DIVISIÓN DE INGENIERÍAS

FACULTAD DE MINAS, METALURGIA Y GEOLOGÍA

CONTROL DE CALIDAD

Lic. en Ingeniería Metalúrgica

30/04/2020

Equipo:
LEOBARDO MARTINEZ ROCHA.

1
 CAPITULO 5: índices de capacidad, métricas Seis Sigma y análisis de tolerancias.
.
El índice de capacidad potencial del
Índice Cp proceso, Cp, se define de la siguiente
Indicador de la capacidad potencial manera:
del proceso que resulta de dividir el
ancho de las especificaciones
(variación tolerada) entre la
amplitud de la variación natural del
proceso.
Donde:

• σ= desviación estándar del

proceso.
• ES y EI son las especificaciones superior e inferior para la
característica de calidad.

Hay una definición del índice Cp que es independiente de la distribución de la característica de calidad: el
reporte técnico de ISO 12783 define al Cp de la siguiente manera:

Donde:

• P0.99865 es el percentil 99.865 de la distribución de la característica de calidad

• P0.00135 es el percentil 0.135 de la distribución de la característica de calidad

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Índice Cr
Indicador de la capacidad potencial
del proceso que divide la amplitud Un índice menos conocido que el Cp, es el que se conoce como
de la variación natural de este razon de capacidad potencial, Cr, el cual está definido por:
entre la variación tolerada.
Representa la proporción de la
banda de especificaciones que es
cubierta por el proceso.

índice de capacidad para la especificación inferior, Cpi, el cual está

Índice Cpi definido por:
Indicador de la capacidad de un
proceso para cumplir con la
especificación inferior de una
característica de calidad.

Donde μ: es la media del proceso.

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Índice Cps índice de capacidad para la especificación superior, Cps la cual
Indicador de la capacidad de un está definida por:
proceso para cumplir con la
especificación superior de una
característica de calidad

Índice Cpk índice de capacidad real del proceso, es considerado una versión
Indicador de la capacidad real de corregida del Cp que sí toma en cuenta el centrado del proceso.
Existen varias formas equivalentes para calcularlo, una de las más
un proceso que se puede ver como
comunes es la siguiente:
un ajuste del índice Cp para tomar
en cuenta el centrado del proceso.

ELEMENTOS ADICIONALES.
• El índice Cpk siempre va a ser menor o igual que el índice Cp. Cuando son muy próximos,
eso indica que la media del proceso está muy cerca del punto medio de las
especificaciones, por lo que la capacidad potencial y real son similares.
• Si el valor del índice Cpk es mucho más pequeño que el Cp, significa que la media del
proceso está alejada del centro de las especificaciones. De esa manera, el índice Cpk
estará indicando la capacidad real del proceso, y si se corrige el problema de descentrado
se alcanzará la capacidad potencial indicada por el índice Cp.
• Cuando el valor del índice Cpk sea mayor a 1.25 en un proceso ya existente, se
considerará que se tiene un proceso con capacidad satisfactoria. Mientras que para
procesos nuevos se pide que Cpk > 1.45.
• Es posible tener valores del índice Cpk iguales a cero o negativos, e indican que la media
del proceso está fuera de las especificaciones.

índice de centrado del proceso, K, que se calcula de la siguiente

Índice K
manera:
Es un indicador de que tan
centrada esta la distribución de un
proceso con respecto a las
especificaciones de una
característica de calidad dada.
Donde:

• N: valor objetivo o nominal

• La interpretación usual de los valores de K es como sigue:
• Si el signo del valor de K es positivo significa que la media del proceso es mayor al valor
nominal y será negativo cuando μ < N.
• Valores de K menores a 20% en términos absolutos se consideran aceptables, pero a
medida que el valor absoluto de K sea más grande que 20%, indica un proceso muy

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 descentrado, lo cual contribuye de manera significativa a que la capacidad del proceso
para cumplir especificaciones sea baja.
• El valor nominal, N, es la calidad objetivo y óptima; cualquier desviación con respecto a
este valor lleva un detrimento en la calidad. Por ello, cuando un proceso esté descentrado
de manera significativa se deben hacer esfuerzos serios para centrarlo, lo que por lo
regular es más fácil que disminuir la variabilidad.

