AFM

(Representacin esquemtica de los componentes de un AFM)

INTRODUCCIN

l Microscopio de Fuerza Atmica, desarrollado en 1986,es un instrumento mecanoptico que detecta fuerzas a nivel atmico, por lo que permite resoluciones de menos de 1 nm, en superficie conductoras y no conductoras, basndose en el desarrollo del microscopio de efecto tnel (Binning y Rohrer, 1981) que permita obtener imgenes de resolucin atmica de superficies conductoras. Gerd Binnig y Heinrich Rohrer fueron galardonados con el Premio Nobel de Fsica en 1986 por su trabajo en microscopa de barrido de tnel. Binnig y Rohrer fueron reconocidos por el desarrollo de la tcnica de microscopa poderosa, que puede formar una imagen de cada uno de los tomos sobre una superficie de metal o de semiconductores mediante el escaneo de la punta de una aguja sobre la superficie a una altitud de slo unos pocos dimetros atmicos. Compartieron el premio con el cientfico alemn Ernst Ruska, el diseador del primer microscopio electrnico. La microscopa de fuerza atmica (AFM) se ha convertido en la tcnica lder dentro de las tcnicas de barrido con sonda. Sus posibilidades nicas como tcnica de caracterizacin en la escala nanomtrica y micromtrica han sido ampliamente reconocidas en la industria de los semiconductores y del almacenamiento electrnico. Recientemente las capacidades del AFM en el campo de los polmeros han hecho que la microscopa de fuerza atmica se revele como una tcnica complementaria de otras tcnicas de caracterizacin microscpicas y difractomtricas en la caracterizacin morfolgica, micro-

y nanoestructural, as como en un gran nmero de aplicaciones en las que es la nica tcnica disponible.

QUE ES AFM?

l Microscopio de Fuerza Atmica (AFM) es un instrumento mecano-ptico capaz de detectar fuerzas del orden de los nanonewton. Al analizar una muestra, es capaz de registrar continuamente la altura sobre la superficie de una sonda o punta cristalina de forma piramidal. La sonda va acoplada a un listn microscpico, muy sensible al efecto de las fuerzas, de slo unos 200 m de longitud. Los componentes de un AFM son: Diodo lser: Fuerza normal, Fn=A+B-(C+D), y Fuerza lateral, Fl=A+C-(B+D). Micropalanca Fotodiodo Tubo piezoelctrico

Micropalancas Histricamente las primeras palancas tenan un tamao de varios mm y solan fabricarse con metal, por ejemplo a partir de un hilo de tungsteno con un extremo afilado y doblado en ngulo recto para producir la punta. Ms tarde se hizo necesario, para mejorar la velocidad de barrido sin perder resolucin, que las palancas tuvieran masas cada vez menores y simultneamente frecuencias de resonancia mayores. La solucin a este problema se hall en la microfabricacin de las palancas. Las micropalancas se producen en la actualidad empleando mtodos de microfabricacin heredados inicialmente de la industria microelectrnica como litografa de superficie y grabados reactivos de plasma de iones (RIE y DRIE siglas en ingls de Reactive Ion Etching y Deep Reactive Ion Etching). Las puntas suelen fabricarse a partir de deposiciones de vapor de algn material idneo sobre la palanca ya fabricada, en cuyo caso el resultado suele ser una punta cnica o ms comnmente, cuando el silicio es el material de eleccin, recurriendo a tcnicas de grabado anistropo. El grabado anistropo involucra el uso de una solucin grabadora que excava el material slo o preferentemente en ciertas direcciones cristalogrficas. De esta manera, es posible producir puntas piramidales limitadas por planos cristalogrficos del material.
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La fuerza de la micropalanca viene dada por el fabricante y se determina por la ley de Hooke. En este caso, la ley de Hooke se representa por la ecuacin del resorte, donde se relaciona la fuerza F ejercida por el resorte con la distancia adicional x producida por alargamiento, del siguiente modo:

