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Aplicaciones

Control de Procesos

Sistemas de Calidad
70
60
50

LSC
y
LIC
EM

40
30
20
10
0
1

3. CONTROL DE PROCESOS
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Control de Procesos

NDICE
Cartas de Control de Procesos..................................................................................................................3
Las Cartas de Shewart..............................................................................................................................3
Mtodo General para el Trazado de Cartas de Control........................................................................5
Consideraciones grficas......................................................................................................................5
Consideraciones sobre el registro de datos adicionales........................................................................5
Consideraciones acerca del redondeo de los valores calculados..........................................................6
Cartas de Control por Atributos................................................................................................................6
Cartas p (Proporcin De Defectuosos).................................................................................................7
Cartas np (Nmero de Unidades Defectuosas).....................................................................................8
Cartas u (Nmero de defectos por Unidad)..........................................................................................9
Cartas c (Nmero de defectos)...........................................................................................................10
Cartas de Control por Variables..............................................................................................................12
Cartas y - R (Media y Rango).........................................................................................................12
Cartas y - (Media y Desvo Estndar).........................................................................................14
y - R (Mediana y Rango)....................................................................................................16
Cartas ~
Cartas y - R (Lecturas individuales y Rango)....................................................................................18

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Control de Procesos
Cartas de Control de Procesos
Es muy comn ver en la industria que se grafique la informacin recolectada
durante el trabajo diario a fin de analizar lo que la tendencia de la curva resultante pueda
aportar a favor del control del sistema que se tiene entre manos, o al menos a fin de conocer
algo ms sobre l. En muchos casos se trata la informacin casi exclusivamente de esta
manera, incluso sin mayores consideraciones de tipo estadstico. An en estos casos
resultan los grficos de gran utilidad.
Aquellas grficas presentan siempre la evolucin de alguna respuesta del sistema
frente al tiempo. En algunos casos se incorporan tambin algunos estmulos que se
consideran ms relevantes. Esto es sin duda una manera bastante prctica de estudiar la
actividad de un sistema pero puede llevar a cometer errores cuando, como ocurre muy
frecuentemente, las cantidades registradas son de tipo aleatorias. Para evitar este
inconveniente es necesario prestar alguna atencin a consideraciones de tipo estadstico.
Por otra parte el uso de grficas es muy popular debido a que son una exelente
herramienta de comunicacin facilitando el camino para que la informacin llegue a
aquellos que deben tomar decisiones sirviendo as para realimentar el sistema. No son
pocos los casos en que se mide y recoge informacin que por haber sido volcada a medios
poco visibles, no es utilizada luego para tomar medidas correctivas.
Las Cartas de Shewart
El Dr. Walter Shewart dise, en 1.926, las primeras grficas de control
estadsticamente rigurosas con el objeto de proporcionar una herramienta para la vigilancia
de la actividad de procesos o sistemas de tipo repetitivos. Es decir, aquellos que tal como
ocurre en un proceso industrial, deben intentar reproducir una actividad prefijada una y otra
vez.
Las cartas de Shewart tienen el aspecto que se muestra en la figura 3.1.

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70
LSC

60
50

40
30

LIC

20
10
0
0

t
Fig. 3.1: Carta o grfica de Shewart.
En la figura se observa una respuesta o caracterstica de calidad y (eje de ordenadas)
frente al tiempo (abscisas). En el eje de abscisas se han determinado intervalos regulares de
muestreo, mientras que en ordenadas se registra con un punto el valor de la respuesta
medido u observado en ese momento. Adems, se dibujan tres lneas horizontales:
1. Un valor meta de la cantidad y, sealado en la grfica como M.
2. Un valor lmite superior de control denominado LSC.
3. Un valor lmite inferior de control llamado LIC.
Los mencionados lmites de control son obtenidos de una distribucin de referencia
que representa el desempeo esperado del proceso cuando este opera correctamente. Contra
esta distribucin de referencia se juzgan los valores observados o medidos de y
formulndose hiptesis cuando los valores se salen de los lmites mencionados. Estos
lmites incluyen generalmente el 99,9 % de las observaciones si el proceso opera
correctamente.
Si la cantidad y es una variable aleatoria con distribucin normal con desviacin
estndar , las lneas de control estarn centradas en el valor meta M y se apartarn de este
valor 3. Estas son lneas lmites para el 99,73% a las que suelen agregrseles lneas del
95% a 2. La determinacin del valor de que se utilizar en las grficas implica haber
observado el proceso durante largos perodos en que este oper bajo control estadstico, sin
perturbaciones conocidas.

