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1.0 E3 S/m .
semiconduccin est muy ms bajo que del centro y los conductores de la cubierta, as es que las
pantallas de semiconduccin no contribuyen a la conduccin longitudinal de la corriente. Esto
implica que, al entrar en los datos geomtricos en una rutina de la CC, el usuario debera dejar al
aislador XPLE extindete hasta la superficie del conductor de fondo y el conductor de la cubierta, y
aumenta el permitividad relativo para dejar la capacitancia inalterada. Estos descuidos modelan que
la atenuacin posible dio lugar por las pantallas de semiconduccin. La atenuacin podra tener un
impacto fuerte sobre los transitorios de frecuencia muy alta. Esto se discute en el Ejemplo 3.3,
Seccin 3.8.1 (ver Figura 3.26).
C = 0.24 nF/m
A c=1000 mm2
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RDC=2.9 E5 /m
r 1=19.5 mm
El espesor de aislador:
0.8 mm
14 mm
0.4 mm
As=50 mm 2
Este ejemplo est dirigido a ilustrar cmo aplicar las recomendaciones previas a dar razn de
semitransmitir pantallas en las rutinas de la CC.Tambin viene a mostrar cmo dar razn de
variaciones e incertidumbres en fabricantes los datos. Finalmente, provee una comparacin entre las
medidas y las simulaciones de corrientes del inrush. La comparacin demuestra que es mejor
obtener datos de capacitancia a partir de un ejemplar y que una exactitud ms bajo es obtenida
abandonando la semiconduccin filtra.
a. Materialidad de datos
Las pantallas del aislador pueden estar representadas como cortos circuitos al calcular la admisin
de derivacin. Esto equivale a una capacitancia dos conchas cilndricas deducidas de Ecuacin
3.20 .En este
caso
b=a+14=34.3 mm .Con
0.244 nF /m . Lo
b. conversin de datos
centro
Del fabricante:
r 1=19.5 mm .
3.47 : c=3.4643 E8 m.
3.49, r 1=2.486 .
3.50 :r 3=34.93 mm .
s=1.718 E8 m(cobre) .
c. imprecisin de datos del fabricante
Los estndares por cable aplicables (eg. IEC 840 , IEC 60502) limitan el espesor mnimo de cada
capa por cable (en relacin al espesor nominal) , pero no el mximo espesor. Por consiguiente, el
fabricante tiene libertad de usar capas ms grueso que el uno nominal; eg. Para dar razn de
disparidad en la fabricacin y los resultados decadentes. Esta situacin es predominante para el
aislador principal, la sobre-cubierta, y las pantallas de semiconduccin.
Despus de tomar las dimensiones de un ejemplar del cable 66 kV, fue encontrado que el aislador y,
en particular, las pantallas de semiconduccin estaban ms gruesas que lo que dijeron en las hojas
de datos
la distancia entre la pantalla exterior del material aislante y el centro de cada conductor dentro
la pantalla del alambre :1 mm.
r 1=19.5 mm
r 2=37.8 mm
v =1/ L0 C(3.51)
Z c= L0 /C(3.52)
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With
= 4 E-7.
Considera los siguientes tres casos, que se usan para comparar las caractersticas asintticas de
propagacin:
a=r 1, b=r 2.
La tabla 3.5 de datos de entrada de funciones para cada caso, y los valores deducidos para la
velocidad y la impedancia caracterstica, usando la inductancia calculada de Ecuacin 3.53.Es obvio
de estos resultados que las caractersticas de propagacin por cable son altamente sensibles para la
representacin de las capas de la cubierta de fondo.
e.Las pruebas de campo y la simulacin de dominio de tiempo
Una prueba de campo fue efectuada en un cable de 6.05 longitud km , ve Figura 3.23. Un conductor
de alma fue cargado a un voltaje de CD 5 kV y entonces puesto en cortocircuito para suelo. De ese
modo, un voltaje negativo de paso estaba dentro resultado se concentr en el final por cable.
Figura 3.24 muestras la corriente inicial medida del inrush saliendo al conductor elctrico de fondo
en p.u. del DC-VOLTAGE.La corriente inicial concuerda con la admitancia ante picos transitorios
del lazo fundamental de la cubierta por cable , lo cual es la inversa de la impedancia de arranque.
La corriente del inrush estaba simulada usando al as llamado modelo Lineal Universal (ULM).La
rutina de la CC fue aplicada para el tres casos diferente definidos arriba. Est visto as de usado la
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FIGURA 3.24
Ejemplo 3.3: Measured and simulated inrush current. (From Gustavsen, B., IEEE PES Winter
Meeting, January 28February 1, 2001. With permission.)
FIGURA 3.25
Ejemplo 3.3: Improved model of insulation screens. (From Stone, G.C. and Boggs, S.A., Proceedings of the
Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena, National Academy of Sciences, Washington,
DC, pp. 275280, October 1982. With permission.)
Weeks y Min Diao [34] dan una investigacin que sigue un sistema de los efectos de semitransmitir
pantallas sobre las caractersticas de propagacin.
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Donde:
y r . Las curvas definen para cul el valor culminante un voltaje sinusoidal de 1 p.u. El valor
culminante viene a menos sobre una distancia de 1 km.( La seal se descompone exponencialmente
como funcin de longitud) El modelo predice una contribucin significativa de las pantallas de
semiconduccin para un valor bajo de ambas el permeabilidades relativas(10, 100) y una
conductividad(0.001).con una alta permeabilidad de (1000), La capacitancia tiende al cortocircuito
fuera de la conductancia , Y ningn incremento apreciable de la atenuacin se ve. El valor mnimo
para una permeabilidad (10) es probablemente poco realista.
Ejemplo 3.4
Considrale las tres 145 kV sistema del cable SC mostrado en Figura 3.27. El diseo por cable usa
un aislador de cobre en el centro y XLPE, El radio de fondo y grosores del aislador siendo estos
mostrados dentro Tabla 3.6. Las capas semiconductores son tomadas en consideracin usando
Ecuacin 3.49.
Usando la ULM [5], El voltaje causado por una excitacin de voltaje de paso se calcula en el fin
receptor de un cable 5 km , ver Figura 3.28. Todas las cubiertas son tratadas continuamente puesto
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voltaje
resultante
de
paso
se
calcula
1 mm Pb ; 2 mm Pb ; 3 mm Pb; 0.215 mm Cu
para
las
siguientes
(Que
represente
una
cubiertas
pantalla
por
cable:
del
cable
50 mm 2 ).
Los voltajes receptores son mostrados en Figura 3.29 , asumiendo 1 mm Semicapas de conduccin.
Puede ser visto tan reductor el espesor de la cubierta de indicacin de 2 mm para 1 pistas mm para
un incremento fuerte en la atenuacin, Considerando una reduccin de 3 mm para 2 mm tiene
efecto pequeo. Esto puede ser comprendido como la componente de frecuencia dominante del
transitorio cerca 10 kHz.
FIGURA 3.26
Ejemplo 3.3: Effect of semiconducting screens on attenuation. (From Gustavsen, B., IEEE PES Winter
Meeting,January 28February 1, 2001. With permission.)
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