Universidad de Guadalajara

Centro Universitario de los Lagos

Interferometra digital para el estudio de dispositivos fotovoltaicos

Proyecto de ciclo terminal

Presenta: Pedro Luis Gonzlez Lozano

Director de tesis: Dr. Francisco Javier Casillas Rodrguez

Lagos de Moreno, Jalisco a 1 de diciembre de 2014

Interferometra digital para el estudio de dispositivos fotovoltaicos.
ndice

Introduccin.............3
Antecedentes....3
Planteamiento del problema......5
Justificacin..... 5
Hiptesis....5
Objetivo general...6
Objetivos particulares..6
Metodologa..6
Cronograma..9
Bibliografa..10

Introduccin

El calentamiento global ha provocado un gran inters por el uso de energas

sustentables como lo es la energa solar por medio de dispositivos fotovoltaicos. Una
celda solar es un dispositivo hecho de material semiconductor que convierte
directamente la luz solar en energa elctrica. Las celdas solares de silicio amorfo
son las ms comerciales, sin embargo a pesar de que el silicio es uno de los
semiconductores ms abundantes en la naturaleza, el costo para fabricar estos
dispositivos es elevado. Adicionalmente debido a la fragilidad del silicio es comn la
aparicin de fracturas en las celdas debido a deformaciones termo-mecnicas en las
etapas de fabricacin o cuando son integrados a paneles solares. El estudio de las
deformaciones por diferentes pruebas en celdas solares ha jugado un papel
importante para la obtencin de diseos mejorados. Normalmente las pruebas
realizadas para analizar la resistencia mecnica de estos dispositivos son
destructivas; donde las celdas solares son sometidas a cargas mecnicas hasta
generar fracturas visibles, produciendo la destruccin de la misma. En este trabajo
se propone la utilizacin de la interferometra digital de moteado para el anlisis de
las deformaciones en celdas solares debido a los esfuerzos generados por
disipacin de calor.
La tcnica de interferometria de moteado (ESPI) se utiliza para realizar
mediciones no invasivas y no destructivas principalmente en objetos solidos
mediante la iluminacin laser aprovechando la caracterstica de moteado. El objetivo
principal de este trabajo de investigacin es la deteccin de deformaciones en las
celdas fotovoltaicas durante su funcionamiento utilizando la tcnica ESPI. Todo esto
con el fin de aumentar la eficiencia y tiempo de vida de las mismas.
El sistema propuesto tiene una visin panormica con espejos convexos. Se
alinea el interfermetro, el cual est conformado por dos sistemas: el de iluminacin
(laser) y el de captura (cmara CCD); cada uno de estos estn alineados con los
espejos. Despus, se captura la primer imagen, esta es transferida
a la
computadora y se captura una segunda imagen, durante la etapa de funcionamiento
y no funcionamiento de la celda solar, y posteriormente son procesadas estas
imgenes.
Con los resultados obtenidos se producen franjas de correlacin sensibles a
los desplazamientos del sistema de visin. Est informacin ser til para la
medicin de parmetros de gran importacin con son las micro-deformaciones.
Antecedentes
En la actualidad existen algunas aplicaciones en distintos campos de la
ciencia y la industria tales como: Industria aeronutica, automovilstica, biomdica,
entre otras. En cada una de esta es utilizada la tcnica de interferometra de
moteado la cual ha experimentado un gran desarrollo debido a la incorporacin de
cmaras CCD, sistemas de procesamiento digital de imgenes y fibras pticas.
En 1960 se inventa el lser, cuando fue utilizada esta fuente de luz los
investigadores observaron que la mayora de los objetos iluminados por el lser
aparecen cubiertos por un patrn de puntos oscuro y brillantes de aspecto moteado.

De la dcada de los 60s a los 80s diversos investigadores observaron y

descubrieron aspectos relevantes los cuales se describen a continuacin:

En 1962 Rigden observo y concluyo que el fenmeno era debido a la

interaccin ente las ondas difundidas aleatoriamente por los diferentes
puntos de las superficies rugosas.
En 1963 Oliver concluyo lo mismo que Rigden y adems descubri que
el campo de puntos oscuros y brillantes puede ser fotografiado sin
necesidad de formar una imagen del objeto del cual procede.
En 1965 Scheffer desarrollo modelos tomando en cuenta diversas
condiciones de iluminacin, observacin, naturaleza y estado del
difusor.
En 1969 y 1970 Archbol recuper la informacin acerca del medio
difusor
En 1970 y 1971 Leendertz considero diferentes geometras de
iluminacin y observacin, desarrollo interfermetros de spekle
sensibles a los desplazamientos de la superficie difusora
en
direcciones especficas.
En 1971 Butters le surgi la idea de sustituir la pelcula fotogrfica por
cmara de televisin y procesar electrnicamente la seal de video
resultante a lo que llamo ESPI (Interferometria Electrnica de Patrones
de Moteado). La formacin del patrn de spekle tiene una relacin
directa con la densidad de probabilidad de distribucin de amplitud,
intensidad y la fase. Lo muestra franjas de correlacin.
En 1982 Walker observo que el fenmeno tambin se puede apreciar
con luz parcialmente coherente pero se hace menos evidente.

