USMP - FIA

EVALUACIN

PRCTICA CALIFICADA 2

SEMESTRE
ACADMICO

2014 2

CURSO

CONTROL DE CALIDAD

SECCIN

80G

DOCENTE

ING. LUIS CHAPON RIMACHI

DURACIN

90 Minutos

ESCUELA

INGENIERAS: INDUSTRIAL, CIVIL,

SISTEMAS, ELECTRONICA

CICLO

TIPO

A
Fecha
271014

1.

Enuncie una breve definicin y ejemplo de:

a. Capacidad de proceso
b. ndice de capacidad de proceso Cp.
c. Muestreo de aceptacin.
d. Inspeccin reducida.

2.

Se presenta a continuacin el resumen de estadsticos de dos procesos

(obtenidos con tamao de muestra n=5):
(3 puntos)

Proceso A

(2 puntos)

Proceso B

Siendo las especificaciones 100 8.

a. Calcular e interpretar Cp para cada proceso.
b. Calcular e interpretar Cpk para cada proceso.
c. Cul de los dos procesos preferira usarse?
3.

El muestreo de una caracterstica de la calidad de un proceso se realiz con

muestras de tamao 10 y se calcularon y R para cada muestra. Despus de
analizar 35 muestras se determin que sigue una distribucin normal y se obtuvo
lo siguiente:
(3 puntos)

a. Encontrar los lmites de control para las cartas y R.

Si la caracterstica de la calidad tiene una distribucin normal y si las
especificaciones son 220 30:
b. Estime la fraccin disconforme.
c. Calcular e interpretar los ndices de capacidad del proceso Cp y Cpk
4.

Una fuente de poder de baja tensin debera tener una salida nominal de 350 V.
Se selecciona una muestra de cuatro unidades cada da y se prueban para fines
de control del proceso. En los datos que se muestran en la tabla siguiente se
presenta la diferencia entre la lectura observada en cada unidad y el voltaje
nominal multiplicada por diez (xi = (Vi 350)10).
(4 puntos)

Indicaciones:

Usar tablas para construccin de cartas de control y NTP ISO 2859-1.

USMP - FIA

EVALUACIN

PRCTICA CALIFICADA 2

SEMESTRE
ACADMICO

2014 2

CURSO

CONTROL DE CALIDAD

SECCIN

80G

DOCENTE

ING. LUIS CHAPON RIMACHI

DURACIN

90 Minutos

ESCUELA

INGENIERAS: INDUSTRIAL, CIVIL,

SISTEMAS, ELECTRONICA

CICLO

Nmero de
muestra

Fecha
271014

10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

X1

10 4

12 8

10 14 13 16 13 10 11 12 11 6

15

X2

10 9

10 10 10 7

16 12 6

13 7

14

X3

15 11 5

13 13 11 9

15 8

X4

10 7

11 10 8

12 7

10 8

14 10 15 12 12

10 16 10 12 13 16 11 15 10 16 15 9

16

Establecer la carta del proceso.

Establecer la carta R del proceso.
Considera que el proceso est bajo control estadstico?
Si las especificaciones son 350 5 V calcular Cp y Cpk e interpretar
los resultados.

La siguiente tabla consigna las desviaciones del dimetro nominal de los

agujeros perforados en una pieza de suma importancia en un proceso industrial.
Los valores reportados son las desviaciones del valor nominal en diezmilsimas
de pulgada.
(4 puntos)
Nmero de
muestra

10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

X1

-20 +50 +10 +50 +10 0 -20 -30 +20 +30 0 +30 +30 +50 +10 +30 -20 +50 0

X2

+30 0 +20 -10 +20 0

X3

+10 -20 -50 -20 +50 +40 -10 -10 0 +10 0 +10 +10 +30 0 -10 +20 -20 +40 +50

X4

+50 +30 +20 -10 -40 -40 +20 0 +10 +10 +20 +40 0 -10 +40 0 +20 +10 +20 +10

X5

-30 -60 +30 +30 +20 +20 0 +30 -20 +50 +20 +20 +10 -10 +50 0 +30 +30 +50 +30

a.
b.
c.
d.

6.

a.
b.
c.
d.

5.

TIPO

0 +70 0 +20 +40 +30 -30 -30 -10 0 +30 +10 -10 0

Establecer la carta del proceso.

Establecer la carta R del proceso.
Considera que el proceso est bajo control estadstico?
Si las especificaciones son Valor nominal 0,01 calcular el ndice
Cp.

De acuerdo a la NTP ISO 2859-1 indique las condiciones que conducen a un

cambio de inspeccin normal a inspeccin reducida:
(2 puntos)

Indicaciones:

Usar tablas para construccin de cartas de control y NTP ISO 2859-1.

USMP - FIA

EVALUACIN

PRCTICA CALIFICADA 2

SEMESTRE
ACADMICO

2014 2

CURSO

CONTROL DE CALIDAD

SECCIN

80G

DOCENTE

ING. LUIS CHAPON RIMACHI

DURACIN

90 Minutos

ESCUELA

INGENIERAS: INDUSTRIAL, CIVIL,

SISTEMAS, ELECTRONICA

CICLO

7.

TIPO

A
Fecha
271014

Un producto se surte en lotes de tamao N=10000. El LCA se ha especificado

en 0.10%. A partir de la norma NTP ISO 2859:2009 y suponiendo que se usa el
nivel II de inspeccin general Encontrar los planes de muestreo nico con: ( 2
puntos)
a. Inspeccin normal, Inspeccin rigurosa e Inspeccin reducida.
b. Trazar en la misma grfica las curvas OC de los planes de inspeccin
normal, rigurosa y reducida

Indicaciones:

Usar tablas para construccin de cartas de control y NTP ISO 2859-1.