Rosalind franklin

(1920-1958)

INGENIERÍA DE MATERIALES
Los rayos X – técnicas de difracción
 Técnicas de difracción
Las técnicas de difracción se basan en satisfacer la ley de Bragg:

n  2dsen

Técnica  

Laue Variable – radiación blanca Fijo – monocristal


Polvos Fija – haz monocromático Variable – policristal, polvos

Cristal giratorio Fija – haz monocromático Variable - monocristal girando

Método de Laue
Generalidades:
• patrón más fácil de realizar
• radiación blanca, λ = 0.2 a 2 Å
• monocristal (más grande que el haz de R-x incidente
 Geometría

r1 r2
tan 2  tan180  2  
D D

(D – usualmente 5 cm) (D – 
usualmente 3 cm)
Geometría continuación
It
Ir

2θ
180-2θ
Io Ix Io
θ

Usos:
•no buena medición de I relativa, no para identificar estructuras
•simetría y orientación asterismo y tamaño de grano
 Ejemplo
Un patrón de transmisión de Laue fue obtenido de un cristal de aluminio con radiación de W a
40 KV. La película está a 5 cm del cristal ¿Cuál es la distancia para las manchas {111} y {200}.
a=4.0497Å

12400 0
min   0.31
40000
a 0 a 0
d(111)   2.3381 y d(200)   2.024 
3 4
a. para 111 :
n 0.31
n  1 sen    0.066    3.8 o
2 2  2.3381
r
tan 2   r  s tan 2  5  tan(2  3.8) 
D
n 1 n 2
r(111)  0.667cm y r(111)  1.362cm
b. para200   4.39 o Observar:
1
•reciprocidad entre r y d
r(n200)  0.7728cm •repetición de manchas para un mismo plano
(dos manchas para {111})
 Cristal giratorio
Generalidades:
• monocristal gira para satisfacer condición de difracción
• radiación monocromática, λ fija

Io Ix
Id

película
Usos:
•Identificación de estructuras
•simetría y orientación
 Método de polvos o Debye -Sherrer

Generalidades:
fibra de vidrio
• orientación aleatoria satisface condición de difracción
• radiación monocromática, λ fija recubierta con polvo
• método mas utilizado
• muestra – policristal o polvo finamente molido
encapsulado de baja
absorbancia
(celofán o vidrio de borato de litio)

Muestra:
partículas de aproximadamente 0.1 mm o
molidas a -325 mallas.
diámetro aproximado de 0.5 mm extrusión de polvo
longitud de 10 mm más cementante

alambre policristalino
 Geometría
Id 2θ 2θ 2θ
4 4 3 2 1 1 2
r
2θ=180º 2θ=0
Io 2θ 2S
Ix
muestra s
w 1

2 s
S 
S  2r  2   w
r

Usos: 2r – 5 a 20 cm
• parámetros reticulares con precisión 
 rcomún = 5.73 cm
• determinar fases y estructuras cristalinas  = 10 S
• identificar productos de corrosión
 Ejemplo
Por el método de polvos se obtuvo que para niquel (FCC),la separación entre
las dos líneas mas cercanas al haz transmitido es de 7.8 cm. ¿cuáles planos de
la estructura cristalinason responsables de estas líneas?. Se utiliza una cámara
con radio de 5 cm y radiacón Kα–Cu de 1.540562 Å. ¿cuál es el parámetro
reticular del niquel?
3.9
  0.39 rad
2(5)
  22.34 0
para n  1
7.8 cm
1.5406
d(111)   2.026
S 2 sen(22.34)
S  2r  2  a
r d(111)   a  2.026 3 
3
θ mas pequeño para FCC: o
(111) (hkl – no mezclados) ao  3.52 A

 Difractómetro
Usos:
Generalidades: •determinar estructuras cristalinas
• intensidad de difracción en materiales cristalinos •determinar parámetros reticulares
• radiación monocromática, λ fija (cristales o filtros) •determinar % de fases
• enfoque sincronizado: muestra gira θ detector gira 2θ •determinar textura
• muestra – policristal o polvo finamente molido •A. Q. cuantitativo y cualitativo

Intensidad
 ’

Ángulo 2θ
Condiciones básicos de operación

eje

fuente
muestra lineal

circulo del
difractómetro
rendija
receptora
Aplicaciones de las técnicas de difracción

 Estructura de materiales
o Estructura cristalina
o Tamaño de grano y partícula
o Porcentaje de fases
o Posiciones atómicas
o Ordenamiento de fibras
 Calidad de cristales y policristales
o Microdeformación
o Esfuerzos residuales
o Textura
o Simetría
o Asterismo
o Orientación preferencial
o Densidad de dislocaciones
Intensidades teórica difractómetro

n  2dsen
a
d
h 2  k 2  l2

1 cos 2
2 
Id  F p 2
2

 sen  cos 

n
F   f n e 2i  hu n  kvn  lwn 
 1
Factor de dispersión atómica, f
 Gráfica de f vs sen θ/λ - Fe
Sen θ/λ f
0 26
0.05 25.3
0.1 23.7
0.15 21.8
0.2 20.1
0.25 18.4
0.3 16.8
0.35 15.3
0.4 13.9
0.45 12.6
0.5 11.5
0.55 10.6
0.6 9.8
0.65 8.5
0.7 8.0
0.75 7.6
0.8 7.3
 Gráfica de f vs sen θ/λ - Cu
Sen θ/λ f FCC f
0 29 35

