AFM

(Microscopio de Fuerza Atmica)

 Esta basado en la interaccin

local entre la punta y la
superficie de una muestra,
proporciona imgenes
tridimensionales de
superficies con alta resolucin
espacial en tiempo real.
Debido a esto, el AFM es
utilizado en la caracterizacin
de materiales para determinar
sus propiedades fsicas

AFM.

AFM
El microscopio de fuerza atmica es un
instrumento mecano-ptico capaz de detectar
fuerzas del orden de los nanonewtons. Al rastrear
una muestra, es capaz de registrar
continuamente su topografa mediante una sonda
o punta afilada de forma piramidal o cnica. La
sonda va acoplada a un listn o palanca
microscpica muy flexible de slo unos 200 m.
El microscopio de fuerza atmica ha sido esencial
en el desarrollo de la nanotecnologa, para la
caracterizacin y visualizacin de muestras a
dimensiones nanomtricas.

VENTAJAS E INCONVENIENTES DE AFM

Una de las ventajas que los AFM tienen sobre los

microscopios electrnicos es la poca preparacin
que hay que hacer a la muestra que queremos
estudiar para poder visualizarla con el
microscopio.

Normalmente, con limpiar un poco tu trozo de

material con algn disolvente en ms que suficiente
para poder tomar unas imgenes de lo ms chulo.
En cambio, los microscopios electrnicos suelen
requerir algo ms de preparacin, adems de tener
que operar en condiciones de vaco.

VENTAJAS E INCONVENIENTES DE AFM

Otra de las ventajas es lo poco o nada invasiva o

destructiva que es la tcnica. Es decir: el AFM no
modifica ni estropea la superficie del material
mientras lo inspecciona.
Adems, el AFM nos da un mapa topogrfico en
tres dimensiones de la superficie del material,
mientras que los microscopios electrnicos no (o
no tanto-articulo 2012).

VENTAJAS E INCONVENIENTES DE AFM

No todo son ventajas, con un AFM tenemos

bastante limitado el rea de la muestra que
podemos fotografiar, que suele estar limitada a
cuadrados de 100-200 micras de lado.
Es una tcnica bastante lenta, esto repercute en
la velocidad de trabajo, y frente al riesgo de que
se mueva la muestra por pequeas vibraciones o
temperatura, etc. Podemos obtener al final una
imagen muy distorsionada.

PRINCIPALES MODOS DE OPERACION

El Microscopio de Fuerza Atmica utiliza mltiples modos de operacin de acuerdo a las
caractersticas fsicas de la muestra y de las propiedades a medir.

Contacto: Mide la topografa de la muestra deslizando la punta sobre su superficie.

Tapping: Tambin llamado contacto intermitente, mide la topografa de la muestra

tocando intermitentemente su superficie.

PRINCIPALES MODOS DE OPERACION

No Contacto: Mide la topografa de acuerdo a las fuerzas de Van der Waals que existen entre la
superficie de la muestra y la punta.
Fuerza Magntica: Mide el gradiente de fuerza magntica sobre la superficie de la muestra.
Fuerza Elctrica: Mide el gradiente de fuerza elctrica sobre la superficie de la muestra.
Potencial de Superficie: Mide el gradiente de campo elctrico sobre la superficie de muestra.
Modo Lift: Tcnica que utiliza dos modos de operacin usando la informacin topogrfica para
mantener la punta a una altura constante sobre la superficie.
Modulacin de Fuerza: Mide la elasticidad/suavidad relativa de la superficie de las muestras.
Fuerza Lateral: Mide la fuerza de friccin entre la punta y la superficie de las muestras.
Microscopa Electroqumica: Mide la estructura de la superficie y las propiedades de los
materiales conductores inmersos en soluciones electrolticas.
Litografa: Se emplea una punta especial para grabar informacin sobre la superficie de muestra.

Comparacin del AFM con otros microscopios

Microscopio ptico: es una herramienta muy til
para obtener imgenes de muestras orgnicas e
inorgnicas, pero est limitado para una
resolucin de 1mm a 1 micra.
Microscopio electrnico: tiene una resolucin
entre 1mm y 1nm. Es, por lo tanto, idneo para la
determinacin de estructuras a nivel molecular y
atmico. La resolucin no est limitada por la
difraccin, pero s por las lentes. El microscopio de
campo cercano tiene una resolucin todava
mayor: entre 1m y 1.

Comparacin del AFM con otros microscopios

TEM El Microscopio electrnico de transmisin,
tiene las siguientes caractersticas que lo hacen muy til:
Resolucin atmica.
Puede determinarse estructuras en 2 dimensiones.
Interaccin electrones a electrones.
SEM El Microscopio electrnico de barrido tiene las
siguientes caractersticas:
Resolucin atmica.
Requiere vaco.
Debe cubrirse a menudo el espcimen.
Permite caractersticas superficiales.

Comparacin del AFM con otros microscopios

STM El microscopio de efecto tnel es un
instrumento que permite visualizar regiones de alta o
baja densidad electrnica superficial, y de ah inferir
la posicin de tomos individuales o molculas en la
superficie de una red. La "observacin" atmica se ha
vuelto una tarea comn en muchos laboratorios
debido al bajo costo de este tipo de microscopa en
comparacin con la microscopa electrnica.
Las tcnicas de microscopa de barrido por sondeo
(SPM)que incluyen al STM y al AFM se utilizan en
reas de la ciencia que van desde la biologa hasta la
fsica del estado slido.

 Recientemente (4 de junio de 2007) un equipo

liderado por el Consejo Superior de
Investigaciones Cientficas (CSIC) ha
perfeccionado la tcnica empleada por los
microscopios atmicos. La nueva tcnica,
denominada Phase Imaging AFM, est basada
en la microscopa de fuerzas, y permite realizar
medidas tanto en aire como en medios lquidos o
fisiolgicos. El desarrollo de esta tcnica podra
tener aplicaciones en reas diferenciadas, como
la biomedicina, la nanotecnologa, la ciencia de
materiales o estudios medioambientales.