Pruebas Aceleradas

Notas
Pruebas de vida acelerada en confiabilidad
Resumen
Las pruebas aceleradas son muy usadas en la
Las pruebas aceleradas, consisten en una variedad
industria manufacturera, particularmente para
de mtodos para acortar la vida de un producto o
obtener informacin de la confiabilidad de sus
para alargar su degradacin. El principal objetivo
componentes y materiales. Existe una gran variedad
de tales pruebas es obtener datos rpidamente, los
de mtodos estadsticos en la aceleracin de
cuales modelados adecuadamente y analizados,
la vida de un producto complicado que puede
proporcionan informacin deseada sobre la vida
fallar de diferentes maneras. Generalmente, la
de un producto bajo condiciones normales de uso.
informacin de las pruebas a altos niveles de una
En este artculo, se estudiaran las pruebas de vida
o ms variables de aceleracin o esfuerzo (como
acelerada, se mencionaran los principales objetivos
pueden ser temperatura, voltaje o presin) se utiliza
para los cuales se acelera la vida de un producto, los
para estimar la distribucin de vida del producto.
modelos de pruebas de vida acelerada ms usuales y
El trmino aceleracin tiene varios significados
finalmente se aplicar uno de stos a un conjunto de
en el campo de la confiabilidad, pero el trmino
datos obtenidos en una prueba en la cual se acelera
generalmente implica ir ms rpido, de tal forma
la temperatura.
que la informacin de la confiabilidad pueda

obtenerse ms rpidamente. Existen diferentes
Palabras clave: Distribuciones de probabilidad, estima-
tipos de pruebas de confiabilidad en las fases
cin, mtodos de aceleracin, pruebas de hiptesis.
del proceso de produccin del producto, las ms

comunes son pruebas de vida acelerada y pruebas
1. Introduccin
de degradacin acelerada.
Actualmente muchos fabricantes sienten un

fuerte presin por desarrollar nuevos y mejores
2. Pruebas de vida acelerada
productos, que registren una alta duracin,
Una prueba de vida es aquella en la cual un artculo
confiabilidad entre ellos y por supuesto una alta
o producto de inters, se somete a un esfuerzo
calidad. Esto ha motivado a desarrollar mtodos
en condiciones ambientales mayores a las que
en ingeniera y ampliar el uso de diseos de
tpicamente estar operando. Los principales
experimentos para productos y mejorar su proceso.
objetivos de acelerar la vida de un producto son:
Estos requerimientos para una alta confiabilidad
estimar la distribucin de vida de dicho producto,
han incrementado y necesitan por adelantado
identificar fallas en el diseo, medir y demostrar la
pruebas de materiales, componentes y sistemas.
confiabilidad.
Temas de Ciencia y Tecnologa
vol. 13
nmero 38
mayo - agosto 2009
pp 33 - 37
33
Los modelos de pruebas de vida acelerada tiene
si el esfuerzo es temperatura, la relacin usual
las siguientes dos componentes: Una distribucin
es la de Arrhenius, aunque cabe aclarar que sta
de vida que representa la dispersin de la vida del
no siempre se aplica en situaciones en donde la
producto y la relacin vida esfuerzo.
variable de aceleracin es temperatura ya que
Las distribuciones ms usuales para pruebas de vida
en algunos casos no se tiene un buen ajuste del
son: exponencial, normal, lognormal, Weibull y de
modelo. Algunas aplicaciones de esta relacin son:
valores extremos (Gumbel).
aislantes elctricos y dielctricos, estados slidos
3. Relacin vida esfuerzo
y semiconductores, celdas de batera, lubricantes,

plsticos, lmparas incandescentes, etc.
La relacin existente entre la vida y el esfuerzo no
Si el esfuerzo aplicado en la prueba es voltaje, la
siempre es el mismo, ste puede ser constante o
relacin ms comn es la de potencia inversa.
no, en este trabajo slo se estudiarn pruebas con
En cualquier caso se necesita el uso de una
esfuerzo constante, ya que es ms comn que las
distribucin de prueba de vida, dependiendo de
unidades trabajen con el mismo esfuerzo durante
la distribucin utilizada, se tiene los modelos para
el tiempo de la prueba. Normalmente los datos de
pruebas de vida acelerada, por ejemplo si la relacin
la prueba de vida se grafican como se muestra en
es potencia inversa y se usa la distribucin Weibull,
la siguiente figura.
se tiene el modelo potencia inversa Weibull. En el

