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Resumen de Articulos Sobre Electrocromismo
Resumen de Articulos Sobre Electrocromismo
de energía limpia.
La población actual de la tierra es de 6.000 millones de personas y el consumo total global actual de
energía es de unos 13 TW-año (1 TW = 1 × 1012 vatios; 1 TW-año = 31,5 × 1018 joules). Los
análisis indican que hacia el año 2050 se requerirán globalmente de 10 a 30 TW-año de energía
libre de carbono para acomodar la población esperada de la Tierra de 10-11.000 millones de
persona
El cambio de composición del electrodo, por la incorporación o salida de átomos pequeños como H
o Li, produce un cambio del potencial eléctrico del electrodo. Cuando el sistema está cargado,
existe una fuerza termodinámica (diferencia de potencial electroquímico) que impulsa a los iones a
transferirse al otro electrodo, con desplazamiento simultáneo de electrones, para neutralizar la
pérdida de una carga positiva por cada ion saliente H + o Li+.
Las propiedades termodinámicas se refieren a configuraciones de equilibrio. A una cierta densidad
de litio intercalado, factores como las interacciones de los iones huéspedes con la red de la matriz
anfitrión, las interacciones entre los propios iones huésped, y la distribución de los iones
intercalados en la red, determinan conjuntamente el potencial del electrodo.
En general, mediante las propiedades termodinámicas se determina unívocamente la ocupación de
la red, es decir, el grado de ocupación a un potencial dado.
La cinética consiste en la velocidad con que ocurre un proceso o una combinación de ellos.
Los materiales de intercalación mantienen constante su potencial de electrodo mientras cambia el
grado de intercalación si este cambio produce una transición de fase.
Si se cambia el potencial aplicado en un compuesto de intercalación, forzamos al sistema a buscar
la nueva situación de equilibrio. Se produce por ejemplo, la entrada de iones en la matriz sólida, que
se compone de una serie de fenómenos. Primero se produce la transferencia interfacial de carga, es
decir, los iones entran en el material de intercalación, a través de la interfase del material con el
electrolito, y simultáneamente entran electrones desde el contacto para mantener la neutralidad de la
carga eléctrica total (Fig. 28). Este movimiento simultáneo de iones y electrones se manifiesta como
una corriente eléctrica en el circuito externo.
Una vez que los iones han franqueado la interfase, comienzan una variedad de procesos iónicos en
el estado sólido. Los iones han de difundir por el material sólido, para llenarlo de forma
homogénea. La difusión puede estar acoplada con la reacción de los iones con la red anfitriona, en
tanto que los iones en tránsito, pueden ir quedando atrapados en determinados lugares por enlaces
químicos intensos.
Analysis of cyclic voltammograms of electrochromic a-WO 3 films
from voltage-dependent equilibrium capacitance measurements
Las pelíulas de intercalación de óxido metálicos muestran valores de capacitancia que exeden los
correspondientes a la capa eléctrica doble en la interface óxido- solución, esto debido a que las
películas de intercalación almacenan energía de forma química por la variación de la composición
de la película que puede ser controlada electroquímicamente y esto es debido a un cambio en la
energía de Gibbs G del cátodo, que se indica por la variación del potencial químico, µ, de átomos
metálicos en el material con respecto al potencial de la pareja Li / Li +.
Esta capacitancia se define como la diferencia de carga que pasa con respecto a una diferencia de
potencial del electrodo
−dQ
C ch=
dV
El potencial de almacenamiento de la celda se relaciona con el potencial química variable de
átomos en el óxido metálico como: dV=dµ/e, donde e es la carga elemental. Por lo tato la
capacitancia química por unidad de área puede escribirse como:
2 ∂x
C ch=¿ N
∂μ
Donde LNxe=Q y esta es la carga que pasa, L es el espesor de la película, N es la densidad de los
átomos metálicos en el material y x es la fracción de iones Li intercalados por átomo metálico de la
red.
