Tema 3.

Microscopa Electrnica

Tema 3. Microscopa Electrnica

Hoy en da la Microscopa Electrnica es una
poderosa herramienta que permite la caracterizacin de
materiales utilizando para ello un haz de electrones de alta
energa que interacta con la muestra.

Puede mostrar desde la forma de un cristal hasta el

ordenamiento de los tomos en una muestra

Tcnica de uso habitual por los investigadores que

trabajan en las Ciencias Fsicas, Qumicas o Biolgicas
es
importante observar, analizar y explicar fenmenos que ocurren
a nanoescala

La incorporacin de dispositivos para anlisis elemental en los

microscopios electrnicos
stos se convierten en
instrumentos analticos de gran resolucin composicional
espacial

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FUNDAMENTO
La Microscopa electrnica de transmisin se basa
en un haz de electrones que manejado a travs de lentes
electromagnticas se proyecta sobre una muestra muy
delgada situada en una columna de alto vaco.

Los

electrones

del

atraviesen la muestra

haz

Los electrones choquen con

un tomo de la muestra y
terminen su viaje

INFORMACIN
Se obtiene informacin estructural especfica de la muestra
segn las prdidas especficas de los diferentes electrones
del haz.
El conjunto de electrones que atraviesan la muestra son
proyectados sobre una pantalla fluorescente formando una
imagen visible o sobre una placa fotogrfica registrando
una imagen latente.
Se puede evaluar detalladamente las estructuras fsicas y
biolgicas proporcionando unos 120.0000 aumentos sobre
la muestra.

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APLICACIONES
Observar y fotografiar zonas de la muestra, desde 10
aumentos a 200.000, con una resolucin espacial de 5 nm.
Medida de longitudes nanomtricas.
Distincin, mediante diferentes tonos de grises, de zonas con
distinto nmero atmico medio.
Anlisis cualitativo y cuantitativo de volmenes de muestra en
un rango de una a varios millones de micras cbicas.
Mapas de distribucin de elementos qumicos, en los que se
puede observar simultneamente la distribucin de hasta ocho
elementos, asignando un color diferente a cada uno.
Perfiles de concentracin, es decir, la curva de variacin de la
concentracin de un elemento qumico entre dos puntos de la
muestra.
Observas la ultraestructura de clulas, bacterias, etc.
Localizacin y diagnstico de virus.
Control del deterioramiento de los materiales.
Control de tratamientos experimentales.
Grado de cristalinidad y morfologa.
Defectos en semiconductores, etc.

AREAS DE TRABAJO
Medicina, Biologa, Qumica, Fsica, e Ingenieras

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Microscopa Electrnica de Transmisin (TEM)

EL MICROSCOPIO ELECTRNICO EN ESENCIA
Fundamentos:
Las radiaciones electromagnticas poseen una longitud de
onda de propagacin muy corta.
Los electrones se desvan de su trayectoria recta de
propagacin cuando atraviesan un campo magntico circular.
Al producirse un alto vaco los electrones se desprenden de la
fuente luminosa formada por wolframio incandescente.

Fuente y flujo de electrones

La fuente es un ctodo constituido por un filamento de
wolframio incandescente.
Los electrones son trmicamente arrancados a baja velocidad.
Los electrones son acelerados mediante la creacin de un alto
potencial (cilindro de Wehnelt), el cual permite una trayectoria
rectilnea de los electrones de muy baja longitud de onda.
Los electrones se desvan de su trayectoria al atravesar un
acampo electromagntico (lente electromagntica).
La desviacin se acenta al colocar varias lentes
Un haz muy desviado, muy abierto, se recoge en una pantalla
fluoroscpica para poder ser visible al ojo humano.

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FORMACIN DE LA IMAGEN

Cuando el flujo de electrones incide sobre una muestra estos

pueden interaccionar con los tomos.
Algunos electrones son absorbidos en funcin del grosor y
composicin de la muestra.
Contrastre de amplitud de la Imagen
Otros electrones se dispersan a bajos ngulos
Contrastre de fase de la Imagen
En muestras cristalinas, los electrones se dispersan en
direcciones muy diferentes (en funcin de la estructura del
cristal)
Contrastre de difraccin de la Imagen

El contraste de amplitud y de fase contribuyen a la formacin

de la imagen de muestras no cristalinas, mientras que el
contraste de difraccin es el factor ms importante para formar
la imagen de muestras cristalinas.

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PODER RESOLUTIVO
Poder resolutivo de un miscroscopio: capacidad de poder
distinguir dos puntos muy prximos entre s, o mximo nmero
de lneas que aparecen a la observacin separadas entre s en
la unidad de superficie.
Resolucin del ojo humano = 0.1 mm.
Imposibilidad distinguir puntos separados por
una distancia menor
Los microscopios aumentan una imagen hasta la resolucin
visual humana.
Dimetro de la imagen aumentada, d:

K
d
nsen

Ec.

Abbe

K, cte del medio de la lente; n, ndice de refraccin del espacio

lente-objeto; , hemingulo de incidencia
Microscopio luz ordinaria:

d = 0.2 micras

Microscopio luz ultravioleta: d = 0.1 micras

Microscopio electrnico:

Au = x 550
Au = x 1000

d = 510 amstrong Au = x 166000

Al aumentar una imagen no se aumenta el poder resolutivo, la

imagen se ve ms borrosa.
El aumento mximo til es aquel en el que los objetos se
separen por la distancia lmite de resolucin del ojo humano
(0.1 mm)

0.1mm
Au
d

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FUENTE DE ELECTRONES
En el filamento los electrones se desprenden por el
mecanismo de emisin termoinica.
Los electrones de desprenden de un metal por calentamiento
elctrico, al oponer una resistencia al paso de corriente.
El metal ha de poseer baja afinidad electrnica y baja
vaporizacin (larga vida del filamento).
Mnima oxidacin del filamento:
- Realizar el vaco
- Suministrarle la menor temperatura
Duracin mxima depende de:
- Punto fusin del metal
- Temperatura de trabajo
- Voltaje de aceleracin de los electrones
El filamento ms comn es de W (baja afinidad electrnica y
alto punto de fusin).
Otro filamentos: Ni-Sr, W-Th
Para la aceleracin de los electrones desprendidos se
promueve una diferencial de potencial entre el ctodo y el
nodo.

