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T ÉCNICAS DE C ARACTERIZACIÓN DE M ATERIALES D IELÉCTRICOS

Daniel E. Salazar C.
Universidad del Quindío
daniele.salazarc@uqvirtual.edu.co

1. Microscopía de Campo Cercano 4. Bandas de Micro-onda y Onda 7. Polarización Dual


La técnica mide la interacción del campo eléctrico de una sonda con el El método consiste en medir, en un solo ángulo θ, el coeficiente de

material a caracterizar por medio de un resonador dieléctrico, un VNA, Milimétrica reflexión paralelo y perpendicular de un campo electromagnético refle-
El método usa una líneas de transmisión multicapa para estimar la jado por el material sometido a prueba (MUT) debido a una onda plana
un cable coaxial con un extremo en forma de ciclo y un controlador
permitividad eléctrica ϵr . A partir de dos puertos de un analizador de eléctrica transversal y magnética transversal, para obtener la permitivi-
que registra la distancia entre la sonda y la muestra para estimar la
redes vectoriales (VNA), una microcinta cargada con el material dieléc- dad relativa ϵr , la permeabilidad relativa µr y el grosor de la muestra ∆
permitividad relativa ϵr [3].
trico a caracterizar y lineas de diferentes longitud se puede obtener la [1].
constante de propagación γ . Luego, se usa con simulador EM para La técnica se desarrolla para materiales dieléctricos respaldados por
determinar los parámetros eléctricos del material [2]. conductores por medio de 3 métodos diferentes

5. Modelo 8. Modelo
MÉTODO I: µr y ϵr desconocidos y δ conocido
r
Q2 sin2θ
ϵr = ±ϵ¯r 2θ
sX 1 − Y cos
X sin2θ
µr = ±µ̄r 2 2
;
Q 1 − Y cos θ
Fig. 1: Esquema del montaje
donde X y Y son:
 1 + R  1 + R 
⊥ ||
X=
1 − R⊥ 1 − R||
 1 − R  1 + R 
⊥ ||
Y =
1 + R⊥ 1 − R||
2. Modelo MÉTODO II: MUT con ϵr y ∆ desconocido
Asumiendo que la interacción electromagnética es cuasi-estática, los sin2θ
ϵr µr = ϵ¯r µ̄r
cambios de las frecuencias de resonancia en el resonador dieléctrico 1 − Y cos2θ
Fig. 3: Diagrama de flujo para dos líneas de transmisión. 1 p
son: ∆ = tan−1 −ϵr η¯r 2X
La constante de propagación γ esta dada por: kz
∆fr fr − fr′  ln(1 − b) 
= =A +1 ; 1  tr(T )  MÉTODO III :MUT con ϵr desconocido
fr fr b γ = cosh−1 ;
donde b = (ϵr − 1)/(ϵr + 1), fr y fr′ son las frecuencias resonantes ∆l 2 iχϵ¯r tan(k0∆χ) − ϵr χ̄
R|| =
donde T es una matriz de transmisión que depende de los circuitos iχϵ¯r tan(k0∆χ) + ϵr χ̄
con y sin muestras respectivamente. Se puede calcular A midiendo
la frecuencia de resonancia de una muestra donde su permitividad de dos puertos PA y PB (Fig.3).
iχ̄tan(k0∆χ) − µ̄r χ
relativa para una frecuencia dada es conocida.
R⊥ =
iχ̄tan(k0∆χ) + µ̄r χ
Se usa una sobredeterminación del método aumentando el número de

Para una optimización del acoplamiento entre la sonda y el resonador líneas medidas y un criterio para elegir las longitudes óptimas de línea

DR, que es la distancia entre el DR y el cable coaxial, se tiene la para minimizar los errores y mejorar la precisión:
 i − 1 1.2
relación: li = l0 + (lN − l0)
N −1
, i = 1, 2, ..., N 9. Resultados
A = (−0.38G + 0.27) × 10−3

6. Resultados

Fig. 5: Resultados experimentales par diferentes materiales.

Fig. 2: Grafica de ∆fr en función de la permitividad relativa compleja para diferentes valores de A • El método de Polarización Dual tradicional y cuando se desconocía el
espesor dieron resultados inexactos en la medida de la permitividad
eléctrica, además genera una propagación de error alta.

• El método cuando se conoce el grosor de la MUT es confiable y


3. Resultados preciso comparado con el método de guía de ondas.
Los valores obtenidos para ϵr tienen errores menores al 5%, además,
se usaron muestras de 25mm2 de diferentes geometrías, para todas se
logró una buena precisión en las permitividades relativas.

Referencias
1. R. A. Fenner u.a.,Taylor & Francis Group, 13 (2015)
Fig. 4: Resultados experimentales par diferentes materiales. 2. M. Pérez Escribanou.a.,69(2021).

• Los resultados obtenidos muestran una buena concordancia entre 3. J. Rammalu.a.,International Journal of Microwave and Wireless Technologies, 6 (2014).

las mediciones, a partir de la constante de propagación, y las simu-


laciones hechas por el EM.

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