ejemplo que se mostrara en este trabajo, el esfuerzo
utilizado es la temperatura y la distribucin de vida
que se supone es la lognormal, por lo que se usar
el modelo Arrhenius lognormal, a continuacin se
describe dicho modelo.
4. Modelo de Arrhenius lognormal

La vida de algunos productos y materiales en una
prueba con temperatura acelerada se describe
adecuadamente con una distribucin lognormal. De
acuerdo con la ley de Arrhenius, la razn de una simple
reaccin qumica (R) depende de la temperatura
como sigue
Ea
R(T ) = A exp
k
FIGURA 1. RELACIN VIDA ESFUERZO.
Observe que a niveles altos de esfuerzo la vida

donde
Cuando el tiempo de la prueba se especifica
usualmente en volts (eV), KB = 8.6171 x 10-5 = 1/11605
y algunas unidades no han fallado hasta ese
34
Ea
disminuye y viceversa.
es la energa a la cual se activa la reaccin,
es la constante de Boltzmanns en electrn volts por
momento, se dice que stas estn censuradas o
C, T = TempC+ 273.15 es la temperatura absoluta
que se tienen datos censurados por la derecha.
en la escala de Kelvin,
En muchas aplicaciones industriales, las variables
del producto en condiciones de prueba. Tanto
de aceleracin ms comunes son la temperatura,
como
voltaje y presin, dependiendo de stas se aplica
estimarse. El modelo hace los siguientes supuestos:
una relacin vida esfuerzo especfica, por ejemplo
la vida del producto tiene un distribucin lognormal
Temas de Ciencia y Tecnologa | mayo - agosto 2009
A es una caracterstica de falla

Ea
son parmetros del modelo que necesitan
Notas
o equivalentemente el logaritmo de sta tiene una

distribucin normal, la desviacin estndar,
, del
donde F es la funcin de distribucin acumulada de
y i , en nuestro caso sta es la dada en (2).
logaritmo de la vida es constante independiente de la
Ahora supngase que se tienen n muestras
0.5 (T )
independientes, entonces la verosimilitud muestral
temperatura y el logaritmo de la vida media
es una funcin lineal del inverso de la temperatura
es el producto de stas, esto es,
absoluta, esto es,

n
L( 1 , 2 ,..., p ) = Li ( 1 , 2 ,..., p )
log[ 0.5 (T )] = 1 + ( 2 / T ),
i =1
la cual se llama la relacin de Arrhenius. Los

parmetros
1 , 2
son caractersticas del
Tomando el logaritmo natural de sta, se tiene la logverosimilitud muestral, dada por,
producto y del mtodo de prueba, los cuales son

estimados de los datos. Equivalentemente la media
(x)
del logaritmo de la vida es una funcin lineal
de x=1000/T, es decir,
n n
l (l( 1 ,1, 2 ,...,

p )p )==
p )p )
ln1nlnLLi (i(1 ,1, 2 ,...,
2 ,...,
2 ,...,
i =1i =1
( x ) = 1 + 2 x,
(1)
la cual solo es funcin de los parmetros
1 , 2 ,..., p .
Los estimadores de mxima verosimilitud

