PRCTICA DE LABORATORIO NM 2

P-SLM-02
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Rev. n 1.0
Fecha 07/07/2010
DIFRACCIN EN CAMPO LEJANO CON UN MODULADOR ESPACIAL DE LUZ

Informacin de la prctica
Ttulo: Difraccin en campo lejano con un modulador espacial de luz
Asignatura: ptica
Autores: Luis Miguel Snchez Brea
Horas: 3 horas
ALUMNO
Conocimientos
previos:
Haberse ledo el principio de funcionamiento
Repasar conceptos de difraccin de la asignatura ptica.
MATERIAL
Material necesario: Ordenador + banco ptico+ componentes del esquema.
Esquema:

SOFTWARE Y DOCUMENTACIN
Software: Software de control del modulador
BMP para el SLM: Imgenes para difraccin por campo lejano (carpeta propia)
Equation Chapter 1 Section 1
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Control de versin y tareas realizadas
VERS. FECHA COMENTARIO Realizacin
1.0 3/6/2010 Diseo de prctica Luis Miguel Snchez Brea
1.0 25/6/2010 Realizacin de las imgenes Luis Miguel Snchez Brea
1.0 13/7/2010 Realizacin de la prctica Jos Mara Herrera Fernndez

ndice
INFORMACIN DE LA PRCTICA ................................................................................................................... 1
CONTROL DE VERSIN Y TAREAS REALIZADAS ........................................................................................ 2
NDICE ................................................................................................................................................................ 2
1 OBJETIVOS DE LA PRCTICA ............................................................................................................... 3
2 FUNDAMENTO TERICO ........................................................................................................................ 3
2.1 Abertura cuadrada ............................................................................................................................. 4
2.2 Rendija unidimensional ..................................................................................................................... 5
2.3 Abertura circular ................................................................................................................................ 6
2.4 Doble rendija ..................................................................................................................................... 9
3 ESQUEMA DE MONTAJE ...................................................................................................................... 11
4 REALIZACIN EXPERIMENTAL ............................................................................................................ 12
5 BIBLIOGRAFA ....................................................................................................................................... 19


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Advertencias:
- En esta prctica se emplea como fuente de luz un haz lser; debe
evitarse mirar directamente la luz que emite o cualquier reflejo directo.
- El modulador de luz es un sistema caro. Si tocamos el modulador con
los dedos, etc. lo romperemos. Est terminantemente prohibido tocar el
modulador.
1 Objetivos de la prctica
- Observacin de diferentes diagramas de difraccin
- Medida del tamao de varios objetos.
2 Fundamento terico
El campo difractado en la aproximacin de Fraunhofer se calcula mediante

2 2
( )
2
( )
0
( , , ) ( , )
x y
ik z
k
z
i x y
z
e
x y z e d d
i z
q
q q

+
+
+
=
}
E E . (1)
siendo vlido cuando la distancia del plano de observacin es
( )
2 2
max
z
t
q

>> + . Consideraremos la
aproximacin de elemento delgado mediante la cual el campo a la salida del elemento difractivo se obtiene
como la multiplicacin del campo incidente por la transmitancia

0
( , ) ( , ) ( , )
inc
t q q q = E E . (2)

Fig. 1. Esquema de difraccin en campo lejano en el plano focal de una lente.
En el plano focal imagen de una lente convergente se tendrn unas coordenadas (x,y) que son fciles de
relacionar con las (x,y):
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'
tan
' '
'
'
' ' tan
'
x
y
x x
x
x f
z f
z
y y y
y f
z z f
u
u

= =
=

= = =

)
(3)
En la transformada de Fourier
'
'
x x
z f
v

= =
2.1 Abertura cuadrada
Sea una onda plana monocromtica ( )
( )
0
,
x y
i k k
inc
e
q
q
+
= E E que ilumina una abertura rectangular Fig. 2
descrita mediante

1 ( / 2, / 2) ( / 2, / 2),
( , )
0 resto
a a b b
t
q
q
e e
=

(4)

Fig. 2. Esquema de la abertura cuadrada.
Entonces el campo difractado se puede calcular a travs de la siguiente integral. Debido a la simetra del
problema la integral doble se separa en dos integrales simples.

( )
2 2
2 2
2 2
2 2
( ' ' )
( )
'
0
' '
( ) ( )
' '
0
', '
a b
x y
a b
a b
x y
a b
k
i x y
i k k
f
x y
i k k i k k
f f
x y d e e d
e d e d
q
q
q
k q
k q
+
+



=
=
} }
} }
E E
E
(5)
donde
2 2
( )
2
/
x y
ik z
z
e i z k
+
+
= . Esta integral se resuelve de forma sencilla
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( )
0
' '
sen ( ) sen ( )
' 2 ' 2
', ' 4
' '
( ) ( )
' 2 ' 2
x y
x y
x a y b
k k k k
f f
x y ab
x a y b
k k k k
f f
k
( ( | |

( | (
\ .
(
=
(

(

E E
,
(6)
siendo la intensidad

2 2
0
' '
sinc [( ) ]sinc [( ) ]
' 2 ' 2
x y
x a y b
I I k k k k
f f
=
,
(7)
donde
0
I la intensidad mxima. En la Fig. 3 se muestra una imagen de esta distribucin.