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Hay diferentes tipos de grficas de control de acuerdo con el tipo de cantidades

involucradas y la sensibilidad a las variaciones requerida. Es comn dividirlas en dos
partes, una destinada a controlar el comportamiento de la media y otra destinada a controlar
la varibilidad de la cantidad y observada. De esta manera se pueden detectar problemas que
impacten simplemente como un desajuste del proceso o, ms grave, como una prdida
temporaria de su habilidad.
Desde el punto de vista del tipo de caracterstica de calidad a controlar se tienen dos
tipos de grficas:
1. Cartas de control por atributos, que se utilizan cuando la caracterstica de
calidad no es una cantidad fsicamente medible con magnitud y dimensin sino
que se trata de un conteo de defectos, del clculo de una proporcin, etc.
2. Cartas de control por variables, que, al contrario de las anteriores, se utilizan
para controlar caractersticas medidas por cantidades con magnitud y dimensin,
como dimetro, superficie, espesor, masa, humedad, resistencia, concentracin,
etc.
Mtodo General para el Trazado de Cartas de Control

1. Seleccionar la caracterstica o las caractersticas de calidad a controlar y su nivel

de resolucin, es decir, las unidades y la precisin con que se medir y
registrarn los datos.
2. Recoger los datos. Es necesario registrar la mayor cantidad de datos que sea
posible y que sea compatible con el presupuesto asignado al control de calidad.
3. Agrupar los datos en muestras. Para esto es necesario tener en cuenta que cada
grupo de datos debe provenir de un mismo bloque, intentando homogeneizar las
causas de variacin dentro de las muestras para magnificar las mismas entre
muestras. Los datos de una misma muestra deben pertenecer al mismo lote,
proceso, da, turno, operario, etc.
4. Calcular el centro y los extremos del intervalo de control de acuerdo con las
frmulas que se proporcionarn para las grficas ms comnmente utilizadas.
5. Trazar las lneas de LCS, LCI, M, dibujar los puntos y unirlos con segmentos
rectos.
Consideraciones grficas

La escala a utilizarse para el eje vertical no debe ser muy grande frente a la escala
horizontal (tiempo) dado que de ser as no ser fcil percibir la tendencia general de los
puntos. Debe recordarse que el objetivo principal es detectar precisamente estas tendencias
ms que registrar los puntos con tal precisin que sea luego posible obtener sus valores del
propio grfico. Debe adoptarse un criterio para representar los lmites de control la lnea
media, los puntos que caen dentro del intervalo de control, los puntos que caen fuera o justo
en los lmites y los segmentos que unirn los puntos. Este criterio deber por supuesto
mantenerse formando parte de los procedimientos del sector.
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Consideraciones sobre el registro de datos adicionales

