Resumen Clase anterior

Celda unitaria es la mas pequea unidad repetitiva en 3D que genera una estructura cristalina La red espacial es formada por lnea rectas que originan un paraleleppedo de igual dimensin dando origen a la celda unitaria Todos los cristales puede ser descritos usando 1 de las 7 celdas unitarias ( 7 estructuras cristalinas ) Los limites de las celdas unitarias estn definidos por un ejes de coordenadas. El sistema de coordenadas especifica la posicin de un tomo en la celda Especificando la celda unitaria y las posiciones de los tomos se define la estructura cristalina Algunos cristales son convenientemente descritos usando celdas unitarias con repetibles posiciones en el centro de la celda o en las caras. Estas posiciones de la red estarn rodeados de la misma celda en cualquier lugar de la estructura cristalina Hay 14 formas de arreglar las celdas (celdas de Bravais)

Planos cristalinos
Como las estructuras son peridicas, muchas planos pueden ser utilizados en diferentes direcciones de las celdas Estos planos cruzan capas de diferente densidad Cada estructura cristalina genera diferentes planos en diferentes direcciones Cada estructura cristalina generara un set de planos con especificas orientaciones La suma de todos los planos pueden ser usados para describir determinada estructura

Calculo de densidades de las estructuras cristalinas

Densidad volumtrica: densidad asociada al tipo de estructura cristalina

nA V VC N A

n = numero de tomos asociado a cada celda unitaria A = peso atmico VC= volumen de la celda unitaria NA= numero de Avogadro (6.023 x 1023 tomos/mol

Densidad lineal : son los nmeros de tomos que intersecan una o varias direcciones de las estructuras cristalinas # atomos int . L longitud de linea seleccionada

Densidad planar: densidad en varios planos, el centro del tomo debe ser intersecado por un plano

# atomos int . Area seleccionada

Familia de planos 2D : espaciamiento d

Un ejemplo de ilustraciones 2-D ilustra que muchas familia de planos con diferentes direcciones pueden ser identificados Cada familia de planos puede estar separado por una distancia de espaciamiento d

Determinacin de las estructuras : distancia d

Cada estructura tiene una especifica coleccin de plano, que define a dicha estructura Para una estructura dada, la distancia d identifica a un especifico plano Cada estructura tiene una coleccin de distancias d que especifica dicha estructura La coleccin de espaciamiento o distancia d especifica y define una estructura cristalina, debido a que un arreglo atmico puede generar una combinacin de planos y espaciamientos d (d1, d2 , d3 , d4 , d5 .. Medir los espaciamientos d de una estructura desconocida nos permite determinar su estructura El mtodo de difraccin de rayos X permite las determinacin de los espaciamientos d

Difraccin de rayos X
Los rayos X son fotones con alta energa
Alta energa Baja energa

Los rayos x tiene elevada energa para ser absorbido por la valencia de electrones de la energa de la banda y pasar a travs de los materiales Pero son afectados por los planos atmicos

Dualidad onda/partcula de la luz

Luz como onda Luz como partcula

Amplitud Longitud de onda Fase Velocidad h= constante de Planck = 6.626 x 10-34 J.s Dualidad partcula/onda de la luz

Foton tiene : Momentum, Transferencia de energa por colisin Lleva energa cuantificable

Generacin de rayos X
tomos del Cobre (Cu) o del Molibdeno (Mo) son usados para la generacin de rayos X, la transicin electrnica de la capa externa corresponde a la generacin de phontes UV y visible y la transicin electrnica de la capas internas corresponde a la generacin de rayos X Los niveles internos son tradicionalmente llamados K,L,M,N correspondiente a n=1,2,3,4.

La capa externa es asociado a pequeos E con la emssion de radiacion de longitudes de onda larga Las capas internas es asociado a grandes E con emision de radiacion de longitudes de onda corta

Generacin de rayos X
A fin de crear un rayo x , una transicin en la capa interna debe ser generada Esto requiere la creacin de un electrn vacante o libre : en electrn debe ser removido de una capa K , as un electrn d la capa L puede ser llenado y emitir un fotn de rayos X Esta vacancia es creada al bombardear un la muestra con un haz de electrones de alta energa Los electrones son acelerados en un campo magntico y adquieren una suficiente energa para colisionar y remover los electrones de la capa K y generar una vacante Esto tomar lugar en un tubo de rayos X con un target de cobre el cual es golpeado por un beam de electrones lo cual emite un haz de rayos X

Generacin de rayos X
Debido a que las transicin de los niveles 1, 2, 3 tienen niveles de energa definidos, la transicin de electrones internas por la emisin de radiacin se manifiesta como lneas puntiagudas Las transiciones son asociadas con los niveles de energa de n=2 a n=1 y de n=3 a n=1 son denominados K y K La lnea del cobre K es tipicamente usado para la determinacin de estructuras experimentalmente

Difraccin de rayos X
El haz de rayos X generado es usado en experimentos de difraccin para determinar el espaciamiento d entre planos atmicos El haz de luz puede penetrar en el slido y ser reflejado por subsecuentes planos de tomos dentro de la superficie del slido El haz total ser solamente reflejados todas las ondas son reflejadas por los subsecuentes planos se encuentran todos en fase y se suman uno a otro. De otras manera ellas de cancelan Esto depender de los diferentes longitudes por cada onda y entonces depende del espaciamiento d.

Tubo de rayos X

Detector

Muestra

Difraccin de rayos X
Todas las ondas estarn en fase solamente si la diferencia en el largo del camino es igual a la integral de la longitud de onda La diferencia del camino entre 2 ondas depende del espaciamiento d y el ngulo incidente Esto puede mostrar que la diferencia del camino es igual a 2L=2 d sin Entonces, la condicin geometra de la difraccin de rayos X es igual a: n = BC + CD n = dhkl sin + dhkl sin = 2d sin (ley de Bragg) Esta ecuacin es conocida por la ley de Bragg, donde d es el espaciamiento entre tomos y es el angulo de haz de incidente en la muestra, es la longitud de onda del foton de rayos X de Cu K

Difraccin de rayos X

d hkl

a h2 k 2 l 2

d hkl

a 4 2 h hk k 2 l 2 (a 2 / c 2 ) 3

Difraccin de rayos X
Planos con mayor espaciamiento interplanar tiene el menor Angulo de Bragg Solamente planos con dhkl >/2 dan origen a un rayo difractado El numero de picos de difraccin depende de la longitud de onda Anlisis de picos de difraccin

(1) De la posicin angular, se determina el tamao y forma de la celda unitaria (2) De la intensidad de los picos se puede deducir la posicin de los tomos de la celda unitaria