.05 28.5
0.1 27.1 30
y = 38.509x3 - 30.584x2 - 25.877x + 29.536
0.15 25.4
0.2 23.5 25

0.25 21.7
0.3 19.9 20

0.35 18.1
f

FCC f
15
0.4 16.5 Poly. (FCC f)
0.45 15.0
10
0.5 13.7
0.55 12.5
5
0.6 11.5
0.65 10.6
0
0.7 9.9 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9
0.75 9.2 Sen θ/λ
0.8 8.7
 Hierro α – BCC

1
1.542 Å
λ

2.866 Å
a

f y = 23.395x3 - 9.7112x2 - 31.053x + 26.497

P d senθ F. L. senθ/λ f F2 Ic x105 Conteo 2θ

h2 +k2 +l2 hkl

2 110 12 2.0266 0.390 11.27 0.247 18.6 346 18.71 100 44.7

4 200 6 1.4330 0.568 4.84 0.349 15.5 240 2.78 14.9 65.0

6 211 24 1.1700 0.719 3.12 0.427 13.3 177 5.30 28.3 82.3

8 220 12 1.0133 0.864 2.73 0.493 11.6 135 1.76 9.4 98.9

10 310 24 0.9063 1.016 3.15 0.552 10.3 107 3.24 17.3 116.4

12 222 8 0.8273 1.197 4.86 0.604 9.4 88 0.14 0.74 137.2

Difractograma hierro α
120

100

80
Intensidad u.a.

60

40

20

0
0 20 40 60 80 100 120 140 160
2θ
 Hierro γ – FCC
1
1.542 Å
λ

a 3.43 Å
f y = 23.395x3 - 9.7112x2 - 31.053x + 26.497

P d senθ F. L. senθ/λ f F2 Ic x105 Conteo 2θ

h2 +k2 +l2 hkl

3 111 8 1.9801 0.400 10.64 0.247 18.41 338.9 4.62 100 45.9

4 200 6 1.715 0.466 7.50 0.349 17.20 295.8 2.13 46.1 53.4

8 220 12 1.2126 0.689 3.32 0.427 13.68 187.1 1.19 25.8 78.9

11 311 24 1.0341 0.841 2.73 0.493 11.86 140.6 1.47 31.8 96.4

12 222 8 0.9901 0.892 2.75 0.552 11.35 128.8 0.45 9.7 102.3
Difractograma hierro γ

100

80
Intensidad u.a.

60

40

20

0
35 45 55 65 75 85 95
2θ
 Cobre – FCC
1
1.542 Å
λ

a 3.61 Å
f y = 38.509x3 – 30.584x2 – 25.867x + 29.536

P d senθ F. L. senθ/λ f F2 Ic x105 Conteo 2θ

h2 +k2 +l2 hkl

3 111 8 2.0842 0.378 12.04 0.240 22.10 488.4 7.53 100 43.4

4 200 6 1.8050 0.441 8.53 0.277 20.84 434.3 3.56 47.3 50.5

8 220 12 1.2763 0.648 3.70 0.392 17.03 290.0 2.06 27.4 74.2

11 311 24 1.0885 0.786 2.83 0.459 14.93 222.9 2.42 32.1 90.1

12 222 8 1.0421 0.832 2.74 0.480 14.34 205.6 0.81 10.8 95.3

16 400 6 0.9025 1.023 3.18 0.554 12.37 153.0 0.47 6.2 117.2

19 331 24 0.8282 1.194 4.82 0.604 11.25 126.6 2.34 31.1 136.9

20 420 24 0.8072 1.267 6.15 0.619 10.94 119.7 2.86 37.9 145.2
Difractograma cobre
120

100

80
Intensidad u.a.

60

40

20

0
0 20 40 60 80 100 120 140 160
2θ
 Cu - Cullity

Línea hkl h2+k2+l2 sen2 sen  sen/ fCu F2 p Icalc (x10-5) Irel. Iobs

1 111 3 0.1385 0.369 21.7 0.24 22.1 7810 8 7.52 10 vs

2 200 4 0.182 0.427 25.3 0.27 20.9 6990 6 3.56 4.7 s

3 220 8 0.364 0.603 37.1 0.39 16.8 4520 12 2.01 2.7 S

4 311 11 0.500 0.707 45.0 0.46 14.8 3500 24 2.38 3.2 s

5 222 12 0.546 0.739 47.6 0.48 14.2 3230 8 0.71 0.9 m

6 400 16 0.728 0.853 58.5 0.55 12.5 2500 6 0.48 0.6 w

7 331 19 0.865 0.930 68.4 0.60 11.5 2120 24 2.45 3.3 s

8 420 20 0.910 0.954 72.6 0.62 11.1 1970 24 2.91 3.9 s