Universidad Autnoma de Nuevo Len

Microscopio Electrnico de Barrido

Karen Mara Cecilia Vega Sixtos
1489497

Tarea 5

San Nicols de los Garza, Noviembre 2013

Interaccin de electrones con la materia, principio de funcionamiento del microscopio electrnico de barrido. Los electrones en un tomo pueden ocupar orbitas discretas o estados cuantificados, los cuales tienen diferentes energas. Tomando que el electrn presenta caractersticas de onda, las cuales son dadas por ,

donde p es el momento lineal del electrn. Cuando un electrn es sometido a una transicin de un estado a otro, puede emitir o absorber radiacin, entonces, presenta muchas y diferentes interacciones como por ejemplo dispersiones elsticas o inelsticas que son resultado de conservacin y prdida de energa, respectivamente.

Las interacciones inelsticas pueden generar rayos x, electrones secundarios e interactuar con tomos lo que da informacin que es detectada para generar una imagen en un microscopio electrnico de barrido.

Dentro de las interacciones elsticas que existen cuando el haz de electrones incide sobre una muestra son los electrones retro dispersados(electrones que conservan su energa porque fueron desviados por la nube electrnica a causa de cargas respulsivas- o por el ncleo atmico depende la distancia con la que se encuentre respecto a este se dispersa a diferentes ngulos-).

El nmero de eventos de dispersin (elsticos e inelsticos) que se pueden generar depende del nmero atmico y a su vez de la seccin transversal de la muestra. Microscopio Electrnico de Barrido El microscopio electrnico de barrido permite caracterizar las propiedades morfolgicas de los materiales, a partir de imgenes generadas por dispersiones electrnicas provocadas por un haz de electrones que choca hacia una muestra.

El microscopio comprende muchos componentes, los principales: a) Fuente de electrones Se consideran caractersticas como dimetro, corriente de emisin del ctodo y ngulo de divergencia para generar un haz de electrones a partir de:

 el calentamiento del ctodo ya sea filamento de tungsteno o hexaboruro de lantano (LaB6, se debe operar debajo de su lmite para maximizar el tiempo de vida de la fuente y casi siempre opera a altos kV) al que se le aplica un voltaje, los electrones salen acelerados que algunos de ellos pasan a travs de la apertura a una velocidad constante. la aplicacin de un voltaje de extraccin y otro voltaje de aceleracin al filamento, el cul debe ser lo suficientemente delgado debido a que es inversamente proporcional al campo elctrico que se est generando en la punta del mismo, no provoca calor (se conoce como emisin en fro o de campo)

b) Lentes condensadoras Son electroimanes que ayudan a iluminar la muestra y condensar el haz de electrones que al ser emitidos los electrones del can, estos tienden a repelerse debido a su carga, hacia la muestra.

Otras partes importantes que tienen funciones respecto a la imagen de la muestra: Lente objetiva, tiene como funcin la formacin de la imagen de la muestra a partir del enfoque del haz de electrones sobre la muestra. El voltaje alto alcanza una mayor profundidad por lo tanto enva ms seales que pueden aumentar la resolucin de la imagen que se proyecta, pero si no se requiere aumentar el voltaje, simplemente modificando el spot se puede lograr lo mismo.

Las bobinas deflectan el haz a travs de la superficie de la muestra realizando un barrido minuciosamente (lnea por lnea). La apertura bloquea los haces transmitidos como difractados para producir un contraste (es el nmero de electrones secundarios y retrodispersados que son recibidos de la muestra al detector). Las regiones de un alto nmero atmico aparecen con alta brillantez en relacin con las regiones de bajo nmero atmico. Entonces los niveles de grises pueden ser interpretados como regiones de diferente composicin con un incremento en el nmero atmico correspondiente al incremento de la brillantez.

c) Detectores Existen dos tipos: Semiconductores (Si p-n junction)

El haz incidente se detecta por un equipo circular pequeo en el eje ptico del microscopio rodeado por un detector anular de ngulo ancho el cual detecta los electrones retrodispersados.

Sistema multifuncional scintillator Los electrones retrodispersados de la muestra pasan a travs de la lente las lentes objetivas debido a que son acelerados por el alto voltaje en el centelleo producido, generando luz visible que viaja a travs de fibra ptica a un fotoctodo. All, la luz se vuelve a convertir en electrones. La seal de electrones se va multiplicando por varios electrodos en el tubo de PM antes de ser utilizado para modular la pantalla de visualizacin.

d) Bomba de vaco El vaco permite que el haz de electrones viaje a travs del instrumento sin molestias, adems para evitar la contaminacin de la muestra por hidrocarburos y vapor de agua. El sistema de vaco se compone por: Bombas Mecnicas

El movimiento de la bomba crea un vaco cuando se gira y se aspira el aire que existe hacia la vlvula de entrada. A medida que el cilindro gira an ms, se corta la entrada y obliga al aire a travs de la toma de corriente en el lado izquierdo, la creacin de un vaco de nuevo en el lado de entrada como lo hace. Debido al constante contacto entre el cilindro giratorio y el interior de la bomba, se necesita aceite para reducir el calentamiento por friccin.

Bomba de difusin Un calentador hace que hierva el aceite contenido en una placa. La expansin del vapor del aceite en ebullicin crea una presin que obliga al vapor de la columna central a salir por varios agujeros. La corriente de vapor de aceite atrae las molculas de gas de la parte superior de la bomba hasta la base donde se condensa el aceite y el aire se bombea fuera de la base por una bomba auxiliar mecnica.

Bomba inica Se ionizan las partculas del aire en virtud de un mayor voltaje producido por el campo elctrico, las partculas quedan atrapadas en capas de tomos de Titanio en electrodos.

Aplicaciones del SEM Conocer las fases presentes Hacer una reconstruccin de imagen con los elementos que componen las fases, realizar un mapeo Conocer el tamao de cristal Observar el sentido en el que crecen los granos

Referencias David B. Williams, C. Barry Carter, Transmission electron microscopy, a textbook for materials science, Springer 2009 pp. 23-130 A. R. Clarke & C. N. Eberhardt, Microscopy Techniques for Materials Science, CRC, Woodhead publishing limited, 2000, pp.35-50 Apuntes de clase