Debe consignarse claramente y siempre del mismo modo, junto con los datos (los
valores de la caracterstica de calidad o la respuesta del sistema), la informacin
relacionada al origen y registro de los mismos. Es decir, la informacin acerca del momento
en que los datos se registraron junto con informacin que permita asignar la fuente de
variabilidad anormal (si esto se detecta) tal como, jefe de turno, operario, mquina, lote,
turno, tipo u origen de la materia prima utilizada en ese proceso, etc. Tambin es importante
incorporar el nombre de la persona que lee los datos o lleva a cabo la determinacin de los
mismos (si los valores del las yi surgen de un anlisis o clculo); la persona que vuelca los
valores al papel; y el nombre de toda persona involucrada con la manipulacin de la
informacin y que pueda cometer alguna clase de error. Todo debe consignarse en un
formulario diseado de tal forma que sea posible incorporar esa informacin de manera
inequvoca y debe existir un procedimiento escrito que asegure que siempre se la registre.
Sin esta informacin ser muy difcil poder encontrar el origen de una anomala en la
informacin.
Consideraciones acerca del redondeo de los valores calculados

Cuando se calculen los lmites de control debe tenerse en cuenta que cada vez que
se obtenga un promedio se debe incluir al menos un dgito significativo ms que los datos
que se estn promediando. En el caso de tener que calcular la media general de un conjunto
de muestras se debe agregar nuevamente (al menos) otro dgito significativo adicional. La
cantidad de cifras significativas adoptada para los valores de yi y para los promedios debe
respetarse a fin de no introducir sesgo o una fuente adicional de variabilidad. Es preferible
redondear los valores calculados que llevar una cantidad exagerada de cifras significativas.
La forma de redondear debe ser la habitual, es decir, el ltimo dgito significativo a
mantener se dejar sin cambios si el que le sigue es menor que cinco y se incrementar en
uno si es igual o mayor que cinco1.
Cartas de Control por Atributos
Las cartas o grficas de control por atributos suelen ser de dos clases. Unas que
controlan el porcentaje o bien el nmero de unidades defectuosas. Otras que controlan el
nmero de defectos o bien el porcentaje de defectos por rea de oportunidad.
Las primeras son utilizadas cuando el tipo de especificacin adoptado por la
compaa para esa caracterstica de ese producto es del tipo de Nivel de Calidad Aceptable
o Especificaciones Tcnicas Pasa-No pasa, antes definidas e implican un criterio para
clasificar a las unidades en defectuosas o no defectuosas.
1

Algunos autores (como Ishikawa) recomiendan que al redondear, se proceda del modo siguiente:
Sea no,d1 d2 dr-1 dr dr+1 el nmero a redondear donde no es la parte entera del nmero y di sus dgitos
decimales. Sea dr el ltimo dgito a mantenerse luego del redondeo y, como es obvio, d r-1, dr+1 los dgitos
contiguos, anterior y posterior, a este. Si d r+1 y dr+2 son respectivamente 5 y 0 agrega 1 a d r si dr-1 es impar y
deja a dr sin cambios si dr-1 es par. Esto nos parece incorrecto ya que el nmero de dgitos del sistema de
numeracin de base 10 es par y por lo tanto no se introduce sesgo alguno redondeando de la manera
tradicional.
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Las ltimas son utilizadas cuando los productos se clasifican en varias categoras
segn el nmero o proporcin de defectos que presente cada unidad, ocurriendo
generalmente que estas son bastante complejas pudiendo presentar diferentes
imperfecciones sin que el producto pueda clasificarse como no apto. Ejemplos de este tipo
de casos son: automviles, donde el producto se inspecciona en busca de defectos en
tapizados, sistema de audio, cerraduras, etc.; computadoras personales, donde se
inspeccionan detalles de terminacin como alineacin de los frentes de las unidades de
discos, suavidad con que operan los botones de encendido, reset, etc., facilidad y seguridad
en la conexin y desconexin de perifricos, etc.. Otros ejemplos de caracterizaciones de
calidad que admitan ser tratadas por este tipo de grficas son: cueros, donde se computan
defectos tales como manchas de color, perforaciones, cicatrices, etc. presentes en cada
unidad;
Cartas p (Proporcin De Defectuosos)

El control de un proceso mediante este tipo de cartas consiste en determinar, para

lotes producidos (o adquiridos), la proporcin de artculos que no cumplen con el nivel de
calidad requerido o que no se ajustan a las especificaciones. Estos valores se tabulan
primero junto al tiempo de referencia, como se observa en la tabla siguiente:
Da

Produccin

Defectuosos

ni

yi

Proporcin de
defectuosos
p= yi/ ni

1520

75

4,93%

1345

72

5,35%

1550

68

4,39%

1610

82

5,09%

ni

yi

Tabla 3.1: Registro de proporcin de artculos defectuosos.

