Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.

Cartas de
Schewart
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Walter J. Shewhart (1891-1967)
Fsico, ingeniero y estadstico.
Estudi en la Univ. de Illinois y
obtuvo su PhD en fsica en la Univ.
de California (Berkeley) en 1914
Trabajando en la Western Electric.
Estableci el principio de causas
asignables y no asignable de SPC
En un memo de mayo de 1924
propone sus ideas de los grficos de
control
Sus primeras aplicaciones de grficos
de control, fueron en fusibles y
termostatos.
En 1931 su libro, Economic
Control of Quality of Manufactured
Product.
2
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Qu son las Cartas de Control?
Se utilizan para monitorear la calidad, muestran el
valor de la caracterstica de calidad versus una
muestra numerada o versus un perodo.
3
Tiempo u orden de Produccin
La carta contiene una lnea central
que representa el Valor Nominal de
la caracterstica de calidad para el
proceso cuando est bajo control.
Lnea central
X
Lmite de Tolerancia Superior
Lmite de Tolerancia Inferior
Otras lneas horizontales, que
corresponden a los lmite de
tolerancia superior (LTs) y el lmite
de tolerancia inferior (LTi) de la
caracterstica de calidad para el
proceso cuando est bajo control.
Se espera que la mayora de los
valores observados de la caracterstica
de calidad caigan entre estos dos
lmites. Variabilidad debida a causas
puramente aleatorias
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Cartas de Shewhart
Los lmites de control, como se muestran en el
grfico, podran ser lmites de probabilidad 0,001
4
x
Dnde se ponen esos lmites
depender del riesgo que se est
dispuesto a correr de la bsqueda
cuando en realidad no existe una
causa asignable de tal variacin.
Lnea central
Lmite de Control Superior (LCs)
Lmite de Control Inferior (LCi)
muestra
Si es as, y si slo hay presente causas
aleatorias, la probabilidad que un
punto caiga por sobre el LCS y por
debajo del LCI sera 1 en mil.
Causa aleatoria
Si ello ocurriese estaramos buscando
una causa asignable.
Causa asignable
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Manejo de Procesos con Cartas de Control
Permiten determinar:
Cundo se debera tomar accin para ajustar
un proceso que ha sido afectado por una causa
especial
Tambin dicen cundo dejar el equipo o
sistema tranquilo y no malinterpretar
variaciones debido a las causas comunes.
Las causas comunes son el foco de los
esfuerzos permanentes orientados a la
mejorar el proceso: kaizen.
5
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Control Estadstico de Procesos
El concepto subyacente en control
estadstico de procesos se basa en
comparar lo que est pasando hoy
con lo que ha estado pasando previamente.
Con datos histricos se calcula:
1.- los valores estimados de comportamiento
del proceso,
2.- se determinan los lmites de control
esperados
3.- y valor esperado de las mediciones de lo
caracteriza
6
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Control Estadstico de Procesos
Entonces se recolectan datos del proceso y
son comparados contra estos valores
iniciales
La mayora de las mediciones deberan caer
dentro de los lmites esperados.
La mayora de las mediciones deberan caer
dentro de los lmites esperados.
Las mediciones que caen fuera de los lmites
esperados deben ser examinados para
ver si ellos pertenecen a la misma poblacin de
nuestra instantnea o modelo inicial;
omquizs, algunos sern descartadosms tarde.
7
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Tipos de Cartas
de Control de
Procesos
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Tipos Bsicos de Grficos de Control
9
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Grficos de Control de Variables
Si la caracterstica de calidad es posible de
ser medida y expresada numricamente,
se le llama variable.
Peso
Longitud
Espesor
Tiempo (entre otras)
La caracterstica de calidad se describe
mediante
una medida de tendencia central
y una de variabilidad.
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Grficos de Control de Atributos
Muchas caractersticas de calidad no se
miden en una escala cuantitativa.
En estos casos cada unidad del producto puede
ser clasificada como conforme o disconforme
segn posea o no ciertos atributos.
mal servicio en un banco, fechas de embarque
perdidas, piezas fuera de norma de diseo
Tambin se puede contar el nmero de
disconformidades que aparecen en una unidad
de producto.
rayaduras en una superficie, defectos de soldadura al
arco, errores tipogrficos
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Capacidad del
Proceso
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Intervalo de Tolerancia: TD
Se denomina Intervalo de Tolerancia o Tolerancia
de Diseo para la caracterstica X al conjunto de
valores de X que se consideran admisibles entre
los valores (LT
i
) y (LT
s
)
13
LTi
LTs

0
TD
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Qu es Capacidad de Proceso?
Capacidad de Proceso
compara
la variabilidad natural
de un proceso estable
en unidades de
con los lmites de
especificacin del
proceso: [ LT
s
LT
i
]
para luego hacer un
juicio acerca de cun
bien el proceso cumple
con las especificacio-
nes.
14
Dispersin real del proceso
LTi
LTs
Dispersin permitida o de diseo del proceso
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Capacidad del Proceso
15
LT
i
LT
s
L

0
TD
LC
i
LC
i
LC
i
LC
i
II
s
II

IC
s
IC

Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.

Capacidad de Proceso
Es una caracterstica que refleja la
probabilidad que
los valores de salida individuales de una
medida de desempeo del proceso estar
dentro de los lmites de especificacin de
diseo de ingeniera.
En general son observaciones de una
caracterstica mensurable, comparndola con
un valor nominal
(longitud, resistencia, capacidad, contenidos de
impurezas, demoras, tiempos)
16
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Variabilidad vs. Capacidad de Proceso
Cuando la caracterstica de calidad es una
medida continua, la falta de calidad depende
17

0
Lmite Tolerancia
de la variabilidad del proceso ( ) y/o
del desplazamiento del valor nominal (
0
)
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Efecto Desplazamiento de
Sobre observaciones Individuales X
ij
j-sima observacin de la
i-sima muestra
18

1 11 1
+3 +3 +3 +3
LT
i LT
s

0 00 0

0 00 0
+3 +3 +3 +3
0 00 0
+3 +3 +3 +3
X
ij
en estado
de control

1 11 1
X
ij
en estado
desplazado
Probabilidad
observar un
artculo fuera
de norma
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Variacin Dinmica de
0 00 0
19
Distribucin
desplazada 1,0 de
su especificacin
nominal
Distribucin
desplazada 1,5 de
su especificacin
nominal
Distribucin
desplazada 1,5 de
su especificacin
nominal
Distribucin centrada
en su especificacin
nominal
Lmite de
Especificacin
Espicificacin
Nominal
0

0
+ 3
0
- 3
tiempo
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Desplazamiento de la media
20

0
+ 3

0
- 3

0
tiempo
x
ij
Distribucin
observaciones si
est en su Posicin
Nominal (
0
)
Lmite de Tolerancia Superior
Lmite de Tolerancia Inferior
Distribucin
observaciones si
est desplazada
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Probabilidad de observar
una media muestral
fuera de control
Efecto Desplazamiento de
Sobre la distribucin de la media muestral x
21
LC
i
LC
s
LT
i LT
s
x en estado de
Control

0 0 0 0


0 00 0
3 33 3
2 22 2

0 00 0
+ + + +
3 33 3
2 22 2
-

1 11 1
x en estado
desplazado
Tamao Muestra: n = 4
del promedio muestral
Carmen Ortiz Z.; Luis Seccatore G.
Lmites de Control de x
22

0
+ 3
2 22 2

0
- 3
2 22 2

0
tiempo
Lmite Control Superior de x
Lmite Control Inferior de x
Lmite Tolerancia Inferior
Lmite Tolerancia Superior

0
+ 3

0
- 3