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Tema: Práctica No. 4 “Diseño de un esquema de muestreo utilizando MIL STD 105E y
MIL STD 414”.
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Práctica No. 4 “Diseño de un esquema de muestreo utilizando MIL STD
105E y MIL STD 414”.
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1 Índice:
Plan de muestreo por variables……………………………………………………………………………………………………………….03
Descripción del caso de estudio.……………………………………………………………………………………………………………..03
Ejercicio y uso de Tablas MIL STD 414………………………………………………………………………………………………………03
Plan de muestreo de aceptación para atributos. .…………………………………………………………………………………………..06
Descripción del caso de estudio.……………………………………………………………………………………………………………..06
Ejercicio y uso de tablas MIL STD 105E……………………………………………………………………………………………………..06
Conclusiones…………………………………………………………………………………………………………………………………...09
Bibliografía……………………………………………………………………………………………………………………………………...11
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Práctica No. 4 “Diseño de un esquema de muestreo utilizando MIL STD
105E y MIL STD 414”.
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Plan de muestro por variables.
Cómo tenemos la letra código €, y un AQL = 2.5% nos dirigimos a la “Tabla para
inspección normal y severa (variabilidad desconocida, método de la desviación estándar),
y como solo tenemos un solo límite de especificación: n = 7, k = 1.33 b) Cómo tenemos
la letra código (F), y un AQL = 2.5% nos dirigimos a la “Tabla para inspección normal y
severa (variabilidad desconocida, método de la desviación estándar), método M”, y
Práctica No. 4 “Diseño de un esquema de muestreo utilizando MIL STD 105E
y MIL STD 414”.
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Muestras
Mediciones
X1 X2 X3
buscamos los datos con el fin de buscar el plan simple X5 X4 para inspecciónX6 X7 que
normal,
consiste en un 1 tamaño 1.49de muestra 1.3 n, y del 1.39
valor M, 1.33que es el 1.23 porcentaje1.29 máximo de 1.45
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defectuosos tolerado 1.45
en el lote. De 1.32este modo 1.42 como tenemos
1.34 que1.34 1.34 es “F”,
la letra código 1.28
3 1.64 1.6 1.41 1.34 1.53 1.03 1.37
esta corresponde a un tamaño de muestra n = 10 y como tenemos el AQL de 2.5%
4 1.56 1.5 1.42 1.55 1.41 1.6 1.25
corresponde a un valor de M = 2.29% La forma 2 se refiere al método M entonces
5 1.51 1.11 1.32 1.41 1.32 1.28 1.17
estimamos la6 proporción 1.47
de unidades
1.48
defectuosas
1.39
en el lote
1.26 1.4
para el1.13límite de 1.44
especificación7 inferior:1.27
Los datos1.23 son: 1.21 1.22 1.23 1.22 1.27
8 1.4 1.3 1.35 1.15 1.37 1.35 1.4
9 1.04 1.21 1.37 1.41 1.88 0.95 1.32
10 1.32 1.31 1.32 1.3 1.3 1.37 1.27
11 1.35 1.34 1.14 1.23 1.37 1.42 1.36
12 1.43
1.04+1.21+1.37+1.41+1.88+0.95+1.321.35 1.21 1.43 1.41 1.4 1.3
= = 1.31
13 7 1 1.32 1.45 1.5 1.42 1.24 1.34
(1.04−1.31)20.75
14 +(1.21−1.31) 21.23
+(1.37−1.31) 2 +(1.41−1.31)
1.44 2 +(1.88−1.31)
1.35 2 +(0.95−1.31)
1.36 2 +(1.32−1.31)
1.23 2 1.37
σ = √ =
15 1 1.24 1.23 (7−1) 1.25 1.27 1.32 1.17
0.2805
1.31−1.175
ZEL = = 0.4812
0.2805
0.4812 > 1.33% esta desigualdad no comprueba que mi ZEL sea mayor a mi k por lo
que el lote se rechaza.
31.4% < 2.29% por lo cual esta desigualdad esta inequívoca y se dice que lote se
rechaza.