Estas grficas podran denominarse tambin grficas p-q dado que se utilizan en
aquellos casos en que la respuesta del sistema se comporta de acuerdo con una distribucin
Binomial. La respuesta yi deber representar una cantidad de artculos considerados
defectuosos obtenidos en la muestra o lote i. Permiten determinar si el proceso ha cambiado
de manera tal que el nivel de calidad promedio se ha modificado.
Registrar la cantidad de unidades totales (n) y la cantidad de unidades defectuosas
(pn) tiene importancia dado que p y n son los parmetros que caracterizan a la distribucin
y valores iguales de p junto a valores diferentes de n arrojan distribuciones diferentes. Cada
lnea de la Tabla 3.1. tendr una distribucin Binomial diferente.
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La lnea central estar dada por:

p

y
n

( p

ni )

(3.1)

Los lmites de control se calcularn por:

LC S , I p 3

p (1 p )
ni

(3.2)

El lmite inferior solo es aplicable si es mayor o igual a cero. En caso de que sea
negativo no se tomar en cuenta dado que no tendra significado una proporcin de
defectuosos negativa.
Se observa en la ecuacin (3.5.) que los lmites de control dependen de ni por lo que
si los lotes o las muestras son de distinto tamao, no se podrn dibujar las lneas
correspondientes a LCS y LCI. En tal caso habr lmites individuales para cada lote o
muestra. Sin embargo, si los ni no son muy diferentes entre s, se puede trabajar con su
media y trazar los lmites. De cualquier manera ser necesario recalcularlos para cada valor
cercano a alguno de ellos.
Cartas np (Nmero de Unidades Defectuosas)

Este tipo de cartas se utiliza en casos como los anteriores pero en los que se tiene
lotes o muestras iguales. Se debe determinar, para cada lote (o muestra), el nmero de
artculos fuera de especificaciones. Estos valores se tabulan junto al tiempo de manera
similar al caso anterior, como se observa en la tabla siguiente:
Produccin
Diaria

Da o
Lote

Defectuosos
yi

n=1500

Proporcin de
defectuosos
p= yi/ ni

1500

75

5,00%

1500

72

4,80%

1500

68

4,39%

1500

82

5,09%

1500

yi

Tabla 3.2: Registro del nmero de artculos defectuosos.

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La lnea central estar ahora dada por:

np

(y ) n p
i

(3.3)

donde k es el nmero total de muestras o lotes.

Los lmites de control se calcularn por:
LC S , I n p 3 n p (1 p )

(3.4)

El lmite inferior nuevamente, solo es aplicable si es mayor o igual a cero. No

tendra significado una cantidad negativa de artculos de defectuosos.
Se observa en las ecuaciones (3.6.) y (3.7.) que los lmites de control dependen de n
por lo que si los lotes o las muestras fueran de distinto tamao, no se podran dibujar las
lneas correspondientes a LCS, LCI ni la lnea M. Por esa razn es que se prefieren estas
cartas cuando n es constante.