Una técnica que se ajusta bien a la medición de la capacitancia es la voltametría cíclica , para un
capacitor puro C la corriente es:
dQ
I= =Cs
dt
Donde s=dV/dt que es la velocidad de barrido, de acuerdo a esta ecuación los voltamogramas
cíclicos muestran directamente la variación de capacitancia con el potencial, sin embargo hay
efectos irreversibles que contribuyen a la respuesta observada commo pueden ser las resistecias en
el circuito eléctrico, por lo tanto la interpretación de los voltamogramas cíclicos requieren la
separación de contribuciones a la corriente:
-la carga del capacitor químico variable
-corrientes faradaicas
-efectos de transporte
En los voltamogramas se puede ver que…
El proceso de inserción es altamente reversible, confirmado por la carga que es exactamente la
misma en ambas direcciones de escaneo
Esta última observación excluye cualquier posibilidad de que fluya una corriente faradásica en
paralelo a la responsable del proceso de carga de la película.
La posibilidad de introducir ciertos tipos de defectos, principalmente impurezas, que crean niveles
electrónicos dentro del intervalo prohibido de energías y cercanos a los bordes de las bandas
permite que la conducción se deba a portadores negativos (electrones) o positivos (huecos), la
conductividad de un semiconductor es aproximadamente proporcional a la densidad de portadores
de carga.
Efecto Hall
Si una corriente eléctrica I fluye por una lámina conductora rectangular de espesor d y si dicho
conductor se sitúa en el seno de un campo magnético B aplicado fuera del plano de la lámina, la
fuerza de Lorentz
F=q(v* B)
actúa sobre los portadores de carga del conductor, donde v es la velocidad de deriva de los
portadores y q el valor de su carga. Esta fuerza hace que los portadores de carga se acumulen en la
región superior o inferior del conductor (de acuerdo con el sentido de la corriente y del campo
aplicado), de tal forma que aparece un un voltaje (el llamado voltaje Hall, U H) entre dos puntos
situados a un lado y a otro de la lámina
R H ∗B∗I
U H=
d
Donde RH es el coeficiente hall, con ayuda de estas mediciones en un semiconductor dopado se
puede tener el signo de los portadores a partir del signo del coeficiente hall, la concentración de
portadores c=-1/eRH y la movilidad de los portadores µ=σRH donde σ es la conductividad
N=2 s ( T M Tm)
T M −T m s2 +1
+
2
1 /2
n=[ N +( N 2−s 2)1 /2 ]
N y n relacionan los máximos y los mínimos consecutivos del espectro de transmitancia con el
índice de refracción del vidrio (sustrato) s=1.51, T M es un máximo y T m un mínimo en la curva. Si
se tienen dos máximos adyacentes de interferencia de longitudes de onda 1 y 2 con índices de
refracción n1 y n2, siendo M=1/2 para un mínimo y un máximo adyacente. A partir de estas
condiciones de máximos y mínimos de interferencia se puede encontrar el espesor (d) de la película
por medio de la ecuación:
λ 1 λ2
d= M
2 ¿¿
En el método de mínimos usamos las ecuaciones:
2
2s s +1
M= −
T min 2
n=[ M + ( M −s ) ]
2 2 1 /2 1 /2
Donde M y n relacionan los mínimos de la gráfica con el índice de refracción del vidrio, y T min es el
valor de λ en un mínimo. Resolviendo estas ecuaciones para dos mínimos consecutivos podemos
encontrar (d) con la ecuación:
λ1 λ2
d=
2(n 1 λ 2−n2 λ1 )
La foto catálisis heterogénea o curre básicamente de acuerdo al siguiente esquema de cinco pasos:
1. Transferencia de los reactivos en la fase fluida.
2. Adsorción de al menos uno de los reactivos sobre el catalizador sólido.
3. Reacción en la fase adsorbida.
(a) Absorción de los fotones por el sólido.
(b) Creación fotoinducida de electrones y huecos.
(c) Reacciones de transferencia de electrones (Ionosorción, neutralización de carga, formación de
radicales, reacciones superficiales...).
4. Desorción de los productos de la fotocatálisis.
5. Remoción de los productos de la fotocatálisis de la fase fluida.
Debe tenerse claro que los fotones son absorbidos por el sólido, y esto cuando la energía de los
mismos es ≥ Eg. Por ello, se habla de fotocatálisis y no de fotoquímica en fase absorbida.
La literatura demuestra que los huecos positivos son las mayores especies oxidantes si el pH del
sistema es ácido, p ero a pH básico, las principales especies oxidantes son los radicales hidroxilos,
como se dijo antes.