Cpm (índice de Taguchi) que está definido por:

Índice Cpm
índice de Taguchi similar al Cpk
que, en forma simultánea, toma en
cuenta el centrado y la variabilidad
del proceso.

donde τ (tau) está dada por:

Capacidad de corto plazo Capacidad de largo plazo

Se calcula a partir de muchos datos
tomados durante un periodo corto
para que no haya influencias
externas en el proceso, o con
muchos datos de un periodo largo,
pero calculando σ con el rango
promedio
(σ = R–/d2).
Se calcula con muchos datos
tomados de un periodo largo para
que los factores externos influyan
en el proceso, y σ se estima
mediante la desviación estándar de
todos los datos
(σ = S).

Índice Pp
Indicador del desempeño potencial índice de desempeño potencial del proceso (process
del proceso, que se calcula en performance) Pp se calcula de la siguiente manera:
forma similar al índice Cp pero
usando la desviación estándar de
largo plazo.

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Índice Ppk
Indicador del desempeño real del índice de desempeño real del proceso Ppk que se obtiene
proceso, que se calcula en forma
con:

similar al índice Cpk pero usando la

desviación estándar de largo plazo.

donde σL es la desviación estándar de largo plazo.

De esta manera, para un proceso con doble

Índice Z especificación se tiene Z superior, Zs, y Z inferior, Zi, que
Es la métrica de capacidad de se definen de la siguiente manera:
procesos de mayor uso en Seis
Sigma. Se obtiene calculando la
distancia entre la media y las
especificaciones, y esta distancia
se divide entre la desviación
estándar.

Índice Zc
Valor del índice Z en el cual se
emplea la desviación estándar de
corto plazo.
Índice ZL
Valor del índice Z que utiliza la
desviación a largo plazo.
desplazamiento o movimiento del proceso y se mide a
través del índice Zm de la siguiente manera:
Zm = Zc – ZL
Si no se conoce Zm, entonces se asume un valor de 1.5.
De la forma que se obtiene el índice Z, es posible ver que:
3Cpk = Zc y 3Ppk = ZL

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 Proceso Tres Sigma
Proceso cuya capacidad para
cumplir especificaciones a corto
plazo es igual a Zc = 3 y el índice es
Cpk = 1.
Proceso cuya capacidad para
cumplir especificaciones a corto
plazoes igual a Zc = 6 o cuando es a
largo plazo ZL = 4.5, lo cual, a corto
plazo significa Cpk = 2 y a largo
plazo Ppk = 1.5.

índice DPU (defectos por unidad) es calculado por:

Índice DPU (defectos por unidad)
métrica de calidad que es igual al
numero de defectos encontrados
entre el número de unidades
inspeccionadas. No toma en cuenta
donde U es el número de unidades inspeccionadas en las
las oportunidades de error. cuales se observaron d defectos; ambas referidas a un
lapso específico.

índice DPO (defectos por oportunidad), que mide la no

Índice DPO calidad de un proceso y se obtiene como sigue:
(defectos por oportunidad)
métrica de calidad que es igual al
numero de defectos encontrados
entre el total de oportunidades de
donde U y d son como antes, y O es el número de
error al producir una cantidad
oportunidades de error por unidad.
especifica de unidades.

DPMO (defectos por millón

de oportunidades) se obtiene al multiplicar al DPO por un millón
métrica Seis Sigma para procesos
de atributos que cuantifica los
defectos esperados en un millón de
oportunidades de error.

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 distribución de Poisson2 con la siguiente fórmula:

La distribución de Poisson y equivale a la probabilidad de cero fallas, es decir:

Estimación por intervalo de los índices de capacidad.

Donde X testada = media y S desv. estándar

De forma específica, los intervalos de confianza para Cp, Cpk y Cpm están dados por:

donde n es el tamaño de muestra y Zα/2 es el percentil de la distribución normal que determina la

confianza de la estimación.