Cartas u (Nmero de defectos por Unidad)

El control de un proceso mediante este tipo de cartas consiste en determinar la

cantidad de defectos que presenta una unidad de registro. La unidad de registro puede ser
un artculo, una persona, un metro cuadrado de chapa, una barra de perfil normal U ( UPN)
de 6 metros, etc. Tambin puede ser un grupo de varios artculos, varias personas, etc. es
decir el conteo de defectos no tiene por que referirse a una sola unidad. En ciertos casos
puede utilizarse para controlar el nmero de eventos que se producen en una unidad de
tiempo como por ejemplo el nmero de accidentes por ao, la cantidad de horas extras por
mes, etc. Estas grficas se utilizan entonces en aquellos casos en que la respuesta del
sistema se comporta de acuerdo con una distribucin Poisson donde el nmero de defectos
es la respuesta yi a registrar del sistema y generalmente se la designa con la letra c. Estos
valores se registran junto al tiempo de referencia de manera similar a como se registraron
los datos para las cartas p y np, tal como se observa en la tabla que se muestra a
continuacin:

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Hora

Muestra

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Tamao de la Muestra
ni [m2]

Control de Procesos

N de Defectos en
el Lote

Proporcin de
defectuosos

ci

ui= ci/ ni

8:00

2,52

2,78

9:00

2,34

2,14

10:00

2,50

2,40

11:00

2,44

3,28

ni

ci

Tabla 3.3: Registro del nmero de defectos por rea de oportunidad.

La lnea central se obtiene por:
u

c
n

(3.5)

Los lmites de control se calcularn por:

LC S , I u 3

u
ni

(3.6)

El lmite inferior solo es aplicable si es mayor o igual a cero.

Se observa en la ecuacin (3.9.) que los lmites de control dependen de ni por lo que
si los lotes o las muestras son de distinto tamao, caben las mismas consideraciones que en
grfico p con respecto a las lneas correspondientes a LCS y LCI. Nuevamente habr
lmites individuales para cada muestra, y si los ni no son muy diferentes entre s, se podr
trabajar con su media y trazar los lmites teniendo el cuidado de recalcularlos para valores
cercanos a ellos.

Cartas c (Nmero de defectos)

En estos casos la unidad de registro es igual para todas las muestras. La respuesta yi
o ci, a registrar del sistema es precisamente el nmero o recuento de defectos que presenta
cada muestra. Los datos pueden registrarse del siguiente modo:

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Hora

Control de Procesos

Muestra

N de Defectos

(1 unidad)

ci

8:00

9:00

10:00

11:00

ci

Tabla 3.4: Registro del nmero de defectos por artculo.

La lnea central se obtiene por:
c

(3.7)

Los lmites de control se calcularn por:

LC S , I c 3 c

(3.8)

Como siempre, el lmite inferior solo es aplicable si es mayor o igual a cero lo que
para este caso equivale a decir que el lmite inferior ser vlido solo si c 9 .

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Cartas de Control por Variables

Las grficas de control por variables son utilizadas cuando se han especificado
valores lmites para una caracterstica de calidad medible en unidades fsicas. Las hay de
diferentes tipos segn el proceso a controlar y la sensibilidad requerida por este control. En
general es posible realizar grficas de dos tipos. Unas destinadas a vigilar la media de la
respuesta del sistema y otras destinadas a vigilar su variabilidad.
Este tipo de respuestas suele tener distribucin normal o aproximadamente normal
y, como sabemos, esta distribucin se caracteriza por dos parmetros, su media y su
varianza. La varianza de la distribucin normal no depende de la media como ocurre en las
distribuciones Binomial y de Poisson. Debido a que el intervalo de control depende de la
variabilidad del proceso (recordar que dicho intervalo se aparta 3 hacia ambos lados de la
media) si vara y el intervalo cambia, una grfica destinada a controlar la media podra
mostrar puntos fuera del intervalo de control an cuando la media del proceso no haya
sufrido alteraciones. Por esto siempre que se trabaja en control por variables se utilizan dos
grficas simultneamente. Una destinada a determinar si la variabilidad est bajo control y
otra, que tendr sentido solo si la variabilidad no presenta anomalas, destinada a
determinar si la media est controlada.
Esto se debe a que si la variabilidad vara, los lmites del intervalo de control de la
respuesta que se est monitoreando variarn (los lmites dependen de y si este valor
cambia los lmites se desplazan).
Para proceder a elaborar las grficas, una vez seleccionada la respuesta a medir yi, se
debe determinar el tamao de la muestra. Se preferirn muestras pequeas ya que esto
permite detectar las anomalas con mayor rapidez. Supngase que se toma una muestra de
25 unidades cada cierto lapso de tiempo. Si ocurre una variacin que afecta a las ltimas
cinco unidades de la ltima muestra, es probable que no nos sea posible detectarla hasta que
se tome la siguiente muestra de 25 nuevas unidades. Se preferirn entonces muestras
pequeas, generalmente de 2 a 5 unidades.
Cartas y - R (Media y Rango)

