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IZASA
CALIDAD Y PRECISION
(nm)
NOVEDAD
PREPARACIONES METALOGRFICAS
DE COBRE Y ALEACIONES
reparacin metalogrfica de
cobre y aleaciones.
Metalografa
El pulido final con slice coloidal es
importante, porque de este modo se
eliminan las ultimas rayas superficiales.
Para el pulido final del cobre puro, si
aadimos una solucin de nitrato de
hierro juntamente con el OP-S,
obtendremos mejores resultados.
D2
0,5 cm2
24 V
10
20 sec
(nm)
NOVEDAD
Alta luminosidad
Resolucin de 1, 3 y 5 megapixel
Indicada para aplicaciones de
documentacin y archive de imgenes
Metalografa
Alta luminosidad
Resolucin de 1, 2 y 3 megapixel
Alto rango dinmico para anlisis
cuantitativo
Aplicaciones
Campo claro , Campo oscuro , DIC,
Imgenes en tiempo real , Histologa, Patologa,
Citologa, Anlisis de fallos, Inspeccin de Semiconductores y en
Metrologa
Metalografa
(nm)
NOVEDAD
CITOVAC
Ensayos destructivos
(nm)
NUEVA MQUINA DE
ENSAYOS UNIVERSALES
AG-X
proporciona resultados a alta velocidad. Es ideal para una amplia variedad de industrias, tanto para control
de calidad como I+D de metales,
plsticos y otros materiales.
Prestaciones
La AG-X es una mquina
inteligente que no solo
alcanza las demandas
ms exigentes, sino que
ofrece una variedad de
innovaciones que dan
como resultado nuevos
niveles de fiabilidad, precisin y facilidad de operacin.
Rpido, auto-diagnstico automtico
Las prestaciones y funcionalidad del instrumento
estn aseguradas con
esta funcin innovadora
la cual:
Permite la realizacin
de inspecciones de rutina
in situ
Asegura un adecuado
mantenimiento basado
en las grabaciones de inspeccin
7
(nm)
MICRO/MACRODURMETRO M1C
DE EMCOTEST
ra de durmetros, da un
en el M1C.
Ensayos destructivos
Cambio de mtodo en solo 2
segundos: Gracias a su torreta revolver de 4 posiciones, el cambio de un
mtodo a otro es tan sencillo como
desplegar una barra y seleccionar el
mtodo deseado, todo esto sin
necesidad de cambiar ni lentes ni
penetradores manualmente.
Autofocus: El M1C dispone de un
sistema de enfoque automtico en el
que a pesar de que la muestra piercin con tecnologa CMOS para la
visualizacin de la huella.
mos destacar:
deseemos.
Ensayos destructivos
(nm)
EL IMPACTOR II
DE CEAST
Nuevo
l impactor II es el nuevo pn-
Se ha desarrollado, especficamente
para este instrumento, una nueva
lnea patentada de martillos planos,
diseados con auto-reconocimiento
y un nuevo sistema ergonmico de
cambio rpido, por lo que no necesita herramientas o tornillos para la
fijacin de los martillos.
casa de proteccin en
cada uno de los lados
que da como resultado una seguridad
absoluta durante el
ensayo, y de detalles
exquisitos como de
un cajn colector
integrado de muestras rotas tras el ensayo. Tambin incluye
un disco de frenado
de martillo especialmente diseado con
doble superficie de
contacto que asegura
un alto par de fuerza
con
un
mnimo
(nm)
Ensayos destructivos
RHEOMETROS CAPILARES
DE CEAST Y
DETERMINACIN DE CONDUTIVIDAD TRMICA EN
POLMEROS
Nuevo
realizado bajo condiciones de temperatura y presin tpicas en el procesado de polmeros, hasta 300C y
200MPa. Para todos los polmeros
ensayados se ha encontrado que la
la conductividad trmica se incrementa al subir la presin aplicada
sobre la muestra, y el efecto por el
cambio de temperatura se mostr
dependiente con el tipo de polmero.
Cualquier informacin adicional
sobre conductividad trmica utilizando equipos de CEAST, est disponible bajo peticin.
a conductividad trmica en
polmeros es una de las propiedades ms importantes para el
procesado de polmeros. Esta describe la distribucin de temperatura
durante el procesado, el comportamiento en el enfriamiento del polmero fundido, y las influencias de los
perfiles trmicos y la disipacin de
calor, informacin muy importante y
requerida en software de simulacin de procesos de extrusin y moldeo (Moldflow software). Esta predicin y entendimiento puede
arrojar mejoras en el equipo de procesado, en el diseo de materiales y
una reduccin en el nmero de
ciclos de tiempo y por tanto un
incremento en la productividad del
proceso.
Como respuesta a estos requerimientos, CEAST ha desarrollado un sistema para la medida de la conductividad trmica basado en un pistn
especial con una sonda muy sensible para usar con su avanzado Rheometro capilar (como el SmartRHEO,
foto de la derecha).