aqu 1000 se usa como una escala de la temperatura.
1 , 2 ,..., p
Con lo anterior, a una temperatura absoluta T, la
que maximizan la log-verosimilitud muestral y se
funcin de distribucin acumulada al tiempo t es
encuentran por los mtodos tradicionales de clculo,
de
1 , 2 ,..., p
igualando a cero las p derivadas de
son los valores
l ( 1 , 2 ,..., p )
con respecto a los parmetros y resolviendo las
log(t ) ( x)
F (t ) =
,
donde
siguientes ecuaciones de verosimilitud para
1 , 2 ,..., p :
(2)
] es la funcin de distribucin acumulada
de una normal estndar.
l ( 1 , 2 ,..., p )
i
= 0,
para
i = 1,2,..., p .
5. Anlisis de datos
Para analizar los datos de una prueba de vida
Usualmente estas son ecuaciones no lineales en los
acelerada, el mtodo de mxima verosimilitud (MV)
parmetros y no se pueden resolver algebraicamente
es el ms usado, ya que es muy verstil y es aplicable a
por lo que hay que ocupar algn mtodo numrico.
diferentes modelos, tipos de datos y tipos de esfuerzo,
Despus de obtener la estimacin de los parmetros,
adems ste se puede ocupar cuando se tienen datos
hay que estimar la matriz de varianzas y covarianza
censurados o sin censura.
de ellos, dada por,
Supngase que la muestra i tiene a la variable

dependiente
yi
censurada por la derecha, entonces
la funcin de verosimilitud es
Li ( 1 , 2 ,..., p ) = 1 F ( y i ; 1 , 2 ,..., p ),
Pruebas de vida acelerada en confiabilidad.
V =F
Var ( 1 )
L Cov ( 1 , p )
M
O
M
=
Cov ( , ) L
Var ( p )
p
1
35
p p , aqu,
F es
El signo + en la Tabla 2 indica aquellos motores que no
la matriz de informacin de Fisher formada por las
fallaron antes de que terminara el estudio. Los motores
segundas derivadas parciales negativas de la funcin
fueron peridicamente analizados por fallas y el tiempo
de log-verosimilitud evaluada en
de falla que se muestra en la tabla es el punto final del
la cual es una matriz simtrica de
1 , 2 ,..., p . Para
encontrar intervalos de confianza de los parmetros
periodo en el cual la falla ocurri.
estimados, se ocupa la aproximacin normal por las
En la Figura 3 se muestra la dispersin de los datos
propiedades asintticas que se cumplen. Mientras
de la prueba de vida acelerada dados en la Tabla 2.
que si lo que se desea es realizar algunas pruebas

de hiptesis, se ocupa el estadstico
T = 2(l1 + l2 + ... + lj l )
lk , k = 1, K , j ,
donde
l es
(3)
la log-verosimilitud
muestral estimada del j-simo nivel de esfuerzo y

total, respectivamente. Si la relacin entre los datos
es lineal, la distribucin de T es aproximadamente
2 con j 1
grados de libertad, si la relacin no
es lineal T tiende a tomar valores grandes, de esta

manera si
(1 , j 1) los datos son consistentes
FIGURA 3. RELACIN ENTRE LA TEMPERATURA Y LOS TIEMPOS DE FALLA.
con una relacin lineal, de lo contrario los datos
En esta figura, se puede observar la relacin que existe
difieren significativamente de la relacin lineal.
entre la temperatura y los tiempos de falla, a la cual se

le puede aplicar la relacin de Arrhenius, suponiendo
6. Ajuste del modelo
una distribucin de vida lognormal, el modelo ajustado
La Tabla 2 muestra datos censurados de una prueba
a los datos es el Arrhenius lognormal descrito en la
de aceleracin de temperatura, de una clase-B de capa
seccin 4. En este caso el parmetro de localizacin
aislante para motores elctricos. Diez motores fueron
es funcin de la temperatura, siguiendo la relacin
probados cada uno a cuatro temperaturas, 150C, 17C,
dada en (1). Cabe mencionar que en el anlisis de
190C, y 220C. El objetivo de la prueba es estimar
los datos, los tiempos de falla registrados a 150C, no
la distribucin de vida de un diseo de motores a
proporcionan informacin relevante ya que slo se
temperatura de 130C. Al tiempo del anlisis, siete motores
tiene un punto, como lo muestra la Figura 3, por lo
a 170C tuvieron falla, cinco a 190C y 220C tuvieron falla,
que se omiten en dicho anlisis.
mientras que ninguno de los motores fallaron a 150C.
Los resultados son los siguientes:
150 C
8064+
8064+
8064+
8064+
8064+
8064+
8064+
8064+
8064+
8064+
170 C
1764
2772
3444
3542
3780
4860
5196
5448+
5448+
5448+
190 C
408
408
1344
1344
1440
1680+
1680+
1680+
1680+
1680+
220 C
408
408
504
504
504
528+
528+
528+
528+
528+
TABLA 2. TIEMPOS DE FALLA DE 40 MOTORES SOMETIDOS A UNA
Parmetro
Estimacin por Intervalo del 95%