Debido al pequeo tamao de las muestras que se utilizan habitualmente para

control por variables, no es aconsejable estimar la varianza por medio de la varianza
muestral. Resulta ms cmodo utilizar el rango muestral, a pesar de ser un estimador
sesgado de , por su ms fcil calculo y por ser equivalente en cuanto a sensibilidad para
muestras pequeas. Cuando se trabaje con muestras de 10 o ms elementos ser ms
aconsejable utilizar la varianza muestral como estimador de .
La informacin se recoge en tablas con una estructura bsica similar a la que se
muestra en la tabla del ejemplo que sigue a continuacin:

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Hora

Aplicaciones

Muestra
j

yij

25,450

25,403

25,392

7:45

25,450

8:15

25,403

8:45

25,382

9:15

25,415

25,401

25,398

25,399

6:15
6:45
7:15

9:45

10:15
10:45

25,350

25,413

25,492

25,450

25,403

?
?

25,382

25,405

25,401

25,398

25,399

Totales

N=k.n

yij
k

Promedios

yi

Ri

25,4196

0,058

25,3970

0,033

25,4093

0,142

25,3970

0,023

yi

Ri

Control de Procesos

yij
i 1 j 1

k n

yi
i 1

R
i 1

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Control de Procesos

Tabla 3.5: Registro del dimetro en mm de una barra de acero (nominal = 1).
Como se dijo anteriormente lo primero que debe hacerse es el grfico para el control
de la variabilidad (R). Sus lneas de control se trazarn para:
k

i 1

(3.9)

LCI R D3 R
LCS R D4 R

(3.10)

donde D3 y D4 son constantes que dependen del tamao de las muestras y han sido
precalculadas encontrndose sus valores en la Tabla 3.6.
La lnea media o valor meta del grfico para y ser precisamente:
k

y
i 1 j 1

ij

o lo que es lo mismo,

k n
k

y
i 1

(3.11)

... y sus lmites de control estarn dados por:

LIC y y A2 R
LIC y y A2 R

(3.12)

donde A2 tambin es una constante que depende del tamao de la muestra y sus
valores se pueden extraer de la Tabla 3.6.
Cartas y - (Media y Desvo Estndar)

Como dijramos antes, cuando se trabaje con muestras de 10 o ms elementos ser

ms aconsejable utilizar la varianza muestral como estimador de .
La estructura de las tablas en las que se recoge la informacin es la misma y un
ejemplo se muestra a continuacin:

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Hora

Muestra i

Aplicaciones

yij

j
1

25,45

06:45

25,403

07:15

25,392

07:45

25,45

08:15

25,403

25,382

09:15

25,415

09:45

25,401

10:15

25,398

10:45

10

25,399

11:15

25,382

11:45

25,415

12:15

25,401

12:45

25,398

13:15

25,4

25,381

14:14

25,389

14:45

25,411

15:15

25,338

15:45

10

25,399

13:45

25,35

25,413

25,492

25,45

25,415

25,401

25,398

25,389

25,411

10

25,403

Totales

N=k.n

yij
k

Promedios

si

yi

06:15

08:45

Control de Procesos

25,4093

0,0230

25,3914

0,0218

25,4122

0,0375

si

yi

y
i 1 j 1

si/k

ij

k n

y
i 1

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Control de Procesos

Tabla 3.7: Registro del dimetro en mm de una barra de acero (nominal = 1).
Como se dijo anteriormente lo primero que debe hacerse es el grfico para el control
de la variabilidad ( ). Sus lneas de control se trazarn para:
k

