FACULTAD INGENIERÍA ELECTRÓNICA

ASIGNATURA SEMICONDUCTORES

M.C. GIANINA GARRIDO SILVA

DOCENTE
gianinagarrido@usantotomas.edu.co
PRUEBA DIAGNÓSTICA

GENERALIDADES

 El examen diagnóstico se presenta de forma INDIVIDUAL.

RESPONDER LAS SIGUIENTES PREGUNTAS

1) Cual es el tipo de enlace interatómico que existe en un cristal puro de silicio.

X Enlace Covalente Enlace por Fuerzas de Van der Waals

Enlace Iónico Enlace por Fuerzas de Keesom

Enlace Metálico Enlace por Fuerzas de Debye

2) Con sus propias palabras explique la Función de Probabilidad de Distribución de Fermi-Dirac.

Se utiliza para saber la cantidad de energía que tiene una partícula

3) Etiquete los diagramas presentados según la información presentada.

Semiconductor Tipo n Semiconductor Tipo p Excitación Electrónica Material Metálico

Semiconductor Intrínseco Semiconductor Tipo p Semiconductor Tipo n Excitación Electrónica

Recombinación Electrónica Material Metálico Material Aislante Semiconductor Extrínseco

4) Enliste 6 tipos diferentes de diodos.

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 1 RECTIFICADOR 4 DETECTOR

2 ZENER 5 FOTODIODO

3 LED 6 TUNEL

5) Con sus propias palabras explique el funcionamiento de un diodo y realice la gráfica de V vs I.

Un diodo cuando es polarizado de forma inversa se comporta

como un interruptor abierto mientras que si es
polarizadodirectamente se comporta como un corto

6) Etiquete los diagramas presentados según la información presentada.

Semiconductor Compuerta Lógica OR Circuito Rectificador

Corriente Recombinación Compuerta Lógica OR Compuerta Lógica AND Excitación Electrónica

Semiconductor Recortador de Señal Corriente de Difusión Circuito Rectificador

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