rea I

rea II
5
5.1
4.2
5
4
6

5.5
5.6
5.7
5.6
5.8
5.3
5.4
0.03
0.17

0.51 Varianza
0.72 Desviacin estandar

2
1. Ho: I 2II
2
H1: I < 2II

(segunda rea menos uniforme)

2. = 0.05
3. F estadstico:

0.057

4. Regin crtica: (a la izquierda)

Fcrtico (0.95, 6,5)
0.228
Como Fcalculado = 0.057 < Fcrtico entonces se Rechaza Ho.
5. Conclusin:

A un nivel de significacin del 5% existe evidencia

estadstica para afirmar que la variabilidad de la iluminacin en el rea I es me
Por lo tanto, el alumbrado de la segunda rea es menos uniforme.

in en el rea I es menor que el rea II.

15.8

12.7

13.1

15.9

10.6

18.7

15.8
12.7
13.1
15.9
10.6
18.7
12.2
18.1
8.54 Varianza
Numerador
59.79875
Denominador 18.4753069 tabla
LIC
3.23668507
Numerador
59.79875
Denominador 1.23904231 tabla
LSC
48.2620728

a.

IC(2) =
[3.24, 48.26]
Interpretacin:
Se tiene un 98% de confianza de que el verdadero valor de la va
de la resistencia a la traccin est contenida en el intervalo [3.2

b.

Como la variabilidad de la resistencia mxima es de 40 libras 2 pero en el intervalo se obtuv

mayor, 48.26 libras2 por lo tanto los conductores no son fiables.

12.2

dadero valor de la varianza

a en el intervalo [3.24, 48.26].

el intervalo se obtuvo un valor

18.1

a.

1. Ho:

2 9

H1:

2 < 9

2. = 0.05
3. Estadstico de prueba:
X2 calculado =

14.95

4. Regin crtica: (a la izquierda)

X2 critico(0.05,14)

6.57

Como X calculado = 14.95 X crtico entonces No se Rechaza Ho.

2

5. Conclusin:

A un nivel de significacin del 4% existe evidencia

estadstica para afirmar que la varianza del tiempo de reparacin NO es m

Por lo tanto, el curso de actualizacin no mejor la performance de los tcn
b.

Si 2B = 92 minutos2, entonces se puede afirmar que los tcnicos emplean el mismo tiempo ya que

tiempo de reparacin NO es menor a 81 minutos 2.

jor la performance de los tcnicos.

mplean el mismo tiempo ya que No se Rechaza Ho: 2 81

N de
semiconductores

Frecuencia
observada

X*Observado

P(x)

0
1
2
3

72
90
78
60
300

0
90
156
180
426

0.1464
0.3941
0.3537
0.1058
1

Total
media:

1.42

n
p
Ho:
H1:

0.4733333333

El nmero de semiconductores defectuosos tiene una distribucin Binomial

El nmero de semiconductores defectuosos NO tiene una distribucin Binom

= 0.02
3. Estadstico de prueba:
X2 calculado =

57.3037

4. Regin crtica: (a la derecha)

X2 critico(0.02, 4-1-1)

7.82

Como X calculado = 57.30 > X crtico entonces Se Rechaza Ho.

2

5. Conclusin:

A un nivel de significacin del 2% existe evidencia para afirmar que

el nmero de semiconductores defectuosos NO tiene una distribucin Binom

Esperado

Chi

43.92
118.23
106.11
31.74
300

17.9714
6.7402
7.4489
25.1432
57.3037

ene una distribucin Binomial

O tiene una distribucin Binomial

ncia para afirmar que

O tiene una distribucin Binomial