Difracción de rayos X

La aplicación fundamental de la difracción de Rayos X es la identificación cualitativa

de la composición de las fases cristalinas de una muestra. La difracción está basada en
las interferencias ópticas que se producen cuando una radiación monocromática
atraviesa una rendija de anchura comparable a la longitud de onda de la radiación.

Resulta de utilidad en análisis de fases en cementos, suelos, aceros, y en general en

compuestos orgánicos e inorgánicos.

Difractómetro de Rayos X Bruker D8 Advance

• Carcasa de protección total.

• Portatubos con piezas de montaje del
tubo para medidas de 150 mm de altura.
• Goniómetro Theta/Theta vertical con
raíles de precisión para el ajuste continuo
del círculo de medida con posición de
ajuste estándar a 435, 500 y 600 mm de
diámetro.
o Operación en horizontal y
vertical.
o Amplitud de paso mínimo:
0,0001º.
o Posicionamiento angular
mediante codificadores ópticos.
o Diámetro central del círculo
Theta: 11 cm.
o Margen angular (Theta): 0º a
360º.
o Rango de medida (2Theta): 0º a
168º.
• Generador de rayos X.
KRISTALLOFLEX K 760-80F
o Potencia: 3000W.
o Tensión: 20-60KV (regulable
continuamente).
o Corriente: 5-80mA (regulable
continuamente).

o Estabilidad: ± 0,001%.