Existen tambin trabajos previos utilizando esta tcnica:

En octubre de 1993 Manfed Hertwing pblico un artculo sobre la

tcnica de interferometria de moteado aplicada en la deteccin de
dao en el subsuelo reforzado con compuestos de fibras de carbono.
En 1997 Simoes hizo estudios de interferometria de moteado en
condiciones de superficie de implante de hueso.
En febrero de 1999 Jiri Keprt pblico un trabajo de medicin de las
pequeas deformaciones por interferometria de moteado laser.
En enero de 2003 Rajesh Kumar pblico un trabajo de medicin de
deformaciones dinmicas fuera del plano por interferometria de
patrones de moteado electrnico.
En noviembre de 2003 Maurizio Vannoni pblico un trabajo sobre
experimentos de la interferometria de moteado con una foto cmara
digital.
En junio de 2004 E.M. Barj pblico un trabajo de Fase Wavelet de
evaluacin extensiva a patrones de interferometria de moteado
electrnico.

En septiembre de 2004
M. V Aguano pblico un trabajo de
interferometria de moteado usando cmara CMOS-DSP de mediciones
de deformaciones estticas y dinmicas.

Los desarrollos tecnolgicos registrados hasta el momento en esta rea

hacen uso de lentes panormicas anulares (PAL) que permiten obtener un campo
visual amplio lo cual hace posible las mediciones pticas e inspecciones en
superficies.
Planteamiento del problema.
Las concentraciones de calor por disipacin de potencia en la estructura de
una celda solar provocan esfuerzos termo-mecnicos por dilatacin, dando origen
defectos en estos dispositivos y una reduccin de su vida til. Se presenta un
estudio para la medicin de deformaciones en celdas solares utilizando
interferometra digital de moteado. A una celda tpica de silicio cristalino se le aplic
un voltaje de polarizacin para reproducir el funcionamiento normal de la celda y
fueron estimados los parmetros de deformacin por disipacin de energa. Se
detectaron mximas amplitudes de deformacin cerca de los contactos de conexin
de la celda con interferometra del orden 20.923962 radianes. El uso de una cmara
trmica permiti corroborar las deformaciones mecnicas en correspondencia con
las mximas intensidades detectadas en las imgenes infrarrojas.
Justificacin
Los sistemas de monitoreo e inspeccin en tiempo real es una herramienta
primordial para la industria en general. Cuando estos sistemas de inspeccin
adems cuentan con la ventaja de no ser destructivos, el inters de la industria por
el aumenta en gran medida. Estos sistemas son tcnicas de medicin pticas como
lo es ESPI. La tcnica ESPI ha demostrado ser de gran utilidad en una amplia gama
de campos industriales, los cuales cuentan con un alto contenido tecnolgico por
ejemplo la industria aeroespacial y aeronutica.
Un ejemplo seria: En la deteccin de desprendimientos en uniones adhesivas
por solape empleadas en aeronutica para sustituir remaches y pernos.
Con este nuevo desarrollo esperamos extender la capacidad de las tcnicas
ESPI para ser aplicadas en la industria de paneles solares. El sistema propuesto nos
permitir una evaluacin, inspeccin y monitoreo en campo completo de nuestro
panel solar durante condiciones normales y en tiempo real. Todo esto nos ayudara
observar los errores de fabricacin, lo cuales se buscan corregir, para aumentar la
calidad de los paneles solares.
Hiptesis
Es probable el desarrollo de un sistema interferometrico de patrones de
moteado utilizando como medio de captura un sistema de visin. El sistema de
visin est conformado por dos espejos y una cmara CCD, para iluminar se utiliza
un lser el cual est ubicado simtricamente con los espejos. Este interfermetro
5

logra obtener detecciones en campo completo de un panel solar durante su

funcionamiento.
Objetivo general
El objetivo general de este trabajo es la aplicacin de la Tcnica de
Interferometria de Moteado en combinacin la tcnica de visin (Cmara CCD) para
la deteccin de micro-deformaciones en la celda solar. Esta tcnica ofrece grandes
ventajas como la inspeccin no destructiva.
Objetivos particulares

Obtener conocimiento sobre la tcnica de ESPI con el fin de desarrollar ms

tcnicas para diferentes tipos de industrias.
Obtener correlogramas de franjas de ESPI en base a las deformaciones que
presenta la celda solar.
Establecer las condiciones especiales para el ESPI desarrollado.