Utiliando este equipo y siguiendo las
normas ASTM D5930 e ISO/DIS
22007, se puede determinar la conductividad trmica de amplio rango
de polmeros.(por ejemplo HDPE,
PS, PC, PBT) bajo diferentes condiciones de ensayo. Las medidas se han
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Ensayos no destructivos
(nm)
NOVEDAD
X-MET 5000
Nuevo analizador XRF para alcanzar
las mximas prestaciones en todas
las aplicaciones
El
X-MET
5000
aporta
innumerables ventajas en el
reciclado.
X-MET5000 analiza aleaciones
detectando la concentracin de elementos valiosos o indeseados.
Puede aplicarse en piezas grandes,
pequeas, virutas, polvos, etc.
Aplicable con multitud de elementos: aceros, aluminios, cobres, cinc,
etc., e incluso plsticos
-MET 5000
La eleccin
condiciones
en
todas
las
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Ensayos no destructivos
(nm)
NUEVAS VERSIONES
COMPACT PARA
MAGNATEST Y
STATOGRAPH ECM
13
(nm)
NOVEDAD
posicionamiento
permite
una
correcta reproduccin del control.
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Ensayos no destructivos
DEFECTOMAT
CI
con
diferencial y absoluto.
canal
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Metrologa
(nm)
SOFTWARE EXPLORER
PARA RUGOSIMETRO
PORTTIL PS1
SOLUCIN PARA SUS
INFORMES DE MEDICIN
1.790
16
Metrologa
(nm)
NUEVAS SOLUCIONES DE
SOFTWARE PARA
APLICACIONES EN MQUINAS
DE FORMAS ANLISIS DE
HLICE (TWIST)
>
(nm)
LA LTIMA GENERACIN DE
MICROSCOPIOS DE MEDICIN
SERIE MM-400 / 800
Gran precisin.
Alta calidad de imagen y procesamiento para Metrologa.
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Metrologa
Brightfield
Darkfield
salida de datos:
Brightfield
DIC
Visualizadores simples de 2y 3
ejes.
motorizacin y software.
tico DP-E1.
Nikon, que permiten excelente resolucin a la vez que gran una distancia de trabajo, o la posibilidad de
19
400 / 800.
(nm)
lucin subnanomtrica.
Gracias al uso de la longitud de
El Pl 4300 dispone de doble ilumi-
potencia.
resolucin micromtrica.
l Sensofar Pl 4300 es un
medicin en 3D de superfi-
20
Metrologa
con luz blanca la limitacin en espesores delgados est en unos 500
nm, la Reflectometra Espectral permite la medicin de capas o pelculas de 10 nm con resolucin de 0,1
Aplicaciones
segundo.
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Especificaciones
Resolucin vertical:
< 0,1 nm
Resolucin lateral:
0,15 m
Velocidad de escaneado:
hasta 15 m/seg
Precisin de escaln en altura:
0,8 %
Repetibilidad de escaln en altura:
< 0,1 %
Rango de escaneado vertical:
hasta 50 mm
Resolucin en pelculas delgadas:
0,1 nm
Repetibilidad en pelculas delgadas.
0,3 nm
Metrologa
(nm)
NUEVA SOLUCIN DE
SOFTWARE PARA
PROGRAMACIN
OFF-LINE EN MQUINAS
DE FORMAS
SIMULADOR MARSIM
Permite practicar o recibir formacin sin necesidad de ocupar el
tiempo de medicin de la mquina.
Visualizacin tridimensional de la
mquina, fijacione s y pieza a medir,
con numerosas funciones de ayuda
a la visualizacin.
Definicin de la pieza a medir con
sus datos de CAD.
Simulacin de movimientos de la
mquina en tiempo real.
Movimientos del palpador trazados en dos colores, diferenciando
contacto o trayectoria.
Posibilidad de copiar pantallas,
(JPEG), o guardar en vdeo, (AVI).
Reduce los riesgos de colisin en
piezas o fijaciones complejas.
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Metrologa
METROLOGA DIMENSIONAL
CONTROL DE FORMAS
CONTROL DE ESTADO SUPERFICIAL
ELEMENTOS DE SUJECCIN
UNIVERSAL
EQUIPOS E INSTALACIONES
DE CORRIENTES INDUCIDAS
METROLOGA PTICA
MICROSCOPA INDUSTRIAL
ESPECTROMETRA
EQUIPOS DE RAYOS X
PERFILMETROS Y RUGOSMETROS
CON FOCALES SIN CONTACTO
S
Dr.T
EQUIPOS DE ULTRASONIDOS
DURMETROS UNIVERSALES
SISTEMAS DE ENSAYO DE DUREZA
EN PRODUCCIN
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EQUIPOS VARIOS
PARA INDUSTRIA
MICROSCOPIOS ELECTRNICOS
BALANZAS COMPARADORAS DE
PRECISIN
BALANZAS DE LABORATORIO
MOLINOS PARA PREPARACIN DE
MUESTRAS
EQUIPOS DE ABSORCIN ATMICA
EQUIPOS DE ANLISIS
TRMICOS/DIFERENCIAL