 + 1 + s
s2 + 2
1+
(3.3.14)
59
sin =
1 + 22
1
,
cos =
1 + 22
(3.3.15)
t/
2 u
u
e
+
sin(t + )
1 + 2 2
1 + 2 2
(3.3.16)
0.2
0.15
0.1
0.05
0
0
10
15
20
25
x
-0.05
-0.1
Figura 3.8: Respuesta ante una excitacin senoidal de un sistema de primer orden.
En un experimento de prueba con onda seno, se espera hasta que el trmino transitorio haya
decado a cero y entonces se toma la medida de la seal senoidal de estado estacionario:
u
fo (t) =
sin(t + )
1 + 22
(3.3.17)
De las ecuaciones
anteriores se puede ver que cuando = 1, es decir = 1/ , la razn de
60
Usando las anteriores reglas, rpidamente se pueden encontrar las relaciones de magnitud y
de fase para un elemento de segundo orden con
G(s) =
2n
s2 + 2 n s + 2n
De aqu se tiene
G(j) =
2n
(j)2 + 2 n (j) + 2n
tal que
Magnitud :
Diferencia de fase :
|G(j)| = s
1
tan1
2/ n
1 2 / 2n
2
2n
1
2
+ 4 2 2
(3.3.18)
4.482
2.718
y
1.649
1
0.6065
0.3679
0.2231
0.1353
0.1353
0.2231
0.3679
0.6065
1.649
2.718
61
Ntese que para < 0.7, |G(j)| tiene un valor mximo el cual es ms grande que la unidad.
Este valor mximo est dado por
|G(j)|MAX =
y ocurre en la frecuencia de resonancia
q
R = n 1 2 2
1
p
2 1 2
< 1/ 2
(3.3.19)
As, si |G(j)| = 1, N = 0 dB; si |G(j)| = 10, N = +20 dB; y si |G(j)| = 0.1, N = 20 dB.
3.4
La Fig. 3.10 muestra un sistema de medida completo el cual consiste de n elementos. Cada
elemento i tiene un estado estable ideal y caractersticas dinmicas lineales y puede por lo
tanto, ser representado por una constante de sensibilidad de estado estable Ki y una funcin de
transferencia Gi (s).
1
1
Entrada:
seal real
1
2
Salida , es decir,
seal medida
(s)
= G(s) = G1 (s)G2 (s) Gi (s) Gn (s)
u(s)
(3.4.1)
62
En principio se puede usar la ecuacin (3.4.1) para encontrar la seal de salida del sistema (t)
co-rrespondiente a variaciones en el tiempo de la seal de entrada u(t). Primero se encuentra
la transformada de Laplace
u(s) de u(t); entonces, aplicando la transformada de Laplace, la
seal de salida ser
(s) = G(s)
u(s)
(3.4.2)
Expresando
(s) en fracciones parciales, y usando tablas estndar de las transformadas de
Laplace, se puede encontrar la seal correspondiente en el tiempo (t). Expresando esto
matemticamente:
u(s)]
(3.4.3)
(t) = L1 [G(s)
donde L1 denota la transformada inversa de Laplace. El error dinmico (t) del sistema de
medida es la diferencia entre la seal medida y la seal verdadera, es decir, la diferencia entre
(t) y u(t)
(t) = (t) u(t)
(3.4.4)
Usando (3.4.3) se tiene
u(s)] u(t)
(t) = L1 [G(s)
(3.4.5)
El sistema simple de medida de temperatura de la Fig. 3.11, provee un buen ejemplo para
Temperatura real
40 x 10
1 + 10
Temperatura medida
-6
f. e. m.
Termocupla
10
1 + 10 - 4 s
Amplificador
25
voltios
2.5x 10
-5s 2 +
10 -2 s
+1
Registrador
4
s 1 + 10s 1 + 10 s 1 + 1 s 2
200
1
A
B
Cs + D
= 20
TM (s) = 20
(3.4.6)
63
De aqu se obtiene
h
i
4
TM (t) = 20 u(t) Ae0.1t + Be10 t Ee200t (1 + 200t)
y el error dinmico
(3.4.7)
donde el signo negativo indica una lectura muy baja. El trmino Be10 t decae a cero despus
de 5 104 s, y el trmino Ee200t (1 + 200t) decae a cero despus de unos 25ms. El trmino
Ae0.1t , el cual corresponde a la constante de tiempo 10s de la termocupla, toma cerca de 50s
para decaer a cero y tiene el mximo efecto sobre el error dinmico.
Entrada
Salida
(3.4.8)
donde = arg G(j). Supngase que el anterior sistema de medida de temperatura est midiendo una variacin sinusoidal de temperatura de amplitud TT = 20 C y perodo T = 6s, es
decir de frecuencia angular = 2/T 1.0 rad s1 . La respuesta frecuencial G(j) es
G(j) =
1
(1
(3.4.9)
tal que en = 1
1
|G(j)|=1 = p
0.10
(1 + 100)(1 + 108 )[(1 2.5 105 )2 + 104 ]
(3.4.10)
64
Se puede observar, para las anteriores ecuaciones, que los valores de |G(j)| y arg |G(j)| en
= 1 estn determinados principalmente por la constante de tiempo de 10s. Las caractersticas
dinmicas de los otros elementos solamente estarn afectando el funcionamiento del sistema a
an cos n1 t +
n=1
bn senn 1 t
(3.4.11)
n=1
donde
an =
bn =
ao =
2
T
2
T
1
T
+T /2
T /2
Z +T /2
T /2
Z +T /2
f (t)sen n1 tdt
(3.4.12)
f (t)dt
T /2
Si f (t) = u(t), donde u(t) es la variacin de la seal de entrada medida u(t), para el estado
estacionario o valor d.c. de u0 , entonces a0 = 0. Si tambin se asume que f (t) es impar, es decir
f (t) = f (t), entonces an = 0 para todo n, es decir, hay solamente trminos seno presentes
en la serie. La seal de entrada del sistema est dada por
u(t) =
n=1
u
n sen n1 t
(3.4.13)
65
donde u
n = bn es la amplitud del nsimo armnico a la frecuencia n 1 . Con el fin de encontrar
(t), primero supngase que solamente el nsimo armnico u
n sen n1 t es la entrada para
el sistema. De la Fig. 3.12, la correspondiente seal de salida es u
n |G(jn 1 )| sen(n 1 t + n )
donde n = arg G(jn 1 ). Ahora se requiere usar el principio de superposicin, el cual es una
propiedad bsica de los sistemas lineales (es decir, sistemas descritos por ecuaciones diferenciales
lineales). Esto puede establecerse como sigue:
Si una entrada u1 (t) produce una salida 1 (t) y una entrada u2 (t) produce una salida 2 (t),
entonces una entrada u1 (t) + u2 (t) producir una salida 1 (t)+ 2 (t), siempre que el sistema
sea lineal. Esto significa que la seal total de entrada es la suma de muchas formas de onda
(ecuacin 3.4.13), entonces la seal total de salida es la suma de las respuestas a cada onda seno,
es decir
X
u
n |G(jn1 )| sen (n 1 t + n )
(3.4.14)
(t) =
n=1
n=1
u
n [|G(jn 1 )| sen (n1 t + n ) sen n 1 t]
(3.4.15)
Ejemplo 4 Supngase que la entrada al sistema de medida de temperatura es una onda cuadrada
1
1
1
80
[sen t + sen 3t + sen 5t + sen 7t + ]
3
5
7
(3.4.16)
La Fig. 3.13 muestra las relaciones amplitudfrecuencia y fasefrecuencia para una temperatura de entrada; stas definen el espectro de frecuencia de la seal. El espectro consiste de
un nmero de lneas a frecuencias 1 , 31 , 5 1 , etc., de longitud decreciente para representar
las pequeas amplitudes de los armnicos superiores. En casos prcticos se puede terminar o
truncar la serie en un armnico donde la amplitud es despreciable, en este caso se escogi n = 7.
Adems para encontrar la seal de salida, es decir, la forma de onda registrada, se necesita
evaluar la magnitud y el argumento de G(j) en = 1, 3, 5, 7 rads1 .
De nuevo el valor anterior est determinado principalmente por la constante de tiempo del
orden de 10s; la frecuencia alta de la seal = 7 an est bajo la frecuencia natural del contador
n = 200. La seal de salida del sistema es
TM (t) =
80
[0.100sen(t 85 ) + 0.011sen(3t 90 )
+0.004sen(5t 92 ) + 0.002sen(7t 93 )]
(3.4.17)
(3.4.18)
Ntese que en la seal de salida, las amplitudes del 3 , 5 y 7 armnico han sido relativamente
reducidas a la amplitud de la frecuencia fundamental. El contador de forma de onda tiene por lo
66
Amplitud
80
25.5
+20
0
0
Fase
-1
Espectro de frecuencia de
la temperatura de entrada
-20
Forma de la onda de tiempo
de la temperatura de entrada
0.1
Relacin de
amplitud
Caractersticas de la respuesta
de la frecuencia en los
sistemas de medida
0.01
-80
arg
Diferencia
de fase
-90
-100
2.6
+2
0
-2
Forma de la onda de tiempo
de la temperatura de salida
(registrada)
0
-80
-90
-100
Espectro de frecuencia de
la temperatura de salida (registrada)
Figura 3.13: Clculo de errores dinmicos con una seal de entrada peridica.
tanto una forma diferente de la seal de entrada as como tambin ha sido reducida en amplitud
y cambiada en fase.
Las ideas anteriores pueden ser extendidas para calcular el error dinmico para seales de
entrada aleatorias. Las seales aleatorias puede ser representadas por espectros continuos de
frecuencia.
3.5
67
De la ecuacin (3.4.15) se nota que adems para tener E(t) = 0 para una seal peridica, se
deben obedecer las siguientes condiciones:
|G(j1 )| = |G(j2 1 )| = = |G(jn1 )| = = |G(jm1 )| = 1
(3.5.1)
(3.5.2)
Las condiciones anteriores representan un ideal terico el cual ser dficil de realizar en la prctica. En un criterio ms prctico se limita la variacin en |G(j)| a un pequeo porcentaje de
las frecuencias presentes de la seal. Por ejemplo, la condicin:
0.98 < |G(j)| < 1.02
para
0 < 6 MAX
(3.5.3)
asegura que el error dinmico est limitado a 2 por ciento para una seal que contenga
MAX
Hz.
frecuencias mayores a
2
Otro criterio comunmente usado es el del ancho de banda. El ancho de banda
de un
elemento o sistema es el rango de frecuencias para las cuales |G(j)| es mayor que 1/ 2. Puesto
que, sin embargo, hay un 30 % de reduccin en |G(j)| en B ,el ancho de banda no es un criterio
particularmente usado para sistemas completos de medida.
El ancho de banda se usa comunmente en la determinacin de
la respuesta en frecuencia de
los amplificadores; una reduccin
en |G(j)| desde 1 hasta 1/ 2 es equivalente a un cambio
en decibeles de N = 20 log(1/ 2) = 3.0dB. Un elemento de primer orden tiene un ancho de
1
banda entre 0 y rad s1 .
Si en un sistema no se pueden encontrar los lmites especificados del error dinmico (t); es
decir, la funcin de transferencia del sistema G(s) no satisface una condicin tal como (3.5.3),
entonces el primer paso es identificar cuales elementos en el sistema dominan el comportamiento
dinmico. En el sistema de medida de temperatura de la seccin anterior, el error dinmico se
debe casi totalmente a la constante de tiempo 10s de la termocupla.
Teniendo identificados los elementos dominantes del sistema, el mtodo ms obvio de mejoramiento de la respuesta dinmica es el de diseo intrnseco. En el caso del sensor de temperatura de primer orden con = mC/UA, puede hacerse mnimo, minimizando la razn
masa/rea m/A por ejemplo, usando un termistor en la forma de lmina
p delgada.
En el caso de de un sensor de fuerza de segundo orden con n = k/m, n puede hacerse
mxima maximizando k/m, es decir, usando alta rigidez k y baja masa m. Sin embargo, al
68
Elemento
no compensado
1
1+
Termocupla
69
Elemento
de compensacin
1 + 1
1 + 2
Circuito
de adelanto y atraso
1
1 + 2
=
.
(3.5.4)
2
k
1 2
k
k
a(s)
KF
s+ 1+
as +
KA KD KF n
n KA KD KF
KA KD KF
Si KA se hace suficientemente grande para que KA KD KF /k 1, entonces la funcin de transferencia del sistema puede ser expresada en la forma
Ks 2ns
V (s)
= 2
a(s)
s + 2 s ns s + 2ns
donde la sensibilidad de estado estacionario del sistema es
Ks =
mR
KF
KA KD KF
k
k
KA KD KF
Se ve que la frecuencia natural del sistema ns es ahora mucho mayor que la del elemento elstico
de fuerza. La razn de amortiguamiento del sistema s es mucho menor que , pero haciendo
grande puede obtenerse.un valor de s 0.7. Adems la sensibilidad de estado estacionario del
sistema depende solamente de m, KF y R la cual puede ser constante en un alto grado.
70
Imn
Bobina
Cpsula
Fuerza de Fuerza no
Inercia balanceada
Masa
Ssmica
Fuerza
Electro magntica
Sensor de
fuerza elstica
Sensor de
desplazamiento
potenciomtrico
Resistor
normalizado
Bobina
e imn
3.6
Aunque el anlisis terico de los instrumentos es vital para revelar las relaciones bsicas involucradas en la operacin de un dispositivo, rara vez es suficientemente preciso para proporcionar
valores numricos tiles a parmetros crticos tales como sensibilidad, constante de tiempo, frecuencia natural, etc. Ya se ha discutido la calibracin esttica; aqu se tratarn los mtodos
para determinar experimentalmente las caractersticas dinmicas [11].
Para instrumentos de orden cero, la respuesta es instantnea de modo que no existen caractersticas dinmicas. El nico parmetro a ser determinado es la sensibilidad esttica K, la cual
se encuentra por calibracin esttica.
Para instrumentos de primer orden, la sensibilidad esttica K tambin se encuentra por
calibracin esttica. Hay solamente un parmetro correspondiente a la respuesta dinmica, la
constante de tiempo y sta puede encontrarse por varios mtodos. Un mtodo comn es aplicar
una entrada escaln y medir como el tiempo requerido para llegar al 63.2% del valor final.
Este mtodo est influido por imprecisiones en la determinacin del punto t = 0 y tampoco da
una prueba de si realmente el instrumento es de primer orden. Existe un mtodo mejorado el
0.75
0.5
0.25
0
0
2.5
7.5
10
x
= 1 e
K
(3.6.1)
y entonces
= e
K
t
, ln 1
=
K
(3.6.2)
(3.6.3)
d
1
=
(3.6.4)
dt
72
2.5
7.5
x
10
-2.5
-5
-7.5
-10
+1
ln(a/A)
2
p
n =
(3.6.6)
T 1 2
Cuando un sistema est ligeramente amortiguado, cualquier entrada transitoria rpida producir
una respuesta similar a la de la Fig. 3.20(b). Entonces se puede aproximar a
ln(x1 /xn )
2n
(3.6.7)
0
b = 1
log
-20 dB / dcada
0
-45
-90
2
1
et/ 2 +
et/ 1
2 1
2 1
(3.6.8)
donde
1 ,
2 ,
p
2 1 n
1
p
+ 2 1 n
(3.6.9)
(3.6.10)
74
Tiempo
Tiempo
100
90
80
70
60
50
40
30
20
10
ciclos
1
(b)
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
(a)
100
Rpi , 1
K
2. Dibujar Rpi en escala logartmica contra una escala lineal del tiempo t. Si el sistema es
de segundo orden, esta curva se aproximar a una lnea recta para valores grandes de t.
Prolongar esta lnea hasta cero, y anotar el valor P1 donde la lnea intercepta la escala Rpi .
Ahora, 1 es el tiempo en el cual la asntota de la lnea recta tiene el valor de 0.368P1 .
3. Ahora se dibuja sobre la misma grfica una nueva curva, la cual es la diferencia entre la
asntota en lnea recta y Rpi . Si esta nueva curva no es una lnea recta, el sistema no
es de segundo orden. Si es una lnea recta, el tiempo en el cual esta lnea tiene el valor
0.368(P1 100) es numricamente igual a 2 .
150
P1
100
80
70
0.368
60
50
40
0.368 [
- 100]
20
10
5
0
0
(3.6.11)
76
3.7
v. gr., 0.2 C. En esta seccin se discuten las dos formas de carga, primero examinando los
77
principios de la carga elctrica y luego extendiendo estos principios a los efectos de la carga en
general.
3.7.1
Carga elctrica
Se ha representado hasta ahora los sistemas de medida como bloques conectados por lneas
simples donde la transferencia de informacin y energa est en trminos de una sola variable.
As, en el sistema de medida de temperatura Fig. 2.15 la transferencia de informacin entre
los elementos est en trminos nicamente del voltaje. Por lo tanto, no se puede identificar
la corriente drenada en el amplificador generada por la termocupla, ni la corriente drenada en
el indicador generada por el amplificador. Con el fin de describir el comportamiento tanto del
voltaje como de la corriente en la conexin de dos elementos se necesita representar cada elemento
por un circuito equivalente caracterizado por dos terminales. La conexin est representada
entonces por dos lneas.
3.7.2
El teorema Thvenin establece que cualquier red que consista de impedancias lineales y fuentes
de tensin puede reemplazarse por un circuito equivalente que consiste de una fuente de tensin
VT h y una impedancia en serie ZT h (Fig. 3.23). La fuente VT h es igual a la tensin de circuito
Red lineal
>
i
V
Th
ZL
+
VL
Z Th
ZL
78
y la tensin VL en la carga es
VL = iZL =
1
VT h
1 + ZZTLh
(3.7.2)
Zo
>
+
vi
+
A vi
Zi
-
104
2 106
TM =
T = 0.9925T
(3.7.4)
2 106 + 20
104 + 75
VI = 40 106 T
20
>
>
40T V
Temperatura
verdadera
Termocupla
79
TM=25V L
vi
1000 vi
2M
10k
Temperatura
medida
Amplificador
Indicador
104
1
pHM = 59pH
105 pH
(3.7.5)
104 + 109 59
es decir, aqu estar efectivamente un indicador cero para cualquier valor no cero. As el probelma
es resuelto conectando el elctrodo a un indicador por medio de amplificador buer. Est est
caracterizado por ZIN grande, ZOUT pequeo y una ganancia unitaria A = 1. Por ejemplo,
un amplificador operacional con una etapa de entrada con FET conectado con un seguidor de
voltaje, tendr una ZIN = 1012 , ZOU T = 10. El indicador del valor pH para el sistema
modificado (Fig:(zz)) es
1012
104
pH
pHM = 12
10 + 109 104 + 10
y el error por carga es ahora 0.002pH, es cual es negativo.
Un ejemplo del efecto de la carga ac, se muestra en la Fig. 3.26, la cual representa el circuito
equivalente de un tacogenerador con reluctancia variable conectado a un registrador. El voltaje
Thvenin VT h para el tacogenerador es tipo ac con una amplitud Vp y una frecuencia angular ,
ambos proporcionales a la velocidad mecnica angular r . En este ejemplo, Vp = (5.0103 ) r V
y = 6 r rad s1 . La impedancia Thvenin ZT h para el tacogenerador es una inductancia y
una resistencia en serie (un imn rodeado por una bobina), es decir, ZT h = RT h + jLT h . As,
si r = 103 rad s1 ; Vp = 5V, = 6 103 rad s1 y ZT h = 1.5 + j6.0k, tal que la amplitud
del voltaje registrado es
VL = Vp
10
RL
= 5p
= 3.85V
|ZT h + RL |
[(11.5)2 + (6.0)2 ]
(3.7.6)
Si la escala de sensibilidad del registrador alcanza el valor de 1/(5 103 )rad s1 , la velocidad angular registrada es 770rad s1 . Este error puede eliminarse bien sea incrementando la
80
V
th
RL
10k
1.5k
+
Vp sen t
-
Registrador
Tacogenerador de
reluctancia variable
3.7.3
dando
ET h = Vs x
(3.7.7)
La impedancia Thvenin ZT h se encuentra escogiendo una fuente de voltaje Vs = 0, reemplazando la fuente por sus impedancia interna (se asume cero), y calculando la impedancia vista
desde los terminales AB como se muestra en la Fig.(zz). Asi
1
1
1
+
=
RT h
Rp x Rp (1 x)
dando
RT h = Rp x(1 x)
(3.7.8)
As el efecto de conectar una carga resistiva RL (el registrador o el indicador) a travs de los
terminales AB es equivalente a conectar RL a travs del circuito Thvenin.El voltaje de carga
81
RL
RL
= Vs x
RT h + RL
Rp x(1 x) + RL
es decir
VL = Vs x
1
(Rp /RL )x(1 x) + 1
(3.7.9)
1
N (x) = ET h VL = Vs x 1
(Rp /RL )x(1 x) + 1
es decir
N (x) = Vs
x2 (1 x)(Rp /RL )
1 + (Rp /RL )x(1 x)
(3.7.10)
el cual se reduce a N (x) Vs (Rp /RL )(x2 x3 ) si Rp /RL 1 (situacin normal). N (x) tiene
= 4 Vs (Rp /RL ) cuando x = 2 , corresponde a dN/dx = 0 y un valor
un valor mximo de N
27
3
como un porcentaje de la escala full de deflexin o giro Vs
negativo d2 N/dx2 . Expresando N
voltios da:
= 400 Rp % 15 Rp %
(3.7.11)
N
27 RL
RL
Los requerimiento de no linelidad de la sensibilidad y la mxima potencia son usados para
especificar los valores de Rp y Vs para una aplicacin dada. Supngase que un potencimetro de
rango 10cm est conectado a un registrador de 10. Si la mxima no linealidad no debe exceder
3
el 2%, entonces se requiere 15Rp /RL 6 2, es decir Rp 6 20
15 10 ; as un potencimetro de
1K podr ser adecuado. Como la sensibilidad es dVL /dx Vs , la sensibilidad mas grande que
Vs
3.7.4
EL teorema Norton establece que cualquier red que contenga impedancias lineales y fuentes de
voltaje puede ser reemplazado por un circuito equivalente consistente de una fuente de corriente
iN en paralelo con una impedancia ZN (Fig.zz). ZN es la impedancia vista desde los terminales
de salida con todas las fuentes de voltaje reducidas a cero y reemplazadas por su impedancia
interna, y iN es la corriente que fluye cuando los terminales estn corto circuitados. Conectando
una carga ZL a travs de los terminales de la red es equivalente a conectar ZL a travs del circuito
Norton. El voltaje VL a travs de la carga est dado por VL = IN Z, donde 1/Z = 1/ZN + 1/ZL ,
dando
ZN ZL
(3.7.12)
VL = iN
ZN + ZL
82
RN (Rc + RR )
RN + RC + RR
(3.7.13)
RN
RN + RC + RR
(3.7.14)
Usando los datos dados, se tiene que VR = 0.9995iN RR tal que el voltage del registrador diverja
del rango deseado de 1 a 5V solamente el 0.05 por ciento.
Un segundo ejemplo de un generador de corriente est dado por un cristal piezoelctrico
actuando como un sensor de fuerza. Si una fuerza F es aplicada a cualquier cristal, entonces los
tomos del cristal experimentan un pequeo desplazamiento x proporcional F . Para un material
piezoelctrico el cristal adquiere una carga q proporcional a x es decir, q = Kx. El cristal puede
por lo tanto ser visto como una fuente de corriente Norton de magnitud iN = dq/dt = K(dx/dt),
donde dx/dt es la velocidad de las deformaciones atmicas. Este efecto se discute mejor en la
seccin 8.7. donde se ve que el cristal acta como capacitor CN en paralelo con la fuente
de corriente iN . La figura 5.11 muestra el circuito equivalente y los valores tpicos de los
componentes para un cristal conectado por medio de un cable capacitivo CC a un grabador que
acta como una carga resistiva RL . El voltaje VL atravs de la carga est dado por iN Z, donde
Z es la impedancia de CC , CN y RL en paralelo. Puesto que
1
Z
= CN s + CC s +
Z =
1
RL
RL
1 + RL (CN + CC )s
donde s denota el operador de Laplace. La funcin de transferencia que relaciona los cambios
dinmicos de la corriente de la fuente y el voltaje de la grabadora es as
RL
VL (s)
=
N (s)
1 + RL (CN + CC )s
(3.7.15)
As, el efecto de la carga elctrica en este ejemplo es para introducir una funcin de transferencia en un sistema de medicin de fuerza; esto afectar la exactitud dinmica.
3.7.5
83
Carga Generalizada
Se ha visto en la seccin previa como los efectos de la carga elctrica pueden ser descritos
usando un par de variables, el voltaje y la corriente. El voltaje es un ejemplo de una variable
a travs de o esfuerzo y, corriente es un ejemplo de variable de traspaso o flujo x.
