En una fábrica se ensamblan artículos electrónicos y al final del proceso se hace una inspección por muestreo para detectar de

en muestreos realizados en 24 lotes consecutivos de piezas electrónicas.

a. Asuma que el tamaño de lote es constante (el promedio, mayor entero) y realice la carta c
b. Calcule la variacion del tamaño de los lotes
c. Con el tamaño de lotes constantes, realice la carta u
d. Cree una carta u con limites variables. Analice.

Ui
Tamaño Defectos
Lote Lote encontrados Ui-U ZI
1 20 17 0.850 -0.2143 -0.92899904
2 20 24 1.200 0.1357 0.58822557
3 20 16 0.800 -0.2643 -1.14574541
4 20 26 1.300 0.2357 1.02171832
5 15 15 1.000 -0.0643 -0.24141317
6 15 15 1.000 -0.0643 -0.24141317
7 15 20 1.333 0.2690 1.00997259
8 25 18 0.720 -0.3443 -1.66871001
9 25 26 1.040 -0.0243 -0.11779921
10 25 10 0.400 -0.6643 -3.2196208
11 25 25 1.000 -0.0643 -0.31166306
12 30 21 0.700 -0.3643 -1.93416383
13 30 40 1.333 0.2690 1.42831694
14 30 24 0.800 -0.2643 -1.40324581
15 30 46 1.533 0.4690 2.49015297
16 30 32 1.067 0.0024 0.01253556
17 30 30 1.000 -0.0643 -0.34140978
18 30 34 1.133 0.0690 0.36648091
19 15 11 0.733 -0.3310 -1.24252178
20 15 14 0.933 -0.1310 -0.49169032
21 15 30 2.000 0.9357 3.51274412
22 15 17 1.133 0.0690 0.25914114
23 15 18 1.200 0.1357 0.50941829
24 15 20 1.333 0.2690 1.00997259
549 25.543

21.875 22.875 22.875

nbarra cbarra

MAX 30
MIN 15
variaciónmax 0.37142857 37.1428571 %
variaciónmin 0.31428571 31.4285714 %
% total de variacón 68.5714286 %

Limites de control para la carta C

 SIGMA 4.78278161742725
cbarra 22.875
LCS 37.2233448522817
"2s "1s
1 37.2233448522817 32.440563235 27.658
24 37.2233448522817 32.440563235 27.658

LC 22.875

1 22.875
24 22.875

LCI 8.52665514771826
"-2s "-1s
1 8.52665514771826 13.309436765 18.092
24 8.52665514771826 13.309436765 18.092
LIMITES DE CONTROL PARA LA CARTA U
para la carta u "2S "1S
u(miupro) 1.06430555555556 1.4957080072 1.28000678
promeddef cbarra 22.875
LCS 1.71140923302842

1 1.71140923302842 1.4957080072 1.28000678

24 1.71140923302842 1.4957080072 1.28000678

LC 1.06430555555556
1 1.06430555555556
24 1.06430555555556

"-2S "-1S
LCI 0.41720187808269 0.6329031039 0.84860433
1 0.41720187808269 0.6329031039 0.84860433
24 0.41720187808269 0.6329031039 0.84860433
ción por muestreo para detectar defectos relativamente menores. En la tabla 8.4 se presenta el número de defectos observados

Carta c
50
45
40
35
30
25
20
15
10
5
0
0 5 10 15 20 25 30

CARTA U
2.500

2.000

1.500

1.000

0.500

0.000
0 5 10 15 20 25 30

Datos para Estandarizar

ESTANDARIZAR U
4

3
 ESTANDARIZAR U
4

0
0 5 10 15 20 25 30
-1

-2

-3

-4

Limites de control para estandarizar

SIGMA 1 Upro 0
LCS 3 "2S "1S
1 3 2 1
24 3 2 1

LC 1
1 0
24 0

LCI -3 "-2s "-1s

1 -3 -2 -1
24 -3 -2 -1
e defectos observados