donde:

s
i 1

(3.13)

si

y
j 1

2
j

( y j ) 2 / n
j 1

n 1

y
LCI s B3 s
LCS s B4 s

(3.14)

donde B3 y B4 son constantes que dependen del tamao de las muestras y han sido
precalculadas encontrndose sus valores en la Tabla 3.6.
La lnea media o valor meta del grfico para y ser igualmente:
k

y
i 1

(3.15)

k n

... y sus lmites de control:

LIC y y A3 R
LIC y y A3 R

(3.16)

donde A3 se puede extraer de la Tabla 3.6.

y - R (Mediana y Rango)
Cartas ~

Usando la misma tabla de informacin que utilizamos en el ejemplo de las cartas

Media-Rango:

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Hora

Aplicaciones

Muestra
i

6:15
6:45
7:15

yij

25,45

25,403

25,392

7:45

25,45

8:15

25,403

8:45

25,382

9:15

25,415

25,401

25,398

25,399

9:45

10:15
10:45

25,413

25,492

25,45

25,403

?
?

25,382

25,405

25,401

25,398

25,399

Totales

N=k.n

yij
k

Promedios

~
yi

Ri

25,403

0,058

25,399

0,033

25,413

0,142

25,399

0,023

yi
~

Ri

25,35

Control de Procesos

yij
i 1 j 1

k n

~
y

~yi
i 1

R
i 1

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Control de Procesos

Tabla 3.8: Registro del dimetro en mm de una barra de acero (nominal = 1).
Las lneas para construir el grfico para el control de la variabilidad (R)estarn
dadas por:
k

R
i 1

(3.17)

LCI R D3 R

(3.18)

LCS R D4 R

y sern:
La lnea media y lneas lmites del grfico para ~
k

~
y

~y
i 1

(3.19)

LIC y ~
y A2 R

(3.20)

LIC y ~
y A2 R

El uso de esta carta en vez de la de medias y rangos se debe a que cuando las
muestras son pequeas y de cantidad impar de valores, se pueden graficar todos ellos sobre
la vertical correspondiente a cada muestra. Si se unen los puntos intermedios (medianas) de
cada una con segmentos, se tiene la carta trazada si realizar ningn clculo.
Cartas y - R (Lecturas individuales y Rango)

En este caso la variabilidad se toma entre dos observaciones consecutivas

calculando el rango mvil.
La informacin se registra de la forma que indica la siguiente tabla:

Batch

Muestra i

yi

Ri

01/06/2000

4,30%

0,435

03/06/2000

3,87%

0,199

05/06/2000

4,07%

0,518

07/06/2000

3,55%

0,009

09/06/2000

3,54%

0,699

11/06/2000

4,24%

0,229

13/06/2000

4,01%

0,160

15/06/2000

3,85%

0,585

17/06/2000

4,43%

0,546

19/06/2000

10

3,89%

0,281

3,61%

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Ingeniera de Sistemas

Aplicaciones

Totales

Promedios

Control de Procesos

S yi

S Ri

R
y
k de Etanol.
Tabla 3.9: Registro del Porcentajekde Agua en Lotes
i 1

i 1

Las lneas para construir el grfico para el control de la variabilidad (R) estarn
dadas por:
k

i 1

(3.21)

LCI R D3 R
LCS R D4 R

(3.22)

La lnea media y lneas lmites del grfico para y sern:

k

y
i 1

(3.23)

LIC y y E 2 R
LIC y y E 2 R

(3.24)

El uso de esta carta se prescribe cuando el producto es un lote bastante uniforme

como en un proceso batch (alcohol etlico, cloruro de litio, etc.), cuando el producto es muy
complejo y se producen pocas unidades por unidad de tiempo, cuando se cuenta con
medicin automtica en lnea, etc.

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