Una
variable de esfuerzo conduce a una de flujo a travs de una impedancia. Otros ejemplos de
pares esfuerzo-flujo son fuerza-velocidad, torque-velocidad angular, diferencia de presin-flujo
de volumen, diferencia de temperatura-flujo de calor. Cada par y x tiene la propiedad de
que el producto y x representa potencia en vatios (excepto por las variables de temperatura, que
tienen dimensiones de vatiostemperatura). La tabla 5.1. (adaptada de [2] ) enlista los pares de
esfuerzo-flujo de diferentes formas de energa y cada par define las cantidades relacionadas de
impendancia, rigidez, flexibilidad e inertancia. As se ve que los conceptos de impedancia estn
aplicados a mecnica, fludica y sistemas trmicos tambin como electricos. Para un sistema
mecnico la masa es anloga a la inductancia elctrica, la constante de amortigamiento es
anloga a la resitencia elctrica, y 1/rigidez es anlogo a la capacitancia elctrica. Para un
sistema trmico la resistencia trmica es anloga a la resistencia elctrica, la capacitancia trmica
es anloga a la capacitancia elctrica. Esto significa, que pueden generalizarse los circuitos
elctricos equivalentes de Thvenin y de Norton a sistemas no elctricos. Se pueden entonces
estudiar ejemplos de como un elemento sensor primario puede cargar el proceso o el sistema a
ser medido.
La Fig.(zz) muestra un sistema mecnico o proceso representado por una masa, un resorte
y un amortiguador. La fuerza F aplicada a el proceso est siendo medida por un sensor de
fuerza, que consiste de un elemento elstico en unin con un sensor de desplazamiento potencimetrico. El sensor elstico de fuerza puede tambin representarse por una masa, un resorte
y un amortigador. Bajo condiciones de estado estacionario cuando la velocidad sea x = 0 y la
acaleracin sea x
= 0, se tienen las siguientes ecuaciones de balance de fuerzas:
= kp x + Fs
proceso
sensor
Fs = ks x
(3.7.16)
Ks
1
F =
F
ks + kp
1 + kp /ks
(3.7.17)
Adems se ve que para minimizar el error de carga en el estado estacionario el sensor de rigidez
ks podr ser mucho ms grande que la rigidez procesada kp .
Bajo condiciones de inestabilidad cuando x no sea cero, la segunda ley de Newton da las
siguientes ecuaciones diferenciales:
proceso
sensor
F kp x p x Fs = mp x
rFs ks x s x = ms x
(3.7.18)
84
es decir
Z
dx
+ p x + kp xdt
= F Fs
dt
Z
dx
+ s x + ks xdt
= Fs
ms
dt
mp
(3.7.19)
Utilizando las analogias dadas al principio, el sensor puede representarse por Fs conduciendo x
a travs del circuito mecnico L, C, R ,ms , 1/ks , s ; y el proceso puede representarse por F Fs
conduciendo x a travs del circuito mecnico L, C, R ,mp , 1/kp , p . Si x, F y Fs se derivan
de las condiciones estacionarias iniciales, entonces la transformada de Laplace de las ecuaciones
(3.7.19) son:
kp ___
x = F Fs
(3.7.20)
mp s + p +
s
ks ___
x = Fs
ms s + s +
s
Usando la tabla
() se puede definir la funcin de transferencia de la impedancia mecnica por
___
ZM (s) = F / x (s), tal que
impedancia del proceso
kp
s
ks
(s) = ms s + s +
s
ZMP (s) = mp s + p +
(3.7.21)
(3.7.22)
De (3.7.20) y (3.7.22) la relacin entre los cambios dinmicos entre la fuerza medida y la real es
Fs (s) =
ZMS
F (s)
ZMS + ZMP
(3.7.23)
Adems para minimizar los efectos de la carga dinmica, la impedancia del sensor ZMS puede ser
mucho ms grande que la impedacnia del proceso ZMP . La Fig.() muestra el circuito equivalente
para el sistema: proceso , sensor de fuerza y el registrador. Se ve que el circuito equivalente
completo para el sensor de fuerza es una red de cuatro terminales o de dos puertos. Esto
es similar al circuito equivalente para un amplificador electronico (Fig.zz) excepto que aqu el
puerto de entrada involucra transferencia de energa mecnica.
La Fig.(zz) muestra un cuerpo caliente, es decir, un proceso trmico cuya temperatura Tp
est siendo medida por un sensor termocupla. Bajo condiciones de inestabilidad, las consideraciones de razn de flujo de calor son dadas por las siguientes ecuaciones diferenciales:
proceso
sensor
dTp
dt
dTs
Ms Cs
dt
Mp Cp
= Wp Ws ,
= Ws ,
Wp = Up Ap (TF Tp )
Ws = Us As (Tp Ts )
(3.7.24)
85
donde
M masa
C calor especfico
U coeficiente de transferencia de calor
A rea de transferencia de calor
Las cantidades Mp Cp , Ms Cs tiene las dimensiones de calor/temperatura y son anlogas a
la capacitancia elctrica. Las cantidades Up Ap , Us As tiene las dimensiones de razn de flujo
de calor/temperatura y son anlogas a 1/(resistencia elctrica). El circuito equivalente para
el proceso y la termocupla est mostrado en la Fig. (zz). Se ve que la relacin entre TF y Tp
depende de un divisor de potencia 1/Up Ap ,Mp Cp y la relacin entre Tp y Ts dependen del divisor
de potencia 1/(Us As ), Ms Cs . De nuevo la termocupla puede representarse por una red de dos
puertos con un puerto de entrada trmico y un puerto de salida elctrico.
En conclusin se nota que la representacin de los elementos de un sistema de medida por
redes de dos puertos permite que los efectos de la carga del proceso y entre los elementos
sea cuantificados.
3.7.6
1
ui1u
Zgo /Zgi + 1
1
ui1u
Ygo /Ygi + 1
1
ui1u
Sgo /Sgi + 1
1
qi1u
Cgo /Cgi + 1
(3.7.25)
(3.7.26)
(3.7.27)
(3.7.28)
Las cantidades Z, Y, S y C fueron previamente consideradas por ser la razn de pequeos cambios
en dos variables sistemas de afines bajo condiciones establecidas. Para generalizar esos conceptos,
ahora se definen las cantidades Z, Y, S, y C como funciones de transferencia relacionando las
mismas dos variables bajo las mismas condiciones excepto que ahora se considera la operacin
dinmica. Es decir, se debe obtener (tericamente o experimentalmente) Z(s), Y (s), S(s), y
C(s) si se desea usar el mtodo operacional de funcin de transferencia y Z(i), Y (i), S(i),
y C(i) si se desea usar el mtodo de respuesta en frecuencia.
Si esas cantidades deben ser encontradas experimentalmente usualmente la forma de respuesta en frecuencia es en su mayor parte usada. Esto significa, entonces que en la bsqueda,
86
o
1
(i) Qi1u (i)
Qo (i) =
Zgo (i)/Zgi (i) + 1 ui
(3.7.29)
(3.7.30)
donde o , salida real del dispositivo de medida que no tiene carga en sus salidas
ui , valor de la variable medida que puede existir si el dispositivo de medida no produce
cargabilidad sobre el medio medido.
Las ecuaciones (3.7.26), (3.7.27) y (3.7.28) pueden ser modificadas en forma similar. Tambin, si las ecuaciones diferenciales que relacionan o (t) se necesitan, se puede escribir
(o )
o
1
(s) =
(s)
ui1u
Zgo s)/Zgi (s) + 1 ui
(3.7.31)
y entonces se obtine la ecuacin diferencial en la forma usual por medio del producto cruz
[Zgo (s) + Zgi (s)]
n
X
i=0
ai si o = [Zgi (s)]
m
X
bj sj ui1u
(3.7.32)
j=0
Un ejemplo de los mtodos anteriores puede ser til. Considrese un dispositivo para medir la
velocidad translacional, como se muestra en la Fig.(). La funcin de transferencia sin carga que
relaciona el desplazamiento de salida x0 y la velocidad (medida) de entrada vi es obtenida como
sigue:
o
Bi (x i x 0 ) Kis xo = Mi x
xo
Ki
(s) = 2 2
vi
s / ni + 2 i s/ni + 1
(3.7.33)
(3.7.34)
87
donde
Ki , sensibilidad esttica del instrumento ,
Bi
Kis
m/(m/s)
Bi
i , relacin de amortiguacin del instrumento ,
2 Kis Mi
ni , frecuencia natural del instrumento sin amotiguacin ,
(3.7.35)
(3.7.36)
r
Kis
Mi
rad/s
(3.7.37)
(3.7.38)
f = Bi (v x o )
(3.7.39)
(1/Bi ) s2 / 2ni + 2 i s/ ni + 1
v
Ygi (D) = (s) =
f
s2 / 2ni + 1
(3.7.40)
Tambin
y, eliminado xo , se obtiene
(1/Ks ) s
v
(s) = 2 2
Ygo (s) =
f
s / n + 2s/ n + 1
(3.7.41)
(3.7.42)
xo
1
(s)
Ygo (s)/Ygi (s) + 1 vi
Ki 2ni
1
2
s2 + 2 i ni s + 2ni
Bi s + 2ni
2n (1/Ks ) s
+
1
s2 + 2 n s + 2n s2 + 2 i ni s + 2ni
|
{z
}
efecto de la carga
(3.7.43)
88
Figura 3.27:
3.8
89
de la seal. Esas cantidades estticas observadas proporcionan una estimacin buena del
comportamiento futuro de la seal, una vez la observacin peridica es completada, con
tal que:
a. To sea suficientemente extenso, es decir N es suficientemente grande.
b. la seal sea estacionaria, es decir, las cantidades estticas de los trminos grandes no
cambian con el tiempo.
3.8.1
ET h + VSM
ZT h + Rc + ZL
ZL
(ET h + VSM )
ZT h + Rc + ZL
(3.8.1)
(3.8.2)
Esto significa que en un sistema de transmisin de voltaje todo el VSM est a travs de la carga,
esto afecta el siguiente elemento en el sistema y posiblemente resulte un error en el sistema de
medida. Se define la relacin de seal a ruido o seal a interferencia S/N decibeles por
ET h
Ws
S
= 20 log10
= 10 log!0
dB
(3.8.3)
N
VSM
WN
donde ET h y VSM los valores rms de los voltajes, Ws y WN son las correspondientes potencias
de la seal total y del ruido. As si ET h = 1 V, VSM = 0.1 V , S/N = +20 dB.
La Fig.() muestra un sistema de transmisin de corriente sujeto a las mismas series de modo
de interferecnia de voltaje VSM . La fuente de corriente Norton iN se divide en dos partes, una
90
ZN
ZN + Rc + ZL
VSM
ZN + Rc + ZL
(3.8.4)
(3.8.5)
ZL
VSM
ZN
(3.8.6)
Puesto que ZL /ZN 1, esto significa que con un sistema de transmisin de corriente solamente
una pequea fraccin de VSM est a travs de la carga. As un sistema de transmisin de
corriente tiene una mayor inmunidad inherente a las series de modos de interferencia que un
sistema de transmisin de voltaje. En una termocupla el sistema de medida de temperatura,
por esta razn, puede ser mejor convertir los milivoltios de la fem de la temocupla en una seal
de corriente precedente a la transmisin, ms bien que transmitir la fem directamente.
La Fig.(c) muestra un sistema de transmisin de voltaje sujeto a modo comn de interferencia en el cual los potenciales de ambos lados de la seal del circuito son creados por VCM
relativo al plano comn a tierra. Si como, ZL Rc + ZT h , la corriente i 0 para que el
potencial caga a iRc /2 etc. puede ser despreciado. Bajo estas condiciones:
Potencial en B = VCM
Potencial en A = VCM + ET h
y VL = VB VA = ET h .
Esto significa que el voltaje a travs de la carga no est afectado por VCM ; All hay, sin
embargo, la posibilidad de conversin de un voltaje en modo comn a modo serie.
3.8.2
91
(3.8.7)
W =
f1
VRMS = W = 4Rk(f2 f1 )
(3.8.8)
(3.8.9)
92
Captulo 4
Introduccin
4.2
Conceptos Generales
94
4.2.1
El parmetro ms comn usado para describir la tendencia central es la media, la cual se define
por:
n
. x1 + x2 + + xn X xi
=
x
=
n
n
(4.2.1)
i=1
donde los xi son los valores de los datos de la muestra y n es el nmero de mediciones. Para
una poblacin con un nmero finito de elementos, N, con valores xi , la media se denota con el
smbolo y est dada por:
N
. x1 + x2 + + xn X xi
=
=
N
N
(4.2.2)
i=1
Los otros dos parmetros que describen la tendencia central son la mediana y la moda. Si
las mediciones se ordenan en orden creciente o decreciente la mediana es el valor del centro
del conjunto. Si el conjunto tiene un nmero par de elementos, la mediana es el promedio
de los dos valores centrales. La moda es el valor de la variable que corresponde al valor pico
de la probabilidad de ocurrencia del evento. En un espacio muestral discreto, la moda puede
identificarse fcilmente como el valor de ms frecuente ocurrencia. En un espacio muestral
continuo, la moda se toma como el punto medio del intervalo de datos con la frecuencia ms
alta. Para algunas distribuciones (v. gr., distribucin uniforme), puede no existir la moda,
mientras que para otras distribuciones (v. gr., distribucin bimodal) puede haber ms de una
frecuencia pico y ms de una moda. Para una que tenga ms de una moda, las frecuencias
de ocurrencia de cada moda no requieren ser las mismas. Aunque es comn para la media,
la mediana y la moda tener valores muy cercanos, en algunas hojas de datos pueden aparecer
valores significativamente diferentes.
4.2.2
Medidas de Dispersin
Dispersin es la separacin o variabilidad de los datos. Las siguientes cantidades son las ms
utilizadas para representar la magnitud de la dispersin de variables aleatorias alrededor de su
valor medio:
95
(4.2.3)
. X |di |
d =
n
(4.2.4)
i=1
La desviacin estndar de la poblacin, para una poblacin con un nmero finito de elementos, se define como
v
uN
X (xi x
)2
. u
=t
(4.2.5)
N
i=1
(4.2.6)
i=1
La desviacin estndar muestral se usa cuando los datos de una muestra se utilizan para
estimar la desviacin estndar de la poblacin.
96
2
S2
para la poblacin
para una muestra
(4.2.7)
Ejemplo 5 En la Tabla 4.1 se dan los resultados de las mediciones de la temperatura tomadas
en un ducto de gas recalentado. Encontrar los valores correspondientes a los parmetros media,
mediana, desviacin estndar, varianza y moda.
Sol. En la Tabla 4.2 se muestran los datos arreglados para intervalos de temperatura.
Para las mediciones de temperatura de la Tabla 4.1 los resultados son
Media
x
= 1103 C
Mediana
xm = 1104 C
Desviacin estndar
S = 5.79 C
Varianza
S 2 = 33.49 C 2
Moda
m = 1104 C
4.3
Probabilidad
4.3. PROBABILIDAD
97
(4.3.2)
P (xi ) = 1
(4.3.5)
i=1
9. La media de la poblacin para una variable aleatoria discreta, llamada tambin el valor
esperado (esperanza) de x, E(x), est dada por:
=
n
X
xi P (xi ) = E(x)
(4.3.6)
i=1
n
X
(xi )2 P (xi )
i=1
(4.3.7)
98
4.3.1
Para una variable aleatoria continua, una funcin f (x), llamada funcin densidad de probabilidad, se define tal que la probabilidad de la ocurrencia de la variable aleatoria en un intervalo
entre xi y xi + dx est dado por
f (xi )dx = P (xi x xi + dx)
(4.3.8)
f (x)dx
(4.3.9)
Para una variable aleatoria continua, la probabilidad de que x tenga un valor simple nico,
es cero. Si los lmites de intregracin se extienden desde hasta +, se puede asegurar que
la medicin est en el rango y la probabilidad ser P ( x ) = 1.
La definicin de f (x) permite ahora establecer la media de una poblacin con funcin densidad de probabilidad f (x):
Z
xf (x)dx
(4.3.10)
E(x) = =
Este tambin es el valor esperado (esperanza), E(x) de la variable aleatoria, el cual a veces
se denomina primer momento. La varianza de la poblacin est dada por
2 =
(x )2 f (x)dx
(4.3.11)
0
x < 10h
f (x) =
200
x > 10h
x3
f (x) se muestra en la Fig. 4.1.
(a) Calcular la esperanza de vida de los rodamientos.
(b) Si se toma un rodamiento de la lnea de produccin, cul es la probabilidad que su vida
( x) sea menor que 20h, mayor que 20h y, finalmente, 20h?
4.3. PROBABILIDAD
99
0.2
0.1
0
0
12.5
25
37.5
h
xf (x)dx =
10
10
20
f (x)dx =
200
200
x 3 dx =
= 20h
x
x 10
10
0dx +
20
10
200
dx = 0.75
x3
P (x = 20) = 0
4.3.2
La funcin de distribucin acumulativa es otro mtodo para presentar datos para la distribucin
de una variable aleatoria. Esta se utiliza para determinar la probabilidad que una variable
aleatoria tenga un valor menor que o igual que un valor especfico. La funcin distribucin
acumulativa para una variable aleatoria continua (rv) se define como
Z
f (x)dx = P (rv x)
(4.3.12)
F (rv x) = F (x) =
i
X
j=1
P (xi )
(4.3.13)
100
(4.3.14)
P (x > a) = 1 F (a)
Z x
200
100
= 0+
dx = 1 2
para x > 10
3
x
x
10
y
0.75
0.5
0.25
0
0
12.5
25
37.5
50
x
4.3.3
La distribucin binomial est definida para variables aleatorias discretas que pueden tener solamente dos resultados posibles xito o falla. Esta distribucin tiene aplicacin en control de
calidad de la produccin, cuando la calidad de un producto es o aceptable o inaceptable. Las
siguientes condiciones debern ser satisfechas para que la distribucin binomial pueda ser aplicable a un cierto experimento:
4.3. PROBABILIDAD
101
1. Cada ensayo en el experimento puede tener solamente dos posibles resultados, xito o falla.
2. La probabilidad de xito permanece constante a travs del experimento. Esta probabilidad
se denota por p y usualmente se conoce o se estima para una poblacin dada.
3. El experimento consiste de n ensayos independientes.
La distribucin binomial proporciona la probabilidad P de encontrar exactamente r xitos
en un total de n ensayos y se expresa como
n!
n
r
nr
p (1 p)
=
pr (1 p)nr
(4.3.15)
P (r) =
r
r!(n r)!
El nmero xitos esperado en n pruebas para una distribucin binomial es
= np
La desviacin estndar de una distribucin binomial es
p
= np(1 p)
(4.3.16)
(4.3.17)
Ejemplo 8 Un fabricante de una cierta marca de computadores afirma que sus computadores
son con-fiables y que solamente el 10% de las mquinas requiere reparacin durante el perodo de
garanta. Determinar la probabilidad de que en una produccin de 20 computadores, 5 requieren
reparacin en el perodo de garanta.
Sol: Se puede aplicar distribucin binomial debido al resultado de aprobado/fallado del
proceso. se definir xito como no requiere reparacin en el tiempo de garanta, en este caso,
de acuerdo a las pruebas del fabricante, p = 0.9. Otras suposiciones para la aplicacin de esta
distribucin son que todos los ensayos son independientes y que las probabilidades de xito
y fallo son las mismas para todos los computadores. El problema consiste en determinar la
probabilidad P de tener 15 xitos r de todas las 20 mquinas n.
20
P =
0.915 (1 0.9)5 = 0.032
15
La conclusin aqu es que hay una pequea posibilidad (3.2%) de que haya exactamente 5
computadores para reparacin de los 20 dados.
Ejemplo 9 Un fabricante de bombillas ha descubierto que para una produccin dada, el 10%
de las bombillas es defectuoso. Si se compran 4 de estas bombillas, cul es la probabilidad de
encontrar que las cuatro, tres, dos, una y ninguna de las bombillas sea defectuosa?
102
4.3.4
Definicin 3 Sea x una variable aleatoria que toma los valores posibles 0, 1, . . . , n. Si
P (x = k) =
e k
,
k!
k = 0, 1, . . . , n
(4.3.18)
k
X
e
E(x) =
k!
k=0
haciendo = k 1, se encuentra
E(x) =
+1
X
e
=0
De igual manera,
2
E(x ) =
X
e k
=
(k 1)!
X
k2 e k
k=0
k!
k=1
X
e
k=1
X
ke k
k=1
(k 1)!
4.3. PROBABILIDAD
103
X
X
X
e
e +1
e
=
+
= 2 +
E(x ) =
( + 1)
!
!
!
2
=0
=0
=0
Puesto que la primera suma representa E(x) mientras que la segunda suma es igual a uno.
Luego
S(x) = E(x2 ) (E(x))2 = 2 + 2 =
Ntese esta propiedad de la variable aleatoria de Poisson: su esperanza es igual a su varianza.
Existen tablas disponibles para la distribucin de Poisson [19].
4.3.5
(x )2
1
(4.3.19)
f (x) = exp
2 2
2
En esta ecuacin x es la variable aleatoria. La funcin tiene dos parmetros, la dsviacin
estndar de la poblacin, , y la media de la poblacin, . Un grfico de f (x) vs x para valores
diferentes de (0.5, 0.6, 0.8, 1.0, 2.0) y un valor fijo de (2) se muestra en la Fig. 4.3. Como
se ve en la figura, la distribucin es simtrica alrededor del valor medio, y la menor de las
desviaciones estndar es el valor de pico ms alto de en la funcin.
4.3.6
u=
se puede escribir
1
I=
2
2
u
exp
du
2
(4.3.20)
104
0.75
0.5
0.25
0
0
1.25
2.5
3.75
Figura 4.3: Funcin de distribucin normal para el caso donde = 2, = 0.5, 0.6, 0.8, 1.0, 2.0.
Para calcular esta integral, primero se toma el cuadrado de I, es decir,
2
2
Z +
Z +
1
1
u
v
2
du
dv
I =
exp
exp
2
2
2
2
2
Z + Z +
1
u + v2
=
dudv
exp
2
2
(4.3.21)
v = r sen
(4.3.22)
(4.3.23)
Z 2
2
1
r2
e
=
d
2 0
0
Z 2
1
=
d = 1
2 0
Por lo tanto I = 1, lo cual se quera demostrar.
2. Considrese la forma del grfico de f (x). ste tiene la forma de campana indicada en la
Fig. 4.3. Puesto que f(x) depende slo de x mediante la expresin (x )2 , es evidente
4.3. PROBABILIDAD
105
Z x2
Z x2
1
(x )2
P (x1 x x2 ) =
f (x)dx =
exp
dx
(4.3.24)
2 2
2 x1
x1
Puesto que f (x) est en la forma de una funcin de error, la integral anterior no puede
ser evaluada analticamente, por lo que la integracin debe hacerse numricamente. Para
simplificar el proceso de integracin numrica, se modifica el integrando con un cambio de
variable de modo que la integral evaluada numricamente es general y til para todos los
problemas. Una variable adimensional z se define como
z=
(4.3.25)
(4.3.26)
x
x2
x1
(4.3.28)
La probabilidad P (z1 z z2 ) tiene un valor igual al rea demarcada como (z1 y z2)
en la Fig. 4.4. La curva mostrada en la figura es simtrica con respecto al eje vertical en
106
P (z1 z z2 )
2
(4.3.29)
0.4
0.3
0.2
0.1
0
-2.5
-1.25
1.25
2.5
z1 z z2
+ z/2
z/2 x
=1
P z/2 z/2 = P x
/ n
n
n
puede tambin plantearse que
=x
z/2
n
(x )2
x exp
dx
2
(4.3.30)
(4.3.31)
(4.3.32)
4.3. PROBABILIDAD
107
(4.3.33)
(4.3.34)
tiene la propiedad de que g1 (z) = g1 (z), y, por lo tanto, g1 (z) es una funcin impar.
La segunda integral
2
Z +
1
z
dz
(4.3.35)
exp
g2 (z) =
2
2
representa el rea total bajo la funcin densidad de probabilidad total y, por lo tanto, es
(ver el primer tem) igual a la unidad. Luego
E(x) =
5. Considrese
1
E(x ) =
2
2
x
,
(x )2
dx
x exp
2
2
se obtiene
2
Z +
1
z
2
2
dz
(z + ) exp
E(x ) =
2
2
Z +
Z
z 2
1
2 + z2
=
2 z 2 e 2 dz +
ze 2 dz +
2
2
Z +
z 2
2
e 2 dz
+
2
Haciendo nuevamente z =
(4.3.36)
(4.3.37)
-La segunda integral nuevamente es igual a cero por el argumento usado anteriormente.
La ltima integral (sin el factor 2 ) es igual a la unidad. Para calcular la primera integral
2 R +
2
go (z) = 2 z 2 ez /2 dz, se integra por partes, obtenindose
2
go (z) =
2
Luego
z 2 ez
2 /2
Z +
+
2
2
2
2
dz = zez /2
+
ez /2 dz = 0 + 2
2
2
E(x2 ) = 2 + 2
108
4.3.7
(4.3.38)
x p1
(p) = e x
+
(p 1)xp2 ex dx
0
Z 0
= 0 + (p 1)
xp2 ex dx
0
= (p 1)(p 1)
(4.3.39)
Se ve que la funcin gamma sigue una relacin recursiva. Suponiendo que p es un entero positivo,
haciendo p = n y aplicando la ec (4.3.39) repetidamente se obtiene:
(n) = (n 1)(n 1)
= (n 1)(n 2)(n 2)
R
0
= (n 1)(n 2) (1)
ex dx = 1, por lo tanto se obtiene
(n) = (n 1)!
