El método fotoel e = 42. Medida fotoelastica de tensiones. En las placas estudiadas en los capitulos anteriores el contorno tenia siempre una forma geomé- trica sencilla, lo que permitié obtener la solucién analitica del problema Si el contorno tiene una forma mas compleja Megar a tal solucion resulta, sin embargo, muy dificil por lo que es necesario recurrir 2 métodos numé- ricos (que se estudian en el apéndice) 0 a métodos experimentales, tales como la medida de las deformaciones superficiales mediante extensometros © el método fotoeldstico. El fundamento de esta técnica experimental se encuentra en el descubrimiento de David Brewster’, de que cuando una pieza de vidrio cargada es observada mediante uz polavizada trans- mitida a su través, aparece un dibujo brillantemente coloreado causado por las tensiones que hay en la pieza. Brewster sugirié que este fenameno podria ser utilizado para medir las tensiones que se presentan en estruc- turas tales como puentes de albajileria, estudiando mediante luz pola- rizada el comportamiento de modelos de vidrio, sometidos a diversas condiciones de carga. Maxwell’, comparé los esquemas fotoeldsticos con las soluciones analiticas y mucho mas tarde la sugerencia de Brewster, largo tiempo olvidada, fue adoptada por Wilson® quien aplicé dicho método al estudio de las tensiones originadas en una viga por una carga concentrada y por Mesnager* en su estudio de los puentes de arco. Mas tarde E. G. Coker? desarrollé e hizo gran uso del método, utilizando nitro- 1D, Brewster, Trans. Roy. Soc. (London), 1816, pag. 156. * J. Clerk Maxwell, Sei, Papers, vol. 1, pag. 30. °C. Wilson, Phil, Mag., vol. 33, pig. 481, 1891 +A Mesnager, dam. ponts et chanssées, 4° trimestre, pag. 129, 1901; y 9.9 serie, vol 16, pig. 135, 1913, * Lag numerosas publicaciones del profesor Coker se encuentran reunidas en sus trabajos: Gen, Blec. Rev., vol. 23, pig, 870, 1920 y J. Franklin Inst., vol. 199, pig. 289, 1925. Vease tambien el libro de E. G. Coker y L, N, Filon, Photo-elastivity, Cambridge University Press, 1931160 TEORIA DE LA ELASTICIDAD celulosa como material para los modelos. Posteriormente se ha hecho uso también de la baquelita y mds recientemente de la fosterita’ En lo que sigue (donde vamos a hablar solamente del equipo foto- eléstico més sencillo*), consideraremos Ia luz ardinaria como un conjunto de oscilaciones que se producen en todas las direcciones normales i la LP M bP M Ga s (@ wo recta que define geométricamente el rayo luminoso, Por reflexién del mismo sobre una placa de vidrio, una de cuyas caras esta pintada de negro, © por transmision a través de un polarizador (un prisma de Nicol o una lamina de Polaroid) se obtiene un haz de luz polarisada, en mayor o menor grado, en el cual predomina la vibracién transversal correspondiente a una direccién determinada. El plano que contiene esta direccién y la del rayo se lama plano de polarizacién. Este tipo de luz, que en lo que sigue elegiremos ademas monocromatica, es la que se utiliza en la investigacion fotoelistica de las tensiones. x = a be. mt ae ad Sate 5 &. of GY a y2\@p @ (o) oo Fis, 99 La figura 98a representa el diagrama de un polariscopio plano. El haz de luz originado en L pasa a través del polarizador P, a continuacién a través del modelo transparente M, que modifica la luz de acuerdo con el estado tensional en que se encuentra, después a través del analizador 4 (otro polarizador) Hegando finalmente a la pantalla S sobre ta cual se forman las franjas de interferencia (figs. 100 a 104), 1M. M. Leven, Proc. Soc, Expl. Stress Analysis, vol. 6 niim. 1, pig. 19, 1948, * Un tratamiento mis completo puede encontrarse en los libros: Handbook of Experi- mental Stress Analysis, 1950; M. M. Frocht, Photoelasticsty, 2 vols., 1941 y 1548; y en el libro citado en la nota 5 ee A eeeEL METODO FOTOELASTICO 161 Sea abcd (fig. 99a) un pequeno elemento de la cara izquierda del mo- delo M, en el cual las direcciones de las tensiones principales o, y ay, se toman vertical y horizontal por conveniencia. Un rayo, normal al plano de papel, y polarizado en el plano OA (fig. 99) lega desde P. La vibracién es arménica y puede representarse por la elongacién s de direecién O.4 © = acos pi (a) en la que p es 2x veces la frecuencia, que depende del color de la luz, y tel tiempo. La oscilacién (a) contenida en el plano OA puede descomponerse en sus componentes segtin Ox y Oy que serdn @ =acosacos pt, y = asenacos pt @) Fl efecto de las tensiones principales o, y 9), que acttian en el punto O de Ia placa, es alterar las velocidades con que las componentes (b) se pro- pagan a través de la misma. Llamando