Laboratorio de Fundamentos

de Espectroscopia
Dr. Guillermo Santana Rodrguez
Investigador Titular C T C
Instituto de Investigaciones en Materiales
Cubculo C-207
Telf. 56224722
gsantana@iim.unam.mx
gsantana1963@yahoo.com.mx

PRCTICAS A DESARROLLAR
1.
2.
3.
4.
5.
6.

Oscilador Armnico Simple.

ndice de Refraccin.
Lentes
Microscopio ptico
Dispersin de la Luz (Prismas)
Interferencia de Ondas Luminosas (Interferencia de
Young)
7. Interfermetro de Michelson (FTIR)
8. El fenmeno de la difraccin de la Luz
9. La red de difraccin (estudio de los espectros de
emisin de gases conocidos).
10. Absorcin de la luz y Luminiscencia de materiales.
(Prctica Demostrativa final)

BIBLIOGRAFIA DEL CURSO

Resnick, R., Halliday, D. Krane, K. S. Physycs, Volume2, Fourth Edition,
John Wiley & Sons, Inc. 1992.
Raymonda Chang, Principios Bsicos de Espectroscopia, Editorial AC,
Madrid, Espaa, McGraw-Hill, Inc. 1971.
A. Requena Rodrguez, J. Ziga Romn, Espectroscopia, PearsonPrentice may, Madrid, Espaa, 2004.
Skoog D. A., Leary J. J., Anlisis Instrumental, 4 ed., McGraw-Hill,
1994.
Curso de Fsica general S. Frish y A. Timoreva, Tomo 3 Cap. XXIV,
Esp. 279, 280 y 281.
Fsica general y Experimental E. Perucca, Tomo II, Esp. 15, 26 y 195.
Manual de Prcticas de Fundamento de Espectroscopia, Facultad de
Qumica, UNAM2011

Oscilador Armnico Simple

Experimento # 1
Para un juego de masas desde 10
gramos hasta 200 gramos de 20 en 20
gramos culguelas del muelle y mida la
elongacin que sufre el este. (esto se
realiza para tres muelles diferentes)

Experimento # 2

Con ayuda de la fotocompuerta medir el

periodo de oscilaciones de tres muelles
diferentes como una funcin de las masas
acopladas a el

Anlisis de datos
1- Para determinar la constante del resorte de manera emprica
directa, tambin se deber medir la elongacin producida por cada
masa acoplada, segn la ley de Hooke F=-KX.
2- Construya una tabla de datos de modo que se considere a la masa,
m, como la variable dependiente y al periodo, T, como la variable
independiente.
3- Luego, mediante un grfico, utilizando el modelo matemtico
descrito que establece la relacin entre las variables m y T calclese
la constante del resorte. Debe notarse que la constante, k, del resorte
queda determinada implcitamente en el momento de determinar los
parmetros del modelo.
3- 4- Discuta los resultados y compare ambas constantes obtenidas.
Qu parmetros pueden afectar estos clculos?

Prctica # 2
INDICE DE REFRACCIN EN SLIDOS
LEY DE SNELL
LEYES DE LA REFLECCIN Y REFRACCIN

INDICE DE REFRACCION
Se denomina ndice de refraccin, al cociente entre la velocidad de la luz c en el vaco y la
velocidad v de la luz en un medio material transparente.

c
n
v

0 0

En la siguiente tabla, se proporcionan datos acerca de los ndices de refraccin de diversas

sustancias
Material

ndice de refraccin

Vaco

Aire (*)

1,0002926

Agua

1,3330

Acetaldehdo

1,35

Solucin de azcar (30%)

1,38

1-butanol (a 20 C)

1,399

Glicerina

1,473

Heptanol (a 25 C)

1,423

Solucin de azcar (80%)

1,52

Benceno (a 20 C)

1,501

Metanol (a 20 C)

1,329

Cuarzo

1,544

Vidrio (corriente)

1,52

Disulfuro de carbono

1,6295

Cloruro de sodio

1,544

Diamante

2,42

(*) en condiciones normales de presin y temperatura (1 bar y 0 C)

LEY DE REFLEXION: Cuando la superficie reflectante es muy lisa ocurre

una reflexin de luz llamada especular o regular. Para este caso las leyes
de la reflexin son las siguientes:
1.El rayo que incide, el rayo reflejado y la normal con relacin a la superficie
de reflexin en el punto de incidencia, deben estar en el mismo plano (mismo
medio).
2.El ngulo formado entre el rayo que incide y la normal es igual al ngulo que
existe entre el rayo reflejado y la misma normal.
i = r

 LEY DE LA REFRAXION: Para un rayo luminoso con un

ngulo de incidencia
sobre el primer medio, ngulo
entre la normal a la superficie y la direccin de
propagacin del rayo, tendremos que el rayo se propaga
en el segundo medio con un ngulo de refraccin cuyo
valor se obtiene por medio de la ley de Snell.

n1sen(in2sen(Ley de Snell

Obsrvese que para el caso de (rayos incidentes

de forma perpendicular a la superficie) los rayos
refractados emergen con un ngulo para cualquier

n1 y n2.

Reflexin total interna:

Un rayo de luz propagndose en un medio con ndice de refraccin
n1 incidiendo con un ngulo 1sobre una superficie sobre un medio
de ndice n2 con n1>n2 puede reflejarse totalmente en el interior del
medio de mayor ndice de refraccin. Este fenmeno se conoce
como reflexin interna total o ngulo lmite y se produce para
ngulos de incidencia 1 mayores que un valor crtico cuyo valor
es:
sen(Cn2/n1

EXPERIMENTO DE CALCULO DE INDICE DE REFRACCIN

UTILIZANDO LA LEY DE SNELL

EXPERIMENTO DE REFLEXIN TOTAL INTERNA

LENTES CONVERGENTES

LENTES DIVERGENTES