La estequiometría de la degradación vía oxidación total del AM, tal como lo indica la literatura [7],
es muy probablemente la siguiente:
C16H18N3S+ + 51/2 O2→ 16 CO2 + 3 NO3 −+ SO42− + 6 H+ + 6 H2O
Como se puede notar en la anterior ecuación, la degradación del AM termina produciendo
compuestos totalmente inofensivos para la vida acuática, es decir, logra una mineralización
totalmente conveniente. Esto indica que la degradación no sólo puede seguirse por método
colorimétrico (como tradicionalmente se hace), sino también puede pensarse en implementar
nuevos métodos de seguimiento de la degradación foto catalítica del AM aprovechando el cambio
en las propiedades fisicoquímicas del sistema a medida que van apareciendo los productos de
degradación. Sustancias como las vistas en la parte derecha de la ecuación claramente deben
permitir observar un cambio evidente y medible en propiedades como la conductancia eléctrica, la
densidad, la tensión superficial, el índice de refracción e incluso la viscosidad, con respecto a la
mezcla acuosa antes de la degradación. Esto permite plantear y explorar nuevos posibles métodos
de seguimiento in situ de la degradación
El óxido de tungsteno es ligeramente soluble en ácido sulfúrico, pero el electrolito se satura después
de repetidos ciclos, y la velocidad de disolución es insignificante.
Characterization of Thin Films and Coatings
La caracterización adecuada de las películas delgadas depende de su proceso de creación asi como
sus aplicaciones y expectativas de tiempo de vida, esta caracterización requiere que se determinen
las propiedades de las películas mas no las de los substratos.
Métodos de fotones incidentes:
Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) implica la detección de fotoelectrones emitidos
de una muestra como resultado de la irradiación de la muestra por fotones de rayos X de energía
única. XPS es útil para el análisis cuantitativo de la composición de la superficie y puede detectar
todos los elementos con la excepción del hidrógeno y el helio mediante la detección de las energías
de unión de los fotoelectrones. Los electrones emitidos desde la muestra sin pérdida de energía
inelástica aparecen como líneas espectrales o picos fotoelectrónicos en función de la energía de
enlace. Los electrones que han perdido energía aparecen como fondo espectral. La energía de los
fotoelectrones emitidos desde la muestra es característica de cada elemento y la energía de enlace
de los electrones expulsados se determina a partir de la energía cinética medida.
Difracción de rayos X (XRD), Las aplicaciones incluyen análisis de fase, determinación de
estructura cristalina y orientación epitaxial, , determinación de textura y tensión residual en
películas, estudios de desarrollo de nanomateriales y mediciones de su reactividad, y detección de
polimorfos
Reflectividad de rayos X (XRR), medición de grosor y rugosidad interfacial, Este método es lo
suficientemente sensible para proporcionar información precisa sobre la presencia de capas de
interfaz en estructuras en capas.
Espectroscopia infrarroja de transformada de Fourier (FTIR) Para la mayor parte de este rango de
frecuencia, las energías de los fotones (0,6-0,04 eV) no suelen ser lo suficientemente grandes como
para excitar los niveles electrónicos, pero pueden excitar estados vibracionales o rotacionales de
átomos o grupos unidos covalentemente.
Espectroscopia láser Raman (RS), El efecto Raman es una forma específica de dispersión inelástica
(los fotones dispersados tienen mayores o menores energías) de la luz. La luz interactúa con los
fonones u otras excitaciones en el sistema, lo que hace que la energía de algunos de los fotones
incidentes se desplace hacia arriba o hacia abajo. Las frecuencias vibratorias son sensibles a las
características del enlace, como la longitud, la fuerza y arreglo, La masa, la disposición espacial de
equilibrio, el desplazamiento relativo durante la vibración y las constantes de fuerza de enlace de
los átomos en una molécula o cristal pueden influir en la frecuencia del pico Raman
Elipsometría. La técnica se basa en el análisis de la luz polarizada reflejada en la muestra que
sondea el índice de refracción complejo que se puede usar para extraer información sobre el espesor
de la película, la rugosidad, la calidad del cristal, la composición química o la conductividad
eléctrica. El material se sondea a la profundidad óptica de la muestra. Es lo suficientemente sensible
como para medir las propiedades de películas tan delgadas como unas pocas décimas de
nanómetros, pero, si las propiedades ópticas lo permiten, se puede usar para estudiar capas tan
gruesas como varios micrómetros.