v. y v, a las velocidades de propa- gacion de la luz en los planos Ox y Oy, respectivamente y ht al espesor de la placa, Jos tiempos necesarios para que las componentes de la vibracién Ia atraviesen serdn ©) Por Io tanto las oscilaciones (b) después de haber atravesado la placa vendran expresadas por las ecuacion! a =acosacospl—h), yi =asenacospi—t) (d) lo que indica que al abandonar la placa existe una diferencia de fase entre las dos componentes que viene dada por 1 = p(t: — f1). Experimental- mente se ha encontrado que para un determinado material, a una tem- peratura dada, y con luz de una cierta Jongitud de onda la diferencia de fase es proporcional a Ia diferencia entre las tensiones principales y al espesor de la placa, ‘Tal proporcionalidad cs expresada por la siguiente ecuacién: 2Qah a N Clan — oy) O) en la que 4 es Ja longitud de onda (en el vacio) y C la constante fotoelastica, que se determina experimentalmente y que depende de la longitud de onda de la luz asi como del material y de la temperatura a la que éste se encuentra. El analizador A transmite solamente las vibraciones 0 las componentes de las mismas gue se encuentran en su plano de polarizacién. Si este plano es normal al del polarizador! y quitamos el modelo, el analizador 4 \ Se dice entonces que polarizador y unalizador estén scruzadosy162 TEORIA DE LA ELASTICIDAD no dejara pasar ninguna luz a la pantalla. Consideremos ahora lo qunea, como be cuando €] modelo esté presente. Las componentes (d) a su Ilegada de o, - lizador vendran expresadas por las ecuaciones na de primero waluar la di tanto el orde Zy=acosacos}, 2 = asena cos (¥ — A) ya que la diferencia de fase 4 se conserva en el camino de M a Ascromitica de gual a pt mds una constante valor de frar Las componentes de las vibraciones (f) que son transmitidas a traccién un analizador (cuyo plano de polarizacién es representado por mnnal que se ot fig. 99a) seran la proyeccién de las mismas sobre la direccién Om iiuminada. } valor es la serd oscurs irecerse cuan Ga) se aproxir @_sena = ga sen 2e cos y, — 4a sen 2a y la vibracién resultante segiin mn sera 1 ; : a 4] 77 sen 2a [eos ¥ — cos (¥ ~ A)] = —a sen 2a sen 5 n(o~§ Fl factor sen (y — 4/2) de la misma representa una funcién arméni tiempo cuya amplitud es: asen 2a sen 5 Se sigue de esta expresién, que la luz Iegara a la pantalla a menos « 2a = 0 6 sen 4/2 = 0. Centrandonos en el primer caso, el he: que sen 2a = 0 indica que las direcciones de las tensiones principaly paralelas (perpendiculares) a las direcciones de polarizacion de P Los rayos que pasen por tales puntos de M se extinguirin y los p correspondientes de la pantalla S aparecerdn en negro. Estos punt indicadas por lineas ose a iluminar encuentran generalmente en una 0 mas curv en S. Tales curvas. se Ilaman «isoclinas». Trazando en numerosos p de franja vu‘ de ellas pequefios segmentos paralelos a los ejes de P y A tendremos de iluminaci¢ tradas las direcciones de las tensiones princ distintas orientaciones a P y A (que se mantienen cruzados) obtendnnal no unife nuevas isoclinas y los segmentos indicadores de las direcciones princ ssiones en el cubrirén el campo tensional (igual que hacen las limaduras de hie -iclos de un el campo de un imén), siendo entonces posible trazar curvas tanger ~otalidad, el cada punto a los ejes principales de las tensiones. Tales cur s nuevas) : el nombre de tisostaticass natieas pue El otro caso en que s¢ produce oscuridad en un punto es cuand él sen 4/2 = 0. Entonces 1 = 2nx siendo » = 0, 1, 2, ... Cuando é [Pp 1 9 OF Oz D504 OS OB Relacion R/ad Fic. 107 tensiones principales, en el interior del modelo 9 en zonas del contorno sobre las que actda una carga desconocida, es preciso acudir bien al calcul, bien a la realizacién de otras medidas. Para la ejecucién de uno u otro se han propuesto y utilizado muchos métodos, de algunos de los cuales sc va a hacer una breve descripeién*. La suma de las tensiones principales puede determinarse midiendo los cambios de espesor de la placa? como se deduce de Ia relacién: hy Ah = “(ox + ev) (a) ' Vease el trabajo citado de Weibel ® Para mayor informacién véunse Tac referencias de li nots, 3 Este método fue sugerido por Mesnager, foc. citMETODO FOTOELASTICO im nn consecuencia, en todo punto donde deseemos determinar las tensiones podremos evaluar o, + a, realizando la medida de 4h, para cuya ejecu- cién se han desarrollado diversos tipos de extensémetros’. Asimismo, podemos realizar tal medida fotografiando las franjas de interferencia que se obtienen al aplicar ¢] modelo sobre un espejo plano. Tales franjas son causadas por la kimina de aire de espesor