(4.3.40)
Si n es un entero positivo.
Ejercicio 1 Verificar que
( 12 ) =
x1/2 ex dx =
(4.3.41)
4.3. PROBABILIDAD
109
x
( 12 ) =
u2
2
12
x1/2 ex dx =
u2
2
1
2u
2u1 e
dx = udu
u2
2
udu =
Z
2
u2
2
du
(4.3.42)
u2
I=
e
du =
2
2
0
(4.3.43)
f (x) =
(4.3.44)
(4.3.45)
Esta distribucin depende de dos parmetros, r > 0 y > 0. La Fig. 4.5 muestra el grfico
de la ecuacin (4.3.44) para diversos valores de r con = 1 (color negro) y = 12 (color azul).
y
0.75
0.5
0.25
0
0
2.5
7.5
10
x
Figura 4.5: Grfico de la funcin gamma para diferentes valores de los parmetros r y .
110
4.3.8
Si r = 1, la ecuacin (4.3.44) se transforma en f (x) = ex , la cual se denomina distribucin exponencial la cual aparece como un caso especial de la distribucin gamma.
En la mayora de las aplicaciones a probabilidades, el parmetro r ser un entero positivo.
En este caso, existe una relacin entre la funcin de distribucin acumulativa de la funcin
gamma y la distribucin conocida como de Poisson, la cual se expondr en seguida.
Considerando la integral
I=
y r ey
dy
r!
R
en donde r es un entero positivo y a > 0. Luego, r!I = a y r ey dy. Integrando por partes
haciendo u = y r y dv = ey dy, se obtiene
Z
r!I = ea ar + r
yr1 ey dy
a
La integral en esta expresin es exactamente de la misma forma que la integral original con la
sustitucin de r por r 1. As, al continuar integrando por partes, se obtiene
Por tanto
I = ea
I = ea
ar
ar1
a2
+
+ +
+a+1
r!
(r 1)!
21
r
r
X ak X
=
P (y = k)
k!
ki=0
i=0
4.3.9
Funcin de distribucin t
( +1
2 )
( 2 ) 1 +
t2
+1
(4.3.46)
donde (x) es la funcin matemtica conocida como funcin gamma. La Fig. 5.2.16 muestra la
distribucin t Student para diferentes valores de los grados de libertad . Como en la distribucin
normal, stas son curvas simtricas. Cuando el nmero de muestras se incrementa, la distribucin
4.3. PROBABILIDAD
111
y
0.4
0.3
0.2
0.1
0
-2.5
-1.25
1.25
2.5
x
(4.3.47)
S
S
x
P t/2 t/2 = P x
t/2 x
+ t/2
=1
S/ n
n
n
(4.3.48)
(4.3.49)
112
0.100
0.050
0.025
0.010
0.005
1
3.078
6.314
12.706
31.823
63.658
2
1.886
2.920
4.303
6.964
9.925
3
1.638
2.353
3.182
4.541
5.841
4
1.533
2.132
2.776
3.747
4.604
5
1.476
2.015
2.571
3.365
4.032
6
1.440
1.943
2.447
3.143
3.707
7
1.415
1.895
2.365
2.998
3.499
8
1.397
1.860
2.306
2.896
3.355
9
1.383
1.833
2.262
2.821
3.250
10
1.372
1.812
2.228
2.764
3.169
11
1.363
1.796
2.201
2.718
3.106
12
1.356
1.782
2.179
2.681
3.054
13
1.350
1.771
2.160
2.650
3.012
14
1.345
1.761
2.145
2.624
2.977
15
1.341
1.753
2.131.
2.602
2.947
16
1.337
1.746
2.120
2.583
2.921
17
1.333
1.740
2.110
2.567
2.898
18
1.330
1.734
2.101
2.552
2.878
19
1.328
1.729
2.093
2.539
2.861
20
1.325
1.725
2.086
2.528
2.845
21
1.323
1.721
2.080
2.518
2.831
22
1.321
1.717
2.074
2.508
2.819
23
1.319
1.714
2.069
2.500
2.807
24
1.318
1.711
2.064
2.492
2.797
25
1.316
1.708
2.060
2.485
2.787
26
1.315
1.706
2.056
2.479
2.779
27
1.314
1.703
2.052
2.473
2.771
28
1.313
1.701
2.048
2.467
2.763
29
1.311
1.699
2.045
2.462
2.756
30
1.310
1.697
2.042
2.457
2.750
1.283
1.645
1.960
2.326
2.576
4.3. PROBABILIDAD
113
Sol. Puesto que el nmero de muestras es n < 30, se puede utilizar la distribucin t para
estimar el intervalo de confianza. Primero se calcula la media y la desviacin estndar de los
datos
1
x
= (1250 + 1320 + 1542 + 1464 + 1275 + 1383) = 1372.3 h
6
#1/2
" 5
1 X
S=
(xi x
)
= 114 h
5
i=1
50
=x
z/2 = = x
n
de modo que
2
z/2 = 50 y n = z/2
50
n
114 2
n = 1.96
= 20
50
Puesto que n < 30, se puede utilizar la distribucin t en lugar de la distribucin normal. Se
puede usar n = 20 para el siguiente ensayo. Para = n 1 = 19 y /2 = 0.025, de la Tabla 4.3
se obtiene t = 2.093. Este valor de t se puede utilizar con la ecuacin (4.3.49) para estimar un
nuevo valor de n:
S
50
=x
t/2 = x
n
114
114 2
S
n = t/2
= 2.093
= 23
50
50
Se puede usar este nmero como un valor de ensayo y recalcular n, pero resultar siendo el
mismo. Ntese que con pruebas adicionales, el valor promedio de la muestra, x
, tambin puede
cambiar.
4.4
4.4.1
Estimacin de Parmetros
Estimacin del Intervalo de la Media de la Poblacin
x
x
+
(4.4.1)
donde es la incertidumbre y x
es la media muestral. El intervalo x
hasta x
+ se
denomina intervalo de confianza de la media. Sin embargo, el intervalo de confianza depende de
un concepto llamado el nivel de confianza, algunas veces llamado grado de confianza. El nivel de
confianza es la probabilidad de que la media de la poblacin caer entre el intervalo especificado:
Nivel de confianza = P (
x x
+ )
(4.4.2)
El nivel de confianza est normalmente expresado en trminos de una variable llamada nivel
de significancia:
Nivel de confianza = 1
(4.4.3)
es entonces, la probabilidad de que la media caer fuera del intervalo de confianza.
El teorema del lmite central hace posible realizar un estimativo del intervalo de confianza
con un adecuado nivel de confianza. Considrese una poblacin de la variable aleatoria x con un
valor medio y una desviacin estndar . De esta poblacin se podra tomar varias muestras
diferentes cada una de tamao n. Cada una de estas muestras podra tener un valor medio
x
i , pero no se podra esperar que cada una de estas medias tenga el mismo valor. En efecto,
los x
i son valores de una variable aleatoria. El teorema del lmite central establece que si n
es suficientemente grande, los x
i tienden a una distribucin normal y la desviacin estndar de
estas medias estar dada por
(4.4.4)
x =
n
La poblacin no necesita estar distribuida normalmente para que las medias estn distribuidas
normalmente. La desviacin estndar de la media tambin se denomina error estndar de la
media. Para que se pueda aplicar el teorema del lmite central, el tamao n de la muestra,
115
debe ser grande. En la mayora de los casos, el valor de n debe ser superior a 30, para que sea
considerado grande.
Del teorema de lmite central se pueden establecer las siguientes conclusiones:
Si la poblacin original es normal, la distribucin para los x
i ser normal.
Si la poblacin original es no normal y n es grande (n > 30), la distribucin para los x
i
ser normal
Si la poblacin original es no normal y si n < 30, los x
i seguirn una distribucin normal
slo en forma aproximada.
Si el tamao de la muestra es grande, se puede usar directamente el teorema del lmite central
para hacer un estimado del intervalo de confianza. Puesto que x
est distribuido normalmente,
se puede usar el valor z ecuacin (4.3.25):
z=
(4.4.5)
y usar la funcin de distribucin normal estndar para estimar el intervalo de confianza sobre
z. es la desviacin estndar de la poblacin la cual, en general, no se conoce. Sin embargo,
para un tamao grande de muestras, la desviacin estndar de muestras, S, puede usarse como
una aproximacin de .
4.4.2
la funcin
se define como
n
1 X
(xi )2
= 2
(4.4.7)
i=1
S2
2
(4.4.8)
116
por
2 /2
(2 )(2)/2 e
f ( ) =
2/2 (/2)
2
para 2 > 0
(4.4.9)
donde v es el nmero de grados de libertad y es una funcin que se puede obtener de tablas
normalizadas. En la Fig. 4.7 se muestran algunas grficas con variacin del parmetro .
y
0.75
0.5
0.25
0
0
2.5
7.5
10
x
(4.4.10)
es el nivel de significancia como se defini antes y es igual a (1nivel de confianza). Sustituyendo para 2 en la ecuacin (4.4.8), se obtiene
S2
2
2
(4.4.11)
P ,1/2 (n 1) 2 ,/2 = 1
Puesto que 2 es siempre positivo, esta ecuacin puede arreglarse de modo que se pueda dar un
intervalo de confianza sobre la varianza de la poblacin
(n 1)S 2
(n 1)S 2
2
2,/2
2,1/2
(4.4.12)
117
0.3
0.25
0.2
0.15
0.1
0.05
0
0
2.5
7.5
10
x
4.4.3
En algunos experimentos sucede que uno o ms valores medidos aparecen por fuera de lnea
con el resto de datos. Si se puede detectar alguna falla clara en la medicin de aquellos valores
especficos, stos se pueden descartar. Pero a veces es difcil detectar estos datos erroneos.
Existe un nmero de mtodos estadsticos para el rechazo de estos valores. Las bases de estos
mtodos es eliminar los valores que tienen baja probabilidad de ocurrencia. Por ejemplo, los
valores de los datos que se desvan de la media por ms de dos o por ms de tres en la desviacin
estndar debern ser rechazados. Se ha encontrado que el criterio de rechazo denominado
sigmados y sigmatres debe modificarse para tener en cuenta el tamao de la muestra. Ms
an, dependiendo del tipo de criterio de rechazo que se emplee, podran eliminarse datos buenos
e inclurse datos malos.
El mtodo recomendado en el documento de ANSI/ASME, 86 [1] es la tcnica de Thompson
modificada. En este mtodo, si se tienen n medidas con una media x
y una desviacin estndar
S, se pueden arreglar los datos en orden ascendente x1 , x2 , . . . , xn . Los valores extremos (el ms
alto y el ms bajo) son candidatos a rechazo. Para estos puntos descartables, la desviacin, ,
se calcula como
|
i = |xi x
(4.4.13)
118
1.150
1.393
1.572
1.656
1.711
1.749
1.777
1.798
1.815
1.829
n
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
1.840
1.849
1.858
1.865
1.871
1.876
1.881
1.885
1.889
1.893
n
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
1.896
1.899
1.902
1.904
1.906
1.908
1.910
1.911
1.913
1.914
n
33
34
35
36
37
38
39
40
41
42
1.916
1.917
1.919
1.920
1.921
1.922
1.923
1.924
1.925
1.926
(4.4.14)
los valores de los datos se pueden rechazar. De acuerdo a este mtodo, slo el valor de un
dato deber ser eliminado. Se deber recalcular la media y la desviacin estndar de lo datos
restantes y repetirse el proceso. Se deber repetir el proceso hasta que ningn dato deba ser
eliminado.
Ejemplo 12 Se tomaron nueve medidas de tensin en un circuito elctrico obtenindose los
siguientes datos: 12.02, 12.05, 11.96, 11.99, 12.10, 12.03, 12.00, 11.95, 12.16 V. Determine si
algn dato tomado debe ser rechazado.
Sol. Para los nueve valores anteriores, V = 12.03V y S = 0.07.Utilizando la prueba deThompson se obtiene:
Usando la Tabla 4.4 para n = 9, = 1.777. Entonces S = 1.777 0.07 = 0.124. Puesto que
1 = 0.13 > S = 0.124, deber ser rechazado. Ahora deber recalcularse S y V , lo cual da 0.05
y 12.02, respectivamente. Para n = 8, = 1.749, S = 0.09 y ninguno de los datos restantes
deber rechazarse.
4.5
La dispersin debida a errores aleatorios es una caracterstica comn de virtualmente todas las
mediciones. Sin embargo, en algunos casos la dispersin puede ser tan grande que es difcil
119
rxy =
n
P
(xi x
)(yi y)
i=1
n
P
(xi x
)2
i=1
n
P
(yi y)2
i=1
1/2
(4.5.1)
donde x
y y son los valores medios de x y de y obtenidos experimentalmente y estn dados por
n
1X
x
=
xi
n
i=1
1X
y =
yi
n
(4.5.2)
i=1
120
sea realmente lineal para que se pueda calcular un coeficiente de correlacin significativo. Por
ejemplo, una relacin funcional parablica que muestre una pequea dispersin en los datos
puede mostrar un alto valor en el coeficiente de correlacin. Por otra parte, algunas relaciones
funcionales, mientras sean ms fuertes (v.gr., funciones circulares multivaloradas) resultaran
en un valor muy bajo de rxy .
Se deben tener otras precauciones cuando se usan coeficientes de correlacin:
Un simple valor de los datos mal tomado, puede ocasionar un efecto fuerte en los valores
de rxy .
Tambin es un error concluir que un valor significativo del coeficiente de correlacin implica que un cambio en una variable causa un cambio en la otra. La casualidad deber
determinarse desde otro ngulo del problema
Ejemplo 13 Se sabe que los tiempos por vuelta en una carrera de automviles dependen de la
temperatura ambiente. Se tomaron en la misma pista, en diferentes carreras, para el mismo
carro y con el mismo piloto, los siguientes datos:
Temperatura ambiente ( C)
Tiempo por vuelta (s)
4.4
65.3
8.3
66.5
12.8
67.3
16.7
67.8
18.9
67
31.1
66.6
y
4.4
8.3
12.8
16.7
18.9
P 31.1
= 92.2
y = 15.367
xx
1.45
0.25
0.55
1.05
0.25
0.15
(x x
)2
2.10
0.06
0.30
1.10
0.06
P 0.02
= 3.66
y y
10.967
7.067
2.567
1.333
3.533
15.733
(y y)2
120.28
49.94
6.59
1.78
12.48
P247.53
= 438.6
(x x
)(y y)
15. 90
1. 77
1. 41
1. 40
0.88
P -2. 36
= 16. 18
121
rxy =
n
P
(xi x
)(yi y)
i=1
n
P
(xi x
)2
i=1
n
P
(yi y)2
i=1
1/2 =
16. 18
[3.66 438.6]1/2
= 0.403 83
Para un nivel de confianza de 95%, = 1 0.95 = 0.05. Para los seis pares de datos, de
la Tabla 4.5, se obtieneun valor de rt = 0.811. Puesto que rxy < rt , se puede concluir que la
aparente tendencia en los datos es probablemente causada por pura casualidad.
4.6
Ajuste de Curvas
4.6.1
Regresin lineal
122
se escoge una clase de frmulas posibles y entonces se deben determinar los coeficientes. Hay
muchas posibilidades diferentes que pueden utilizarse para un cierto tipo de funcin. Hay a
menudo, un modelo matemtico subyacente, basado en la situacin fsica, que determinar la
forma de la funcin. En esta seccin se enfatizar la clase de funciones lineales de la forma:
y = f (x) = Ax + B
(4.6.1)
Si se conocen todos los valores numricos {xk }, {yk } con varios digitos significativos de precisin, entonces la interpolacin polinomial se puede usar exitosamente; de otra forma no. Cmo
encontrar la mejor aproximacin lineal de la forma de la ecuacin (4.6.1) que se ajuste cercanamente a estos puntos? Para responder a esta pregunta, se requiere discutir los errores (tambin
llamados desviaciones o residuos), es decir:
ek = f (xk ) yk
para 1 k n
(4.6.2)
Hay varias normas que pueden ser usadas con los residuos en la ecuacin (4.6.2) para medir
cuan cerca de la curva y = f (x) estn los datos.
Mximo error
(4.6.3)
Error promedio
E1 (f ) =
1X
|f (xk ) yk |
n
(4.6.4)
!1
(4.6.5)
k=1
Error RMS
E2 (f ) =
Eyx
1X
|f (xk ) yk |2
n
k=1
v
uP
n
n
P
P
u n 2
yk B
yk A
xk yk
u
t
k=1
k=1
= k=1
n2
(4.6.6)
123
Teorema 2 (Ajuste de una lnea recta utilizando mnimos cuadrados) Supngase que
{(xk , yk )}nk=1 son n puntos, donde las abscisa {xk , }nk=1 son distintos. Los coeficientes de la lnea
de mnimos cuadrados y = Ax + B son las solucin del siguiente sistema lineal conocido como
la ecuacin normal.
y
0
0
1.25
2.5
3.75
5
x
Figura 4.10: Las distancias verticales entre los puntos {(xk , yk )} y la lnea definida con mnimos
cuadrados y = Ax + B.
n
P
k=1
n
P
k=1
x2k
xk
n
P
xk
A =
B
n
k=1
n
P
xk yk
yk
k=1
n
P
(4.6.7)
k=1
(4.6.8)
k=1
El valor mnimo de E(A, B) se determina haciendo las derivadas parciales E/A y E/B
iguales a cero y resolviendo estas ecuaciones para A y B. Ntese que {xk } y {yk } son constantes
en la ecuacin (4.6.8) y que A y B son las variables. Fijando B, y derivando E(A, B) con
respecto a A, se obtiene
n
k=1
k=1
X
E(A, B) X
=
2(Axk + B yk )(xk ) = 2
(Ax2k + Bxk xk yk )
A
(4.6.9)
124
X
E(A, B) X
=
2(Axk + B yk ) = 2
(Axk + B yk )
B
k=1
(4.6.10)
k=1
Haciendo las derivadas parciales iguales a cero en (4.6.9) y (4.6.10), y usando la propiedad
de distribucin de la suma se llega a:
0=
n
n
n
n
X
X
X
X
(Ax2k + Bxk xk yk ) = A
x2k + B
xk
xk yk
k=1
0=
k=1
k=1
n
n
n
X
X
X
(Axk + B yk ) = A
xk + nB
yk
k=1
k=1
(4.6.11)
k=1
(4.6.12)
k=1
Sol. El siguiente programa en Matlab resuelve el problema. Ntese que tambin aparecen
los valores de los puntos dados. En la grfica de la Fig. 4.11 se muestra la mejor recta factible
para este problema.
X=[-1,0,1,2,3,4,5,6];
Y=[10,9,7,5,4,3,0,-1];
D=length(X)*sum(X*X)-sum(X)*sum(X);
A=1/D*(length(X)*sum(X*Y)-sum(X)*sum(Y));
B=1/D*(sum(X*X)*sum(Y)-sum(X)*sum(X*Y));
fprintf(A= %12.3f\n,A)
fprintf(B= %12.3f\n,B)
x=-2:0.01:10;
y=A*x+B;
plot(x,y)
hold on
plot(X,Y,r*)
hold off
grid on
xlabel(x),ylabel(y)
title(Ajuste de una recta usando mnimos cuadrados )
La mejor recta resultante ser
y = 1.607x + 8.643
125
A j u s t e d e u n a r e c t a u s a n d o m n i m o s c u a d r a d o s
12
10
8
6
4
2
0
-2
-4
-6
-8
-2
4
x
10
Esto representa la desviacin de los datos y alrededor de los datos predichos por la mejor
lnea de ajuste. La mejor lnea de ajuste, junto con los datos se encuentra graficada en la Fig.
4.11. La regresin lineal de dos variables es una caracterstica estndar en la mayora de los
programas de hoja de clculo en los computadores, requiriendo solamente la entrada de dos
columnas de nmeros.
Ejemplo 14 La siguiente tabla representa la salida (V ) de un transformador diferencial variable
lineal (LVDT) para cinco datos de entrada. Determinar la mejor recta que se ajuste a estos datos
y hacer la grfica correspondiente.
L [cm]
v[v]
0.00
0.05
0.50
0.52
1.00
1.03
1.50
1.50
2.00
2.00
2.50
2.56
Sol. Para resolver el problema, aplicamos los datos en el programa del Problema 1, obetindose:
A = 0.9977
B = 0.0295
126
n
n
X
X
X
14.137
0.0295
7.66
0.9977
13.94
1 u
2
t
Eyx =
y B
yk A
xk yk =
= 0.0278
62
n 2 k=1 k
k=1
k=1
Esto representa la desviacin de los datos de y alrededor de los datos predichos por la mejor
lnea recta. Esta recta, junto con los datos se grafica en la Fig. 4.12.
4.6.2
Algunas situaciones involucran f (x) = AxM , donde M es una constante conocida. En este caso
hay solamente un parmetro A es determinado.
Teorema 3 Ajuste a una funcin potencia. Supngase que {(xk , yk )}nk=1 son n puntos,
donde las abscisas son distintas. El coeficiente A de la curva de potencia con aproximacin por
mnimos cuadrados y = AxM est dada por
127
A=
n
P
k=1
n
P
xM
k yk
(4.6.13)
k=1
x2M
k
(4.6.14)
k=1
(4.6.15)
k=1
n
X
x2M
k
k=1
n
X
xM
k yk
(4.6.16)
k=1
4.6.3
(4.6.17)
(4.6.18)
X (x)
B = ln(C)
(4.6.19)
(4.6.20)
128
Los puntos originales (xk , yk ) en el plano xy se transforman en los puntos (Xk , Yk ) = (xk , ln(yk ))
en el plano XY. Este proceso es llamado linealizacin de datos.Entonces el mtodo de mnimos
cuadrados de la ecuacin (4.6.20) ajusta la lnea a los puntos {(Xk , Yk )}. Las ecuaciones normalizadas para encontrar A y B son:
n
n
n
P 2 P
P
k=1 Xk Yk
k=1 Xk k=1 Xk A
n
=
(4.6.21)
n
P
B
P
Xk
n
Yk
k=1
k=1
(4.6.22)
= {(0, 0.40547), (1, 0.91629), (2, 1.25276), (3, 1.60944), (4, 2.01490)}(4.6.23)
La ecuacin de la recta Y = AX + B ajustada por mnimos cuadrados para los puntos (4.6.23)
est dada despus de clculos (ver Problema 1) por
Y = 0.391202X + 0.457367
(4.6.24)
(4.6.25)
4.6.4
Ajuste polinomial
Cuando el mtodoprecedente se adapta para usar las funciones {fj (x) = xj1 }y el ndice de los
rangos de sumacin desde j = 1 hasta j = m + 1, la funcin f (x) ser un polinomio de grado
m:
(4.6.26)
f (x) = c1 + c2 x + c3 x2 + + cm+1 xm
Ahora se mostrar como encontrar, v. gr., la parbola con mnimos cuadrados, y la extensin
a un polinomio de grado ms alto.
129
2.5
1.5
0.5
0
0
1.25
2.5
3.75
5
x
(4.6.27)
x4k
k=1
n
X
k=1
x3k
!
!
A+
n
X
x3k
k=1
A+
n
X
k=1
n
X
x2k
k=1
x2k
!
!
A+
B+
n
X
x2k
k=1
B+
n
X
k=1
n
X
k=1
xk
xk
!
!
C =
C =
B + nC =
n
X
k=1
n
X
yk x2k
yk xk
(4.6.28)
k=1
n
X
yk
k=1
0 = E(A, B, C) =
n
X
k=1
Ax2k + Bxk + C yk
(4.6.29)
130
10
7.5
2.5
0
0
1.25
2.5
3.75
5
x
0 =
E
=2
Ax2k + Bxk + C yk (x2k )
A
k=1
0 =
0 =
E
=2
B
E
=2
C
n
X
k=1
n
X
k=1
(4.6.30)
Axk + Bxk + C yk
Pn
P
P
2
A
x4k Pnk=1 x3k Pnk=1 x2k
k=1 yk xk
Pk=1
P
n
n
2
nk=1 x3
B = nk=1 yk xk
(4.6.31)
k=1 xk
k Pk=1 xk
Pn
Pn
n
2
n
C
k=1 xk
k=1 xk
k=1 yk
que es la misma expresin dada por la ecuacin (4.6.30)
Ejemplo 16 Encontrar la parbola con mnimos cuadrados para los cuatro puntos (3, 3), (0, 1), (2, 1)
y (4, 3).