Fig. 3. Distribucin de intensidad en el campo lejano generada por una abertura rectangular.
De este resultado se pueden obtener diversas consecuencias:
- La distribucin de intensidad es una serie de mximos y mnimos en las dos direcciones
perpendiculares del rectngulo.
- El mximo central es el ms intenso y los siguientes decaen rpidamente.
- Condicin de mnimos en cada direccin:

'
( )
' 2
'
( )
' 2
x
y
x a
k k m
f
y b
k k m
f
t
t
=
=
con m = 1, 2 (8)
2.2 Rendija unidimensional
Si en la abertura rectangular una de las dimensiones es mucho mayor que la otra se obtiene una rendija. Es
decir, se hace tender, por ejemplo, b a .
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Fig. 4. Esquema de una rendija a partir de una abertura rectangular
La figura de difraccin se puede deducir a partir de la abertura rectangular, aunque en la direccin y la figura
se comprime puesto que ( ) ( )
0 0
lim sinc[ ' ] '
b
b b y y y y o

=
( )
2
0 0
'
sen ( )
' 2
( ') '
'
( )
' 2
x
x
x a
k k
f
I x I y y
x a
k k
f
o
( | |

( |
\ .
(
=
(

(

(9)


Fig. 5. Intensidad en el campo lejano generada por una rendija.
2.3 Abertura circular
Supongamos que una abertura circular de radio a es iluminada por una onda plana monocromtica en
incidencia normal ( )
0
,
inc
q = E E . La transmitancia se puede escribir como
Sea una onda plana monocromtica ( )
0
,
inc
q = E E que ilumina una abertura rectangular Fig. 2 descrita
mediante

2 2
2 2
1
( , )
0
a
t
a
q
q
q

+ <

=

+ >

(10)
Debido a la simetra del problema es ms conveniente escribir en coordenadas polares.
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cos
sin
u
q u
=
=

' ' cos '
' 'sin '
x
y
u
u
=
=
d d d d q u = (11)
Entonces la integral que rige la aproximacin de Fraunhofer se puede escribir como
( )
' cos( ')
2
'
0 0
0 0
', '
k
i
a
f
d u e d
u u
t
u u

} }
E E (12)
Por simetra, la solucines independiente de ' u por lo que mediante un sencillo cambio de variable
obtenemos
( )
' cos
2
'
0 0
0 0
'
k
i
a
f
d u e d
u
t
u

} }
E E (13)
Este integral se resuelve con las funciones de Bessel
( )
0 0 1
0
' ' '
' 2
' ' '
a
k f kR
d J RJ
f k f

t

| | | |

| |
\ . \ .
}
E E (14)
por lo que la intensidad resulta

( )
2
'
1 '
0 '
'
ka
f
ka
f
J
I I

(
( =
(

(15)
Un esquema del problema se muestra en la Fig. 6 y la distribucin de intensidad radial en la Fig. 7.

Fig. 6. Intensidad en el campo lejano producida por una abertura circular
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Fig. 7. Distribucin de intensidad radial producida por la apertura circular.
Energa relativa de los primeros lbulos resulta ser: 1er anillo: 84%, 2 anillo: 7%, 3er anillo: 2.8%. definida
como la intensidad total dentro de cada lbulo.

2
1
1
( )
2
Pn
Pn
J z
Q zdz
z
t
+
| |
=
|
\ .
}
(16)
Para calcular el tamao de la mancha de luz hay que determinar el radio del primer cero de la funcin
intensidad

2
' 1.22 ' 1.22 '
' 2
a
f
f a
t
t

= = (17)
En campo lejano se observa un circulo rodeado de anillos, en vez de un slo punto segn la ptica
Geomtrica. Esto hace disminuir el poder resolutivo de un instrumento ptico, definido como la capacidad de
distinguir objetos prximos.
Dado un sistema formador de imagen (p. ej. lente convergente) y dos puntos muy alejados de l, el problema
se puede ver como difraccin de Fraunhofer: ondas planas procedentes de los dos puntos que sufrirn
difraccin por la abertura que supone el sistema ptico. En plano focal del sistema se formarn las dos
manchas de difraccin.
Una forma de medir esta degradacin es ver cul es el poder resolutivo del sistema. Se establece el criterio
de Rayleigh para decidir si un sistema es capaz de resolver dos puntos prximos de forma que las imgenes
de los dos puntos estn resueltas si la distancia d entre ellas es mayor que el tamao de la mancha central de
difraccin.
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Fig. 8. Poder resolutivo de una lente.
' d > A , 1.22 '
2
d f
a

> (18)
Segn este criterio, basado en la resolucin angular, el poder de resolucin depende nicamente de la
longitud de onda y el tamao de la lente.

