En una fabrica se ensamblan artícolos electronicos y al final delproceso se hace una inspección por muestreo para

defectar defectos relativamente menores. A continuación se presentan el número de defectos observadosa en

muestreos realizados en 24 lotes consecutivos de piezas electrónicas.

Tamaño de la DEFECTOS
LOTE muestra ENCONTRADOS
1 20 17
2 30 24
3 20 16
4 30 26
5 15 15
6 15 15
7 20 20
8 25 18
9 30 26
10 25 10
11 25 25
12 30 21
13 30 30
14 30 24
15 30 26
16 30 22
17 30 30
18 30 24
19 15 11
20 15 14
21 15 10
22 15 11
23 15 8
24 20 20

n
u
LSE
LSI
cción por muestreo para
fectos observadosa en
s.