Sol. Los datos y operaciones de suma
El sistema lineal quedar:
353 45
45 29
29 3
29
A
79
3 B = 5
4
C
8
131
2.5
1.5
0.5
0
-2.5
-1.25
1.25
2.5
3.75
x
4.6.5
El anlisis estadstico y la presentacin de los datos ha llegado a ser una caracterstica necesaria de muchos proyectos de ingeniera y administracin. La mayora de las hojas de clculo
electrnico contienen funciones estadsticas y algunos programas contienen altas capacidades esR
R
R
R
tadsticas (v. gr., Matlab , SWP , Stella , Excel , etc.). Los mejores programas contienen
no solamente clculos par determinar la media y la dispersin estndar, ordenamiento de datos
e histogramas, sino tambin clculos de coeficientes de regresin lineal y no lineal, coeficientes
R
132
Tabla 4.5: Valores mnimos del coeficiente de correlacin para un nivel de significancia a.
n
0.2
0.1
0.05
0.02
0.01
3
0.951 0.988 0.997 1.000 1.000
4
0.800 0.900 0.950 0.980 0.990
5
0.687 0.805 0.878 0.934 0.959
6
0.608 0.729 0.811 0.882 0.917
7
0.551 0.669 0.754 0.833 0.875
8
0.507 0.621 0.707 0.789 0.834
9
0.472 0.582 0.666 0.750 0.798
10
0.443 0.549 0.632 0.715 0.765
11
0.419 0.521 0.602 0.685 0.735
12
0.398 0.497 0.576 0.658 0.708
13
0.380 0.476 0.553 0.634 0.684
14
0.365 0.458 0.532 0.612 0.661
15
0.351 0.441 0.514 0.592 0.641
16
0.338 0.426 0.497 0.574 0.623
17
0.327 0.412 0.482 0.558 0.606
18
0.317 0.400 0.468 0.543 0.590
19
0.308 0.389 0.456 0.529 0.575
20
0.299 0.378 0.444 0.516 0.561
25
0.265 0.337 0.396 0.462 0.505
30
0.241 0.306 0.361 0.423 0.463
35
0.222 0.283 0.334 0.392 0.430
40
0.207 0.264 0.312 0.367 0.403
45
0.195 0.248 0.294 0.346 0.380
50
0.184 0.235 0.279 0.328 0.361
100 0.129 0.166 0.197 0.233 0.257
200 0.091 0.116 0.138 0.163 0.180
Captulo 5
Incertidumbre Experimental
5.1
Introduccin
5.2
(5.2.1)
134
Las xi son las cantidades medidas (salidas de instrumento o componentes). Se puede relacionar un pequeo cambio en R, con pequeos cambios en los xi , xi a travs de la expresin
diferencial
n
R =
X R
R
R
R
x1 +
x2 + +
xn =
xi
x1
x2
xn
xi
(5.2.2)
i=1
Esta ecuacin es exacta si los son infinitesimales: de otra forma, es una aproximacin. Si
R es un resultado calculado basado en los xi medidos, se pueden reemplazar los valores de los
xi por las incertidumbres en las variables, denotadas por wxi y R se puede reemplazar por la
incertidumbre en el resultado denotada por wR .
Cada uno de los trminos de la ecuacin (5.2.2) puede ser positivo o negativo y, puesto que
se designarn los w como un rango ms/menos para la mayora de los errores probables, la
ecuacin (5.2.2) no producir un valor verdadero para wR . Podra ser posible, en principio, que
los trminos positivos y negativos llegaran a cancelarse obtenindose eventualmente un valor de
cero para wR. Por lo tanto, se utiliza estimar el valor de la incertidumbre de R haciendo positivos
todos los trminos del miembro de la derecha de la ecuacin (5.2.2). En forma matemtica,
quedar:
n
X
R
w
wR =
x
i
xi
(5.2.3)
i=1
No es muy probable que todos los trminos en la ecuacin (5.2.2) sean simultneamente
positivos o que los errores en los x individuales estn en el extremo del intervalo de incertidumbre.
Consecuentemente, la ecuacin (5.2.3) producir un estimativo muy alto para wR . Un mejor
estimativo para la incertidumbre est dado por
v
u n
2
uX R
t
wx
(5.2.4)
wR =
xi i
i=1
Las bases conceptuales para la ecuacin (5.2.4) se discuten, v.gr., en Coleman y Steel [9].
A veces se conoce como raiz cuadrada de la suma de los cuadrados (rcs). Cuando se usa la
ecuacin (5.2.4), el nivel de confianza en la incertidumbre del resultado R, ser la misma que los
niveles de confianza de las incertidumbres en los x. Como conclusin, es conveniente que todas
las incertidumbres utilizadas en la ecuacin (5.2.4) sean evaluadas al mismo nivel de confianza.
Hay una restriccin significativa para el uso de la ecuacin (5.2.4). Cada una de las variables,
como se dijo al principio, deben ser independientes entre si. Esto es, un error en una variable
no deber estar correlacionado con el error en otra. Si las variables no son independientes, la
formulacin es ligeramente diferente y se discute en [1] y en [9].
Cuando en el problema se conoce una cierta precisin total necesaria y se desea saber qu
precisiones se requieren en los componentes, puede emplearse un mtodo aproximativo. Para
135
ello es posible apreciar que este problema es matemticamente indeterminado, ya que existe un
nmero infinito de combinacin de estimativos para las incertidumbres individuales que puedan
dar por resultado la misma incertidumbre total. Los medios para eliminar esta dificultad se
encuentran en el mtodo de efectos iguales. En esta teora se supone simplemente que cada
fuente de error contribuir con una cantidad de error igual. Matemticamente, si
v
u n
2
uX R
t
wx
wR =
xi i
i=1
(5.2.5)
(5.2.6)
De esta expresin, se puede obtener el error admisible, wx para cada medida que deba realizarse.
Ejemplo 17 Para calcular el consumo de potencia en un circuito resistivo, se han medido la
tensin y la corriente en el mismo encontrndose para la tensin V = 120 2 V y para la corriente I = 10 0.2 A.Calcular el errormximo posible y el mejor estimativo de la incertidumbre
en el clculo de la potencia. Suponer el mismo nivel de confianza para V e I.
Sol. Escribiendo la ecuacin de potencia P = V I y calculando las derivadas parciales
respecto a V e I se obtiene
P
= I = 10A
V
R
= V = 120V
I
Entonces
wP max
wP
P
P
wV +
wI = 10 2 + 120 0.2 = 44W
=
V
I
s
2
2 p
P
P
wV
wI
=
+
= (10 2)2 + (120 0.2)2 = 31.24W
V
I
136
R = Cx1 1 x2 2 xnn
(5.2.7)
(5.2.8)
i=1
Esta frmula es ms fcil de usar puesto que el error fraccional en el resultado R, est
relacionado directamente con los errores fraccionales en las medidas individuales. Cada uno de
los exponentes 1 , 2 , , n puede ser positivo o negativo.
Una caracterstica importante de las ecuaciones (5.2.4) y (5.2.8) es que, puesto que los
trminos individuales son elevados al cuadrado antes de sumarse, los trminos de valor mayor
tienden a ser dominantes. La ecuacin (5.2.4) tambin se puede utilizar en la fase de diseo de
un esperimento para determinar la precisin requerida de los instrumentos y otros componentes.
Ejemplo 18 Considrese un experimento para medir, por medio de un dinammetro, el promedio de potencia transmitida por un eje giratorio. La frmula para la potencia en caballos de
fuerza puede escribirse como:
2LF
(5.2.9)
Php =
550t
donde $ revoluciones del eje durante el tiempo t, L $ longitud del brazo del par motor,
[pies], F $ fuerza en el extremo del brazo del par, [lbf], t $ tiempo que dura el experimento,
[s].Si para una observacin especfica los datos son:
= 1202 1.0 rev
L = 15.63 0.05
t = 60.00 0.50 s
t
60
Php
F
1202 10.12
=
= 9.52 104
= 0.19301
L
t
60
Php
L
1202 15.63
=
= 9.52 104
= 0.29809
F
t
60
Php
LF
1202 15.63 10.12
= 2 = 9.52 104
= 5.0278 102
t
t
602
Php =
(5.2.10)
137
whpmax =
w +
wL +
wF +
wt
L
F
t
whpmax = 2.5097 103 1.0 + 0.19301 0.05 + 0.29809 0.04 + 5.0278 102 0.5
LF
1202 15.63 10.12
= 9.52 104
= 3.0167 hp
t
60
whp =
whp =
Php
w
Php
wL
L
Php
wF
F
Php
wt
t
p
(2.5097 103 1.0)2 + (0.19301 0.05)2 + (0.29809 0.04)2 + (5.0278 102 0.5)2
Se puede observar que whp < whpmax Se puede afirmar que el error es quiz tan grande como
0.049hp, pero probablemente no mayor que 0.029 hp.
Supngase que en el ejemplo anterior se desea medir la potencia con una precisin del
0.5%.Qu precisiones se requieren en las medidas individuales?
Sol. Utilizando la ecuacin (5.2.6), se obtiene para cada parmetro:
w =
wL =
wF
wt =
wR
R
n
wR
R
n L
wR
R
n F
wR
R
n t
3.0167 0.005
= 3.005rev
=
4 2.5097 103
3.0167 0.005
=
= 3.9074 102 pulg
4 0.19301
3.0167 0.005
= 0.0253lbf
=
4 0.29809
3.0167 0.005
= 0.15s
=
4 5.0278 102
(5.2.11)
(5.2.12)
(5.2.13)
(5.2.14)
Si se encuentra que el mejor instrumento y tcnica disponibles para medir, v. gr., la fuerza, F,
son buenos slo hasta 0.04 lbf en lugar de 0.025 lbf que pide la ecuacin (5.2.13), esto significa
138
necesariamente que Php no medirse al 0.5%. Sin embargo, ello no quiere decir que una o ms
de las otras cantidades (, L o t), deban medirse con mayor precisin que la requerida en las
ecuaciones (5.2.11), (5.2.12) y (5.2.14), respectivamente. Haciendo una o ms de estas medidas
con mayor precisin, puede contrarrestarse el error excesivo en la medida de F.
5.2.1
En las primeras fases del diseo de un experimento, no es prctico separar los efectos del sesgo
y los errores de precisin. Se puede usar la ecuacin (5.2.4) con estas incertidumbres de las
variables medidas para estimar la incertidumbre resultante. En un anlisis ms detallado, es
deseable mantener separado el anlisis de la incertidumbre en el sesgo (sistemtica) con la
incertidumbre en la precisin (aleatoria). Estas incertidumbres conocidas como lmite de sesgo
y lmite de precisin, respectivamente, se denotan por los smbolos B y P. El error de precisin
es aleatorio en medidas individuales y su estimacin depende del tamao de la muestra. El error
de sesgo no vara durante lecturas repetidas y es independiente del tamao de la muestra.
El error de precisin usualmente se determina por mediciones repetidas de la variable de
inters (o mediciones repetidas en pruebas de calibracin). Los datos medidos se usan para calcular la desviacin estndar muestral de las mediciones, la cual se denomina ndice de precisin,
Sx en anlisis de incertidumbre.
"
#1
n
2
1 X
2
Sx =
(xi x
)
(5.2.15)
n1
i=1
Entonces se puede determinar el lmite de precisin, Pxi , para una medida simple xi puede
entonces estimarse utilizando el mtodo t Student :
Pxi = tSx
(5.2.16)
donde t es la funcin de nivel de confianza (v.gr., 95%) y los grados de libertad. El uso de
la distribucin t en la ec (5.2.16) es diferente de la discusin de la distribucin t dada en la
desigualdad (4.4.14). En ese caso la distribucin t se aplica solamente al intervalo de confianza
sobre la media de un conjunto de medidas. En ANSI/ASME 86 [1]; sin embargo, la distribucin
t se aplica al clculo del intervalo de confianza de una medida individual cuando la desviacin
estndar se basa en una muestra pequea. Si se desea predecir la incertidumbre de la media, x
,
de las medidas (xi ), se sigue la formulacin dada antes. Puesto que la desvicin estndar de la
media se relaciona con la desviacin estndar de las mediciones por
Sx
Sx =
n
(5.2.17)
(5.2.18)
139
(5.2.19)
El lmite de sesgo, B, permanece constante si se repite la prueba bajo las mismas condiciones.
Los errores de sesgo incluyen aquellos errores que son conocidos pero no se han eliminado por
medio de calibracin y otros errores fijos que pueden ser estimados pero no eliminados del proceso
de medida.
Para combinar las incertidumbres de precisin y sesgo, se usa la expresin
p
w = P 2 + B2
(5.2.20)
1X
xi = 49180 kJ/kg
n
P
1
(xi x
)2 2
= 566.3 kJ/kg
Sz =
n1
140
= 404.7kJ/kg
Px = =
n
10
Ejercicio 2 La especificacin dada por el fabricante para el calormetro en el ejemplo anterior,
establece que el calormetro tiene una precisin de 1.5% del rango total de 0 a 100000 kJ/kg.
Calcular el estimativo de la incertidumbre total (a) del valor medio de las medidas del ejemplo,
(b) una medida del valor calrico dado como 49500 kJ/kg, el cual fue medido posteriormente a
las medidas dadas en el ejemplo.
Sol. Los datos disponibles son:
Valor medio
x
= 49180 kJ/kg
Lmite de precisin de la media
Px = 404.7 kJ/kg
Lmite de precisin del valor individual Pi = 1280 kJ/kg
Error de sesgo
B = 0.015 105 = 1500 kJ/kg
Se ha supuesto que la exactitud est definida slo con el error de sesgo
(a) El lmite de precisin de la media es 404.7 kJ/kg. De acuerdo a la ec (5.2.20), la
incertidumbre total de la medida con un nivel de confianza de 95% ser
p
p
w = P 2 + B 2 = 404.72 + 15002 = 1553. 6 kJ/kg
141
(5.2.21)
Tc = Tg Ts = (Ts4 Tw4 )
h
es la constante de StefanBoltzmann, la cual tiene un valor de 5.669108 W/m2 K, h es el
coeficiente de transferencia de calor entre el gas y el sensor de temperatura y es la emisividad
de la
superficie del sensor de temperatura. La temperatura debe estar en K. El valor de es
+0.1
0.9 +
y el valor de h es 50 10 W/m2 K. Se puede despreciar la incertidumbre en la
0.2
medida de la temperatura. Determinar (a) La correccin de la temperatura y (b) la incertidumbre
en la correccin.
Sol. (a) Sustituyendo en la ecuacin (5.2.21) se obtiene
Tc = Tg Ts =
(b) Se puede utilizar la ecuacin (5.2.8) para estimar las incertidumbres. Se debe notar que
el intervalo de la incertidumbre positiva es diferente al de la negativa, debido a que la emisividad
tiene incertidumbre asimtrica.
"
2 #1/2 " 2 2 #1/2
w+
0.1
10
wh 2
+
+
=
+
= 0.228 79
wT =
h
0.9
50
+
wT
= 0.228 79 86 = 19. 676 K
142
wT
=
"
w 2
h
#1/2
"
0.2
0.9
10
50
2 #1/2
= 0.298 97
= 0.298 97 86 = 25.711 K
wT
+19.7
25.7
+19.7
a un intervalo de
. Es este intervalo el que
As se ha reducido el error de sesgo de
25.7
deber aplicarse en un anlisis completo de la incertidumbre. El error de sesgo mximo se ha
reducido a menos de un tercio de su valor original.
86
Captulo 6
Introduccin
6.2
Transductores potenciomtricos
A
+
vi
-
|
x Rf(x)
|
B
+
o
-
144
Cursor
vS
vO
145
6.2.1
(6.2.1)
y como para x = xmax (cursor lo ms alejado posible del extremo de referencia) se cumple que
f (xmax ) = 1 = Kxmax
se tiene
f (x) =
6.2.2
x
xmax
= v0 =
x
xmax
vi
(6.2.2)
x
f (x) = M log A
+B
xmax
(6.2.3)
1
log(A + 1)
x
log A xmax
+1
log(A + 1)
(6.2.4)
x
1
v0 = f (x)vi =
log A
+ 1 vi
log(A + 1)
xmax
(6.2.5)
146
0.75
0.5
0.25
0
0
0.25
0.5
0.75
1
x
Figura 6.3: Respuesta de una funcin logartmica: lnea continua A = 1, lnea de trazos A = 10,
lnea punteada A = 100.
De lo anterior se deduce que existen infinitas funciones posibles haciendo variar el parmetro A.
Para A = 0 se tiene el caso particular del potencimetro lineal. Por otra parte, es de observar que
el carcter de la funcin logartmica es absolutamente general ya que no se ha hecho referencia
a la base de la misma. En la Fig. 6.3 se observa la respuesta normalizada para algunos valores
de A.
Los potencimetros antilogartmicos corresponden a una funcin f (x) inversa de la correspondiente a los logartmicos y, mediante razonamiento similar, se llega a la forma analtica:
f (x) =
x
1
(A + 1) xmax 1
A
o sea
(6.2.6)
(A + 1) xmax 1
v0 =
vi
A
(6.2.7)
x
, es decir, el potencimetro
Al igual que en el caso anterior, para A = 0 se obtiene f (x) = xmax
lineal. La respuesta normalizada para algunos valores de A, aparecen graficados en la Fig. 6.4.
6.2.3
Potencimetros trigonomtricos
147
0.75
0.5
0.25
0
0
0.25
0.5
0.75
1
x
Figura 6.4: Respuesta de una funcin exponencial: lnea continua A = 1, lnea de trazos A = 10,
lnea punteada A = 100.
Por supuesto, la resistencia estar diseada de modo que su variacin con el ngulo responda
a la funcin trigonomtrica. Realmente, se trata de cuatro potencimetros ya que se tiene un
elemento resistivo por cada cuadrante. Considerando, por ejemplo, el cursor que forma un
ngulo con la horizontal, puede escribirse:
v0 =
R()
vi = vi sen
R( 2 )
o sea
R() = R( )sen
2
en el primer cuadrante. El potencimetro completo estar constituido por resistencias simtricas
con la misma ley de variacin, dispuestas en los cuatro cuadrantes.
6.2.4
Potencimetros Funcionales
148
6.2.5
ZL Rf (x)
ZL + Rf (x)
ZL + Rf (x) [1 f (x)]
R
ZL + Rf (x)
(6.2.8)
149
R2 f (x) [1 f (x)]
= Rf (x) [1 f (x)]
R
Derivando esta ltima expresin e igualando a cero, se obtiene
Zo =
dZi
df (x)
(6.2.9)
= R [1 2f (x)] = 0
1
(6.2.10)
2
de donde se deduce que la impedancia de salida es mxima cuando las resistencias entre el cursor
y los extremos son iguales.
f (x) =
Ejemplo 21 Un potencimetro lineal de resistencia R est cargado por una resistencia de valor
kR. Sea la proporcin del recorrido total del contacto deslizante (6.7). Encontrar la la expresin de la salida del potencimetro versus .
Solucin: La salida se mide a travs de la resistencia R en paralelo con kR. Se computa la
razn k de la salida respecto a la entrada. Tratando la Fig. como un divisor de voltaje.
E0
H=
=
Ei
R(kR)
R+kR
R(kR)
R+kR + (1 )R
150
vi
R
vo
kR
k
++k
2 (1 )
3 + 2 + k k
=
2 + + k
2 + k
y
0.125
0.1
0.075
0.05
0.025
0
0
0.25
0.5
0.75
1
x
Grfico adimensional del error por unidad del potencimetro en funcin de la rotacin del eje.
En aplicaciones de gran precisin, el potencimetro se carga muy ligeramente, o sea, k > 10.
Para esta condicin
2
(1 )
(6.2.11)
=
k
151
0.15
0.125
y
0.1
0.075
0.05
0.025
0
0.25
0.5
0.75
Figura 6.8: Grfico adimensional del error por unidad del potencimetro en funcin de la rotacin
del eje.
Ejercicio 3 Usando (6.2.11), encontrar el punto donde el error de no linealidad es mximo.
Solucin: Se encuentra max por diferenciacin respecto de . Como =
d
1
= (2 32 ) = 0,
d
k
2 3
k ,
(2 3) = 0
Resolviendo para ,
2
3
Evidentemente, la curva de error tiene pendiente cero en el origen y un valor mximo en = 2/3,
aproximadamente.
1 = 0,
2 =
Ejercicio 4 Usando (6.2.11), encontrar el valor del mximo error debido a la carga. Dibujar
versus .
Solucin: Se sustituye = 2/3 en (6.2.11):
=
( 2 )2 (1 23 )
1 4 1
4
2 (1 )
= 3
= =
k
k
k 9 3
27k
Si k = 10
=
4
= 1.5%
270
152
Ejercicio 5 Analizar las no linealidades que pueden desarrollarse cargando ya sea la parte superior o la parte inferior del potencimetro de la Fig. (6.9).
(1-)R
k2R
+
vi
R
k1R
vo
k1 R(R)
k1 R+R
k1 R(R)
(k2 R)(1)R
k1 R+R + k2 R+(1)R
Simplificando la expresin de H:
H=
k1 (k2 + 1 )
k1 (k2 + 1 ) + k2 (1 )(k1 + )
o
H=
k1 (k2 + 1 )
2 (k1 + k2 ) + (k1 + k2 ) + k1 k2
2 k2
k1 k2
k1
=
2
+ k2 + k1 k2
+ + k1
A continuacin se hace k1 = :
H2 =
k1 (k2 + 1 )
(k2 + 1 )
=
2
k1 + k1 + k1 k2
2 + + k2
153
1
0.9
0.8
y
0.7
0.6
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
0
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
Figura 6.10: Curvas de carga de potencimetros usados para formar funciones no lineales.
La Fig. 6.10 muestra el grfico de k1 y k2 versus el ngulo del eje para varios valores de k1
y k2 . las curvas universales del diagrama permiten una investigacin simple de las posibilidades
de modelacin no lineal de curvas.
Ejemplo 23 Tomando como referencia la Fig. (6.11), demostrar que el voltaje del punto nulo
corresponde a la suma de los voltajes de entrada.
+
v1
v2
vn
V
I1
In
I2
Rn
R2
R1
RL
154
V1 V0
R1
V2 V0
R2
V3 V0
R3
Vn V0
Rn
donde
G1 , G2 , G3 , . . . , Gn =
= (V1 V0 )G1
= (V2 V0 )G2
= (V3 V0 )G3
= (Vn V0 )Gn
1 1 1
1
,
,
, ,
R1 R2 R3
Rn
Como la suma de las corrientes que entran al nodo deben ser igual a la corriente que circula
desde el punto 0 a tierra,
(V1 V0 )G1 + (V2 V0 )G2 + (V3 V0 )G3 + + (Vn V0 )Gn = V0 G0
Reordando,
V1 G1 + V2 G2 + V3 G3 + + Vn Gn = V0 (G1 + G2 + G3 + + Gn )
Disponiendo
G1 + G2 + G3 + + Gn = GT
la conductancia total a tierra desde el punto 0; entonces
V0 = V1
G1
G2
G3
Gn
+ V2
+ V3
+ + Vn
GT
GT
GT
GT
(6.2.12)
El voltaje V0 del nodo es la suma de los voltajes individuales aplicados, cada uno multiplicado
por un factor de escalmiento apropiado tal como se requiere.
Ejemplo 24 Dos potencimetros de 1000 ohms se excitan en la forma que se muestra en la
Fig. (). Calcular la corriente por el contacto deslizante del potencimetro cuando P1 se dispone
en +7 V y el otro se dispone para producir un mnimo valor de 0 en el punto cero. Provoca
esta corriente una imprecisin en la posicin? Qu efecto tiene la impedancia de entrada R0
del amplificador en los resultados?
155
G1
G2
+ V2
,
GT
GT
GT = G1 + G2 + G0
G1 =
GT
V0
V2 = 7 + V
1
10 1
10
+7 7 +
=
V0 =
= 30mV
21
16
21 16
El gradiente del sistema es de 30 mV /grado.
156
6.2.6
Potencimetros Digitales
Un tipo de potencimetros programables son los potencimetros digitales (PD) los cuales constan
de un dispositivo resistivo variable (VR) de 2n posiciones (si n = 8, entonces se tendrn 256
posiciones). Estos dispositivos realizan la misma funcin de ajuste electrnico que los de tipo
mecnico. Los PD se fabrican de uno o ms canales, cada uno de los cuales est constituido por
varias etapas:
Un resistor fijo con toma central (cursor). El valor del resistor se determina por un cdigo
digital cargado en un registro de desplazamiento.
Un latch (cerrojo) del VR, donde se programa el valor de la resistencia entre el cursor y
cada uno de los terminales fijos del resistor, la cual vara linealmente de acuerdo al cdigo
digital transferido.
Un registro de desplazamiento serieparalelo, el cual se carga desde una interface serie y
actualiza el latch del VR.
En la Fig. 6.12 se muestra el diagrama en bloques de un potencimetro digital comercial, el
cual consta de dos canales con un registro serie de 9 bits cada uno. Cada bit es transferido al
registro en el flanco positivo del CLK.
Interface digital
El AD5260/AD5262 contiene una interface de control de entrada serial de tres hilos. Las tres
entradas son el reloj (CLK ), El selector de circuito (CS) y la entrada de datos serie (SDI ). La
157
158
CS
L
L
PR
H
H
SHDN
H
H
X
X
H
X
H
L
H
H
X
X
H
H
P
H
H
L
NOTE:
Register Activity
No SR eect, enables SDO pin
Shift One bit in from the SDI pin. The eighth
previously entered bit is shifted out of the SDO pin.