Fig. 9. Criterio de Rayleigh de resolucin de dos objetos lejanos. a) objetos resueltos, b) en el lmite, c)
objetos no resueltos.
2.4 Doble rendija
Los fenmenos difractivos e interferenciales tienen la misma naturaleza y se pueden estudiar tambin a partir
de la aproximacin de Fraunhofer. Sea el esquema de la Fig. 10 donde una onda plana donde el vector de
ondas est contenido en el plano z, ( )
sin
0 0
x
ik ik
inc
e e
u
= = E E E , ilumina un sistema de dos rendijas de
tamao a separadas una distancia d.
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Fig. 10. Esquema que muestra la difraccin en campo lejano por una doble rendija.
Utilizando el esquema de la Fig. 10, la distribucin en el campo lejano resulta ser la suma en las dos
aberturas
( )
2 2
2 2
( ' ) ( ' )
( sin ) ( sin ) ' '
0 0
'
a a
a a
k k
i x i x
d
i k i k f f
d
x e e d e e d

u u


+

+
} }
E E E , (19)
Haciendo en la 2 integral el cambio de variable ' d = + y volviendo a realizar el cambio de la variable
muda obtenemos

( )
2 2
2 2
' ' '
(sin ) (sin ) (sin )
' ' '
0 0
'
( sin )
' 2
0
'
'
(1 )sinc (sin )
' 2
a a
a a
x x x
ik ik d ik
f f f
x d
ik
f
x e d e e d
x ka
e
f
u u u
u

u

+
(
= +
(

} }
E E E
E
, (20)
considerando que
/ 2
1 2 cos
i i
e e

+ = tenemos que la intensidad en el campo lejano resulta

2 2
0
' '
4 sinc [( sen ) ]cos [( sen ) ]
' 2 ' 2
x ka x kd
I I
f f
u u = , (21)
que es la composicin de los dos efectos, difractivo dado por el trmino sinc y la interferencia, dada por el
trmino
2
cos . En realidad el esquema Fig. 10 es el experimento de la doble rendija de Young donde las
rendijas tienen un tamao finito.
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Fig. 11. Intensidad de campo lejano de la doble rendija.
3 Esquema de montaje
El montaje consta de un haz incidente colimado generado por un lser y un expansor. Dicho haz incide sobre
el modulador. Debido a la periodicidad de los pixeles en el SLM se genera un patrn de difraccin adicional
que se puede eliminar con un sistema 4-f que proyecta la imagen a otro plano y adems filtra dichos rdenes
espurios.


Figura 1: Esquema del montaje.
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Figura 2: Figura esquemtica del montaje experimental

4 Realizacin experimental
El montaje experimental que se debe montar corresponde al de la Figura 3. Sin introducir ningn objeto gire el
polarizador y observe como de este modo puede variar la intensidad que llega a la cmara CCD, ya que el
lser est linealmente polarizado. Las lneas verticales que aparecen cuando la intensidad es elevada se
producen por saturacin de la cmara CCD y no siempre pueden eliminarse en los experimentos de difraccin
que se van a realizar. En cualquier caso, en cada experiencia grade la intensidad con el polarizador hasta
ver una figura de difraccin lo ms ntida posible.

Figura 3: Montaje experimental
El proceso para el envo de imgenes al SLM se explic ampliamente en la prctica de calibracin por lo que
pasaremos directamente al envo de las imgenes de las que queremos obtener la difraccin. Para comenzar
comprobaremos experimentalmente que la figura de difraccin que produce una rendija es la que mostramos
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tericamente. Para ello abrimos Matlab, cargamos la funcin "enviarSLM" y enviamos la imagen etiquetada
como "rendija200um.bmp"

Figura 4: Rendija de 200 m y Figura de difraccin experimental producida.
Posteriormente desplazamos la lente convergente sobre el carril de sujecin hasta que obtengamos una
imagen ntida (o lo mejor posible) en aproximacin de campo lejano. De esta forma la cmara estar ubicada
en el plano focal imagen de la lente.
Como vemos, la imagen obtenida experimentalmente contiene un poco de ruido debido al montaje del propio
sistema y el mximo central est ligeramente saturado sin embargo los rdenes de difraccin secundarios se
aprecian claramente. Es interesante ver cmo cambia esta imagen si aumentamos el grosor de la rendija.


