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CT SB2 User Manual PDF
CT SB2 User Manual PDF
2 OMICRON
Contenido
Contenido
OMICRON 3
Manual del usuario de CT SB2
4 OMICRON
Acerca de este manual
Símbolos de seguridad
En este manual, los siguientes símbolos indican instrucciones de seguridad para evitar riesgos.
PELIGRO
Si no se cumplen las instrucciones de seguridad, se producirán lesiones graves o incluso
la muerte.
AVISO
Si no se cumplen las instrucciones de seguridad, se pueden producir lesiones graves o
incluso la muerte.
PRECAUCIÓN
Si no se cumplen las instrucciones de seguridad, se pueden producir lesiones leves o
moderadas.
NOTIFICACIÓN
Posibilidad de daños en los equipos o pérdida de datos
OMICRON 5
Manual del usuario de CT SB2
Documentos relacionados
Los siguientes documentos completan la información que se ofrece en el Manual del usuario de
CT SB2:
Título Descripción
Manual del usuario de Incluye información sobre cómo utilizar y manejar CT Analyzer así
CT Analyzer como instrucciones de seguridad para trabajar con CT Analyzer.
Ayuda de CT Analyzer Suite Contiene información detallada sobre el software CT Analyzer Suite.
6 OMICRON
Instrucciones de seguridad
1 Instrucciones de seguridad
1.1 Cualificación de los operadores
El trabajo con equipos de potencia de alta tensión puede ser extremadamente peligroso. Debido a ello,
solo el personal cualificado en ingeniería eléctrica y formado por OMICRON tiene autorización para la
caja de conexiones CT SB2. Antes de comenzar el trabajo, establezca claramente las
responsabilidades.
El personal no experimentado en la realización de pruebas de la caja de conexiones CT SB2 debe estar
en todo momento bajo la supervisión de un operador experimentado mientras trabaja con el equipo. El
operador supervisor debe conocer el equipo y las normas del lugar. El operador es responsable de las
medidas de seguridad durante toda la prueba.
OMICRON 7
Manual del usuario de CT SB2
8 OMICRON
Instrucciones de seguridad
► Nunca conecte ni desconecte un equipo en prueba mientras estén activas las salidas de
CT Analyzer que haya conectado.
► Cuando desconecte los cables, empiece siempre por el dispositivo que suministra la corriente.
► Para una protección contra corrientes o tensiones parásitas, conecte siempre el conector
equipotencial de CT SB2 a la conexión a tierra de protección (PE). Utilice únicamente el conjunto
de cables original suministrado por OMICRON.
► Compruebe que los terminales del equipo en prueba que se van a conectar a CT SB2 no
transportan tensión potencial. En una prueba, CT Analyzer (con CT SB2 conectado) es la única
fuente de alimentación permitida para el equipo en prueba.
► Utilice únicamente cables con conectores de seguridad de punta cónica de 4mm y carcasa de
plástico para realizar la conexión a los conectores hembra de entrada/salida del panel frontal.
► Aceptar las normas también conlleva seguir las instrucciones de este Manual del usuario.
Observe lo siguiente al realizar pruebas:
► Impida la presencia de otras personas en el área potencialmente peligrosa alrededor del equipo en
prueba.
► Si es necesario, tome medidas de precaución adicionales de acuerdo con las normas pertinentes,
por ejemplo, defina un área de alta tensión alrededor del equipo en prueba y asegure el área para
evitar accesos no autorizados con una barrera de cadena y una señal de advertencia.
► Inicie la prueba solo si se tomaron todas las precauciones de seguridad y si está completamente
seguro de que no hay nadie en el área potencialmente peligrosa alrededor del equipo en prueba.
OMICRON 9
Manual del usuario de CT SB2
1.8 Reciclaje
Este dispositivo (incluidos todos sus accesorios) no está destinado al uso
doméstico. Al terminar su vida útil, no deseche el dispositivo como si fuera
un residuo doméstico.
Para clientes en países de la UE (incl. el Espacio Económico Europeo)
Los dispositivos OMICRON están supeditados a la directiva sobre residuos de
aparatos eléctricos y electrónicos 2012/19/UE (directiva RAEE). Como parte de
nuestras obligaciones legales en virtud de esta legislación, OMICRON ofrece la
recogida de la unidad de prueba que se deseche mediante agentes de reciclaje
autorizados.
Para clientes fuera del Espacio Económico Europeo
Póngase en contacto con las autoridades competentes en materia medioambiental
de su país y deseche el equipo de prueba de OMICRON de acuerdo con los
requisitos legales.