, siendo El ruido de Johnson-Nyquist, tambin conocido como ruido trmico, es un factor importante en la calibracin de la micropalanca, pues est a su frecuencia de resonancia por la temperatura. Punta La punta esta adherida a una barra flexible o cantilever. Esta barra es como una "viga en voladizo" miniaturizada y se dobla cuando la punta hace contacto con la muestra. La flexin del cantilever se mide a travs de un detector al mismo tiempo que se efecta un barrido sobre la superficie de la muestra. Dado que todo esto ocurre dentro de unas dimensiones muy pequeas el barrido ocurre a gran velocidad, en comparacin con lo que sucedera con una sonda y una barra flexible macroscpica. El barrido puede consistir en mover la punta en distintas partes de la muestra o mover la muestra y dejar la punta fija. La deflexin del cantilever en cada punto se registra mediante la computadora y se genera un mapa del relieve de la muestra. Los microscopios de fuerza atmica a diferencia del microscopio de efecto tnel se pueden usar para todo tipo de muestras, ya sean conductores, aislantes o semiconductores. Las fuerzas que actan sobre el cantilever son varias. Una de ellas es la fuerza de Van del Waals que ocurre entre tomos. Esta fuerza puede ser de atraccin o de repulsin, dependiendo de la distancia entre los tomos. Esto da lugar a dos modos de operacin, el modo con contacto y modo sin contacto. En el modo con contacto el cantilever se sita a unos pocos angstroms de la superficie y la fuerza interatmica es de repulsin. En el modo sin contacto la punta se mantiene a decenas o cientos de angstroms de la superficie y las fuerzas son de atraccin. La mayora de los AFM comerciales detectan la posicin del cantilever con mtodos pticos, uno de los sistemas mas comunes es usar un rayo lser que se refleja en la punta del cantilever y luego acta sobre un fotodetector. El detector contiene particiones que permiten detectar cambios pequeos en la posicin del haz incidente, incluso de unos pocos angstrom.

El camino ptico ente el cantilever y el detector produce una amplificacin mecnica de la seal del lser y como consecuencia el sistema llega a detectar movimientos verticales de la punta con una precisin inferior a un angstrom. Tambin se pueden usar otros mtodos para medir la deflexin del cantilever, como mtodos interferomtricos, o puramente elctricos, si el cantilever es de un material piezoresistivo. Una vez que el AFM detecta la flexin del cantilever en cada punto se puede generar un mapa del relieve de la muestra. Esta operacin puede hacerse en dos modos, a saber: altura constante o fuerza constante. El modo de altura constante consiste en medir directamente la deflexin a medida que el cantilever hace el barrido superficial. La imagen se genera con los datos de coordenadas x-y del barrido ms el valor z de la deflexin del cantilever. En el modo de fuerza constante usa un lazo de control automtico para mantener la flexin constante, esto se logra con un circuito de retroalimentacin que mueve el escner en la direccin z, es decir hacia arriba o hacia abajo de acuerdo a la topografa del material. En este caso la imagen se genera con las coordenadas x-y del barrido mas la seal z de la altura de la sonda. En el modo de fuerza constante la velocidad de escaneado esta limitada por el tiempo de respuesta del circuito de retroalimentacin, y la fuerza ejercida sobre la muestra por la punta es constante y bien controlada. Generalmente se prefiere esta modalidad para la mayora de las aplicaciones. El modo de altura constante se suele usar para tomar imgenes de escala atmica de superficies extremadamente planas, en las cuales se generan pequeas deflexiones del cantilever. Dado que este modo es ms rpido permite a veces estudiar fenmenos en tiempo real en los que la superficie sufre cambies rpidos. AFM sin contacto. En esta tcnica de microscopa de fuerza atmica la punta se hace vibrar cerca de la superficie pero sin llegar a tocarla, y sin embargo se pueden medir fuerzas ya que actan las fuerzas de Van der Waals. Estas fuerzas son pequeas, y esto hace adecuada la tcnica para estudiar materiales blandos o elsticos. Otra ventaja es que la punta al no tocar la muestra no la contamina, esto es crtico en las obleas de silicio. En el modo sin contacto se tienen que medir fuerzas mas pequeas y a su vez se tienen que usar cantilevers mas rgidos, ya que si son muy flexibles pueden ser atrados hacia la muestra y as entrar en el rgimen de contacto. En virtud de que la seal a medir es muy dbil, se hace necesario el uso de mtodos sensibles con uso de corriente alterna. Para ello el sistema se hace vibrar cerca de la frecuencia de resonancia del cantilever, unos 100 a 400 ciclos por segundo. Los cambios en la frecuencia o amplitud de la vibracin se miden a medida que la punta se acerca a la superficie. La sensibilidad de este sistema permite resolucin inferior a un angstrom en la imagen. El modo sin contacto no sufre problemas de degradacin de la punta o la muestra tal como ocurre con el modo con contacto luego de varios barridos. Si la muestra es rgida las imgenes obtenidas en el modo con y sin contacto son similares, en cambio si hay unas pocas monocapas de agua condensada sobre la superficie de la
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muestra las imgenes pueden ser diferentes. El AFM en modo de contacto penetra la capa lquida y genera una imagen de la superficie sumergida, el modo sin contacto por otro lado va a generar una imagen de la superficie del lquido. Tambin existe otro modo de operacin denominado de contacto intermitente, que es til cuando no se quiere arrastrar la punta del microscopio sobre la muestra para evitar daos o modificaciones a la misma. En esta modalidad la punta sube y baja y toca la muestra durante un tiempo breve entre salto y salto y esto reduce la posibilidad de daar el material ya que elimina las fuerzas laterales de friccin entre la punta y el material. Diferentes formas o modos de funcionamiento Modo De Contacto: Este modo de barrido requiere retroalimentacin, de manera que la repulsin entre el listn y la muestra permanece constante. De la intensidad de la retro-alimentacin se mide la altura. Este es el modo ms comn de barrido. Modo De Altura Constante: En este modo de barrido la altura del cantilever se mantiene constante durante el barrido. Se mide la flexin del listn. Al no haber retroalimentacin, es posible barrer a alta velocidad. Modo Sin Contacto: Este modo de barrido requiere retroalimentacin, y la atraccin entre la muestra y el listn (que vibra cerca del punto de resonancia) permanece constante. De la intensidad de la retro-alimentacin se mide la altura. La resolucin es un poco menor debido a la distancia entre el listn y la muestra. Modo Dinamico: Este modo provee retroalimentacin, en tanto que la repulsin entre la muestra y el cantilever (que vibra cerca del punto de resonancia) permanece constante. De la intensidad de la retroalimentacin se mide la altura. Dado que hay poco "rozamiento" de la superficie, este modo es ideal para muestras que se mueven con facilidad.

