Microscopio de la emisin del campo

Microscopia de la emisin del campo (FEM) es una tcnica analtica usada adentro ciencia material para investigar las estructuras superficiales moleculares y sus caractersticas electrnicas.[1] Inventado cerca Erwin Mller en 1936, el FEM era uno de los primeros instrumentos del anlisis de la superficie que se acercaron cercaatmico resolucin. FEM consiste en un emisor agudo de la aguja y un detector, tal como una pantalla fluorescente. Una negativa campo elctrico se aplica al emisor, emitiendo electrones de la superficie. Una imagen se forma en el detector debido a las diferentes densidades corrientes, que origina de la diferencia en campos elctricos y funciones del trabajo en la superficie del emisor por Ecuacin de Fowler-Nordheim. http://www.multilingualarchive.com/ma/enwiki/es/Field_emission_microscope Emisin de Campo La emisin de electrones bajo la influencia del campo electrosttico de alta de un metal o un semiconductor en el vaco en la superficie se denomina como la emisin de campo. Este fenmeno fue reportado por primera vez por RW Wood en 1897. Ms tarde Schottky trat de explicar los fenmenos por una reduccin completa de la altura de la barrera de potencial en la superficie hasta el nivel de Fermi. Sin embargo, no fue sino hasta 1928 que Fowler y Nordheim explic (la teora) de este fenmeno sobre la base de Tunnellling la mecnica cuntica de los electrones debido a la flexin de la barrera de potencial debido al campo elctrico externo aplicado.

Microscopio de emisin de campo (FEM) El fenmeno de emisin de campo se utiliz para desarrollar un microscopio sobre la base de la diferencia en workfunction de los aviones de cristal de diferentes en la superficie. El emisor se hace bajo la forma de un fuerte "punta" que produce intenso campo elctrico a su alrededor. El campo elctrico en el pice de la punta es inversamente proporcional al radio si la punta. El campo emitido los electrones viajan a lo largo de las lneas del campo y la produccin de manchas oscuras y brillantes en la pantalla flouroscent dando una correspondencia uno-a-uno con los planos de cristal del emisor hemisfrico. En resumen, la anisotropa workfunction de los planos de cristal son proyectadas en la pantalla como las variaciones de intensidad. Esto acta como un microscopio, sin lentes. Este microscopio con un aumento de 105 y un poder de resolucin 30 Angstroms que se conoce como microscopio de emisin de campo (FEM). Este aparato es adecuado para el estudio de la adsorcin, la superficie y de la difusin y desorcin. Esto ha jugado un papel importante en la comprensin de la estructura y propiedades de las superficies slidas desde 1940

Ilustracin 1: (Las micrografas de campo de emisin de una superficie de cristal de tungsteno sola limpia y una superficie con un lmite de grano)

Sonda-Hole microscopio de emisin de campo (FEM) Esta es una modificacin del microscopio de emisin de campo para estudiar la emisin de electrones de una seleccin de planos cristalogrficos. La pantalla del nodo en el que se observa el patrn de emisin de campo cuenta con un agujero de 2 mm de dimetro con un colector de Faraday detrs de l. Con la desviacin magntica de la estructura se puede llevar los planos de cristal nico de inters para que coincida con el agujero. Los electrones cayendo as en el colector son necesariamente las que vienen de la zona sondeado. Desde la punta de distancia de la pantalla es de 5.4 cm y el aumento es de aproximadamente 106, el investigado rea de la superficie sern unos pocos nanmetros, lo que est dentro del tamao de la mayora de los planos de cristal observado en el patrn de emisin de campo. Hemos estado trabajando sobre todo de metal y de cristal de las configuraciones de emisin de campo.

Ilustracin 2: Sonda de agujeros del tubo de emisin de campo fabricada para el uso de nuestro laboratorio.

Aplicaciones La superficie de la Ciencia (aspectos electrnicos y estructurales) De emisin de campo ha sido ampliamente utilizado en la caracterizacin de las estructuras de la superficie y las propiedades electrnicas. Esta tcnica ha dado una gran cantidad de informacin y la comprensin de las superficies de metal y sistemas de gas de interfaz antes de la llegada de muchas otras tcnicas de anlisis de superficie. Adsorcin de los tomos en el submonolayer, cantidades monocapa de adatoms, desorcin y difusin de mediciones de la superficie puede llevarse a cabo utilizando tcnicas de emisin de campo. El anlisis de las fluctuaciones actuales de emisin de campo puede proporcionar informacin cuantitativa sobre la superficie de los fenmenos que ocurren en el emisor Cuando el metal en estudio es el ctodo de emisin de campo, el estado de la superficie en particular su limpieza de la superficie puede ser juzgado por el patrn de emisin. En este punto, queda claro que el papel de Ultra Alto Vaco es muy importante en los experimentos de emisin de campo, ya que tiene una sensibilidad de la superficie extrema para cambiar el patrn de emisin, incluso en el rgimen submonolayer. A base de presin a menos de 10 a 10 mbar debe ser mantenido durante los experimentos. Tambin, ya que, de emisin de campo se produce a partir de todas las facetas de cristal nico, la microscopa de emisin de campo es el ms adecuado para estudiar estos aspectos (los planos del cristal) y para comparar los resultados en las mismas condiciones en los experimentos individuales. Estas caractersticas hacen que la relevancia de los resultados de los estudios de microscopa de campo de emisin importante y nica, entre otras herramientas de anlisis de superficie estndar. Aplicaciones Technologocal (emisores de campo como ctodos) Adems, desde el punto de vista de la fsica de superficies, de emisin de campo en la actualidad, ha adquirido una importancia diferente en la tecnologa. Emisores de campo puede ser utilizado como ctodos para aplicaciones de emisin de electrones debido a sus propiedades de emisin superior. Las limitaciones derivadas de los estrictos requisitos de vaco y el campo elctrico mantiene este campo detrs de la cabeza durante un largo perodo. Actualmente con el advenimiento de las tecnologas ms recientes, los problemas se han superado con una modificacin adecuada de los emisores. Nquel depositada tungsteno se ha encontrado para ser un emisor ms del trabajo de investigacin recientemente. http://www.multilingualarchive.com/ma/enwiki/es/Field_emission_microscope

NOTA: REVISEN LAS FUENTES ORIGINALES YA QUE ESTAN EN INGLES