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Método de Transformación de Box-Cox
Otro método para calcular los índices cuando no se cumple normalidad consiste en que primero
se transforman los datos a normalidad usando el método de Box-Cox. Esto se hace mediante
la transformación de potencia definida como:

Estimación de los límites naturales de tolerancia de

un proceso
Límite real inferior (LRI) = μ − 3σ y Límite real superior (LRS) = μ − 3σ

si la distribución del proceso es normal (μ, σ), entonces los límites naturales están dados por:

μ ± Zα/2σ

los límites naturales se calculan con X y S, de la siguiente manera:

X ± Z􀁟/2S

Sin embargo, es posible determinar una constante K tal que con una confianza de γ porciento los
intervalos de la forma:
X ± K( , α)S

si la varianza de cada componente es proporcional a su longitud 𝜎 2 =b1c, entonces:

De aquí que el valor máximo permisible de la varianza para cada componente individual sea:

y si suponemos que los límites naturales y los límites de especificación para los componentes
coinciden exactamente, entonces los límites de especificación para cada componente están dados
por:

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 Combinaciones no lineales (simulación Monte Carlo)

Simulación Monte Carlo x1, x2, ..., xk, es decir, y = h(x1, x2, ..., xk).
Es un método que, mediante la
generación o simulación de
variables aleatorias con las
características de los componentes,
genera la distribución del ensamble
final.

CAPITULO 7: Cartas de control para variables.

Límites de probabilidad
Es cuando los límites de control se
calculan con la distribución de
probabilidades del estadístico para
que logren un porcentaje de
cobertura específico.

LCI = μw − 3σw
Línea central = μw
LCS = μw + 3σw

Cartas de control tipo Shewhart

Gráficas de control cuyos límites se
calculan con LCI = μw − 3σw
y LCS = μw + 3σw; donde W es el
estadístico que se representa en la
carta.

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Cartas de control para variables
Diagramas que se aplican a
variables o características de
calidad de naturaleza continua
(peso, volumen, longitud, etcétera).
Las cartas para variables tipo Shewhart más usuales son:
• X (de medias).
• R (de rangos).
• S (de desviaciones estándar).
• X (de medidas individuales).

Este tipo de características de calidad son monitoreadas

Cartas de control para atributos a través de las cartas de control para atributos:
Diagramas que se aplican al • p (proporción o fracción de artículos defectuosos).
monitoreo de características de • np (número de unidades defectuosas).
• c (número de defectos).
calidad del tipo “pasa, o no pasa”, o
• u (número de defectos por unidad).
donde se cuenta el número de no
conformidades que tienen los
productos
analizados.
Cartas de control X-R
Diagramas para variables que se aplican a procesos masivos, en donde en forma
periódica se obtiene un subgrupo de productos, se miden y se calcula la media y el
rango R para registrarlos analizados.

Límites de control
Valores que se calculan a partir de En el caso de la carta de medias, el estadístico W es la
media de los subgrupos, X, por lo que los límites están
la media y la variación del estadístico
dados por:
grafi cado en la carta, de tal forma
que el mismo caiga entre ellos
con alta probabilidad (99.73%),
mientras el proceso permanezca sin donde μx – representa la media de las medias, y σx la
cambios importantes. desviación estándar de las medias, que en un estudio
inicial se estiman de la siguiente manera:

Calcular σ:

Donde R = rango y d2= es una constante que depende de n.

los límites de control para una carta de control X , en un estudio inicial, se obtienen de la siguiente
manera:

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Cuando ya se conocen la media, μ, y la desviación estándar del proceso, σ, entonces estos límites
para la carta de medias están dados por:

Con la carta R se detectarán cambios en la amplitud o magnitud de la variación del proceso, y sus
límites se determinan a partir de la media y la desviación estándar de los rangos de los subgrupos,
ya que en este caso es el estadístico W se grafica en la carta R. Por ello, los límites se obtienen
con la expresión:

donde μR representa la media de los rangos, y σR la desviación estándar de los rangos, que en
un estudio inicial se estima de la siguiente manera:

donde R
– es la media de los rangos de los subgrupos, σ la desviación estándar del proceso y d3 es una
constante que depende del tamaño de subgrupo.