Metodologa
El interfermetro es el instrumento de medicin ms preciso y sensible
conocido por el hombre hasta ahora y como es de suponer, el empleo de la
interferometra est ampliamente difundido y cuenta con una gran variedad de
aplicaciones, una de ellas es la medicin de deformaciones, el interfermetro ms
comn de ellos es el tipo Michelson el cual usaremos nosotros; mostrado en la
siguiente figura:

Explicacin
del mtodo:
Figura
1. Arreglo
de un Interfermetro
Figura 2. Interfermetro Michelson
Michelson para el anlisis de una celda
implementado en el laboratorio de ptica
solar. El interfermetro es un instrumento empleado
en la Universidad
de Guadalajara,
para producir
interferencia Centro
entre
Universitario
de como
los Lagos.
dos o ms rayos de luz (generalmente coherente)
tomando
base al principio
de superposicin de ondas electromagnticas. La distancia entre dos franjas del
patrn de interferencia es equivalente a la longitud de onda del haz de luz, por lo que

con el empleo de la interferometra es posible realizar mediciones de distancias muy

pequeas equivalentes a un mltiplo de la longitud de onda del haz de luz utilizada
en la implementacin del interfermetro.
El patrn de moteado es producto de la interferencia de los frentes de onda
esparcidos, al iluminar la superficie rugosa del objeto. Las variaciones en la
rugosidad del objeto son mayores a la longitud de onda de la fuente de iluminacin
(lser), esta iluminacin es esparcida en forma aleatoria en todas direcciones,
produciendo una interferencia de frentes de onda, y como consecuencia de esta
interferencia se forma el patrn de moteado (Speckle). Esta tcnica presenta una
sensibilidad en fase que esta en funcin de las intensidades, al hacer interferir un
haz de referencia y un haz objeto. Una diferencia de fase es introducida por la
deformacin, lo que provoca la aparicin de franjas, que pueden ser obtenidas por
tcnicas ESPI de adicin o sustraccin de patrones de moteado. La visibilidad de
patrn de franjas obtenido es mejorado considerablemente usando la tcnica de
sustraccin, que consiste en el valor absoluto de la resta de los patrones de
moteado antes y despus de la deformacin. Lo anterior se representa por la
siguiente relacin:
I a=|I 1I 2| .

Figura 3. Diferencia de fase obtenida del laboratorio de ptica de la

Universidad de Guadalajara, Centro Universitario de los Lagos.

La distribucin de las franjas indica la deformacin mecnica que experimenta

la celda de prueba. Registrando cuatro imgenes I (a-c), desplazando E2 del objeto
deformado y procesando digitalmente con un algoritmo para eliminar el ruido de
moteado y otro de desenvolvimiento de franjas [R 1-2] se puede obtener la imagen

I a I
I d I
. Donde es la variable de deformacin de inters

tan =
c

de desplazamiento

y se obtiene utilizando la funcin atan.

Figura 4. Franjas sin ruido y figura de desplazamiento en 3D obtenida del laboratorio

de ptica de la Universidad de Guadalajara, Centro Universitario de los Lagos.

El patrn de la figura 3D nos muestra la informacin que se est buscando, al

ser interpretado obtenemos las partes ms susceptibles del objeto a sufrir
deformaciones todo esto con la exactitud en micrmetros. Es decir, encontramos los
lugares ms frgiles en el objeto de estudio.

Cronograma:
Junio
16 al 21 23 al 28

1 al 4

7 al 11

Julio
14 al 18

21 al 25

28 al 30

Actividades

Recopilacin de
informacin de
la propuesta de
investigacin.
Construccin de
planteamiento
del problema,
Objetivos y
Justificacin.
Revisin de
bibliografa.
Construccin de
marco terico y
conceptual.
Diseo y
aplicacin de
metodologa.

Anlisis e
interpretacin de
resultados

Elaboracin del
informe

Bibliografa
1. H.J. Puga, R. Rodrguez Vera, Amalia Martnez, General model to predict and
correct errors in phase map interpretation and measurement for out-of-plane ESPI
interferometers, Opt. & Laser Technology, Vol. 34, 2002, pp.81-92.
2. T. Kreis, Holographic interferometry:priciples and methods, Akademie Verlag,
Berlin, 1996.
3. Malacara, D., Servin, M. Y Malacara; Z., Interferogram analysis for optical testing;
Series: optical engineering, Ed. Marcel Dekker, Inc.U.S.A. 1998.
4. Sirohi, R.S. & Siong Chau, F.,Optical methods of measurements: wholefield
techniques, Ed.Marcel Dekker, Inc. U.S.A., 1999.
5. Amalia Martinez, R. Rodriguez Vera, J.A. Rayas, H.J. Puga, Error in the
measurement due to the divergence of the object illumination wavefront for in plane
interferometers, Optics Communications, 2003
6. Pramond K. Rastogui, editor. Digital Speckle Pattern Interferometry and Relatded
Techniques.
Wiley,
2001,
pg.
1,
19,
48.
7. Ramon Rodriguez Vera, Juan Antonio Rayas, A. Martinez, y A. Davila. Algunas
aplicaciones de la interferometria electrnica de patrones de moteado. VCH-SEM,
New York, 1993. Pg. 4-7

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