Figura 5: Figura de difraccin producida por una rendija de grosor (a) 400 m, (b) 600 m, (c) 800 m, (d)
1000 m
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Vemos en la Figura 5 que el aumento del grosor de la rendija provoca un acercamiento de los rdenes de
difraccin llegando a formar prcticamente una lnea continua para el caso de 1000 m. Veamos que sucede
si ahora enviamos al modulador espacial de luz una abertura cuadrada de 200 m.

Figura 6: Abertura cuadrada de 200 m y la figura de difraccin producida
En la Figura 6 vemos que una abertura cuadrada produce una figura de difraccin en forma de cruz donde
tenemos un mximo central con una intensidad luminosa bastante superior a los rdenes inferiores cuando el
ancho y el largo son iguales. Variemos, al igual que en el caso anterior, el tamao de la abertura



Figura 7: Figura de difraccin producida por un cuadrado de lado (a) 400 m, (b) 600 m, (c) 800 m, (d)
1000 m.
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El comportamiento que apreciamos en la Figura 7 es similar a lo visto en el caso anterior. Aumenta el nmero
de rdenes de difraccin visibles y estos se aproximan entre s.
Nos podramos preguntar si el comportamiento analizado hasta ahora se mantiene si la abertura cuadrada se
desplaza lateralmente. Para ello disponemos de la Figura 8 donde la abertura se desplaza horizontalmente
hacia la izquierda

Figura 8: Abertura cuadrada desplazndose horizontalmente


Figura 9: Figura de difraccin producida por las imgenes de la Figura 8.
Como era de esperar, la figura de difraccin no depende de la posicin de la abertura mantenindose
constante en todos los casos.
El siguiente experiencia que vamos a ver es la figura de difraccin de una abertura rectangular en la que la
que la dimensin vertical es ms grande que la horizontal

Figura 10: Abertura rectangular y figura de difraccin producida
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En la Figura 10b podemos ver la figura de difraccin producida por la abertura rectangular (Figura 10a). A
diferencia con la figura de difraccin producida por una abertura cuadrada, los rdenes de difraccin
horizontales aparecen notablemente ms aplanados debido a la diferencia de longitudes en las dimensiones
de la abertura que produce la difraccin. Con la abertura cuadrada hemos demostrado que la figura de
difraccin no vara con el desplazamiento lateral de la abertura. En el caso de la abertura rectangular
observaremos qu sucede si rotamos la abertura tal y como muestra la Figura 11.

Figura 11: Abertura circular rotada de izquierda a derecha 0, 15, 30, 45, 60, 75

Figura 12: Figuras de difraccin producidas por las aberturas de la Figura 11
Vemos en la Figura 12 que la rotacin de la abertura produce una rotacin en la imagen formada en campo
lejano.
Al iniciar este apartado vimos el comportamiento de una rendija que no es ms que una abertura rectangular
en la que una de las dimensiones es infinita. Ahora veremos el comportamiento al ir aumentando el nmero
de las mismas hasta llegar a observar el comportamiento de una red de difraccin.


Figura 13: Variacin del nmero de rendijas desde 1 hasta 8.

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Figura 14: Figuras de difraccin producidas por la Figura 13
Como vemos en la Figura 14, con el aumento del nmero de rendijas aumenta claramente la intensidad
luminosa llegando a saturar en el orden central y se reduce la anchura de los rdenes de difraccin. Si ahora
ampliamos el nmero de rendijas hasta infinito tenemos una red de difraccin unidimensional donde se sigue
manteniendo la tendencia

Figura 15: Red unidimensional de difraccin y figura de difraccin.
En la Figura 16 tenemos el caso de una red de difraccin pero en este caso bidimensional donde podemos
observar los rdenes de difraccin en las dos dimensiones
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Figura 16: Red de difraccin bidimensional y figura de difraccin producida
Otra de las aberturas tpicamente utilizadas en los laboratorios es la abertura circular. En la Figura 17
podemos ver un ejemplo de la misma y la figura de difraccin producida

Figura 17: Abertura circular y figura de difraccin producida
En la Figura 17 podemos ver claramente los mximos y mnimos producidos y que predice la teora de
difraccin. Si ahora en vez de una abertura circular situamos dos muy cercanas entre si podemos ver una
figura de difraccin similar aunque con las interferencias producidas por ambas aberturas (Figura 18)

Figura 18: Doble abertura circular y figura de difraccin producida
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Para terminar veremos un caso curioso como es el de la Figura 19 donde tenemos una serie de objetos
circulares distribuidos aleatoriamente y que producen una figura de difraccin totalmente definida al contrario
de lo que la intuicin nos podra hacer pensar.

Figura 19: Objetos distribuidos aleatoriamente y figura de difraccin producida.
Por qu sale con una forma octogonal en los rdenes superiores en lugar de una simetra completamente
circular?
5 Bibliografa
J. W. Goodman Introduction to Fourier Optics, McGraw- Hill (1996)