Documentos de Académico
Documentos de Profesional
Documentos de Cultura
CuartoTrabajoPractico MyNsistemas
CuartoTrabajoPractico MyNsistemas
INFORME N°4
Titulo: Simulación del comportamiento mecánico de una viga en voladizo basada en MEMS
utilizando COMSOL multifísica.
2) OBJETIVOS:
Objetivos Generales:
Objetivo Especifico:
4) MARCO METODOLÓGICO:
5) MATERIALES Y EQUIPOS:
6) SIMULACIÓN REALIZADA
- Como se muestra en la figura, observamos la desviación de la punta debido a la fuerza
gravitatoria, que es de aproximadamente 1,507 Å.
- Observamos que el rango de voltaje se puede dividir en dos regiones, menos de 4 V, el
desplazamiento del dispositivo MEMS reacciona en modo estable, sin embargo,
cuando el voltaje es superior a 4 V el dispositivo MEMS se vuelve inestable, debido a la
superación de las fuerzas de estrés en comparación con las fuerzas electrostáticas, que
provocan el colapso del espacio
- El punto de empotramiento se caracteriza por una flecha nula cualquiera que sea el
tiempo y la holgura, en el punto de avance del voladizo corresponden a la flecha
máxima (igual a 10.196 μm).
- Los esfuerzos de tracción y compresión de la viga en voladizo (2D) ocurren
respectivamente en las superficies superior e inferior de la viga. Entre las zonas de
tensión y compresión hay una fibra neutra que no se deforma.
7) PERPECTIVAS FUTURAS.
8) REVISIÓN DE LA BIBLIOGRAFÍA
2]. S. Rabbani, P. Brishbhan, Electrical and Computer Engineering (CCECE), 24th Canadian
Conference (2011).
[3]. J. Puigcorbé, A. Vilà, J. Cerdà, A. Cirera, I. Gràcia, C. Cané, J.R. Morante, Sensors and
Actuators A: Physical 97, 379 (2002).
[4]. M. Narducci, E. Figueras, I. Gracia, L. Fonseca, J. Santander, and C. Cané. DTIP of MEMS and
MOEMS (2007).
[5]. M. Villarroya, J. Verd, J. Teva, G. Abadal, E. Forsen, F. Pérez, A. Uranga, E. Figueras, J.
Montserrat, J. Esteve, A. Boisen, N Barniol. Sensors and Actuators A: Physical 132, 154 (2006).
[6]. J. Juillard, A. Bonnoit, E. Avignon, S. Hentz, E. Colinet. Journal of Applied Physics 107,
014907 (2010).
[7]. Design Manual, Sandia Corporation, Lockheed Martin Company. SUMMiT V Design
Manual. Technical report, 2008.
[8]. C. Kim, A. P. Pisano, R. S. Muller, M. G. Lim. Solid-State Sensor and Actuator Workshop
(1990). [
9]. D. Sarid, “Scanning Force Microscopy. With Applications to Electric, Magnetic and Atomic
Forces” (Oxford University Press, 1994).