Descripción matemática de las funciones:

1. Gaussiana (G):

1
2
C 0
exp ⁡[−C 0 ( 2 θi−2θ k ) ❑2 / H 2K ]
HK π 1
2

2θ K: posición una intensidad

I0: Intensidad
FWMH: el ancho de la función representado por el ancho a media altura

η : parámetro de la mezcla el cual es ajustado por una función lineal de 2 θ

H K π :es el ancho a la altura media del pico de difracción para la k-ésima reflexión
❑
❑

2 θi−2 θk :es el ángulo de Bragg para la k-ésima reflexión

2. Lorentziana (L)

1
C12
1/ ⁡[1+C 1 ( 2θi −2θ k ) ❑2 /H 2K ]
H Kπ

2θ K: posición una intensidad

I0: Intensidad
FWMH: el ancho de la función representado por el ancho a media altura

η : parámetro de la mezcla el cual es ajustado por una función lineal de 2 θ

H K π :es el ancho a la altura media del pico de difracción para la k-ésima reflexión
❑
❑

2 θi−2 θk :es el ángulo de Bragg para la k-ésima reflexión

3. Voigt
Se aplica a picos simétricos y es la sumatoria de Lorentziana y Gaussiana.
El modelo pseudo – Voigt está formado por una combinación lineal de una función Gaussiana y una
Lorentziana. El parámetro η = 0 describe si la forma del pico del difracción es Gaussiana, η = 1 si es
Lorentziana. Si el valor de η se encuentra entre 0 y 1 se tiene una combinación de ambas.

ηL+ ( 1−η ) G
2θ K: posición una intensidad
I0: Intensidad
FWMH: el ancho de la función representado por el ancho a media altura
η : parámetro de la mezcla el cual es ajustado por una función lineal de 2 θ

4. Doniach-Sunjic

Se aplica a picos asimétricos

Los investigadores proponen una manera de medir la línea de pico de un fotoelectrón donde
combinan el efecto <kondo y realizan un reajuste transitorio y particular del estado
fundamental del gas de Fermi donde se evidencia el potencial efectivo del agujero.

πα E−Eo
I(E) −
cos [ 2
+ ( 1−α ) arctan
❑
ϒ ]
¿ 1−α
2 2
[ ( E−Eo ) + γ ] 2

E: es la señal fotoeléctrica en la energía E,

Eo: es el "centro" pico,
ϒ: es el ancho lorentziano de por vida
α : es el "factor de asimetría

5. Shirley –Sherwood

Se aplica el algoritmo de Shirley para que el fondo estático reduzcan así mismo las oscilaciones
para que puedan unir las interacciones pares e impares.
 E der
kn ´ ∫ dE ´ [I ( E´ )−Ider−Bn−1 ( E ´ ) ]
E
Bn (E)= E der

∫ dE ´ [ I ( E ´ ) −Ider−Bn−1 ( E´ ) ]
E izq

Bn (E) : Es la n veces interacciones del background o ruido de Shirley

E: es la energía cinética
K: es el valor iterativo del valor disperso
I (E): es la señal fotoeléctrica
 E derecha; I derecha) : En cada iteración, el valor del factor de dispersión se elige de tal manera
que el fondo total pase por el punto elegido a la izquierda
Referencias:

1. Casagrande, S. P., & Blanco, R. C. (2004). Método de Rietveld para el estudio de

estructuras cristalinas. Revista de la facultad deficiencias de la UNI, 9.
2. Herrera-Gomez, 2012. The Peak-Shirley Background. Centro de Investigación y de
Estudios Avanzados del IPN.
3. Herrera-Gomez, 2012. The active background method in XPS data peak-fitting. Centro de
Investigación y de Estudios Avanzados del IPN.
4. Herrera-Gomez, 2011. A double Lorentzian line shape for asymmetric photoelectron peaks.
Centro de Investigación y de Estudios Avanzados del IPN.