Espectroscopía de fotoluminiscencia La fotoluminiscencia es un proceso en el cual una sustancia
absorbe fotones y luego los vuelve a emitir (generalmente con energías un poco más bajas con un
número menor de fotones).
La espectroscopia de fotoluminiscencia analiza la distribución de las energías involucradas en los
procesos de fotoabsorción y fotoemisión, la eficiencia de la fotoemisión y sus características
temporales.
Métodos de iones incidentes: En general, las espectroscopias de dispersión de iones son sensibles
a la masa y la información de la masa seleccionada se puede obtener de los datos.
Espectrometría de retrodispersión de Rutherford (RBS),
Análisis de reacción nuclear (NRA),
Canalización iónica, análisis de detección de retroceso elástico. (ERDA),
Espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS),
Espectrometría de masas de descarga luminiscente y usos de haces de iones enfocados (FIBs) (en
combinación con SEM)
Métodos de electrones incidentes
Espectrometría de electrones Auger (AES)
Microscopía electrónica de barrido (SEM),
Espectroscopia de rayos X de energía dispersiva (EDXS)
Microscopía electrónica de transmisión (TEM)
Difracción de electrones de baja energía (LEED)
Difracción de electrones reflejados de alta energía (RHEED)).
Otros métodos
Microscopía de sonda de barrido (SPM)
Microscopía de efecto tunel (STM)
Microscopía de fuerza atómica(AFM)
Últimamente ha habido mucho interés en las películas delgadas de óxido de metal electrocrómico
"dopadas" con otros óxidos. Dichos materiales compuestos son superiores a los electrocromos de
óxido puro por ser más robustos que los óxidos constituyentes solos y, además, tienen propiedades
ópticas mejoradas, como mayores eficiencias de coloración en la región espectral visible. También
hay evidencia de que el dopaje aumentará el rango de potencial ("ventana potencial") disponible
para la operación mediante la prevención de reacciones que resulten en la evolución del gas en la
interfaz electrolito / electrocromo
(a) de una banda plana dentro de los granos explica el comportamiento observado de la
movilidad termoactivada. Según el modelo (b), el número de cargas atrapadas en el límite
del grano aumenta al aumentar el N en los granos, lo que resulta en un aumento lineal en la
altura de la barrera para alcanzar un máximo cuando todas las trampas están llenas (µ
alcanza un mínimo). A niveles más altos de dopaje, N aumenta aún más y el régimen del
caso (c) toma el control, por lo que el potencial de límite del grano disminuye como
resultado de la disminución en el ancho de la capa de agotamiento. El potencial del límite
del grano se ha determinado a partir de los gráficos µT1/2 versus 1/T, De la discusión
anterior queda claro que todavía no ha surgido una explicación cuantitativa aceptable para
la baja movilidad en las películas de óxido.
La alta transparencia óptica de estos óxidos en las regiones visibles y cercanas al IR del
espectro solar es una consecuencia directa de que son semiconductores de banda ancha.
Su borde de absorción fundamental generalmente se encuentra en el UV y se desplaza a
longitudes de onda más cortas a medida que aumenta la concentración del portador. Este
cambio se debe al llenado de los estados cerca de la parte inferior de la banda de
conducción y es bien conocido como el cambio Moss-Burstein.
Las películas de óxido conductor transparentes disponibles en la actualidad con bordes de
plasma de aproximadamente 1,5 µm son muy adecuadas para mantener la radiación de
calor confinada en un edificio, pero ofrecen algunas ventajas para evitar la radiación
infrarroja del sol.
Para esta última aplicación, es necesario desarrollar materiales con un borde de plasma a
aproximadamente 0.7 µm.
Con un borde de reflexión de plasma y una reflectividad IR ajustados adecuadamente, la
selectividad óptica de los conductores transparentes puede desempeñar un papel muy
importante en el ahorro y / o la conservación de energía en la calefacción y el enfriamiento
de edificios.