Licenciatura en Ingeniería en Comunicaciones y Electrónica

UDA: Optoelectrónica

Consigna: Práctica Difracción.

Descripción: Realizar un análisis espectral de un diodo láser cuyo rayo se ha difractado en una
rejilla de difracción.

Profesor: Dr. José Amparo Andrade Lucio

Alumno: Álvarez Rendón Luis Ángel
NUA: 144919
Grupo: C1

Correo electrónico institucional: l.alvarezrendon@ugto.mx

A 14 de marzo de 2021, Dolores Hidalgo C. I. N., Guanajuato.

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 Contenido Página

1. Consigna 2

2. Desarrollo 2

3. Referencias 6

1 CONSIGNA
Realizar experimento de difracción de un rayo láser que se hace incidir en una rejilla de difracción.
Encontrar sus componentes usando software de procesamiento de imagen.

2
2 DESARROLLO

2.1 ARREGLO EXPERIMENTAL

Se ha montado un diodo láser usando una placa de Arduino para proveer al sistema de estabilidad en
tiempo. Se ha colocado un CD a una distancia de 0.5 (m) del diodo láser y se ha hecho incidir el rayo sobre
la pantalla con un ángulo arbitrario que se ha encontrado mediante prueba y error.

3
2.2 CALIBRACIÓN ESPACIAL
Para la rejilla de difracción se tomaron fotos a la misma distancia (0.5 (m) aproximadamente) de la pantalla
con la cuadrícula visible, como del patrón formado por el láser difractado. Con el software de
procesamiento de imágenes se ha hecho la calibración espacial y para 30 (mm) se ha encontrado que la
imagen recorre 346 píxeles.

De la misma manera se ha hecho calibración espacial para cada parte del experimento con las ranuras.

2.3 RESULTADO EXPERIMENTAL

2.3.1 Rejilla de difración

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2.4 COMPONENTES ESPECTRALES EN PÍXELES

Intensidad Luminosa vs Distancia

300

250

200
(n)

150

100

50

0
0 50 100 150 200 250 300 350 400 450
(mm)

5
2.4.1 Rendija

6
 Intensidad de luminosidad vs Distancia
300

250

200
(n)

150

100

50

0
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180
(mm)

𝑠𝑖𝑛𝛼 2 𝑘𝑎 2𝜋
𝐼(𝜃) = 𝐼(0) ( 𝛼
) , 𝛼= 2
𝑠𝑖𝑛𝜃, 𝑘= 𝜆
, a = 1x10-3(m)
𝑎𝜋
sin ( )𝜆
𝐼(𝜃) = 𝐼(0)( 𝜆 )2
𝑎𝜋
1 ∗ 10−3 (m)𝜋
sin ( )6.5−7 (m)
6.5−7 (m)
𝐼(𝜃) = 𝐼(0)( )2
1 ∗ 10−3 (m)𝜋

𝐼(𝜃) = 𝐼(0)(sin(1538.46𝜋) ∗ 6.5−4 )2

𝐼(𝜃) = 𝐼(0)(2.9292 ∗ 10−4 )2

𝐼(𝜃) = 𝐼(0)8.58 ∗ 10−8

En teoría:

𝐼(𝜃) = 𝐼(0)8.58 ∗ 10−8

7
2.4.2 Doble rendija

8
 Intensidad luminosa vs Distancia
300

250

200
(n)

150

100

50

0
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90
(mm)

2.4.3 Estrella

9
 Intensidad Luminosa vs Distancia
300

250

200
()n

150

100

50

0
0 10 20 30 40 50 60
(mm)

10
2.4.4 Triángulo

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 Intensidad Luminosa vs Distancia
300

250

200
(n)

150

100

50

0
0 10 20 30 40 50 60
(mm)

3 ANÁLISIS DE RESULTADOS
Los picos pronunciados encontrados denotan el comportamiento de un LASER (luz coherente), estos picos se han encontrado
aproximadamente cada 50 (mm) y el patrón en su totalidad es de aproximadamente 400(mm), para la rejilla de difracción. Como
se esperaba, los picos en la periferia del patrón pierden bastante intensidad luminosa, llegando a ser menos de la mitad de la
medida máxima de 255. Cabe notar, que los picos tienen un ancho espectral bastante grueso por lo que el LASER no tiene
demasiada resolución, en sistemas de comunicación sofisticados, se requeriría un LASER con mayor resolución (picos de menor
ancho espectral). Sería de utilidad realizar la caracterización del diodo LASER utilizado. Para el resto del experimento con las
ranuras, los picos tienen un ancho espectral ancho en el centro y finos conforme se acerca a los extremos. Los resultados más
satisfactorios se muestran en la rendija y en la rendija doble.

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