Load SR data into RDAC latch based on A0 decode
A0 = 0, RDAC #1, A0 = 1, RDAC #2
No Operation
Sets all RDAC latches to midscale, wiper centered,
& SDO latch cleared.
Latches all RDAC latches to 80H.
Open circuits all resistor Aterminals,
connects W to B, turns o SDO output transistor.
P = positive edge, X = dont care, SR = shift register
159
256 D
RAB + RW
256
(6.2.14)
En la Tabla 6.3 se pueden observar algunos valores caractersticos para este modo de operacin.
La distribucin tpica de la resistencia nominal RAB de canal a canal est ajustada en 1%.
Programacin del potencimetro como divisor de tensin
El potencimetro digital genera fcilmente tensiones de salida de W a B y de W a A de modo
que sean proporcionales a la tensin de entrada de A a B. Ignorando temporalmente el efecto
de la resistencia de contacto, por ejemplo, si se conecta el terminal A a +5 V y el terminal B a
160
tierra se produce una tensin de salida de W a B empezando en cero voltios hasta 1 LSB menor
que +5 V . La ecuacin general que define la tensin de salida W a tierra para cualquier tensin
de entrada dada entre los terminales AB es
VW (D) =
D
256 D
VA +
VB
256
256
(6.2.15)
6.3
Transductores termorresistivos
(6.3.1)
dR
R
dT
1 dR
R dT
(6.3.2)
(6.3.3)
161
660 C), pero tambin es necesario observar que su aplicacin industrial presenta algunos inconvenientes relacionados con problemas de contaminacin del elemento metlico, defectos de
aislamiento, poca robustez, etc.
En aplicaciones de termometra el elemento sensible forma parte, en general, de un puente
de Wheatstone con el objeto el obtener seales de amplitud relativamente grandes sin amplificacin. Aunque existen muy diversos tipos de sondas termomtricas de resistencia metlica, se
citarn dos muy utilizados industrialmente: El captador de bulbo, que incluye una vaina metlica
protectora que contiene el hilo de resistencia y un material de sellado a travs del cual salen
los conductores terminales, utilizndose normalmente para medida de temperatura de lquidos y
gases. Por otra parte, el captador de superficie, consiste en una malla muy fina de hilo metlico
(por ejemplo, nquel) embebida en una placa de material aislante que se aplica a la superficie
cuya temperatura ha de medirse.
Otra aplicacin clsica de los transductores de resistencia metlica variable, es el llamado
anemmetro de hilo caliente. El captador tiene en uno de sus extremos un hilo conductor muy
delgado (dimetro del orden de 0.005 mm) a travs del cual se hace pasar una corriente elctrica
de caldeo. Si dicha corriente se mantiene constante, la tensin que aparece entre extremos de la
sonda ser proporcional a la resistencia de la misma, la cual depender a su vez de la temperatura,
que estar determinada por las condiciones de refrigeracin impuestas por la corriente del fluido
cuya velocidad desea conocerse. La relacin de velocidadtensin de salida viene dada por la
curva de calibracin que acompaa al transductor.
6.3.1
Aunque son muy diversos los circuitos utilizados con sondas de resistencia metlica, se expone
a continuacin, a modo de ejemplo, un esquema basado en la alimentacin a corriente constante
de la termorresistencia, procedimiento que permite obtener directamente una tensin aproximadamente proporcional a la temperatura (con el error de linealidad inherente a la propia ley
de variacin de la resistencia).
En la Fig. 6.15, el amplificador operacional U1 est conectado como fuente de corriente e
inyecta en la sonda una corriente i = vi /R1 (siempre que R Rs ), sirviendo el potencimetro
P1 para ajustar el valor de dicha corriente. El amplificador U2 est conectado como sumador y
su tensin vo de salida es:
vo = Kf (iRs vp ) = Kf
Rs
vi vp
R1
(6.3.4)
R0 (1 + T )
vi vp
vo = Kf
(6.3.5)
R1
162
R0
Kf T vi
R1
(6.3.7)
La resistencia variable conectada como realimentacin del amplificador U2 servir, obviamente, para el ajuste de fondo de escala dado que la tensin de salida es proporcional a Kf , de
acuerdo con la ecuacin (6.3.7).
La sensibilidad absoluta del circuito es:
v vo
Ro
S o =
=
Kf vi
R1
(6.3.8)
mientras que la sensibilidad relativa con respecto a todos los parmetros involucrados estar
dada por
vo
vo
vo
vo
= STvo = Svo = SK
= SR
= SR
=1
(6.3.9)
Svo =
o
1
f
vo
6.3.2
163
Una caracterstica de los metales es que su resistencia elctrica es funcin de la temperatura del
metal. As, un alambre de metlico de longitud l, combinado con un dispositivo de medicin
de resistencia es un sistema de medida de temperatura. Los sensores de temperatura basados
en el efecto de la resistencia de un metal se conocen como detectores de temperatura resistivos
(RTD). Los RTD se usan para medir directamente la temperatura, tienden a ser muy estables.
Por otra parte, las sondas RTD son en general fisicamente ms grandes que las termocuplas,
resultando en un resolucin espacial ms pobre y una respuesta transitoria ms lenta. Los
sensores RTD ms comunes se construyen de platino, aunque se pueden utilizar otros metales
incluyendo nquel y aleaciones de nquel. Para el platino la relacin resistencia temperatura est
dada por la ecuacin CallendarVan Dusen:
RT = Ro {1 + [T (0.01T 1)(0.01T ) (0.01T 1)(0.01T )3 ]}
(6.3.10)
donde , y son constantes, dependientes de la pureza del platino la cual se determina por
calibracin. La constante dominante es , la cual tiene un valor de 0.003921/ C para la denominada curva de calibracin americana, o 0.003851/ C para la curva de calibracin europea. Para la curva de calibracin americana, = 1.49 y = 0 para T > 0. y = 0.11 para
T < 0.Fcilmente se puede adquirir los sensores correspondientes a cada curva. En las Figs. 6.16
y 6.17 se muestra la respuesta de R vs T para valores positivos y negativos de la temperatura,
respectivamente.
y
300
250
200
150
100
50
0
0
125
250
375
500
x
164
125
100
75
50
25
0
-100
-75
-50
-25
Vcc 2Vo
Vcc + 2Vo
(6.3.11)
Se debe notar que el cambio en la resistencia de los RTD es muy grande comparada con las
galgas extensomtricas (como se ver ms adelante), y la posible linealizacin para las galgas
no es factible para los circuitos RTD. Como consecuencia, la ecuacin (6.3.11) muestra una
relacin no lineal entre la tensin medida y la resistencia del RTD.
Un circuito alternativo llamada el puente RTD de tres hilos se muestra en la Fig. 6.19 (b)
donde un hilo adicional C, se ha agregado. Con este circuito, Rha (la resistencia del hilo A)
165
Alambres
terminales
Pelcula de
platino
Cpsula de
cermica
Alambre de
platino
Sustrato
1 cm
(a)
(b)
Figura 6.18: Detectores de temperatura resistivos: (a) alambre de platino (b) pelcula delgada.
estar en la misma rama del puente como R2 y Rhb (la resistencia del hilo B), estar en la
misma rama que el RTD Si los hilos de los terminales son del mismo material, tienen el mismo
dimetro y longitud y siguen la misma trayectoria, los cambios en la resistencia de los terminales
tendrn un efecto muy pequeo sobre Vo . No hay corriente a travs de Rhc , de modo que esta
resistencia no afecta al circuito. Para este circuito, incluyendo las resistencia de los terminales
(con R1 = R4 ), la resistencia del RTD estar dada por
RRTD = R2
Vcc 2Vo
4Vo
Rterm
Vcc + 2Vo
Vcc + 2Vo
(6.3.12)
donde Rterm corresponde a la resistencia de los terminales. El segundo trmino en esta ecuancin usualmente es pequeo, pero para obtener los mejores resultados, se deber determinar el
valor inicial de la resistencia de los terminales. El hecho de que Rterm (se supone que todos
los terminales tienen la misma resistencia) tenga efecto en la medida, es una consecuencia de
la operacin del puente en el modo desbalanceado. Es posible operar el puente en un modo
balanceado en el cual el resistor R2 se ajusta tal que Vo sea cero. En este caso, RRTD = R2 y
las resistencias de los terminales no afectarn el resultado. Desafortunadamente, es difcil usar
sistemas de adquisicin de datos con el modo balanceado. Para medidas de alta precisin, sin
embargo, es preferible el modo balanceado.
La Fig.6.20 presenta dos circuitos ms utilizados para determinar la resistencia de un RTD.
En la Fig. 6.20 (a), la cada de tensin a travs del RTD es sensada con dos terminales que no
conducen corriente y por lo tanto no tienen cada de tensin. Para este circuito la resistencia es
166
Figura 6.19: Circuitos en puente Wheatstone para RTD: (a)Dos hilos (b) tres hilos
una funcin lineal de la tensin medida y est dada por
RRTD = Vo I
(6.3.13)
En este circuito Vo es proporcional a la resistencia del RTD en lugar que al cambio de resistencia
como en el caso con los circuitos de puente Wheatstone. La Fig. 6.20 (b) utiliza cuatro terminales
portadores de corriente siguiendo la misma trayectoria del RTD. Dos de los terminales ms el
RTD estn en la misma rama AD y los otros dos terminales ms R3 estarn el rama DC.
Como con el puente de tres hilos, los cambios en las resistencias de los terminales compensan y
tienen un efecto despreciable sobre Vo . La frmula para evaluar la resistencia del RTD es
RRTD = R3
Vcc 2Vo
8Vo
Rterm
Vcc + 2Vo
Vcc + 2Vo
(6.3.14)
Como el puente de tres hilos, para mediciones precisas, se debern conocer las resistencias
nominales de los terminales cuando se trabaja en el modo desbalanceado.
Puesto que existe un flujo de corriente a travs del RTD cuando est situado en un circuito de
medicin, hay una disipacin de potencia y por lo tanto el RTD tiene autocalentamiento. Este no
es normalmente un problema cuando se mide temperaturas en lquidos pero puede producir error
cuando se mide temperatura en gases. Se puede estimar este efecto de autocalentamiento, usando
167
(ii) Para este caso T < 0 y se debe utilizar el factor = 0.11. Reemplazando en la misma
ecuacin se llega a
RT
= 79.944
Ejemplo 26 Se dispone de una RTD de platino de 100 que tiene un coeficiente de disipacin
trmica = 6mW/K en aire y = 100mW/K en agua. Si se desea que el error por autocalentamiento sea inferior a 0.1 C, cunta corriente puede circular por la resistencia segn est al
aire o inmersa en agua?
168
Pd
I 2R
=
(6.3.15)
(6.3.16)
(0.1) (0.006)
= 2.4495 mA
100
(0.1) (0.1)
= 10 mA
100
6.3.3
Termistores
Como con el RTD, el termistor es un dispositivo que tiene una resistencia dependiente de la
temperatura. Sin embargo, el termistor, un dispositivo semiconductor muestra un mayor cambio
en la resistencia con respecto a la temperatura que el RTD. El cambio en la resistencia con
la temperatura en el termistor es muy grande, del orden del 4% por grado centgrado. Es
posible construir termistores con una caracterstica de resistencia vs temperatura con pendiente
positiva o negativa. Sin embargo, los dispositivos termistores ms comunes tienen una pendiente
negativa NTC ; lo que significa, que un incremento en la temperatura produce un decremento
en la resistencia, lo opuesto de los RTD. Estn constituidos por mezclas sinterizadas de polvos
de xidos metlicos (de hierro, titanio, nquel, cobalto, cromo, etc) y semiconductores, en forma
de discos, barras, placas y otras configuraciones. Los termistores son altamente no lineales,
mostrando una relacin logartmica entre la resistencia (en k) y la temperatura:
1
= a + b ln R + c(ln R)2 + d(ln R)3
T
(6.3.17)
1
T1
1 ln R1 (ln R1 )2 (ln R1 )3
a
1 ln R2 (ln R2 )2 (ln R2 )3 b T 1
2
(6.3.18)
1 ln R3 (ln R3 )2 (ln R3 )3 c = T 1
3
1 ln R4 (ln R4 )2 (ln R4 )3
d
T41
169
Ejemplo 27 Los siguientes son datos de resistencia y temperatura, en k y Kelvin respectivamente, para el caso de un termistor con encapsulado de acero de 10 k dados por el fabricante:
T1
T2
T3
T4
= 253.15 R1 = 78.91
= 293.15 R2 = 12.26
= 343.15 R3 = 1.99
= 393.15 R4 = 0.4818
T1=253.15; R1=78.91;
T2=293.15; R2=12.26;
T3=343.15; R3=1.990;
T4=393.15; R4=0.4818;
y=[1/T1;1/T2;1/T3;1/T4];
A=[1,(log(R1)),(log(R1))^2,(log(R1))^3;1,(log(R2)),(log(R2))^2,(log(R2))^3;
1,(log(R3)),(log(R3))^2,(log(R3))^3;1,(log(R4)),(log(R4))^2,(log(R4))^3];
x=A^(-1)*y;
R=1.0:0.1:100.0;
T=(x(1)+x(2)*log(R)+x(3)*(log(R)).^2+x(4)*(log(R)).^3).^(-1)-273.15
plot(R,T)
Para el caso dado se obtienen los siguientes valores de los coeficientes:
a = 2.700 103 b = 2.6138 104
c = 3.416 106 d = 1.2714 107
Siendo dispositivos semiconductores, los termistores estn restringidos a temperaturas relativamente bajas. Muchos estn restringidos a temperaturas por debajo de 100 C y generalmente
no hay disponibles para medir temperaturas por encima de 300 C. Los sensores de termistores
pueden llegar a ser muy precisos, del orden de 0.1 C, pero la mayora no lo son tanto.
Otra forma de expresar la relacin de la resistencia de coeficiente de temperatura negativo
con la temperatura absoluta es de la forma:
B
R = R0 e
1
T
T1
(6.3.19)
170
171
1
ln R
R2
1
T1
1
T2
5010
ln 5010
3 1.5
1
273.15+50
1
273.15+25
= 1562. 6
R0 = R1 e
1
T
T1
Para algunas aplicaciones de los termistores, interesan no tanto sus caractersticas resistencia
temperatura como la relacin entre la tensin en bornes del termistor y la corriente a su travs.
En rgimen transitorio se tendr
W = V I = I 2 RT = (T Ta ) + cp
dT
dt
(6.3.23)
= (T Ta )
V2
VI =
= (T Ta )
RT
(6.3.24)
(6.3.25)
V = (T Ta )A exp
B
T
B
T2
4Ta
1
B
(6.3.27)
(6.3.28)
!
(6.3.29)
172
Termistor (absoluta)
Resistencia metlica
Termopar
260 C a +300 C
200 C a +1000 C
260 C a +2800 C
10 K/ C
0.2/ C
40 50V / C
0.01 C
0.01 C
0.1 C
0.03 C/a
no
0.01a 0.003 C/a
no
6.3.4
Como se sabe, el valor de la resistencia de estos componentes viene dado por la expresin
B( T1 T1 )
R = Ro e
(6.3.30)
173
La temperatura T0 suele ser de 198K (25 C), y el coeficiente B puede ser del orden de
4000K.
En la Fig. ?? se representa esta funcin para varios termistores comerciales (siendo el
parmetro de las curvas el coeficiente B).
54.6
7.389
0.1353
0.01832
200
250
300
350
400
450
500
6.3.5
Las resistencias NTC se aplican ampliamente en circuitos temomtricos. Como se ver a continuacin, pese a la no linealidad de su resistencia en funcin de la temperatura, puede optimizarse
el diseo obtenindose sistemas de medida muy sensibles con errores por falta de linealidad
aceptables.
En la Fig. 6.22 se representa un circuito tpico muy simple para medida de temperatura en
donde el termistor se hace funcionar en el primer tramo de su caracterstica.
La tensin de salida del divisor es
Vo = VCC
R1
R1 + R(T )
Vo =
1+
R0 B
R1 e
1
T
T1
VCC
(6.3.31)
174
NTC
R(T)
Vcc
+
R1
Vo
B 2TL
B( 1 1 )
R0 e TL T0
(6.3.32)
B + 2TL
La expresin (6.3.32) permite as calcular la resistencia R1 ptima en funcin de las caractersticas del termistor y de la temperatura TL central del campo de medida.
En cuanto a la eleccin de VCC , habr que llegar a un compromiso entre precisin (valores de
VCC pequeos para evitar el autocalentamiento) y sensibilidad (valores de VCC grandes). Para
ello se admite un incremento T mximo sobre la temperatura ambiente Ta a medir, incremento
que estar asociado con el error por autocalentamiento. De acuerdo con esto, se tiene:
R1 =
T = T Ta
siendo la potencia mxima disipada en la NTC (correspondiente a R = R1 ):
Wmax =
de donde
2
VCC
T
=
4R1
R
R1 T
R
La sensibilidad absoluta del sistema para T = TL es
VCC B 2
dvs
=
1
S=
dT T =TL
B
4TL2
VCC =
(6.3.33)
(6.3.34)
175
0.75
0.5
0.25
125
250
375
500
x
Ro
R1
El nico inconveniente de este circuito es que, para el origen de la escala termomtrica que
se adopte, la tensin de salida no es nula. Para evitar esto, se utiliza la configuracin en puente
(ver 6.24), en donde la tensin de salida ser
R2
NTC
+
Vcc
A
R1
Vo
R(T)
+
B
R1
vo = VBA = VCC
R1
R1
R(T ) + R1 R1 + R2
176
6.3.6
En la Fig. 6.4 se ilustra muy esquemticamente una aplicacin de una resistencia NTC, donde el
termistor funciona en la zona regenerativa. En este caso el termistor acta como un estabilizador
de temperatura. Ntese que se tiene la respuesta dada por la ecuacin (6.3.31).
177
6.3.7
Las resistencias de coeficiente de temperatura positivo o PTC, tienen la propiedad de experimentar un cambio drstico en su valor cuando se alcanza una temperatura crtica caracterstica
del material. Por debajo de dicha temperatura la resistencia es baja (del orden de 100) y por
encima, la resistencia es muy alta (del oreden de 10M ). Dado que no existe una ecuacin que
exprese rigurosamente este comportamiento y puesto que el cambio se produce en el estrecho
intervalo de temperaturas, la curva queda idealizada como se ilustra en la Fig. 6.27, donde
se representa cualitativamente la curva resistenciatemperatura de estos dispositivos.Tomando
como base esta simplificacin, es fcil deducir la forma de la caracterstica tensincorriente. En
efecto, si v e i son, respectivamente, la tensin aplicada y la corriente se tiene, al igual que en
las resistencias NTC:
v2
(6.3.35)
T Ta = R vi = R
R(T )
Para remperatura ambiente (Ta ) constante y tensiones muy bajas, T ser menor que Tc y el
valor de la resistencia ser R1 por lo cual la curva v i ser una recta tal que
v
= Rmin
i
(primer tramo de la caracterstica esttica, Fig. 6.28).
178
V1 =
Rmin (Tc Ta )
R
(6.3.36)
(6.3.37)
179
(6.3.39)
180
6.4
Transductores fotorresistivos
Los ms importantes dentro de este grupo son, sin duda, la clula fotorresistiva (fotorresistencia)
y el fotodiodo.
6.4.1
La clula fotorresistiva
La clula fotoresistiva o LDR es esencialmente una resistencia cuyo valor vara con la intensidad
de la radiacin luminosa incidente y consiste en una capa delgada de selenio, germanio, sulfuro
de plomo, sulfuro de cadmio, antimonio, indio y algunos otros metales o compuestos meticos,
dispuesta sobre un substrato cermico o plstico. La capa fotorresistiva suele tener forma ondulada y est protegida por una lmina transparente que constituye una de las caras de la cpsula
que contien la clula. La resistencia de elemento disminuye a medida que aumenta la intensidad
181
v
d
(6.4.2)
v
d
(6.4.3)
(6.4.4)
v
q
d
(6.4.5)
v
d
1
=
i
A e q L
(6.4.6)
la vida media por otra parte, est ligada con la intensidad luminosa L mediante uan expresin
del tipo
(6.4.7)
=
0 L
De este modo, la resistencia R ser de la forma
R = K I
donde
K=
d
A q 0
182
R1
R1
1
V =
V =
V
K 1
R1 + R(L)
R1 + KLa
1 + R1 L
(6.4.8)
183
1 a
L
(6.4.10)
+1 c
donde Lc es la abscisa de dicho punto de inflexin. Este valor Lc deber corresponder al centro
del margen de medida, para mxima linealidad, o sea
R1 = K
Lc =
Lmin + Lmax
2
(6.4.11)
siendo Lmin y Lmax las intensidades de iluminacin en los extremos de dicho margen.
La ecuacin que proporciona R1 demuestra que para que exista punto de inflexin, tiene
que ser mayor que 1. Es decir, la condicin
>1
(6.4.12)
184
podra ser el criterio de eleccin de la clula para que fuese vlido el procedimiento de diseo
que se est proponiendo.
Puesto que, adems,
(6.4.13)
KLa
c = R(Lc )
la expresin de R1 puede escribirse tambin en la forma
1
R(Lc )
(6.4.14)
+1
No hay criterios claros para elegir un determinado tipo de clula en fotometra, a excepcin
de que sea mayor que la unidad. Los fabricantes suelen recomendar clulas de alta resistencia
para fuertes iluminaciones y de baja resistencia para iluminaciones dbiles.
En cuanto a la tensin de alimentacin V , puede elegirse, como en el caso de las resistencias
NTC, admitiendo un incremento T de temperatura sobre la ambiente, pudiendo aplicarse la
misma frmula
r
R1 T
V 2
R
La sensibilidad absoluta del circuito que se est estudiando, en el centro de la escala de
medida, es:
V 2 1
dvs
(6.4.15)
=
S=
dL L=Lc
LC 4
R1 =
6.4.2
El fotodiodo
Puede tambin considerarse dentro del grupo de captadores fotorresistivos al fotodiodo. En los
fotodiodos se aprovecha el aumento de la conductividad inversa de unin PN por absorcin
de radiacin luminosa. Dicho aumento se debe a la generacin de pares electrnhueco al
incidir los fotones sobre el material semiconductor, crendose as una corriente inversa de fugas
dependientes de la intensidad de la radiacin.
En la Fig. 6.35 se representa una familia de curvas caractersticas de un fotodiodo. Para
L = 0 se tiene la curva tpica de un diodo semiconductor. Para intensidades luminosas crecientes
(L1 , L2 , etc) las curvas toman la forma ilustrada en la figura presentando un desplazamiento descendente. Los tramos del primer y cuarto cuadrante corresponden al funcionamiento como
generador fotovoltaico. Los tramos horizontales del tercer cuadrante corresponden, por el contrario, al funcionamiento como fotorresistencias pasivas, aplicacin ms usual, dado que los
valores de la corriente inversa son sensiblemente proporcionales a las intensidades luminosas
(fotometra).
En la Fig. 6.36 se representa un dispositivo fotomtrico basado en estos dos modos de
funcionamiento. Admitiendo que la corriente inversa del fotodiodo es proporcional a la intensidad
luminosa L, es decir, i = Kd L, donde Kd es una constante particular para cada fotodiodo, la
tensin de salida ser:
(6.4.16)
vo = iR1 = R1 Kd L
185
i
1.25
-2
-1.5
-1
-0.5
0
0
0.5
-1.25
-2.5
D
+
V
+
R1
vo
dvs
= R1 Kd
dL
(6.4.17)
Los fotodiodos son ms estables con la temperatura que las clulas LDR y, por supuesto, mucho ms lineales y de respuesta mucho ms rpida. Su nico inconveniente es que las corrientes
que manejan son muy pequeas (del orden de microamperios). Se utilizan en fotometra, deteccin de impulsos luminosos, lectura ptica de cintas perforadas, lectura de caracteres, medida
de transparencia, etc.
6.5
Transductores extensomtricos
Constituyen un importante grupo de captadores de amplia aplicacin en la medida de deformaciones de estructuras slidas sometidas a esfuerzos. Su principio de funcionamiento se basa en
186
l
A
El cambio de la longitud que resulta de aplicar una fuerza F a una pieza unidimensional,
siempre y cuando no se entre en la zona de fluencia (Fig), viene dado por la ley de Hooke,
=
dl
F
=E =E
A
l
donde E es una constante del material, denominada mdulo de Young, es la tensin mecnica
y es la deformacin unitaria.
es adimensional, pero para mayor claridad se suele dar en
microdeformaciones (1 microdeformacin = 1 = 106 m/m). El trmino dl/l se define
como esfuerzo axial, a .
dl
a =
l
Si se considera ahora una pieza que adems de la longitud l tenga una dimensin transversal
t, resulta que como consecuencia de aplicar un esfuerzo longitudinal no solo cambia l sino que
tambin lo hace t. El cambio en la dimensin transversal respecto a la longitudinal depende
de la relacin entre los esfuerzos transversal y longitudinal, los cuales estn dados por la ley de
Poisson:
(6.5.2)
t = a
donde es el denominado coeficiente de Poisson. El signo menos indica que cuando la longitud
se incrementa, la seccin decrece.Su valor est entre 0 y 0.5, siendo, por ejemplo, de 0.17 para
la fundicin maleable, de 0.303 para el acero y de 0.33 para el aluminio y el cobre. Obsrvese
que para que se conservara constante el volumen debera ser = 0.5.