MV
de confianza
3.47
(3.35,3.58)
4.30
(3.45,5.16)
0.2591
(0.1811,0.3707)
TABLA 4. ESTIMACIN DE LOS PARMETROS CON INTERVALOS DEL

95% DE CONFIANZA.
PRUEBA DE VIDA ACELERADA.
36
Notas
La matriz de varianzas y covarianzas estimada es,
0.0033 0.0070 0.0014
V = 0.0070 0.1903 0.0043

0.0014 0.0043 0.0022
dado en (3),
TT
= 9=.699.69
.219.21== = 2(0.99,2).
(0.29(0,.29) , 2 )
9.69>>9>9.21
.
La ecuacin ajustada es

3.47.47 +++44.30
4.30.30 ( x( xxx),),
(x(x) )==33.47
Como el objetivo es estimar la distribucin de vida

de un diseo a temperatura de 130C, en la siguiente
tabla se muestran los cuantiles estimados de dicha
distribucin.
s difieren significativamente a un nivel del
99% de confianza, si las s de las poblaciones fueran

iguales, se podran observar valores grandes de T.
los datos. Si suponemos que el parmetro de escala
es constante, ajustando el modelo con varianzas
constantes para los tres niveles de temperatura, se
obtiene que la log-verosimilitud total estimada es
l =cte = -148.19
148.19y usando el estadstico dado en (3) ,
Duracin estimada
7470.50
10120.60
11744.99
17639.50
21912.13
28495.97
47081.61
77789.17
101162.10
125665.60
188733.80
Por ejemplo, si lo que se desea es estimar la vida

media a una temperatura de 130C, la duracin es de
47081 horas aproximadamente. En situaciones reales
lo que se quiere es estimar un cuantil que proporcione
garanta a los consumidores, por ejemplo el 90, 95 o
99, en este caso para el cuantil 90 la duracin sera
101162 horas aproximadamente, lo que quiere decir,
que existe una probabilidad de 0.9 de que la falla se
presente despus de esas horas de estar trabajando
el motor.
Una prueba de inters es verificar la igualdad del
parmetro de escala
As, las
Otra prueba de inters es verificar la linealidad de
que es equivalente con (1).
Cuantil
0.1
0.5
1
5
10
20
50
80
90
95
99
l = 145.198 , por lo tanto usando el estadstico
( )
en todos los niveles de
esfuerzo. En este caso se tiene
j=3
pruebas de
temperatura las log-verosimilitudes estimadas en cada

nivel de esfuerzo son:
l1 = -64.27
64 .27 l2, =
-43.78,
43 .78 l3 = -32.30
32 .30
y la log-verosimilitud total es:
Pruebas de vida acelerada en confiabilidad.
2 2
134.34>>>22.35
T T= 1=.1.34
.235.35= =
(0(0.95,2)
.95(0.,952 ), 2 )
Por lo que no hay suficiente evidencia de no linealidad

en los datos a un nivel de confianza del 95%.
7. Conclusiones
El modelo para prueba de vida acelerada estudiado
aqu ajusta adecuadamente a los datos del ejemplo,
permitiendo dar una buena estimacin de la
distribucin de vida, como lo muestran las pruebas
realizadas para tal ajuste al nivel de confianza
mostrado, aunque en general, estas pueden cambiar
dependiendo el nivel que se requiera, pero no lo
haran radicalmente. La estimacin de los parmetros
por mxima verosimilitud, mostrados en la Tabla 3,
presentan poca variabilidad y poca correlacin entre
ellos, como se puede verificar en la matriz de varianzas
y covarianzas. Con la estimacin de la distribucin de
vida, se pueden tomar decisiones acerca de la garanta
del producto ya que muestra su confiabilidad. T
Bibliografa
Abdulla A. Alhadeed and Shei-Shein Yang.
2002
Optimum Simple Step-Stress Plan for KhamisHiggins Model, IEEE Transactions on Reliability, R-51, 212- 215.
Meeker, W. Q., and Escobar, L. A. 1998 Statistical