variable, que sigue las variacio- nes de espesor del modelo, contenida entre modelo y espejo. ‘ De otra parte, la suma de las tensiones principales cumple una ecua- cién diferencial [ecuacién (6) del § 16] que es también satisfecha por la deflexién de una membrana, una pelicula de jabén por ejemplo, unifor- memente estirada, de forma que si hacemos corresponder los valores de contorno, la deflexién representa ¢, + ¢, segiin una cierta escala’. En muchos casos los valores en el contorno de o, + 9, pueden ser determi- nados mediante los diagramas fotoeldsticos. Estos métodos permiten de- terminar ¢, — «, solamente, pero en un borde libre una de Jas tensiones G,, por ejemplo, se anula por Io que o. — oy y os} a, valen lo mismo. Asimismo, si en un punto del contorno es aplicada una carga normal cono- cida, esta carga constituye una de las tensiones principales por lo que la medida fotoclastica de la diferencia de las mismas basta para determinar su suma, La misma ecuacién diferencial es satisfecha por la distribucién de potencial cléctrico en el flujo de corriente a través de una placa, lo que puede ser el fundamento de un método eléctrico de determinacién de las tensiones®, Asimismo las tensiones principales pueden ser también deter- minadas mediante métodos puramente fotoelisticos haciendo uso de in’ trumentos més elaborados que los descritos en los §§ 42 y 43. Como alter- nativa a estos procedimientos experimentales se han desarrollado métodos numériéos que son estudiados en el apéndice 46. Fotoelasticidad tridimensional. Los modelos usados en los ensayos fotoelisticos ordinarios son cargados a la temperatura ambiente y son elsticos, de forma que los esquemas épticos desaparecen al retirar ia carga. De otra parte, puesto que la luz ha de atravesar todo el espesor del modelo, Ia interpretacién de los esquemas fotoeldsticos es posible solamente cuando el modelo se encuentra en un estado tensional plano (las tensiones, entonces, son casi constantes a través del espesor). Si éste no es el caso, como en una distribucién de tensiones tridimensionales, el efecto éptico es la integral del estado tensional a lo largo del camino re- corrido por el rayo" Estas dificultades ban sido resueltas mediante un método basado en Véase M. M, Frocht, Photoelasticity, vol. 2, J.P. Den Hartog, Z. anges. Wath. Mech, vol. 11, pig, 156, 1931 "Vease RD. Mindlin, 7 Applied Phys, vol. 10, pag. 282, 1931 Veuse el trabajo de D! C. Drucker en el Handbook of Experimental Stress Aualysis, donde viene Gn estudin completo sobre hi fotoclasticidad tridimensional,172 EORIA DE LA ELaSTicIDAD las observaciones de Brewster y Clerk Maxwell! de que los materiales gelatinosos, tales como el colapes (ésinglass), secados bajo carga, conservan los esquemas fotoelistices al ser descargados. Asimismo se ha encontrado que resinas tales como la baquelita y la fosterita, cargadas estando calientes, poseen la misma propiedad al ser descargadas. La explicacién? se encuen. tra en que la estructura de estos materiales consta de un esqueleto elastico Fic. 108 fuerte (una malla molecular) rellenada por una masa de moléculas poco ligadas que se fluidiza al calentar. Cuando el modelo caliente es cargado, el esqueleto elastico es el que sostiene la carga. Al enfriar e] modelo la masa «semiliquidas se «congelay haciendo que el esqueleto conserve la defor- macién al descargar el modelo. El efecto 6ptico se conserva, en conse- cuencia, y no es alterado al cortar la pieza en trozos. Un modelo tridi- mensional puede ser cortado en rebanadas, cada una de las cuales puede ser estudiada con el polariscopio. El estado tensional en tales rebanadas no es plano, pero se sabe que las componentes de la tensién tr., ry; y a. no afectan al rayo de direccién 3, normal a la limina. Lu figura 108 muestra la reparticion de franjas obtenida en la rebanada central de un eje redondo (de fosterita) en el que existe una muesca hiperbélica®. La tensién maxima deducida de este diagrama fotoelstico, difiere del valor teérico en un "J. Clerk Maxwell, Sei, Papers, vol. 1, pig. 30. M. Herényi, 7 Applied Phys, vol. 10, pag. 295, 1939, Lever, Joe.” GitBL METONO FOTORLASTICO 173 Tuerca con borde corico Tuerca convencional Fic. 109 263%. La figura 109 representa Jas franjas obtenidas sobre un modelo (de baquelita) de una unién por pasador y tuerca’. La tuerea inferior es del tipo convencional. La superior de borde cénico muestra una menor con- centracién de tensiones que la convencional \M, Heténvi, % Applied Mechanics (Trans. A.S.M.E.), vol. 10, pie. A-93, 1943, Resul- tados correspondientes 2 otros tipos de tuereas pueden encontrarse en este trabajo,