APLICACIONES
Adems de la visualizacin topogrfica y de la caracterizacin superficial de las muestras la mayora de los microscopios de fuerza atmica permiten llevar a cabo anlisis complementarios de las muestras. El caso ms inmediato es el anlisis de fase que se puede llevar a cabo simplemente registrando la salida de la fase a partir del modo de operacin en contacto intermitente. A continuacin se presentan muy brevemente otros modos de trabajo de inters como son los siguientes: i) ii) estudios con control trmico; ensayos en lquidos;
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iii) iv)

evaluacin de propiedades mecnicas y determinacin de propiedades elctricas y magnticas.

Entre los distintos campos en que se aplica esta tcnica se pueden citar: a) Microelectrnica Es el punto de partida de esta tcnica, lo cual explica que las aplicaciones en este campo sean muy numerosas. Medida de semiconductores al vaco y ultra-vaco, cristalografa, estructura, etc. Nanolitografa, utilizacin de la punta, no para analizar sino para modificar las superficies. Al aire, utilizacin industrial en substratos con: dimensin crtica; epitaxias (dislocacin, defectos, ngulos, etc.); rugosidad del substrato; seguimiento de los procesos de limpieza y de los diferentes tratamientos relacionados con el proceso; etc. b) Capas finas Todas las capas finas se pueden analizar. Se obtienen medidas de tamao de grano, distribucin, rugosidad y perfil. De la misma manera, se puede analizar cualquier partcula aislada sobre una superficie. As, podemos observar agregados, compuestos en polvo, etc., y acceder tambin por ejemplo, a informaciones importantes en catlisis c) Caracterizacin de materiales orgnicos e inorgnicos. Clculos de parmetros de celda unidad, orientacin cristalina, defectos puntuales, crecimientos de monocapas, absorcin de molculas, etc. d) Aplicaciones relacionadas con polmeros y composites. Se pueden conseguir resoluciones muy elevadas sin preparacin particular de las muestras. Adems de las medidas de estructura, son accesibles medidas de elasticidad y de friccin local. e) Biologa. Las medidas de muestras en biologa son de gran inters gracias a la posibilidad de anlisis en medio lquido, que permite la visualizacin de clulas vivas. La resolucin lograda nos permite acceder a informaciones muy importantes para la comprensin del mundo viviente. Se han realizado grandes progresos sobre este tipo de medidas, dnde los problemas encontrados estn principalmente relacionados con las tcnicas de preparacin de las muestras
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CONCLUSIONES

l uso del microscopio de fuerza atmica es de mucha utilidad ya que nos permite visualizar objetos en dimensiones de nanmetros, cosa que con otros microscopios no podemos hacer, esto nos permite manipular de una mejor forma los materiales.

Esto significa que en la actualidad podemos manejar nano - materiales y formar nanoestructuras que nos ayudan a disear nuevas tecnologas, aplicables en objetos que tenemos a nuestro alrededor y con los que convivimos cotidianamente. En lo personal el estudio de estos materiales y tecnologas me parece muy interesante ya que este tema es nuevo para m, y el saber un poco mas de los nano-materiales y como los podemos enfocar y aplicar en gneros textiles, me da una nueva perspectiva de la industria textil en la actualidad aplicando nueva tecnologa.

REFERENCIA:
http://www.fisica.uh.cu/bibvirtual/vida%20y%20tierra/microscopiofuerza%20atomica/in dex.htm http://es.wikipedia.org/wiki/Microscopio_de_fuerza_at%C3%B3mica#Historia http://nanoquimica.awardspace.com/AFM.htm http://ocw.uc3m.es/ciencia-e-oin/microscopia-de-fuerza-atomica/material-de-clase1/MC-F-003_Tema_3