187
V
donde C es la denominada constante de Bridgman, cuyo valor es de 1.13 a 1.15 para las aleaciones
empleadas comnmente en galgas, y de 4.4 para el platino.
Aplicando (6.5.3), el cambio de volumen se puede expresar como
V =
lD2
4
dV
dl
dD
dl
=
+2
= (1 2)
V
l
D
l
y, por lo tanto, si el material es istropo y no se rebasa su lmite elstico, (6.5.1) se transforma
finalmente en
dR
=a [1 + 2 + C(1 2)]
(6.5.4)
R
En este punto, es til definir el factor de galga axial (Funcin de sensibilidad relativa), Sa :
Sa =
dR/R
(6.5.5)
(6.5.6)
El valor de Sa es del orden de 2 para la mayora de los metales, salvo para el platino en cuyo
caso es del orden de 6.
188
As pues, para pequeas variaciones la resistencia del hilo metlico deformado puede ponerse
de la forma
R = R0 (1 + x)
donde R0 es la resistencia en reposo y x = Sa . El cambio de resistencia no excede el 2%.
En el caso de un semiconductor, al someterlo a esfuerzo predomina el efecto piezorresistivo.
Las expresiones de la relacin resistencia-deformacin son para un caso concreto [7]:
para un material tipo p:
dR
= 119.5 + 4
R0
dR
= 110 + 10 2
R0
donde R0 es la resistencia en reposo a 25 C, y se supone una alimentacin a corriente
constante.
En la Fig. 6.37 se observa la respuesta resistencia vs deformacin para los dos tipos de
semiconductores.Puesto que se pueden fabricar galgas semiconductoras con alta resistencia, se
Figura 6.37: Relacin resistenciadeformacin para galgas tipo p (lnea continua) y tipo n (lnea
de trazos).
pueden obtener dispositivos de salida muy alta (5 V o ms), caracterstica que no se puede dar
en las galgas metlicas, en las cuales hay una alta limitacin de corriente. La ecuacin bsica
para un puente sobre un voladizo es:
(6.5.7)
vo = a Sa vi
Con esta ecuacin, es posible obtener el valor de salida de los puentes activos completos que utilizan galgas semiconductoras. Debe notarse que la tensin de salida no depende de la resistencia
189
190
conocer los esfuerzos y, en su caso, las magnitudes que provocan dichos esfuerzos en un sensor
apropiado. Un resistor dispuesto de forma que sea sensible a la deformacin constituye una
galga extensomtrica.
Cabe considerar algunas limitaciones en la aplicacin de este principio de medida [28]:
El esfuerzo aplicado no debe llevar a la galga fuera del margen elstico de deformaciones.
ste no excede del 4% de la longitud de la galga y va desde unas 3000 para las semiconductoras a unas 40000 para las metlicas.
La medida de un esfuerzo slo ser correcta si es transmitido totalmente a la galga. Ello se
logra pegando sta cuidadosamente mediante un adhesivo elstico que sea suficientemente
estable con el tiempo y la temperatura. A la vez, la galga debe estar aislada elctricamente
del objeto donde se mide, y protegida del ambiente.
Se debe estar en un estado plano de deformaciones, es decir, que no haya esfuerzos en la
direccin perpendicular a la superficie de la galga. Para que la resistencia elctrica de sta
sea apreciable se disponen varios tramos longitudinales y en el diseo se procura que los
tramos transversales tengan mayor seccin, pues as se reduce la sensibilidad transversal a
un valor de slo el 1% o el 2% de la logitudinal.
La temperatura es una fuente de interferencias por varias razones. Afecta a la resistividad
del material, a sus dimensiones y a las dimensiones del soporte. Como resultado de todo
ello, una vez la galga est dispuesta en la superficie de medida, si hay un cambio de
temperatura, antes de aplicar algn esfuerzo se tendr ya un cambio de resistencia. En
galgas metlicas este cambio puede ser de hasta 50 / C.
Un factor que puede provocar el calentamiento de la galga es la propia potencia que disipe
cuando, al medir su resistencia, se haga circular por ella una corriente elctrica. En las
galgas metlicas la corriente mxima es de unos 25 mA si el soporte es buen conductor
(cobre, acero, aluminio) y de 5 mA si es mal conductor (plstico, madera). La potencia
permitida aumenta con el rea de la galga y va desde 0.77 W/cm2 a 0.15 W/cm2 , segn
el soporte. En las galgas semiconductoras, la potencia mxima disipable es de unos 250
mW .
Las fuerzas termoelectromotrices presentes en la unin de dos metales distintos, ya que
pueden dar una tensin de salida superpuesta a la de inters si se alimenta la galga con
corriente continua. Su presencia se reconoce si cambia la salida al variar la polaridad de la
alimentacin. Deben corregirse bien mediante el mtodo de insensibilidad intrnseca, por
seleccin de materiales, bien mediante filtrado, a base de alimentar las galgas con corriente
alterna.
Idealmente, las galgas deberan ser puntuales para poder medir los esfuerzos en un punto
concreto. En la prctica sus dimensiones son apreciables, y se supone que el punto de medida
191
a a
Kt
t
=
+
1 Kt
a
a
donde a es el esfuerzo axial verdadero y a es el esfuerzo que la medida podra predecir si se
despreciara el esfuerzo transversal. Para Kt = 0.01, = 0.3 y t / a = 2, el error en el esfuerzo
axial es 2.3%.
Aunque la galga es ligeramente sensible a los esfuerzos transversales, para propsitos prcticos, una simple galga extensomtrica puede medir el esfuerzo nicamente en una direccin. Para
definir el estado del esfuerzo sobre una superficie, es necesario especificar dos esfuerzos lineales
ortogonales x y y y un tercer esfuerzo llamado cizalladura (esfuerzo cortante), xy , el cambio
entre dos lneas originalmente ortogonales cuando un slido se somete a un esfuerzo. Estos
esfuerzos se pueden determinar por tres galgas situadas adecuadamente en un arreglo llamado
roseta extensomtrica. La Fg. 6.39 muestra los dos arreglos ms comunes de estas tres galgas:
La roseta rectangular, y la roseta equiangular. En la roseta rectangular, las galgas se colocan a
ngulos de 0 , 45 y 90 . En la roseta equiangular, estn arregladas a 0 , 60 y 120 . cada una
de estas galgas mide el esfuerzo lineal en la direccin del eje de la misma.
192
120
SG3
SG2
45
SG2
SG3
60
SG1
SG1
(a)
(b)
Figura 6.39: Orientacin de galgas extensiomtricas en rosetas comunes: (a) rectangular (b)
equiangular.
De acuerdo a Popov [29], si se puede describir el campo del esfuerzo en un plano sobre un
slido por los valores x , y y xy , el esfuerzo lineal en una direccin al eje x se puede representar
por
2
2
(6.5.10)
= x cos + y sen + xy sen cos
Esta ecuacin puede aplicarse a cada una de las galgas extensomtricas en una roseta, resultando
en tres ecuaciones simultaneas:
1
2
x cos 1
2
x cos 2
2
x cos 3
2
y sen 1
2
y sen 2
2
y sen 3
+
+
+
+ xy sen1 cos 1
+ xy sen2 cos 2
+ xy sen3 cos 3
90
xy = 2
45
(6.5.11)
x, y
y xy .
(6.5.12)
(
90 )
=
=
xy =
60
2
(
3
2
60
120
120 )
0 )
(6.5.13)
193
Tipos y aplicaciones
Los materiales para la fabricacin de galgas extensomtricas son diversos conductores metlicos,
como las aleaciones constantan, advance, karma, y tambin semiconductores como el silicio y
el germanio. Las aleaciones metlicas escogidas tienen la ventaja de un bajo coeficiente de
temperatura porque en ellas se compensa parcialmente la disminucin de la movilidad de los
electrones al aumentar la temperatura con el aumento de su concentracin [28]. Las galgas
pueden tener o no soporte propio, eligindose en su caso en funcin de la temperatura a la que
se va a medir. Para aplicaciones de sensores tctiles en robots, se emplean tambin elastmeros
conductores. Para la medida de grandes deformaciones en estructuras biolgicas se emplean
galgas elsticas que consisten en un tubo elstico lleno de mercurio u otro lquido conductor
[26].
Las galgas metlicas con soporte pueden ser de hilo bobinado o plegado con soporte de papel,
o impresas en fotograbado. En este caso se dispone de una gran variedad de configuraciones,
adaptadas a diversos tipos de esfuerzos. Hay modelos para diafragma, para medir torsiones,
para determinar esfuerzos mximos y mnimos y sus direcciones (rosetas mltiples), etc.
194
En la Tabla 6.5 se presentan algunas de las caractersticas habituales de las galgas metlicas y
semiconductoras [28]. El factor de sensibilidad se determina por muestreo, pues una vez utilizada
la galga es irrecuperable. Se da entonces el valor probable de S y la tolerancia. Los mtodos de
ensayo y la especificacin de caractersticas para las galgas metlicas est normalizado [27].
Las galgas extensomtricas se pueden aplicar a la medida de cualquier variable que pueda
convertirse, con el sensor apropiado, en una fuerza capaz de provocar deformaciones del orden
de 10m incluso inferiores.
Una aplicacin singular del efecto piezorresistivo es la medida de presiones muy elevadas
(1.4GP a a 40GP a) mediante las denominadas galgas de manganina. La manganina es una
aleacin (84% Cu, 12% Mn, 4% Ni) que tiene un coeficiente de temperatura muy bajo. Si se
somete un hilo de manganina a una presin en todas direcciones, se presenta un coeficiente
de resistencia de entre 0.021 y 0.028 //kP a, de modo que el cambio de resistencia da
informacin sobre la presin a que est sometido.
6.6
6.6.1
Elementos Capacitivos
6.6.2
Elementos Inductivos
6.7
6.7.1
6.8
.
M1
Rg
+
v
R b1
___>
i1
L2
___>
i2
Rc
R'
b2
M3
L1
195
|^x
L3
M2
(M1 M2 )s
R1 + sL1
i1
v1
=
(M1 M2 )s R2 + sL2 + sL02 sM3
0
i2
(6.8.1)
M1 M2
L1 (L2 +L02 2M3 )(M2 M1 )2 2
s
sv1
R2 L1 +R1 (L2 +L02 2M3 )
R1 R2
s + L1 (L2 +L0 2M
2
L1 (L2 +L02 2M3 )(M2 M1 )2
3 )(M2 M1 )
2
(6.8.2)
(M2 M1 )Rc
L1 (L2 +L02 2M3 )(M2 M1 )2 2
s
sv1
R2 L1 +R1 (L2 +L02 2M3 )
R1 R2
L1 (L2 +L02 2M3 )(M2 M1 )2 s + L1 (L2 +L02 2M3 )(M2 M1 )2
(6.8.3)
En la posicin central, M2 = M1 , y segn (6.8.3), v0 = 0, tal como se haba anticipado.
En las otras posiciones del ncleo, L1 , L2 , L02 , M3 y M2 M1 varan aproximadamente de la
forma siguiente: M3 presenta variaciones lentas alrededor de x0 ; M2 M1 tiene una variacin
muy rpida y lineal, alrededor de x0 ; L2 + L02 se mantiene prcticamente constante y L1 tiene
variaciones lentas alrededor de x0 .
Para analizar cual es finalmente la relacin entre la tensin de salida y la posicin del vstago,
conviene considerar primero el efecto de la resistencia de carga Rc . Si el secundario est en vaco,
la expresin final de la tensin de salida se reduce a
v0 =
s(M1 M2 )v1
sL1 + R1
(6.8.4)
(6.8.5)
196
(6.8.6)
que indica que v0 es proporcional a M2 M1 y, por lo tanto, al desplazamiento del vstago, y que
est desfasasa 90 respecto a la corriente del primario. De la expresin (6.8.4) se deduce, adems,
que v0 /v1 tiene respuesta de paso alto respecto a la frecuencia de la tensin de alimentacin.
Cuando f1 = R1 /L1 , la sensibilidad es del 70% (3dB) de la que se tiene a partir de frecuencias
unas diez veces mayores.
Si el secundario no est en vaco, pero se acepta que L2 +L02 2M3 es prcticamente constante
con la posicin del vstago y se designa por 2L2 , y que 2L2 L1 (M2 M1 )2 , la expresin de
la tensin de salida pasa a ser
sv1
M2 )Rc
v0 = (M12L
(6.8.7)
R2 L1 +2R1 L2
R1 R2
1 L2
2
s +
s + 2L
2L1 L2
1 L2
Resulta, pues que la sensibilidad aumenta al hacerlo la resistencia de carga. Tambin aumenta
inicialmente al hacerlo f1 , pero a partir de una determinada frecuencia decrece. En la
h Fig 2() ise
(1 )
j
1
presenta esta evolucin para un determinado modelo. 92 +(12 )2 , 92 +(12 )2 , tan
32
y
1.5
0.5
0
0
2.5
7.5
10
x
-0.5
-1
-1.5
0.25
0.125
0
0
2.5
7.5
10
x
-0.125
-0.25
197
0.8
0.6
0.4
0.2
0
0
2.5
7.5
10
x
De () se deduce tambin que hay un desfase entre la tensin del primario y la del secundario,
que depende de f1 . Este desfase es nulo a la frecuencia
1
fn =
2
R1 R2
2L1 L2
1
2
(6.8.8)
(M1 M2 )Rc
v1
R2 L1 + 2L2 R1
(6.8.9)
198
La temperatura es otra posible fuente de interferencias, pues vara la resistencia elctrica del
primario. Si la temperatura aumenta, lo hace tambin la resistencia, con lo que se reduce la
corriente en el primario, y con ella la tensin de salida, si se alimenta a tensin constante. Si la
frecuencia de alimentacin es alta, entonces predomina la impedancia de L1 frente a la de R1 y
el efecto es menor. Las derivas trmicas pueden expresarse de la forma
VT = V25 [1 + (T 25) + (T 25)2 ]
(6.8.10)
199
(6.8.11)
(R1 L1 + 2R1 L2 )
R1 R2 2L1 L2 2
(6.8.12)
= 90 tan1
Si el secundario no est en vaco, es entonces [6.8.7]
= 90 tan1
200
es detectado en forma de diferencia de tensin en los dos secundarios. Los rotmetros y los
detectores de nivel se prestan fcilmente a este uso. Las clulas de carga y los medidores de par,
donde se produce un desplazamiento muy pequeo, pueden emplear tambin un LVDT como
sensor.
6.8.1
Transformadores variables
N1 i1
S cos
l
(6.8.14)
(6.8.15)
M12 = N2 N1 S cos = M cos
l
Si se considera el secundario en vaco y se aplica al primario una tensin sinusoidal de frecuencia
, en el secundario se obtendr
di1
v2 = M12
(6.8.16)
dt
v2 = ji1 M12 = iM (cos )(cos t) = k cos cos t
(6.8.17)
Es decir, la tensin de salida tiene la misma frecuencia que la de entrada, pero su amplitud
depende de la inclinacin relativa entre los devanados, si bien no de una forma proporcional.
Este principio de medida se presta bien a las aplicaciones donde hay que determinar una
posicin o desplazamiento angular.
Por su pequeo momento de inercia, los transformadores variables imponen, en general,
menos carga mecnica al eje de giro que los codificadores digitales, que requieren discos grandes
para tener alta resolucin. Por su construccin, aguantan mayores temperaturas y ms humedad,
choques y vibraciones que los codificadores y ciertos potencimetros, por lo que son particularmente considerados en las aplicaciones militares y aeroespaciales.
201
6.9
Transductores electroqumicos
Estos transductores tienen escasa aplicacin industrial y se basan en la deteccin del nivel de
un electrolito por la variacin que se produce en la resistencia entre dos electrodos sumergidos.
Pueden utilizarse directamente en la medida de nivel de lquidos con propiedades electroqumicas,
y en la medida de pequeas presiones (proporcionales a la altura del electrolito en el receptculo
del transductor, que se unira mediante un conducto adecuado provisto de diafragma o pistn al
punto de medida). El inconveniente ms importate de este transductor es la alteracin progresiva
que se va produciendo en el electrolito por efecto de los fenmenos de electrlisis que tienen lugar.
Captadores de variacin de nivel de mercurio. En los que una columna de mercurio de
altura variable cortocircuita diferentes tomas intermedias de una cadena de resistencias.
Su aplicacin inmediata es la medida de presiones.
Captadores de discos de carbn. Constituidos por una pila de discos de grafito (aproximandamente 10 mm de dimetro y 2 mm de espesor) cuya resistencia global disminuye al
crecer la presin aplicada debido a la variacin de resistencia entre las superficies superpuestas de las caras. Estos dispositivos son poco precisos pero muy robustos, obtenindose
relaciones entre resistencias extremas de 10 : 1.
202
donde
es el coeficiente dielctrico de las sustancia entre las placas (
para el aire),
es
la permitividad del vaco 8.85 1012 C 2 /N m2 , A es el rea de la placa superpuesta y
d es la distancia entre las placas. Si A tiene unidades de m2 y d est en metros, C tendr
unidades de faradios. Como se muestra en la Fig. , hay dos modos de usar un transductor
capacitivo para medidas de desplazamiento. En la Fig.
(a) una placa se mueve de modo
que la distancia, d, entre las placas vara. Alternativamente, [Fig. (b)],una de las placas se
puede mover paralela a la otra, de modo que el rea enfrentada vara. En el primer caso, la
capacitancia es aproximadamente una funcin lineal del desplazamiento. Puesto que la salida del
sensor capacitvo no es un voltaje, se requiere acondicionamiento de la seal. Se puede utilizar
un puente Wheatstone de corriente alterna para este propsito.
En general los sensores capacitivos son no lineales. su linealidad depende del parmetro que
vara y de si se mide la impedancia o la admitancia del condensador. En un condensador plano,
por ejemplo, con
Sensores Inductivos
Sensores Electromagnticos
Captulo 7
Introduccin
Se denominan sensores generadores aquellos que generan una seal elctrica a partir de la magnitud que miden sin necesidad de alimentacin elctrica. Ofrecen una alternativa para medir
muchas de las magnitudes ordinarias, sobre todo temperatura, fuerza y magnitudes afines. Pero,
adems, dado que se basan en efectos reversibles, estn relacionados con diversos tipos de accionadores o aplicaciones inversas en general. Es decir, se pueden emplear para la generacin de
acciones no elctricas a partir de seales elctricas.
Igualmente sern analizados los sensores fotovoltaicos y algunos de magnitudes qumicas
(relacionadas con la composicin) para las que hasta el momento se han visto pocas posibilidades
de medida.
Algunos de los efectos que se describen aqu pueden producirse inadvertidamente en los
circuitos, y ser as fuente de interfencias Es el caso de las fuerzas termoelectromotrices, de las
vibraciones en cables con determinados dielctricos o de los potenciales galvnicos en soldaduras
o contactos. La descripcin de los fenmenos asociados, con vistas a la transduccin, permite
tambin su anlisis cuando se trate de reducir interferencias.
7.2
7.2.1
Termopares
Efectos termoelctricos
Los sensores termoelctricos se basan en dos efectos que, a diferencia del efecto Joule, son
reversibles. se trata del efecto Peltier y del efecto Thompson.
Histricamente fue primero Thomas J. Seebeck quien descubri, en 1822, que en un circuito
de dos metales distintos homogneos, A y B, con dos uniones a diferente temperatura, aparece
una corriente elctrica Fig. 7.1. Es decir, hay una conversin de energa trmica a elctrica,
o bien, si se abre el circuito, hay una fuerza termoelectromotriz (f.t.e.m) que depende de los
203
204
Alambre de cobre
Alambre de
metal A
DVM
Unin sensora
Alambre de
metal B
Terminal DVM
(7.2.2)
7.2. TERMOPARES
205
(7.2.3)
El hecho de que el calor intercambiado por unidad de superficie de la unin sea proporcional
a la corriente y no a su cuadrado, marca la diferencia respecto al efecto Joule. En ste, el
calentamiento depende del cuadrado de la corriente, y no cambia al hacerlo su direccin.
El efecto Peltier es tambin independiente del origen de la corriente, que puede ser, pues,
incluso de origen termoelctrico. En este caso las uniones alcanzan una temperatura diferente a
la ambiental, y por ello puede ser una fuente de errores.
El efecto Thompson, descubierto por William Thompson (Lord Kelvin) en 1847-54, consiste
en la absorcin o liberacin del calor por parte de un conductor homogneo con temperatura
no homognea por el que circule una corriente. El calor liberado es proporcional a la corriente
no a su cuadrado y, por ello, cambia el signo al hacerlo el sentido de la corriente. En otras
palabras, se absorbe calor si la corriente y el calor fluyen en direcciones opuestas, y se libera
calor si fluyen en la misma direccin.
El flujo neto de calor por unidad de volumen, Q, en un conductor de resistividad r, con un
gradiente longitudinal de temperatura, dT
dx , por el que circula una densidad de corriente J, ser,
Q = J
dT
dx
(7.2.4)
(7.2.5)
(7.2.6)
esta expresin indica que el efecto Seebeck es, de hecho, el resultado de los efectos Peltier y
Thompson, y expresa el teorema fundamental de la termoelectricidad.
Las expresiones (7.2.1) y (7.2.6) permiten pensar en la aplicacin de los termopares a la
medida de temperaturas. Si en un circuito se mantiene una unin a temperatura constante
206
(unin de referencia), la f.t.e.m. ser funcin de la temperatura a la que est sometida la otra
unin, que se denomina unin de medida. Los valores correspondientes a la tensin obtenida con
determinados termopares, en funcin de la temperatura de esta unin cuando la otra se mantiene
a 0 C, estn tabulados. El circuito equivalente es una fuente de tensin con una resistencia de
salida distinta en cada rama (la de cada metal). Para cobre y constantan, por ejemplo, pueden
ser 300 y 10.
Ahora bien, la aplicacin de los termopares a la medida est sujeta a una serie de limitaciones
que conviene conocer para su uso correcto.
La temperatura mxima que alcance el termopar debe ser inferior a su temperatura de
fusin. Por lo tanto, hay que elegir un modelo adecuado a los valores de temperatura a
medir.
El medio donde se va a medir no debe atacar a ninguno de los metales de la unin.
La corriente que circule por el circuito de temopares debe ser mnima. De no ser as, dado
el carcter reversible de los efectos Peltier y Thomson, la temperatura de los conductores,
y en particular la de las uniones, sera distinta a la del entorno, debido al flujo de calor
desde y hacia el circuito. Segn la intensidad de la corriente, incluso el efecto Joule podra
ser apreciable. Todo esto llevara a que la unin de medida alcanzara una temparatura
distinta a la que se desea medir y la unin de referencia una temperatura diferente a la
supuesta, con los consiguientes errores.
Los conductores deben ser homogneos, por lo que conviene extremar las precauciones para
que no sufran tensiones mecnicas (por ejemplo, al instalarlos), ni trmicas (por ejemplo,
debidas al envejecimiento si hay gradientes de temperatura importantes a lo largo de su
tendido).
Se debe mantener una de las dos uniones a una temperatura de referencia fija si se desea
medir la de la otra unin, pues todo cambio en dicha unin de referencia ser una fuente de
error. Repercute en ello que la tensin de salida es muy pequea, por cuanto la sensibilidad
tpica es de 6 a 75V / C. Si adems la temperatura de referencia no es muy prxima a
la de la medida, resultar que la seal ofrecida tendr un nivel alto constante en el que
los cambios de temperatura de inters puede que provoquen slo pequeas variaciones de
tensin.
Si se desea una precisin elevada, la no linealidad de la relacin entre f.t.e.m. y temperatura
puede ser importante. Una frmula aproximada y con validez general es
VAB C1 (T1 + T2 ) + C2 (T12 T22 )
(7.2.7)
7.2. TERMOPARES
207
viene limitada, precisamente, por el inters de que C2 sea muy pequea, y esto restringe
mucho las posibilidades de eleccin. Para el termopar de cobre/constantan, por ejemplo,
se tiene
(7.2.8)
EAB 62.1(T1 + T2 ) + 0.045(T12 T22 )V
Esta no linealidad puede que requiera una correccin que se realiza en el circuito de acondicionamiento de seal. Considerando todos los factores, es dficil tener un error menor que
0.5 C. La tolerancia de unas a otras unidades del mismo modelo, puede ser de varios
grados Celsius.
A pesar de estas limitaciones, los termopares tiene muchas ventajas y son, con mucha diferencia, los sensores ms frecuentes para la medida de temperaturas. Por una parte, tienen un
alcance de medida grande, no slo en su conjunto, que va desde 270 C hasta 3000 C, sino en
cada modelo particular. Por otra parte, su estabilidad a largo plazo es aceptable y su fiabilidad elevada. Adems, para temperaturas bajas tiene mayor exactitud que las RTD, y por su
pequeo tamao permiten tener velocidades de respuesta rpidas, del orden de milisegundos.