En forma explícita, los límites de control para la carta R se calculan con:

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 Carta X-S
Diagrama para variables que se
aplican a procesos masivos, en
los que se quiere tener una mayor
potencia para detectar pequeños
cambios. Por lo general, el tamaño
de los subgrupos es n > 10.
A cada subgrupo se le calcula S, que, al ser una
variable aleatoria, sus límites se determinan a partir de
su media y su desviación estándar. Por ello, los límites
se obtienen con la expresión:
donde μS representa la media o valor esperado de S, y
σS la desviación estándar de S, y están dados por:

donde σ es la desviación estándar del proceso y c4 es una constante que depende del tamaño de
subgrupo y está tabulada en el apéndice. La estimación de sigma se hace ahora con:

donde S es la media de las desviaciones estándar de los subgrupos. De esta manera, los límites
de control para una carta S están dados por:

La estimación de σ, basada en la desviación estándar, modifica la forma de obtener los límites de

control en la carta X cuando ésta es acompañada por la carta S. En este caso se obtienen de la
siguiente manera:

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Cambio en el nivel del proceso
Representa un cambio en el
promedio del proceso o en su
variación media, y se detecta cuando
uno o más puntos se salen de los
límites de control o cuando hay una
tendencia constante y clara a que los
puntos caigan de un solo lado de la
línea central.

Tendencias en el nivel del proceso

Representan un desplazamiento
paulatino del nivel medio de un
proceso y se detectan mediante la
tendencia de los puntos consecutivos
de la carta a incrementarse (o
disminuir).

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 indice de inestabilidad, St, se define como:
Proceso inestable
Proceso fuera de control estadístico
que se detecta cuando en la carta
de control los puntos están
fuera de sus límites o siguen un
patrón no aleatorio.
Puntos especiales
Son señales de que una causa
especial ocurrió en el proceso.

Para interpretar el índice de inestabilidad St, se parte de

Índice de inestabilidad, St que su valor ideal es cero,5 que ocurre cuando no hubo
Mide qué tan inestable es un puntos especiales. Si todos los puntos graficados fueran
proceso y se obtiene dividiendo el especiales, entonces el valor del índice St sería 100.
número de puntos especiales entre
el total de puntos graficados en una
carta.

Carta de individuales Ejemplos de este tipo de procesos son:

• Procesos químicos que trabajan por lotes.
Es un diagrama para variables de
• Industria de bebidas alcohólicas, en las que deben
tipo continuo que se aplica a pasar desde una hasta más de 100 horas
procesos lentos, donde hay un para obtener resultados de los procesos de fermentación
y destilación.
espacio largo de tiempo entre una • Procesos en los que las mediciones cercanas sólo
medición y la siguiente. difieren por el error de medición. Por ejemplo,
temperaturas en procesos, humedad relativa en el medio
ambiente, etcétera.
• Algunas variables administrativas cuyas mediciones se obtienen cada día, cada semana o más.
Por ejemplo, mediciones de productividad, de desperdicio, de consumo de agua, electricidad,
combustibles, etcétera.
Es decir, los límites de control, es este caso, coinciden por definición con los límites reales. En un
estudio inicial estos parámetros se estiman de la siguiente manera:

donde X es la media de las mediciones, y R es la media de los rangos móviles de orden 2 (rango
entre dos observaciones sucesivas en el proceso, De lo anterior se concluye que los límites de
control para una carta de individuales están dados por:

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 Carta de rangos móviles Carta de precontrol
Carta que acompaña a la carta de Diagrama para variables con

individuales, y en ella se grafica el doble especificación en donde

rango móvil de orden 2. Es de se grafican las mediciones

utilidad para detectar cambios en la individuales,

dispersión del proceso. utiliza las especificaciones

como límites de control y se aplica
cuando Cpk > 1.15.

CAPITULO 8: CARTAS DE CONTROL PARA ATRIBUTOS

Carta p Artículo defectuoso

Muestra las variaciones en la Es un producto que no reúne ciertos
fracción de artículos defectuosos atributos, por lo que no se permite
por muestra o subgrupo; es que pase a la siguiente etapa
ampliamente utilizada para evaluar del proceso; puede ser reprocesado
el desempeño de procesos. o de plano desechado.

