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Daniel E. Salazar C.
Universidad del Quindío
daniele.salazarc@uqvirtual.edu.co
material a caracterizar por medio de un resonador dieléctrico, un VNA, Milimétrica reflexión paralelo y perpendicular de un campo electromagnético refle-
El método usa una líneas de transmisión multicapa para estimar la jado por el material sometido a prueba (MUT) debido a una onda plana
un cable coaxial con un extremo en forma de ciclo y un controlador
permitividad eléctrica ϵr . A partir de dos puertos de un analizador de eléctrica transversal y magnética transversal, para obtener la permitivi-
que registra la distancia entre la sonda y la muestra para estimar la
redes vectoriales (VNA), una microcinta cargada con el material dieléc- dad relativa ϵr , la permeabilidad relativa µr y el grosor de la muestra ∆
permitividad relativa ϵr [3].
trico a caracterizar y lineas de diferentes longitud se puede obtener la [1].
constante de propagación γ . Luego, se usa con simulador EM para La técnica se desarrolla para materiales dieléctricos respaldados por
determinar los parámetros eléctricos del material [2]. conductores por medio de 3 métodos diferentes
5. Modelo 8. Modelo
MÉTODO I: µr y ϵr desconocidos y δ conocido
r
Q2 sin2θ
ϵr = ±ϵ¯r 2θ
sX 1 − Y cos
X sin2θ
µr = ±µ̄r 2 2
;
Q 1 − Y cos θ
Fig. 1: Esquema del montaje
donde X y Y son:
1 + R 1 + R
⊥ ||
X=
1 − R⊥ 1 − R||
1 − R 1 + R
⊥ ||
Y =
1 + R⊥ 1 − R||
2. Modelo MÉTODO II: MUT con ϵr y ∆ desconocido
Asumiendo que la interacción electromagnética es cuasi-estática, los sin2θ
ϵr µr = ϵ¯r µ̄r
cambios de las frecuencias de resonancia en el resonador dieléctrico 1 − Y cos2θ
Fig. 3: Diagrama de flujo para dos líneas de transmisión. 1 p
son: ∆ = tan−1 −ϵr η¯r 2X
La constante de propagación γ esta dada por: kz
∆fr fr − fr′ ln(1 − b)
= =A +1 ; 1 tr(T ) MÉTODO III :MUT con ϵr desconocido
fr fr b γ = cosh−1 ;
donde b = (ϵr − 1)/(ϵr + 1), fr y fr′ son las frecuencias resonantes ∆l 2 iχϵ¯r tan(k0∆χ) − ϵr χ̄
R|| =
donde T es una matriz de transmisión que depende de los circuitos iχϵ¯r tan(k0∆χ) + ϵr χ̄
con y sin muestras respectivamente. Se puede calcular A midiendo
la frecuencia de resonancia de una muestra donde su permitividad de dos puertos PA y PB (Fig.3).
iχ̄tan(k0∆χ) − µ̄r χ
relativa para una frecuencia dada es conocida.
R⊥ =
iχ̄tan(k0∆χ) + µ̄r χ
Se usa una sobredeterminación del método aumentando el número de
Para una optimización del acoplamiento entre la sonda y el resonador líneas medidas y un criterio para elegir las longitudes óptimas de línea
DR, que es la distancia entre el DR y el cable coaxial, se tiene la para minimizar los errores y mejorar la precisión:
i − 1 1.2
relación: li = l0 + (lN − l0)
N −1
, i = 1, 2, ..., N 9. Resultados
A = (−0.38G + 0.27) × 10−3
6. Resultados
Fig. 2: Grafica de ∆fr en función de la permitividad relativa compleja para diferentes valores de A • El método de Polarización Dual tradicional y cuando se desconocía el
espesor dieron resultados inexactos en la medida de la permitividad
eléctrica, además genera una propagación de error alta.
Referencias
1. R. A. Fenner u.a.,Taylor & Francis Group, 13 (2015)
Fig. 4: Resultados experimentales par diferentes materiales. 2. M. Pérez Escribanou.a.,69(2021).
• Los resultados obtenidos muestran una buena concordancia entre 3. J. Rammalu.a.,International Journal of Microwave and Wireless Technologies, 6 (2014).