Poseen tambin robustez, simplicidad y flexibilidad de utilizacin, y se dispone de modelos de
bajo precio que son suficientes en muchas aplicaciones. Dado que no necesitan excitacin, no
tienen los problemas de autocalentamiento que presentan las RTD, en particular al medir la
temperatura de gases.
7.2.2
La simplicidad general de los termopares ha conducido a su amplio uso como sensores para
medida de la temperatura. Hay, sin embargo, un nmero de complicaciones en su uso:
1. La medida de tensin se debe hacer sin flujo de corriente.
2. Las conexiones a dispositivos de medida de tensin resultan en uniones adicionales.
3. La tensin depende de la composicin de los metales usados en los hilos.
Para que un termopar pueda ser usado como medidor de temperatura, no debe haber flujo de
corriente a travs de los hilos y la unin. Esto es porque el flujo de corriente no solo resultar en
prdidas resistivas sino que tambin afectar las tensiones termoelctricas. Reunir este requisito
actualmemte no es un problema puesto que se dispone de voltmetros electrnicos y de sistemas
de adquisicin de datos con muy alta impedancia de entrada.
La segunda complicacin tiene que ver con el hecho de que realmente hay tres uniones en
la Fig. 7.1. Adems de la unin sensora, hay dos uniones donde el termopar se conecta con
el DVM. La lectura de la tensin as, es funcin de tres temperaturas (la unin sensora y las
uniones a los terminales del DVM), dos de las cuales son de ningn inters. La solucin a este
problema se muestra en la Fig. 7.2(a).
208
Alambre de
metal A
Alambre de
metal A
Cobre
Unin
sensora
Unin
sensora
DVM
Alambre de
metal B
Metal A
Unin de
referencia
(a)
DVM
Alambre de
metal B
Metal B
Uniones de
referencia
(b)
209
7.3
Sensores piezoelctricos
What is Piezoelectricity?
An overview & History
In the 1880s, Pierre and Jacque Curie discovered that some crystalline materials, when
compressed, produce a voltage proportional to the applied pressure and that when an electric
field is applied across the material, there is a corresponding change of shape.
This characteristic is called piezoelectricity or pressure electricity (Piezo is the Greek word
for pressure).
Piezoelectric ceramics respond rapidly to changes in input voltage, and power supply noise
is the only limiting factor in the positional resolution. Although high voltages are used to
produce the piezoelectric eect, power consumption is low, and energy consumption is minimal
in maintaining a fixed position with a fixed load.
Although piezoelectricity is found in several types of natural materials, most modern devices
use polycrystalline ceramics such as lead zirconate titanate (PZT).
A material is said to possess piezoelectric properties if an electrical charge is produced when
a mechanical stress in applied. This is commonly referred to as the generator eect. The
converse also holds true; an applied electric field will produce a mechanical stress in the material.
This is commonly referred to as the motor eect.
Some naturally occurring crystalline materials possessing these properties are quartz and
tourmaline. Some artificially produced piezoelectric crystals are Rochelle salt, ammonium dihydrogen phosphate (ADP) and lithium sulphate (LH).
210
211
Piezoelectric ceramics also possess pyroelectric properties. A change in ceramic temperature will result in a change in mechanical dimensions. The mechanical change produces stress
within the ceramic and corresponding electrical charge on the electrode surfaces. Very high
potentials can be created, caution should be exercised when handling piezoelectric ceramic.
7.3.1
Captadores Piezoelctricos
7.3.2
Materiales piezoelctricos
Entre los materiales naturales que manifiestan el fenmeno descrito estn los cristales de cuarzo
y turmalina, y entre los materiales sintticos que se comportan del mismo modo pueden citarse la
sal de Rochelle y el titanato de bario, adems de ciertos compuestos de tipo cermico utilizados
actualmente.
El titanato de bario, concretamente, pertenece al grupo de los denominados materiales
ferroelctricos, de los cuales el ms representativo podra ser el zirconato de plomo. Deben su
nombre a la analoga entre los dominios elctricos, concepto que se utiliza en la interpretacin
terica de sus propiedades, y los dominios magnticos a los que se hace referencia en la teora
del ferromagnetismo. Durante el proceso de fabricacin, se polarizan calentndolos por encima
del punto Curie y se dejan enfriar lentamente en presencia de un fuerte campo elctrico (obsrvese
la analoga con el proceso de fabricacin de los imanes y la dualidad campo magnticocampo
elctrico).
Los dispositivos que utilizan materiales ferroelctricos se caracterizan por su gran robustez y
capacidad para soportar grandes esfuerzos. Se emplean adems frecuentemente como actuadores
y, en especial, en sistemas de generacin de ultrasonidos.
Recientemente se estn utilizando tambin los polmeros ferroelctricos entre los cuales
destaca el fluoruro de polivinilideno, material de alta sensibilidad piezoelctrica y piroelctrica
que sive de base para algunos sensores modernos experimentales de diversas magnitudes mecnicas, elctricas y pticas. Actualmente se estudia su aplicabilidad a la deteccin tactil en robots
y en prtesis de miembros.
En aplicaciones como sensores, destacan los cristales de cuarzo tallados segn determinadas direcciones preferentes en forma de lminas sobre cuyas caras opuestas se depositan
electrodos metlicos (generalmente de oro o de plata). Dependiendo de la direccin del corte,
212
7.3.3
Base Terica
Las relaciones mecanoelctricas para un material piezoelctrico vienen dadas por las siguientes
ecuaciones (unidimensionales):
= (T, E)
D = D(T, E)
=sT +dE
D =E +dT
donde
Deformacin unitaria
T Esfuerzo
E Campo elctrico
D Desplazamiento
Constante dielctrica
s Inversa del mdulo de Young
d Constante piezoelctrica (C/N )
En estos materiales, tanto la deformacin mecnica como el vector desplazamiento elctrico
se deben a una cambinacin del esfuerzo y campo elctrico aplicado al material. Un ndice de la
conversin viene dado por el coeficiente de acoplamiento electromecnico (K), definido como la
raz cuadrada de la relacin entre la energa disponible y la almacenada (para frecuencias muy
por debajo de la frecuencia de resonancia del elemento). Puede demostrarse que
K=
d2
s
213
j, n = 1, 2, . . . 6
i, k, l, m = 1, 2, 3
l 6= m
z
e
(7.3.1)
donde K es una constante que depende del material y de la direccin de la talla y e es el espesor
del cristal antes de la deformacin.
Si, en el caso ms gnenral, se supone que z est variando con el tiempo a una velocidad
dz/dt y una aceleracin d2 z/dt2 , considerando el sentido positivo de z indicado en la Fig., Se
obtien derivando la expresin (7.3.1):
i=
K dz
dQ
=
dt
e dt
(7.3.2)
donde se ha considerado que el espesor e permanece constante. Existe pues una corriente de
desplazamiento interno de cargas proporcional a la velocidad de deformacin, que circulara por
el conductor de cortocircuito entre terminales.
214
Por otra parte, como se indica en la Fig., intervienen en el caso ms genral, adems de
la fuerza F aplicada, otras solicitaciones que definen el equilibrio dinmico del sistema y que
pueden expresarse del modo siguiente en funcin de z y sus derivadas
2
Fuerza de inercia a la masa m equivalente del cristal
m ddt2z
dz
r dt
Fuerza asociada a las resistencias pasivas (del tipo de rozamiento viscoso, proporcional a la velocidad)
l
Cm z Fuerza de reaccin elstica, proporcional a la deformacin, donde Cm , es la llamada
capacidad mecnica, inversa de la elastancia mecnica del cristal para el modo de deformacin
considerado.
El equilibrio dinmico se expresar indicando balance de fuerzas que acta sobre el sistema:
F =m
l
dz
d2 z
+r +
z
2
dt
dt
Cm
(7.3.3)
7.3.4
idt
(7.3.4)
Considrece ahora el esquema de la Fig. (7.5) que representa un circuito L, R, C en serie alimentado por un generador de tensin v(t).
R
+
F
-
Co
i(t)dt
(7.3.5)
Dado que los trminos funcionales de los segundos miembros de las ecuaciones (7.3.4) y (7.3.5)
son idnticos, puede establecerse una equivalencia entre ambas expresando la proporcionalidad
215
entre las funciones de los primeros miembros y entre los coeficientes correspondientes del segundo,
o sea
u(t)
LK
RK
Cm K
=
=
=
=
(7.3.6)
F
me
re
Ce
donde sera el factor de proporcionalidad.
De la ecuacin anterior, se deducen las expresiones
u(t) = F
L=
e
K
e
m R = r C = Cm
K
K
e
Resulta as que puede establecerse una analoga entre el cristal en su equilibrio dinmico y un
circuito resonante serie con amortiguamiento, en donde son vlidas las siguientes relaciones:
La tensin de alimentacin es proporcional a la fuerza.
La resistencia es proporcional al coeficiente representativo del efecto del amortiguamiento
mecnico del sistema.
La inductancia es proporcional a la masa equivalente del cristal.
La capacidad elctrica es proporcional a la capacidad mecnica.
Estas conclusiones son de gran utilidad para el estudio de circuitos con cristales piezoelctricos, toda vez que el cristal puede ser sustituido por un circuito L, R, C equivalente alimentado por
un generador de tensin proporcional a la fuerza aplicada, como se muestra en la Fig.(izquieda).
Si se abre el corto circuito entre los terminales fsicos del cristal, quedar intercalado en el
buque el condensador C0 correspondiente a la disposicin de los dos electrodos separados por el
propio cristal (dielctrico) y, en este caso, la corriente i(t) no podra ser medida fisicamenteya
que estaa formada por el desplazamiento interno de cargas que se almacenaran, en definitiva,
en dicho condensador. El circuito equivalente completo es el representado en la derecha de la
Fig. (), donde los pintos a y b corresponden a los terminales fsicos del sensor
A modo de ejemplo, se indican a continuacin los parmetros elctricos d un cristal de cuarzo
de frecuencia de resonancia igual a 10M Hz (corte AT).
En aplicaciones como sensor, donde el funcionamiento tiene lugar a frecuencias muy inferiores
a la de resonancia mecnica del cristal (obviamente coincidente con la resonancia elctrica de su
circuito equivalente), tanto las velocidades como las aceleraciones tienen valores tan bajos que es
posible despreciar los trminos asociados a estas magnitudes, con lo cual el circuito equivalente
se reduce al ilustrado en el lado izquierdo de la Fig.().
En el lado derecho de dicha figura se muestra una configuracin aun ms simplificada que
resulta de la anterior aplicando el teorema de Thevenin entre los terminales a y b, en donde el
generador corresponde al original afectado del coeficiente = C/(C + C0 ) del divisor de tensin
capacitivo y la impedancia interna est formada por los dos condensadores en paralelo.
216
Puede decirse que el cristal piezoelctrico, dentro de las aproximaciones indicadas, equivale
a un generador de tensin proporcional a la fuerza aplicada en serie con un condensador que
corresponde aproximadamente al definido fsicamente por la geometra del sensor (es decir, el
condensador C0 ), siempre referido al modelo de la Fig().
El estudio de la respuesta de los cristales piezoelctricos a solicitaciones estticas proporciona
interesantes relaciones entre los parmetros que se estn manejando y otros dependientes de las
propiedades elsticas del material y de su geometra.
7.3.5
Respuesta esttica
Si se supone sometido el cristal a una fuerza constante y el sistema est en reposo, la carga
almacenada en las placas ser
1F
z
(7.3.7)
Q=K =K
e
ES
donde E es el mdulo de Young, F la fuerza aplicada y S la superficie sobre la que acta (la de
los electrodos de acuerdo con el modelo de la Fig()). Por otra parte, de acuerdo a la definicn
de Cm , se tiene, en condiciones estticas (la nica fuerza que se opone a F es la reaccin elstica
del cristal)
1
z
(7.3.8)
F =
Cm
deduciendose de estas dos ecuaciones la relacin
S
=E
Cm
e
(7.3.9)
Mediante diferentes operaciones, se obtienen adems estas otras expresiones que proporcionan
los valores de .R y L en funcin de los parmetros fsicos del cristal entre los que se cuenta la
capacidad C.
La tensin de salida del sensor piezoelctrico para excitacin esttica es, segn la Fig.()
=
K
CES
R=
e
e
C
r L=
m us =
F
CES
CES
C + C0
(7.3.10)
1
K
K F
F =
ES C + C0
ESC0
(7.3.11)
(7.3.12)
217
Puede observarse que esta sensibilidad es funcin de las caractersticas fsicas del cristal (E, e, K)
y de su configuracin geomtrica (e/S 2 ), siendo fuertemente dependiente de la superficie de
lascaras que sirven de soporte a los elctrodos. Obviamente, la sensibilidad referida a presin
(F/S) tendra una expresin idntica a la anterior pero en el denominador aparecera S sin
elevar al cuadrado.
7.3.6
Respuesta dinmica
Suponiendo aplicada una fuerza variable senoidalmete, es decir de la forma F (t) = Fm sent la
tensin de salida del sensor en rgimen permanente se deduce del circuito equivalente, siendo su
mdulo:
CFm
p
(7.3.13)
|us | =
C0 ((1 LC 2 )2 + R2 C 2 2 )
Esta misma expresin puede ponerse en funcin de los parmetros mecnicos del cristal utilizando las equivalencias ya conocidas, con lo que resulta
|us | =
Cm KFm
p
2 2 )
eC0 ((1 LCm 2 )2 + r2 Cm
(7.3.14)
(7.3.15)
0 = 2f0 =
mCm 2m2
donde 0 y f0 son la pulsacin y la frecuencia de resonancia, respectivamente.
En las aplicaciones como sensor, un criterio a seguir es que las frecuencias contenidas en la
magnitud excitadora sean muy inferiores a la de resonancia del cristal, con objeto de operar en
la parte plana de la curva.
En otro tipo de aplicaciones (osciladores, generadores de ultrasonidos, etc) el cristal se hace
funcionar precisamente a su frecuancia de resonancia. En estos casos, en que no existe una
fuerza exterior aplicada, el cristal se considera como elemento del circuito pasivo y es interesante observar que presenta dos frecuencias de resonancia (que corresponde a las denominadas
resonancia serie y resonancia paralelo). En efecto, la impedancia entre los puntos a y b del
circuito equivalente de la Fig.() es:
z=
1
1 + RCp + LCp2
CC0
CC0 2 (C + C )p
1 + R C+C0 p + L C+C0 p
0
(7.3.16)
218
cuyo mdulo, para funcionamiento en alterna (p = j), tiene un mnimo y un mximo correspondiente a las dos frecuencias de resonancia mencionadas.
Una primera aproximacin vlida consiste en despreciar el efecto amortiguador de la resistencia R (en efecto, los factores Q son usualmente de decenas de millares), con lo cual:
z()
=
1
1 (/s )2
(C + C0 )j 1 (/ p )2
(7.3.17)
(7.3.18)
Dado que, como se ha explicado anteiormente, C0 es mucho mayor que C, las pulsaciones o
frecuencias de resonancia serie y paralelo son casi iguales, es decir:
s
= p
(7.3.19)
Los osciladores de cristal oscilan una frecuencia comprendida entre la de resonancia serie y la de
resonacia paralelo, en los diseos ms usuales, con un ligero desplazamiento hacia la resonancia
paralelo. No obstante, de acuerdo con (eq), la frecuencia de oscilacin es prcticamente igual
a ambas y a la de resonancia mecnica del cristal (). En ciertos casos, los cristales se hacen
oscilar a mltiplos de la frecuencia fundamental (sobretonos) forzando determinados modos de
vibracin en los que se producen ondas estacionarias. Dependiendo de las caractersticas del
cristal, pueden excitarse modos de vibracin a compresin, a cortadura, a flexin, etc.
En la Fig.() se ilustra cualitativamente el mdulo de la impedancia dada por () en funcin
de la pulsacin .
Es de destacar que existen sensores basados en la variacin de la frecuencia de oscilacin
con el incremento de la masa del cristal al fijarse sobre un recubrimiento sensible determinadas
substancias (microgavimetra selectiva), pero se trata en este caso de sensores indirectos.
7.3.7
Los circuitos equivalentes de los cristales piezoelctricos muestran dificultades de las medidas
en muy baja frecuencia con este tipo de sensores (impedancia de salida infinita para frecuencia
cero).
No obstante, pueden aplicarse vitualmente en cualquier rango de frecuencias utilizando los
denominados amplificadores de carga, que consisten esencialmente en integradores.
En la Fig.() se muestra en foram esquemtica un sisterma que muestra un integrador
analgico conectado a un sensor piezoelctrico, que aparece sustituido por su circuito equivalente. La tensin de salida de este circuito, viene dada por la siguiente expresin:
us =
1+(p/s )2
R (c + C0 )p + 1 C0
1+(p/p )2 a
(7.3.20)
219
que, para magnitudes con un contenido armnico de muy baja frecuencia, puede aproximarse
como
C
Qc
us = F =
(7.3.21)
Ca
Ca
La tensin de salida es, pues, aproximadamente proporcional a la carga Qc alamcenada en el
condensador Ca .
Los amplificadores de carga permiten as medidas incluso en condiciones estticas (de hecho,
la expresin anterior es exacta en tales condiciones), entregando una salida proporcional a la
fuerza aplicada. Su principal problema prctico es que tienden a saturarse a largo plazo por
integracin de pequeos errores de deriva de continua, lo que obliga a utilizar amplificadores
operacionales de altas prestaciones en lo que se refiere a deriva, tensiones de desviacin (oset)
y corrientes de polarizacin. Adicionalmente, suele ser necesario cortocircuitar peridicamente
el condensador de integracin para eliminar errores acumulados. Por supuesto, puede utilizarse
cualquier esquema de integrador adems del ilustrado en la Fig.().
Otro problema que se presenta algunas veces cuando el cable de conexin de seal es largo
existen perturbaciones mecnicas ambientales (acsticas, vibratorias, etc), es que dicho cable
puede comportarse como un transductor microfnico, apareciendo ruido en la seal. Muchos
fabricantes disponen de cable especial para evitar o mitigar este efecto. Adicionalmente, la capacidad parsita asociada se suma al valor de C0 , reducindose la amplitud de la seal disponible
por efecto de divisor capacitivo con el condensador C. Es recomendable preamplificar la seal
muy cerca del sensor.
La instrumentacin asociada a las medidas con transductores piezoelctricos es usualmente
no diferencial con el crislta aislado a tierra, realizndose en este caso la conexin masapantalla
tierra en el extremo de la carga final de utilizacin (aparato de registro, osciloscopio, etc).
La Fig.() ilustra un esquema de apantallamiento recomendado cuando se utiliza un amplificador de carga que tien conectada interiormente la masa al blindaje, pudiendo apreciarse que
las pantallas de los conduntores de entrada y salida del amplificador puentean el blindaje
de este ltimo. Esta disposicin es la ms favorable para evitar interferencias producidas por
diferencias de potencial entre la tierra de seal (tierra remota) y la de los aparatos de registro
o medida fianles (tierra local) ya que las correintes implicadas circulan principalmente por las
pantallas y blindaje del amplificador y no por los conductores de seal. Se respetan al mismo
tiempo las reglas bsicas de apantallamiento de la instrumentacin no diferencial (continuidad
directa entre pantallas y blindaje y conexin a masa de estos elementos).
7.3.8
Aplicaciones
Los sensores piezoelctricos encuentran aplicacin en multitud de transductores analgicos directos (medidores de fuerza y presin, acelermetros, micrfonos, etc) que se caracterizan, en
general, por su fiabilidad, robustez y capacidad para trabajar en ambientes hostiles. Podra
afirmarse, no obstante, que las realizaciones de mayor difusin se refieren a medidas dinmicas,
dados los problemas que presentan en muy baja frecuencia. Sin embargo, existen transductores
220
basados en cristales piezoelctricos de gran precisin que son exitados por magnitudes estticas
o cuasiestticas.En los transductores en que la magnitud excitadora puede cambiar de signo (por
ejemplo, un acelermetro que puede medir aceleracin y desaceleracin) y este hecho implica
una inversin de la solicitacin mecnica (por ejemplo, se pasa de compresin a traccin), se
prefiere polarizar mecnicamente el cristal sometindolo a una deformacin inicial a la que se
superpone en un sentido u otro la debida a la magnitud a medir.
En la Fig.() se muestra esquemticamente, por por ejemplo, la estructura de un acelermetro
tpico, donde puede observarse como el cristal est precomprimido por un resorte dispuesto entre
la carcasa del transductor y la masa de inercia que acta como sonda. La fuerza de precompresin
puede ajustarse haciendo girar la tapa roscada sobre la que se apoya el resorte.
y
1.5
1.25
0.75
0.5
0.25
0
0
0.25
0.5
0.75
1
x
Figura 7.6:
Captulo 8
Introduccin
En este captulo se proporcionan las bases tcnicas de los sistemas comunes usados para medir
presin y humedad. Se incluyen los dispositivos de medida ms corrientes, aunque deber notarse
que en la prctica de ingeniera tambin se emplean otros dispositivos. En este captulo tambin
se hace una introduccin a la tecnologa de fibra ptica en los sistemas de medida los cuales
incluyen sensores para presin, temperatura y otras variables fsicas.
8.2
Medida de presin
La presin se mide en tres formas diferentes: presin absoluta, presin atmosfrica y presin
diferencial.
La presin absoluta se usa en termodinmica para determinar el estado de una sustancia, se
mide con relacin al cero absoluto de presin.
La presin atmofrica es la presin ejercida por la atmsfera terrestre medida con un barmetro.
A nivel del mar esta presin es cercana a 760mm Hg absolutos o 14.7 psia (libras por pulgada
cuadrada absoluta) y estos valores definen la presin ejercida por la atmsfera estndar.
La presin diferencial es la diferencia de presin entre dos puntos de un sistema.
El vaco es la diferencia de presiones entre la presin atmosfrica existente y la presin
absoluta, es decir, es la presin medida por debajo de la atmosfrica.
Existen dispositivos para medir directamente la presin en cada forma. Aunque algunos
dispositivos miden directamente la presin absoluta, es comn hacer dos medidas con dos dispositivos uno para determinar la presin absoluta ambiente y el otro para determinar la presin
atmosfrica. La presin absoluta es entonces
pabs = pamb + patm
221
(8.2.1)
222
8.3
(8.2.2)
Existen tres dispositivos tradicionales para medida de presin los cuales no tienen salida elctrica pero an son muy utilizados por lo cual merecen ser mencionados. El manmetro y el tubo
Bourdon (desarrollado por E. Bourdon en 1849) son usados debido a que se puede leer directamente la presin. El tercer dispositivo, el sensor de peso muerto, es valioso para calibracin de
otros dispositivos de medida de presin. Ninguno es adecuado para medidas dinmicas.
8.3.1
Manmetros
Tubo
transparente
en U
Densidad m
h
(R)
223
(8.3.1)
donde h = R es la diferencia de niveles de las dos interfaces, m es la densidad del lquido del
manmetro, s es la densidad del fluido sensado y g es la aceleracin de la gravedad. Para los
gases, s es muy pequea con respecto a m y se puede despreciar, dando P = Rgm .
Aunque la presin tiene unidades de psi o Pa, es comn expresarla como la altura de una
columna de un fluido. Si una presin se divide entre g, el resultado tiene unidad de altura.
Por ejemplo, en el sistema ingls de unidades, si se usa la densidad del agua, la presin puede
expresarse como pies de agua o pulgadas de agua. La presin atmosfrica usualmente se expresa
de esta manera 30 pulgadas o 760 mm Hg, por ejemplo. Cuando se expresa la presin como
la altura de una columna de un fluido, tambin es necesario conocer la temperatura del fluido
puesto que sta afecta la densidad. Por ejemplo, la densidad del agua vara 0.75% entre 10 y
40 C. Es comn usar la densidad del agua a 4 C, 1000kg/m3 o 62.43lbm/f t3 . Tambin es comn
especificar la densidad del fluido usando el trmino gravedad especfica, S, la cual es la razn de
la densidad del fluido a la densidad del agua a una temperatura especfica (usualmente 4 C).
Los manmetros son normalmente precisos an sin calibracin. Los principales factores que
afectan su precisin son la escala y la densidad del fluido del manmetro. Las escalas se pueden
construir de forma precisa y mantener su precisin con el tiempo. Las densidades de los fluidos
tambin son conocidas y pueden ser fcilmente chequeadas. La expansin trmica afecta tanto
a la escala como a la densidad del fluido, pero se pueden hacer correcciones analticas para
eliminar los errores.
Los manmetros de U tambin tienen el inconveniente de que es necesario leer la localizacin
de las dos interfaces. Una variacin comn, el manmetro de tipo recipiente, se muestra en la
Fig. 8.2.
En esta configuracin, el rea de la seccin transversal es muy grande comparada con el rea
del tubo transparente y cuando se aplica una presin, el cambio en la elevacin de la superficie
del recipiente es muy pequeo comparado con el cambio de elevacin en el tubo. Como resultado,
slo se requiere una lectura. Los dispositivos tienen un ajuste, de modo que la lectura es cero
cuando no hay presin diferencial aplicada. Para aplicar los manmetros a medida de gases se
puede usar directamente la ecuacin (8.3.1), ya que s 0. Para lquidos, la frmula aplicable
es ms complicada puesto que el recipiente y la columna no estn a la misma altura. Para
aplicaciones a lquidos, el usuario deber seguir el anlisis sobre manmetros dado, v. gr., en
Streeter y Wylie [31].