Se concluye que de mi lote de 300 golosinas tipo cerezas con una muestra n = 7 se
rechaza el lote, nos convendría tomar muestras de 5 y elevar nuestro AQL a 15 para que
nuestro promedio o media nos de menor a nuestro porcentaje de k o M, pero obviamente
en muestras de 5 estaríamos alterando nuestro gráfico de control y elevando nuestras
especificaciones.
Esta vez nos encontramos con 26 conjuntos, en donde vamos a seleccionar 10 lunetas
aleatorias de cada conjunto, estas 10 lunetas aleatorias pasaran a ser nuestro número
de datos muestral (n = 10), en esta ocasión no ocupamos ningún instrumento de medición
más que solo una técnica de muestreo que es la de contar las piezas o lunetas
defectuosas (color azul) de cada muestra. Pero antes que nada la muestra va a cambiar
ya que nuestro lote es de 520 golosinas o lunetas, procederemos a evaluar esta situación
con las tablas MIL STD 105E
Para una inspección normal de un muestro simple nos dice que tomaremos de nuestro
lote una muestra de 32 lunetas y que según nuestro NCA de 1% si encontramos 1 defecto
se acepta ese lote y si encontramos 2 defectos se rechaza el lote.
Ahora nuestro plan de muestreo simple para una inspección severa con NCA de 1%
nos dice que debemos tomar una muestra de 80 lunetas y que si nos sale1 defectuoso
se acepta el lote, pero si nos sale 2 defectuosos se rechaza el lote.
Así mismo para una inspección reducida de un plan de muestreo simple y con un NCA
1% debemos tomar una muestra de 50 lunetas de nuestro lote y si encontramos 1 defecto
se acepta el lote y si encontramos 4 defectos se rechaza el lote.
Y así de simple contamos nuestras 520 lunetas y si hacemos una inspección normal
dependiedo de cada nivel solo elegiremos una n ya sea de 32, 80 y 125, nos podemos
guíar con esta tabla cuando ya estemos contando nuestras lunetas y encontrando
nuestras lunetas defectuosas de color azul, como ven aquí cambia la muestra y ya no se
establece la muestra que establecimos en nuestro gráfico de control, es un poco más
amplio.
Puede ser aplicado en: componentes y materia prima, materiales en proceso, datos y
registros entre otros. También se aplica en una prueba implica la destrucción del producto
(ej. Prueba de un fusible eléctrico), Cuando el lote lo forman una gran cantidad de
artículos que habría que inspeccionar y la probabilidad de error en la inspección es
suficientemente alta, de tal manera que la inspección al 100% podría dejar pasar más
unidades defectuosas que un plan de muestro etc.…
Los tres tipos de planes de muestreo (muestreo de aceptación por atributos, secuencial
y múltiple) pueden llevar a obtener los mismos resultados; es decir, la probabilidad de
que al utilizar un plan de muestreo simple se llegue a aceptar un lote es la misma que si
se utiliza un adecuado plan de muestreo doble o múltiple.
El tipo de plan que se utilizara en una unidad particular depende de factores que no
tienen que ver con la eficiencia. Tales factores son la sencillez, costos administrativos,
información sobre la calidad, cantidad de unidades inspeccionadas e impresión
psicológica; aunque el factor más importante quizá sea el de la sencillez. En este sentido,
el muestreo sencillo es el mejor, y el múltiple, el peor.
En todo sentido estoy muy de acuerdo con el autor en que la razón y situaciones donde
debe siempre aplicarse el muestreo de aceptación es cuando el costo de la inspección al
100% es muy alta o cuando la inspección es destructiva debido a que si fuera una
inspección al 100% los costos de producción serian irrecuperables o bien no se tendría
absolutamente ninguna producción en caso de ser pruebas destructivas, por otra
parte también me parece fundamental su aplicación cuando la inspección al 100% es
monótona ya que esto provocara errores en la inspección debido a que el trabajador ya
no percibe los errores o defectos por estar tanto tiempo realizando la misma inspección.
Práctica No. 4 “Diseño de un esquema de muestreo utilizando MIL STD 105E
y MIL STD 414”.
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BIBLIOGRAFÍA.
Camisón, C., Cruz, S., & González, T. (2007). Gestión de Calidad: Conceptos,
Enfoques, Modelos y Sistemas. México: Pearson.