La idea de la carta p es la siguiente:

• De cada lote, embarque, pedido o de cada cierta parte de la producción, se toma una
muestra o subgrupo de ni artículos, que puede ser la totalidad o una parte de las piezas
bajo análisis.
• Las ni piezas de cada subgrupo son inspeccionadas y cada una es catalogada como
defectuosa o no. Pueden incluirse varias características o atributos de calidad por los que
una pieza es evaluada como defectuosa. Una vez determinados los atributos bajo análisis,
es preciso aplicar criterios y/o análisis bien definidos y estandarizados.
• Si de las ni piezas del subgrupo i se encuentra que di son defectuosas (no pasan),
entonces en la carta p se gráfica y se analiza la variación de la proporción pi de unidades
defectuosas por subgrupo:

de acuerdo con la distribución binomial se sabe que la media y la desviación estándar de una
proporción están dadas, respectivamente, por:

donde n es el tamaño de subgrupo y p– es la proporción promedio de artículos defectuosos en el

proceso. De acuerdo con esto, los límites de control de la carta p con tamaño de subgrupo
constante, están dados por:

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Límites de la carta p
Indican la variación esperada para
la proporción de artículos
defectuosos por subgrupo. Se
calculan a partir de la distribución
binomial y su aproximación a la
distribución normal.
n = Total de inspeccionados/ Total de subgrupos.

Carta 100p Para el valor ni los límites están dados por:

Es equivalente a la carta p, pero en
lugar de las proporciones se registra
y analiza el porcentaje de artículos
defectuosos por subgrupo.
Carta p con límites variables
Se aplica cuando el tamaño de
subgrupo ni es muy variable; para
cada ni diferente se calculan límites
de control.

Carta p normalizada
En esta carta se grafi ca la
proporción estandarizada y se
utiliza cuando el tamaño de
subgrupo ni es muy variable.
Una forma de superar la situación de tener diferentes límites
de control es usar una carta p normalizada o estandarizada, en
la cual, en lugar de graficar la proporción muestral pi, se grafica
la proporción estandarizada:

Los límites de control para la carta np se obtienen estimando la media y la desviación estándar de
di, que bajo el supuesto de distribución binomial están dadas por:

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Carta np donde n es el tamaño de subgrupo y p– es la proporción promedio
de artículos defectuosos. De aquí que los límites de control de la
Diagrama que analiza el número de carta np estén dados por:
defectuosos por subgrupo; se aplica
cuando el tamaño de subgrupo
es constante.
Límites de la carta np
Indican la cantidad esperada de
piezas defectuosas por cada
muestra de n componentes
inspeccionados,

Modificación en el cálculo de los límites de control de las cartas p y np para

mejorar su aproximación a la normalidad.
Los límites para las cartas p y np se fundamentan en la distribución binomial y en su aproximación
por la distribución normal. Esta modificación consiste en obtener el límite de control superior
modificado (LCS*) de la carta np de la siguiente manera:

donde EM[x] es la función mayor entero o igual que x, que a un número entero lo deja igual, pero a
un número no entero lo convierte en el entero inmediato mayor a tal número. La línea central se
calcula de la forma tradicional y el límite de control inferior modificado (LCI*) está dado por:

donde S* se obtiene de dividir entre tres la distancia entre la línea central y el LCS*, esto es,

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e esta manera, las zonas de la carta de control tendrán una amplitud igual a S*. Por su parte, el
límite de control superior modificado (LCS´) para una carta p está dado por:

La línea central es p–, y el límite de control inferior modificado (LCI´) es

Los límites de control se obtienen suponiendo que el

Carta c estadístico ci sigue una distribución de Poisson; por lo
tanto, las estimaciones de la media y la desviación
Su objetivo es analizar la
estándar de este estadístico están dadas por:
variabilidad del número de defectos
por subgrupo o unidad con un
tamaño de subgrupo constante.
por ello, los límites de control de la carta c se obtienen
con las expresiones

Carta u
Analiza la variación del número
promedio de defectos por artículo
o unidad de referencia. Se usa
cuando el tamaño del subgrupo no
es constante..
Así, en esta carta, un subgrupo lo forman varias
unidades. De manera que para cada subgrupo se grafica
donde ci es la cantidad de defectos en el subgrupo i y ni
es el tamaño del subgrupo i. Para calcular los límites es
necesario estimar la media y la desviación estándar del
estadístico ui, que bajo el supuesto de que ci sigue una
distribución Poisson, resultan ser:

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Donde n es el tamaño de subgrupo. De esta manera, los límites de control en la carta u están
dados por:

Carta u con límites variables

Se aplica cuando el tamaño de
subgrupo ni es muy variable. Para
cada ni se calculan los límites de
control correspondientes.

Carta u estandarizada.

20
21
22