Methods for Reliability Data. New York: John
Wiley & Sons.
37
Nelson, W. B.
1990
Accelerated Testing: Statistical Models, Test

Plans, and Data Analyses. New York: John
Wiley & Sons.
Nelson W. B.
2002
Residual and Their Analyses for Accelerated

Life Test whit Step and Varying Stress. Disponible por el autor, e-mail wnconsult@aol.com
Shaked, M., and Singpurwalla, N. D.

1983
Inference for Step-Stress Accelerated Life Test.

J. of Statistical Planning and Inference 7, 295306.
Jimnez Hernndez J. del C.*

Alamilla Lpez N. E. *
Lpez Cerino M.**
*
**
38
Universidad Tecnolgica de la Mixteca
Benemrita Universidad Autnoma de Puebla
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Pruebas de vida acelerada en confiabilidad

Las pruebas aceleradas son muy usadas en la

Las pruebas aceleradas, consisten en una variedad

industria manufacturera, particularmente para

de mtodos para acortar la vida de un producto o

obtener informacin de la confiabilidad de sus

para alargar su degradacin. El principal objetivo

componentes y materiales. Existe una gran variedad

de tales pruebas es obtener datos rpidamente, los

de mtodos estadsticos en la aceleracin de

cuales modelados adecuadamente y analizados,

la vida de un producto complicado que puede

proporcionan informacin deseada sobre la vida

fallar de diferentes maneras. Generalmente, la

de un producto bajo condiciones normales de uso.

informacin de las pruebas a altos niveles de una

En este artculo, se estudiaran las pruebas de vida

o ms variables de aceleracin o esfuerzo (como

acelerada, se mencionaran los principales objetivos

pueden ser temperatura, voltaje o presin) se utiliza

para los cuales se acelera la vida de un producto, los

para estimar la distribucin de vida del producto.

modelos de pruebas de vida acelerada ms usuales y

El trmino aceleracin tiene varios significados

finalmente se aplicar uno de stos a un conjunto de

en el campo de la confiabilidad, pero el trmino

datos obtenidos en una prueba en la cual se acelera

generalmente implica ir ms rpido, de tal forma

que la informacin de la confiabilidad pueda

Palabras clave: Distribuciones de probabilidad, estima-

tipos de pruebas de confiabilidad en las fases

cin, mtodos de aceleracin, pruebas de hiptesis.

del proceso de produccin del producto, las ms

Actualmente muchos fabricantes sienten un

2. Pruebas de vida acelerada

productos, que registren una alta duracin,

Una prueba de vida es aquella en la cual un artculo

confiabilidad entre ellos y por supuesto una alta

o producto de inters, se somete a un esfuerzo

calidad. Esto ha motivado a desarrollar mtodos

en condiciones ambientales mayores a las que

en ingeniera y ampliar el uso de diseos de

tpicamente estar operando. Los principales

experimentos para productos y mejorar su proceso.

objetivos de acelerar la vida de un producto son:

Estos requerimientos para una alta confiabilidad

estimar la distribucin de vida de dicho producto,

han incrementado y necesitan por adelantado

identificar fallas en el diseo, medir y demostrar la

pruebas de materiales, componentes y sistemas.

Temas de Ciencia y Tecnologa

mayo - agosto 2009

Los modelos de pruebas de vida acelerada tiene

si el esfuerzo es temperatura, la relacin usual

las siguientes dos componentes: Una distribucin

es la de Arrhenius, aunque cabe aclarar que sta

de vida que representa la dispersin de la vida del

no siempre se aplica en situaciones en donde la

producto y la relacin vida esfuerzo.

variable de aceleracin es temperatura ya que

Las distribuciones ms usuales para pruebas de vida

en algunos casos no se tiene un buen ajuste del