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EL ELECTRN Y SUS PROPIEDADES

Cuando un electrn es acelerado y alcanza ciertas velocidades
experimenta un aumento de masa.

La fuerza del electrn:

F M A

E M V

En el caso del desplazamiento de los electrones en el

microscopio electrnico, el campo magntico y elctrico tienen
igual direccin.
El desplazamiento de un electrn al atravesar un campo
magntico uniforme es helicoidal.
Los electrones acelerados son desviados por campos
elctricos o magnticos. El ngulo de desviacin es
proporcional a la magnitud de la tensin o corriente elctrica.
Desviacin electrosttica

El valor del ngulo de desviacin O viene dado por: la tensin

aceleradora, tensin desviadora aplicada a las placas
deflectoras, la longitud de estas y la separacin entre las
mismas

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Desviacin magntica

El haz de electrones se desva por accin magntica al atravesar

el campo magntico perpendicularmente.
La desviacin angular es proporcional a la induccin magntica
Las lentes electromagnticas proporcionan mayores ngulos de
desviacin que las lentes elctricas
La desviacin en las lentes electromagnticas est en funcin
de:
- Relacin carga/masa del electrn (direc. proporcional)
- Raiz cuadrada de la tensin aceleradora (inv. proporcional)

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ABERRACIONES

La discordancia que existe entre la imagen que se forma y la

que se debiera formar; segn la teora de la produccin de
imgenes en ptica fotnica y electrnica, se expresa en las
aberraciones
Aberraciones cromticas: producidas por la variacin de los
ndices de refraccin segn las distintas longitudes de onda.
Aberraciones geomtricas: producidas aunque el haz sea
monocromtico.
Las aberraciones se deben tanto a los defectos de
construccin del las lentes o forma del campo magntico, as
que tambin son consecuencia de la aplicacin de las leyes de
refraccin de los haces electrnicos al atravesar dichas lentes.
Tipos de aberraciones:
- Cromtica
- De esfericidad
- En coma
- Astigmatismo
- Fenmeno de distorsin
- Fenmeno de difraccin
Las diferentes aberraciones pueden ser corregidas en gran
manera manipulando el microscopio.

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Microscopia Electrnica de Barrido (SEM)

LA FORMACIN DE LA IMAGEN
En la microscopia SEM es formada mediante la focalizacin de
una fina fuente de electrones sobre la superficie de la muestra.
La fuente de electrones barre la muestra en una serie de lneas y
redes, construyndose una imagen de la superficie en un monitor.
Los electrones bombardean una pequea rea:
- Reflexin elstica sin prdida de energa
- Absorbidos por la muestra y producir electrones
secundarios de baja energa (+ rayos X)
- Absorbidos por la muestra y producir luz visible
La imagen se forma a partir de los electrones secundarios.
Los electrones secundarios son atrados hacia el portamuestras
(reflectante) mediante un potencial positivo (50 volt). Al atravesar
la muestra e incidir sobre el portamuestras se genera una luz que
mediante un fotomultiplicador se convierte en una seal de
voltaje, la cual se convierte en imagen.
La magnificacin de la imagen se produce al barrer un rea muy
pequea.
Las imgenes SEM se pueden obtener sobre cualquier especie
en masa (no han de ser muy finas como en TEM).

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COMPONENTES DEL MICROSCOPIO SEM

Una fuente de electrones que proporciona la iluminacin. Consta
normalmente de un filamento de W el cual es calentado, y los
electrones son acelerados mediante un campo de 30 kV.
Sistema ptico de iluminacin que consta de dos lentes
magnticas. Su funcin es focalizar lo mximo posible la fuente de
electrones.
Un juego de tornillos que permite que la radiacin se movida
sobre la superficie de la muestra.
Un portamuestras y lentes objetivo. La resolucin obtenida por el
microscopio depende de las propiedades de estas lentes y su
distancia a la muestra.
Un sistema de deteccin
PREPARACIN DE LA MUESTRA
La muestra ha de ser necesariamente conductora
Las muestras aislantes son recubiertas con una pelcula delgada
de un material conductor (C, Au, Cr)
Existe posibilidad de perder informacin al recubrir la superficie
de la muestra
SEM de alto vaco (todo tipo de muestras)

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Energy Dispersion Absorption X-ray Spectroscopy

(EDAXS)
La interaccin de la radiacin con la muestra tambin produce
una radiacin de tipo X que puede ser recogida por el detector
(cristal de silicio).
La absorcin individual de cada rayo X genera un fotoelectrn
que lleva a la formacin de un par hueco-electrn y este forma un
pulso de carga.
Un amplificador convierte los pulsos de carga en pulsos de
voltaje, y este se amplifica y se convierte en un histograma en el
que se representa la intensidad vs. energa
Ventajas:
- El detector tiene la capacidad de recoger al mismo tiempo
todas las energa de rayos X.
- Se puede determinar con precisin la naturaleza y cantidad
de los elementos presentes
La desventaja es que la intensidad de estas radiaciones es
pequea y la resolucin energtica es baja
Dificulta la
identificacin de ciertos elementos y existe confusin con
artefactos
La tcnica es muy aplicada en el rea de Ciencia de los
Materiales, pero apenas se usa en Biologa.

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