TABLAS MIL STD 105 E PARA PLANES DE MUESTREO PARA ATRIBUTOS (SIMPLE Y DOBLE (INSPECCIÓN

NORMAL, ESTRICTA Y REDUCIDA)), MÚLTIPLE (INSPECCIÓN NORMAL)

FIGURA 1. TABLA DE MUESTREO DE ATRIBUTOS PARA LA ELECCIÓN DE LA LETRA CÓDIGO DEL TAMAÑO DE MUESTRA
Fuente: COVENIN, 2001.

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FIGURA 2. TABLA DE PLANES DE MUESTREO SIMPLE POR ATRIBUTOS PARA INSPECCIÓN NORMAL
FUENTE: COVENIN, 2001.

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FIGURA 3. TABLA DE PLANES DE MUESTREO SIMPLE POR ATRIBUTOS PARA INSPECCIÓN ESTRICTA
Fuente: COVENIN, 2001.

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FIGURA 4. TABLA DE PLANES DE MUESTREO SIMPLE POR ATRIBUTOS PARA INSPECCIÓN REDUCIDA
Fuente: COVENIN, 2001.

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FIGURA 5. TABLA DE PLANES DE MUESTREO DOBLE POR ATRIBUTOS PARAINSPECCIÓN NORMAL
Fuente: COVENIN, 2001.

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FIGURA 6. TABLA DE PLANES DE MUESTREO DOBLE POR ATRIBUTOS PARAINSPECCIÓN ESTRICTA
Fuente: COVENIN, 2001.

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FIGURA 7. TABLA DE PLANES DE MUESTREO DOBLE POR ATRIBUTOS PARAINSPECCIÓN REDUCIDA
Fuente: COVENIN, 2001.

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FIGURA 8. TABLA DE PLANES DE MUESTREO MÚLTIPLE POR ATRIBUTOS PARAINSPECCIÓN NORMAL
Fuente: COVENIN, 2001.

En la Norma COVENIN 3133-1 (2001) se pueden encontrar el resto de las tablas de muestreo de atributos para planes de muestreo múltiple.

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TABLAS MIL STD 414 PARA PLANES DE MUESTREO PARA VARIALBLES (MÉTODO DE LA DESVIACIÓN
ESTÁNDAR CONOCIDA Y DESCONOCIDA, UNILATERAL (MÉTODOS K y M) Y BILATERAL (MÉTODO M),
INSPECCIÓN NORMAL Y ESTRICTA

FIGURA 9. TABLA DE PLANES DE MUESTREO POR VARIABLES PARA LA LETRA CÓDIGO DEL TAMAÑO DE MUESTRA.
Fuente: Gutiérrez y De La Vara, 2013.

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FIGURA 10. TABLA DE PLANES DE MUESTREO SIMPLE POR VARIABLES PARA INSPECCIÓN NORMALY ESTRICTA PARA σ CONOCIDA (LIE Ó LSE, FORMA K,
UNILATERAL)
Fuente: Gutiérrez y De La Vara, 2004.

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FIGURA 11. TABLA DE PLANES DE MUESTREO SIMPLE POR VARIABLES PARA INSPECCIÓN NORMALY ESTRICTA PARA σ CONOCIDA (LIE Ó LSE, FORMA M,
UNILATERAL)
Fuente: Gutiérrez y De La Vara, 2004.

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FIGURA 12. (Continuación...). TABLA DE PLANES DE MUESTREO SIMPLE POR VARIABLES PARA INSPECCIÓN NORMALY ESTRICTA PARA σ CONOCIDA (LIE
Ó LSE, FORMA M, UNILATERAL)
Fuente: Gutiérrez y De La Vara, 2004.

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FIGURA 13. TABLA DE PLANES DE MUESTREO SIMPLE POR VARIABLES PARA HALLAR EL PORCENTAJE DE DISCONFORMIDADES (PI Ó PS) DEL
LOTE PARA σ CONOCIDA (LIE Ó LSE, FORMA M, UNILATERAL)

Fuente: Gutiérrez y De La Vara, 2004.

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FIGURA 14. TABLA DE PLANES DE MUESTREO SIMPLE INSPECCIÓN NORMAL Y ESTRICTA POR VARIABLES PARA σ DESCONOCIDA (LIE Ó LSE,
FORMA K, UNILATERAL)

Fuente: Gutiérrez y De La Vara, 2004.

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FIGURA 15. TABLA DE PLANES DE MUESTREO SIMPLE INSPECCIÓN NORMAL Y ESTRICTA POR VARIABLES PARA σ DESCONOCIDA (LIE Y LSE,
FORMA M, UNILATERAL)

Fuente: Gutiérrez, 1999.

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FIGURA 16. TABLA DE PLANES DE MUESTREO SIMPLE POR VARIABLES PARA HALLAR EL PORCENTAJE DE DE DEFECTUOSOS (PI o PS) EN EL LOTE
PARA σ DESCONOCIDA (LIE Y LSE, FORMA M, BILATERAL)

Fuente: Gutiérrez y De La Vara, 2013

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FIGURA 17. (Continuación…). TABLA DE PLANES DE MUESTREO SIMPLE POR VARIABLES PARA HALLAR EL PORCENTAJE DE DEFECTUOSOS (PI o
PS) EN EL LOTE PARA σ DESCONOCIDA (LIE Y LSE, FORMA M, BILATERAL)
Fuente: Gutiérrez y De La Vara, 2013

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