Cuando se tienen presiones diferenciales muy bajas se puede usar el llamado manmetro
inclinado (Fig. 8.3), el cual tiene mayor resolucin con lo cual se incrementa la sensibilidad.
ste se puede utilizar para medir presiones tan bajas como 0.1 pulgadas de una columna de
agua. El tubo inclinado hace que un pequeo cambio en la altura del fluido cause un gran
desplazamiento en la direccin del tubo transparente.
224
R
P1
Recipiente
(8.3.2)
225
P2
P1
h
R
P
P
125000
=
=
= 0.937 88 m
m g
Sagua g
13.6 1000 9.8
Ejemplo 30 Una presin est dada como 58 psi. Cul es la presin expresada como pulgadas
de Hg y pies de agua?
Sol. Usando la ecuacin (8.3.1), s = 0, se obtiene
2
lbf
pul
lbf pies
58 pul
2 144 pies2 32.17 lbf s2
P
=
h =
pies = 9. 836 9 pies Hg = 118. 04. pulg Hg
lbm
Hg g
13.6 62.43 pies
3 32.17 s2
lbf
pul
lbf pies
58 pul
2 144 pies2 32.17 lbf s2
P
h =
= 133. 78 pies de H2 O
=
pies
lbm
H O g
62.43 pies
3 32.17 s2
2
226
Vaco
Tubo transparente
8.3.2
Tubo Bourdon
Un dispositivo de medida de presin muy comn, el tubo Bourdon, se muestra en la Fig. 8.5. Es
un dispositivo sencillo para obtener lecturas rpidas de presin en los fluidos. El principio bsico
de operacin es que un tubo curvo y aplanado tratar de enderezarse cuando sea sometido a
una presin interna. El terminal del tubo se conecta con un engranaje a un indicador rotatorio.
Puede utilizarse para presiones hasta de 20000 psi o ms, aunque no tiene alta precisin son
comunes errores de hasta el 5%. Se pueden obtener dispositivos de mucha mejor respuesta con
errores de hasta del 0.5% a plena escala. Los tubos Bourdon son utilizados algunas veces como
dispositivos de sensado de presin remotos. La deflexin del tubo es sensada con un LVDT o un
potencimetro los cuales transmiten una seal elctrica al lugar de adquisin de datos.
8.3.3
El probador de peso muerto, mostrado en la Fig. 8.6 es un dispositivo que se utiliza a menudo
para calibrar otros dispositivos de medida de presin a presiones moderadas o altas. El dispositivo de medida de presin a ser calibrado, sensa la presin del aceite contenido en una cmara.
227
Seccin A - A
Seal de presin
Dispositivo
a ensayar
Pesas
W
rea de
pistn, A
Tornillo con
rosca de
desplazamiento
Aceite
Manivela
228
8.3.4
Transductores de presin
Un dispositivo muy comn y relativamente barato para medir presin en un fluido es el transductor de presin de diafragma con galga extensomtrica, esquematizado en la Fig. 8.7. La presin
de prueba se aplica a un lado del diafragma, una presin de referencia al otro lado y la deflexin
del difragma se sensa con galgas extensomtricas. En los diseos ms comunes, la presin de
referencia es la atmosfrica, de modo que el transductor mide dicha presin. En algunos casos el
lado de referencia del transductor es evacuado y sellado de modo que el transductor mide presin
absoluta. Finalmente, ambos lados del transductor se pueden conectar a diferentes presiones de
prueba de modo que la medida es presin diferencial. Los transductores para cada una de estas
aplicaciones tienen detalles de construccin ligeramente diferentes.
Galga
extensiomtrica
Presin de
referencia
Seal de
presin
Diafragma
229
Presin de
referencia
Cpsula
LVDT
Seal de
presin
Diafragma
Presin de
referencia
Seal de
presin
230
dinmico de segundo orden. Si el diafragma es muy flexible, la frecuencia natural ser baja
y la salida del transductor ser engaosa para variaciones de presin a alta frecuencia. Los
transductores usados para medidas de presin a alta frecuencia, tales como los procesos de
combustin en una mquina de combustin interna, normalmente usan un elemento de sensibilidad piezoelctrica.
Figura 8.10:
Un esquema de de un transductor piezoelctrico se muestra en la Fig.8.11 Estos transductores
generalmente usan elementos de sensibilidad piezoelctrica de efecto transversal. Los materiales
piezoelctricos son muy rgidos y esos transductores en muchas aplicaciones tienen una frecuencia
natural alta.Los transductores piezoelctricos de presin pueden tener frecuencias naturales por
encima de 150 kHz y son usables por encima de mas o menos 30 kHz.
La geometra de los transductores piezoelctricos es diferente de los transductores discutidos
anteriormente el diafragma es del tipo flusf-mounted, y cuando el transductor es instalado
este llega a hacer contacto directo con el fluido en la pipeta o cmara. La razn para esto es
doble. Si una cavidad fue includa como en los otros transductores, esta puede significativamente
alterar lo medido, debido a la presin. Adems la frecuencia natural, puede ser reducida y la
habilidad para responder a los transitorios puede ser empeorada. Las lineas de sensibilidad
afectan la frecuencia natural, haciendo determinante la dependencia de la frecuencia natural en
la aplicacin. Otros tipos de transductores de presin son tambin disponibles con elevacin a
nivel, pero estos son frecuentemente para uso en fluidos sucios, en los cuales la cavidad puede
llegar a ser tapada o difcil de limpiar
231
Elemento (s)
piezoelctrico (s)
Diafragma
Conector
elctrico
8.3.5
La necesidad de medir presiones absolutas muy bajas (vaco) existe tanto en el laboratorio como
en la industria. El frioseco de los alimentos se realiza en un ambiente vacio. Las presiones de
vaco absoluto se miden en unidades de torr. Esta unidad se define como 1/760 de la atmsfera
estndar. Puesto que la atmsfera estndar es 760mm de mercurio, 1 torr es 1mmHg. Norton
(1982) dio las siguientes definiciones para rangos de presiones de vaco:
Vaco bajo
760 a 25 torr
Vaco medio
25 a 103 torr
Vaco alto
103 a 106 torr
Vaco muy alto 106 a 109 torr
Vacio ultra-alto Inferior a 109 torr
Los dispositivos de medida de presin descritos previamente pueden ser usados para medicin
de vacios bajos y medios. Los manmetros, los calibradores bourdon, y calibradores similares
usan un fuelle instalasdo de un tubo bourdon y los transductores de diafragma capacitivos pueden
medir vacios hasta 103 torr. Transductores especializados de diafragma capacitivo pueden medir
vacios tan bajos como 105 torr [Norton (1982)].A continuacin, se discutiran tres dispositivos
especializados de medida de vacio: el calibrador de McLeod, calibradores de conductividad
trmica,. y calibradores de ionizacin. Ese es un calibrador mecnico usado para graduacin, y
los otros dos proveen salidas electricas.
Calibrador McLeod
El principio de operacin es para comprimir un volumen grande de gas a baja presin en uno
ms pequeo y despus medir esa presin. Un bosquejo de una variacin del calibrador McLeod
se muestra en la Fig..8.12(a). La cmara grande con volumn V es llenada completamente con
232
gas a presin baja. Luego, el mbolo es empujado hacia abajo hasta que el mercurio ascienda
al nivel h2 en el tubo capilar 2 Fig..8.12(b). En el modelo de operacin mostrado aqui, el nivel
de h2 es el mismo como el tope del tubo capilar 1
S eal de
vaco P vac
C apilar
de seccin
transversal,a
Tubo capilar 2
h2
h1
Tubo capilar 1
m bolo
Punto A
M ercurio
(a)
(b)
(8.3.3)
P 0 = Pvac + (h2 h1 )
(8.3.4)
(8.3.5)
(h2 h1 )a(h2 h1 )
= k(h2 h1 )2
V
(8.3.6)
233
Esto es, la presin sensada es igual a la diferencia de las alturas al cuadrado multiplicada
por una constante k. La escala puede ser marcada para ser leda directamente en unidades de
torr.
El calibrador McLeod es til para medir vacios en un rango 103 a 106 torr. Deben se usados
con gases secosque no se condensen mientra es comprimido en el tubo capilar El calibrador
McLeod tiene algunos inconvenientes para su uso y son usados principalmente para calibrar
otros dispositivos de medida de vaco.
Calibradores de vaco de Conductividad Trmica
Estos equipos estn basados en el hecho de que la conductividad trmica de los gases a bajas
presiones es funcin de la presin Aunque estos equipos no por lo normal sensan vacios tan
bajos coma la galga McLeod, ellos proveen una salida elctrica y son simples de usar. Un sensor
de conductividad trmica llamado galga Pirani est representado en la Fig().
Figura 8.13:
Un filamento calentado est localizado en el centro de un canal conectado a la fuente de
vacio. La transferencia de calor del filamento a la pared est dado por
q = C(Tf Tw )Pvac
(8.3.7)
234
8.4
Medida de Temperatura
Parte II
Adecuacin de la Seal
235
Captulo 9
El amplificador operacional
9.1
Introduccin
237
238
Captulo 10
Confiabilidad
En anteriores secciones se defini la precisin de un sistema de medida y se explic cmo un
error de medida puede ser calculado, bajo condiciones de estabilidad estable y dinmica. La
confiabilidad es otra caracterstica importante de un sistema de medida; no es bueno tener
un sistema de medida exacto el cual est contantemente fallando y requiriendo reparacin. La
primera seccin de este cpitulo tiene que ver con la confiabilidad de sistemas de medida; primero
explicando los principios fundamentales de confiabilidad, entonces se discute la confiablidad de
sistemas prcticos, y finalmente se examinan formas de confiabilidad.
10.1
10.1.1
(10.1.1)
240
(10.1.2)
La no confiablidid depende tambin del tiempo; un sistema que ha sido justamente chequeado y
calibrado podr tener una no confiabilidad de cero, cuando inicialmete se coloque en servicio,
aumentando, es decir, 0.5 despus de seis meses.
Tiempo medio entre fallas (M:T:B:F) Las anteriores definiciones, mientras el uso sea extremo,
sufren la desventaja de tener que especificar un perodo particular de operacin del equipo. Una
medida ms usual de funcionamiento la cual no involucra el perodo de operacin es el tiempo
medio entre fallas (M.T.B.F). M.T.B.F es aplicable a cualquier tipo de equipo el cual puede
ser reparado por medio del reemplazo de una componente fallada o unidad, y es de esta manera
adecuado para describir elementos de medida o sistemas. Supngase que N elementos idnticos o
sistemas estn probados para un perodo total T . Cada falla es registrada, el equipo es reparado,
se coloca fuera de servicio y el nmero total de fallas NF durante T se encuentra. El M.T.B.F
observado es
NT
M.T.B.F =
(10.1.3)
NF
donde el intervalo de prueba T no incluye el tiempo total de reparacin. As si se graban 150
faltas para 200 transductores diferenciales de presin por 1.5 aos, el M.T.B.F. observado es de
2.0 aos.
Taza de falla .Es el promedio del nmero de fallas, por item de equipo, por unidad de
tiempo. La taza de falla de varios elementos y sistemas de medida es aproximadamente constante
durante la mayor parte de la vida til. En este caso la taza de falla es el reciproco de M.T.B.F,
es decir
1
(10.1.4)
=
M.T.B.F
y la taza de fallo observada es
NF
(10.1.5)
=
NT
Variacin en la taza de fallo durante el tiempo de vida del equipo. La taza de falla, de
un tipo de elemento o sistema dado, varia a travs de la vida del equipo. Es posible identificar
tres fases distintas cada una con diferentes caracteristicas de falla: antes de la falla, durante
la falla (vida normal de trabajo) y falla por desgaste. Estas son mostradas en la Fig. (zz),
241
la llamada curva de baera. La regin de fallo temprana, permanece posiblemente seis meses,
es debido a componentes dbiles y falta de conocimiento en la operacin del sistema, la regin
madura, permanece posiblemente 10 aos, est caracterizada por una constante baja de taza
de fallo, todos los componentes dbiles han sido removidos y el sistema est siendo operado
correctamente. La regin de falla por desgaste est caracterizada por un incremento de la taza
defalla cuando las componentes tienden al fin de su vida til.
Relacin entre R(t), F (t) y , por la constante . Supngase que n0 items idnticos de un
equipo son escogidos en un tiempo de operacin t = 0.
242
Apndice A
245
E4s=dot(Ds,T4s);
plot(t,E4s)
end
3. Termocupla tipo B (Pt 30% Rd-Pt-6% Rd)
hold on
for t=0:1820,
Ab=[0 2.4674601620e-1 5.9102111169e-3 -1.4307123430e-6 2.1509149750e-9 -3.1757800720e12 ...
2.4010367459e-15 -9.0928148159e-19 1.3299505137e-22];
T1b=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8];
E1b=dot(Ab,T1b);
plot(t,E1b)
end
4. Termocupla tipo J (Pt 30% Rd-Pt-6% Rd)
hold on
for t=-210:760,
Aj=[0 5.0372753027e1 3.0425491284e-2 -8.5669750464e-5 1.3348825735e-7 -1.7022405966e-10
...
1.9416091001e-13 -9.6391844859e-17];
T1j=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7];
E1j=dot(Aj,T1j);
plot(t,E1j)
end
hold on
for t=760:1200,
Bj=[2.9721751778e+5 -1.5059632873e+3 3.2051064215 -3.2210174230e-3 1.5949968788e-6 ...
-3.1239801752e-10];
T2j=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5];
E2j=dot(Bj,T2j);
plot(t,E2j)
end
5. Termocupla tipo T (Cu/Cu Ni)
hold on
for t=-270:0,
At=[0 3.8740773840e1 4.4123932482e-2 1.1405238498e-4 1.9974406568e-5 9.0445401187e-7 ...
2.2766018504e-8 3.6247409380e-10 3.8648924201e-12 2.8298678519e-14 1.4281383349e-16 ...
4.8833254364e-19 1.0803474683e-21 1.3949291026e-24 7.9795893150e-28];
T1t=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8 t.^9 t.^10 t.^11 t.^12 t.^13 t.^14];
E1t=dot(At,T1t);
plot(t,E1t)
247
plot(t,E1k)
end
hold on
for t=0:1372,
Bk=[-1.8533063273e1 3.8918344612e1 1.6645154356e-2 -7.8702374448e-5 2.2835785557e-7 ...
-3.5700231258e-10 2.9932909136e-13 -1.2849848798e-16 2.2239974336e-20];
T2k=1e-6*[1 t t.^2 t.^3 t.^4 t.^5 t.^6 t.^7 t.^8];
K=125e-6*[1 1 1 1 1 1 1 1 1];
Tko=[exp(-0.5*((1-127)/65).^2) exp(-0.5*((t-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^2-127)/65).^2) ...
exp(-0.5*((t.^3-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^4-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^5-127)/65).^2) ...
exp(-0.5*((t.^6-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^7-127)/65).^2) exp(-0.5*((t.^8-127)/65).^2)];
Tk=dot(K,Tko);
E2k=dot(Bk,T2k);
Ek=E2k+Tk;
plot(t,Ek)
end
Apndice B
Introduction
The following definitions of the SI base units are taken from Ref. [5]; the definitions of the
SI supplementary units, the radian and steradian, which are now interpreted as SI derived
units, are those generally accepted and are the same as those given in Ref. [6]. It should be
noted that SI derived units are uniquely defined only in terms of SI base units; for example,
1V = 1m2 kg s3 A1 .
B.2
The meter is the length of the path travelled by light in vacuum during a time interval of 1/299
792 458 of a second.
B.3
The kilogram is the unit of mass; it is equal to the mass of the international prototype of the
kilogram.
B.4
The second is the duration of 9 192 631 770 periods of the radiation corresponding to the transition between the two hyperfine levels of the ground state of the cesium-133 atom.
1
249
250APNDICE B. DEFINICIONES DE LAS UNIDADES BSICAS DEL SI Y DEL RADIAN Y DEL STER
B.5
The ampere is that constant current which, if maintained in two straight parallel conductors of
infinite length, of negligible circular cross section, and placed 1 meter apart in vacuum, would
produce between these conductors a force equal to 2 10 7 newton per meter of length.
B.6
The kelvin, unit of thermodynamic temperature, is the fraction 1/273.16 of the thermodynamic
temperature of the triple point of water.
B.7
1. The mole is the amount of substance of a system which contains as many elementary
entities as there are atoms in 0.012 kilogram of carbon 12.
2. When the mole is used, the elementary entities must be specified and may be atoms,
molecules, ions, electrons, other particles, or specified groups of such particles.
In the definition of the mole, it is understood that unbound atoms of carbon 12, at rest and
in their ground state, are referred to.
Note that this definition specifies at the same time the nature of the quantity whose unit is
the mole.
B.8
The candela is the luminous intensity, in a given direction, of a source that emits monochromatic
radiation of frequency 540 1012 hertz and that has a radiant intensity in that direction of
(1/683) watt per steradian.
B.9
Radian
The radian is the plane angle between two radii of a circle that cut o on the circumference an
arc equal in length to the radius.
B.10
Steradian
The steradian is the solid angle that, having its vertex in the center of a sphere, cuts o an area
of the surface of the sphere equal to that of a square with sides of length equal to the radius of
the sphere.
B.10. STERADIAN
251
(a) The radian and steradian may be used with advantage in expressions for derived units
to distinguish between quantities of dierent nature but the same dimension.
(b) In practice, the symbols rad and sr are used where appropriate, but the derived unit "1"
is generally omitted.
(c) In photometry, the name steradian and the symbol sr are usually retained in expressions
for units.
(d) This unit may be used in combination with SI prefixes, e.g. millidegree Celsius, m C.
252APNDICE B. DEFINICIONES DE LAS UNIDADES BSICAS DEL SI Y DEL RADIAN Y DEL STER
Tabla B.1: Unidades SI derivadas con nombres especiales y smbolos
Derived
quantity
SI derived unit
in terms
of other
SI units...
Name
plane angle
solid angle
frequency
force
pressure,
stress
energy, work,
quantity of heat
power,
radiant flux
electric charge,
quantity of
electricity
electric potential
dierence, electromotive force
capacitance
electric resistance
electric conductance
magnetic flux
magnetic flux density
inductance
Celsius temperature
luminous flux
illuminance
activity (referred to
a radionuclide)
absorbed dose, specific
energy (imparted), kerma
dose equivalent, ambient
dose equivalent, directional dose equivalent,
personal dose equivalent,
organ equivalent dose
radian (a)
steradian (a)
hertz
newton
Expression in terms
of SI base units
mm1 = 1 (b)
m2 m2 = 1 (b)
s1
mkgs2
rad
sr (c)
Hz
N
pascal
Pa
N/m2
m1 kgs2
joule
Nm
m2 kgs2
watt
J/s
m2 kgs3
Coulomb
volt
W/A
S
Wb
T
H
C
lm
lx
C/V
V/A
A/V
Vs
Wb/m2
Wb/A
farad
ohm
siemens
weber
tesla
henry
degree Celsius
lumen
lux
becquerel
(d)
sA
cdsr (c)
lm/m2
m2 kgs3 A1
m2 kg1 s4 A2
m2 kgs3 A2
m2 kg1 s3 A2
m2 kgs2 A1
kgs2 A1
m2 kgs2 A2
K
m2 m2 cd=cd
m2 m4 cd=m2 cd
s1
Bq
gray
Gy
J/kg
m2 s2
sievert
Sv
J/kg
m2 s2
Apndice C
yota
zeta
exa
peta
tera
giga
mega
kilo
hecto
deca
deci
centi
mili
micro
nano
pico
femto
ato
zepto
yocto
253
Y
Z
E
P
T
G
M
k
h
da
d
c
m
n
p
f
a
z
y
254
Apndice D
D.1
The International Temperature Scale of 1990 (ITS-90) came into eect on 1 Janurary 1990,
replacing the IPTS-68 and the EPT-76.
The ITS-90 diers from the IPTS-68 in a number of important respects: - it uses the triple
point of water (273.16 K), rather than the freezing point of water (273.15 K), as a defining point
255
Figura D.1:
257
Bibliografa
[1] ANSI/ASME Measurement Uncertainty, Part I. ANSI/ASME PTC 19.11985. 1986
[2] Anderson, N., A., StepAnalysis Method of Finding Time Constant, Instrument Control
Systems, Nov., 1963.
[3] Avendao, L., E., Sistemas Electrnicos Lineales: Un Enfoque Matricial. Publicaciones
UTP, Pereira, 1995.
[4] Bentley, J., P., Principles of measurement Systems, Sec. Edit. Longman Scientific &Technical, N. Y., 1993.
[5] The International System of Units (SI), Ed. by B. N. Taylor, Natl. Inst. Stand. Technol.
Spec. Publ. 330, 1991 Edition (U.S. Government Printing Oce, Washington, DC, August
1991).
[6] American National Standard for Metric Practice, ANSI/IEEE Std 268-1992 (Institute of
Electrical and Electronics Engineers, New York, NY, October 1992).
[7] BLH Electronics, Semiconductor strain gages handbook, 1973.
[8] Budynas, R., G., Advanced Strength and Applied Stress Analysis, McGrawHill, N. Y.,
1977.
[9] Coleman, H., W., Steele, W., G., Experimental Uncertainty Analysis for Engineers, Wiley,
N. Y., USA., 1989.
[10] Creus, A., Instrumentacin Industrial. 6a Edicin. Alfaomega Marcombo Boixareu Ed.,
Bogot, 1998.
[11] Doebelin, E., O., Measurement Systems Application and Design, 4a Edition. McGrawHill
International Ed., N. Y., USA, 1990.
[12] Dorf, R., C., Circuitos Elctricos 2a Edicin, Edit. Alfaomega, Bogot, 1997.
259
260
BIBLIOGRAFA
[13] Floyd, T., Electronic Devices: ConventionalFlow Version, 4th Ed., Chap 16, PrenticeHall,
Englewood Clis, N. J., 1996
[14] Huelsman, L., Active and Passive Analog Filter Design an Introduction. McGrawHill, Inc.,
N. Y., USA. 1993.
[15] Hawgood J., Numerical Methods in Algol. McGrawHill, London, 1965.
[16] Kreyszig, E., Advanced Engineering Mathematics, 6th edicin, John Wiley & Sons, N. Y.,
USA, 1988.
[17] Lin, P., M., Single Curve for Determining the Order of an Elliptic Filter. IEEE Transactions on Circuits and Systems, vol 37, no. 9, September 1990, pps. 11811183.
[18] Lipson, C., Sheth, N., Statistical Design and Analysis of Engineering Experiments,
McGrawHill,N. Y.,1973.
[19] Molina, E., C., Poissons Exponential Binomial Limit. Van Nostrand Co., N. Y. 1942.
[20] Ogata, K., Ingeniera de Control Moderna PrenticeHall Hispanoamericana S. A., Mxico,
1985
[21] Proakis, J. G., Digital Signal Processing, PrenticeHall, Upper Saddle River, N. J., USA,
1996.
[22] Sedra, A., S., Smith, K., C., Microelectronic Circuits. 4th Ed. Oxford University Press. N.
Y., USA, 1998.
[23] Ferrero, C., Guijarro, E., Ferrero, J., M., Saiz, F., J., Instrumentacin Electrnica Sensores.
Pub. Universidad Politcnica de Valencia, Espaa, 1994.
[24] HewlettPackard, Practical strain gage measurements. Application Note 2901, 1981.
[25] Huelsman, L., P., Active and Passive Analog Filter Design. An Introduction. McGrawHill,
Inc. N.Y. 1993.
[26] Meglan, D., Berme, N. y Zuelzer, W., On the construction, Circuitry and properties of
liquid metal strain gages. Biomechanics, vol. 21, No. 8, 1988, pps, 681 685. Cit. [28].
[27] Organisation Internationale de Mtrologie Lgale. Caractristiques de performance des extensomtres mtalliques rsistence. Recomendation Internationale No 62. Paris Bureau
Internationale de Mtrologie Lgale, 1985. Cit. [28].
[28] Palls, A., R., Sensores y Acondicionadores de Seal. Marcombo Boixareu Editores,
Barcelona, Espaa. 1994.
BIBLIOGRAFA
261
[29] Popov, E., P., Mechanics of Materials, Prentice Hall, Englewood Clis, N. J., 1976.
[30] Soderstrand, M., A., Mitra,S., K., Sensitivity Analysis of ThirdOrder Filters, International Journal of Electronics, v. 30, No. 3, pp 265272. 1971.
[31] Streeter, V., L., Wylie, E., B., Fluid Mechanics, McGrawHill, N. Y., 1985.
[32] Scarr A., Measurement of length, Journal ofInst. of Measurement & Control., vol 12, July
1979, pp 265269.
[33] Vrbancis, W., P., The operational amplifier summera practical design procedure. Wescon
Conference Record, Session 2, 1982, pp.14.
[34] Johnson, R., Elementary Statistics, PWSKent, Boston, USA. 1988.