10 OMICRON
Introducción y uso previsto
Nota:
La función Prueba Quick incluida en CT Analyzer y CT Analyzer Suite no se pueden utilizar con la caja
de conexiones CT SB2.
OMICRON 11
Manual del usuario de CT SB2
3 Hardware
3.1 Componentes funcionales de CT SB2
Consulte también
Figura 3-2
12 OMICRON
Hardware
Figura 3-2: Vista lateral de CT SB2 con unidad de conexión a la red eléctrica, interfaces de PC y CTA,
y conector equipotencial
CARGA
CTA
RS232 CTA
Control
RS232 PC
Red
eléctrica Alimentación
eléctrica
OMICRON 13
Manual del usuario de CT SB2
Accesorio Descripción
1 cable de 6 polos Cable para conectar CT SB2 con
CT Analyzer
14 OMICRON
Configuración de medidas
4 Configuración de medidas
4.1 Observaciones generales
Al conectar el TC con la caja de conexiones CT SB2, siga también los consejos de cableado indicados
en el manual del usuario de CT Analyzer.
Conecte únicamente un TC con CT SB2. Desconecte y retire el cableado que no se utilice de CT SB2
y del TC después de realizar las pruebas.
Con la caja de conexiones CT SB2 se pueden realizar pruebas TC, medidas de carga y medidas de la
resistencia del devanado principal por separado (por ejemplo, mediante procedimientos de prueba
independientes) o combinadas en una secuencia de prueba. Figura 4-2 y Figura 4-3 muestran el
cableado básico necesario para las pruebas TC. Para medir la carga y la resistencia del devanado
primario junto con la prueba de TC, es necesario el cableado adicional mostrado en la Figura 4-4 y
Figura 4-5 (modo de prueba avanzada de MR únicamente).
La ventaja de utilizar CT SB2 para pruebas de TC de relación única es la opción de incluir medidas de
carga y/o medidas de resistencia del devanado primario en la prueba sin tener que realizar cambios en
el cableado durante el procedimiento de prueba. Si no desea realizar una medida de carga o una
medida de resistencia del devanado primario, es recomendable utilizar los modos normales de prueba
de relación única de CT Analyzer, sin utilizar CT SB2.
Si no utiliza la caja de conexiones CT SB2 para las pruebas de TC con CT Analyzer, desconecte
todos los cables conectados a CT SB2 de CT Analyzer (incluido el cable de conexión de datos
conectado a la interfaz de control remoto de CT Analyzer).
AVISO
La alta tensión o la corriente pueden provocar la muerte o lesiones graves
Mezclar accidentalmente los devanados principales y secundarios puede generar
tensiones potencialmente letales o dejar inservible el TC conectado, la caja de
conexiones CT SB2 o la unidad de prueba CT Analyzer.
► Al medir la relación de los transformadores de corriente, compruebe que la tensión de
prueba alcanza el devanado secundario correspondiente, y que el devanado principal
está conectado a la entrada de medida correspondiente.
AVISO
La alta tensión o la corriente pueden provocar la muerte o lesiones graves
Proporcionar tensión de prueba a un TC puede desencadenar tensiones altamente
peligrosas en otras tomas o núcleos del TC.
► No toque otras tomas ni devanados del TC durante la prueba.
► Al probar TC de varios núcleos, asegúrese de que no hay otros devanados del TC
abiertos. Deje los devanados secundarios de otros núcleos (no medidos) conectados
o cortocircuítelos si los devanados están abiertos.
► Conecte siempre las tomas o los devanados secundarios a la caja de conexiones
CT SB2 para garantizar la seguridad durante las pruebas.
OMICRON 15
Manual del usuario de CT SB2
AVISO
La alta tensión o la corriente pueden provocar la muerte o lesiones graves
Observe lo siguiente al realizar pruebas:
► Impida la presencia de otras personas en el área potencialmente peligrosa alrededor
del equipo en prueba.
► Si es necesario, tome medidas de precaución adicionales de acuerdo con las normas
pertinentes, por ejemplo, defina un área de alta tensión alrededor del equipo en
prueba y asegure el área para evitar accesos no autorizados con una barrera de
cadena y una señal de advertencia.
► Inicie la prueba solo si se tomaron todas las precauciones de seguridad y si está
completamente seguro de que no hay nadie en el área potencialmente peligrosa
alrededor del equipo en prueba.
16 OMICRON
Configuración de medidas
CTA
CT SB2 CT Analyzer
con PC
RS232 (conexión crossover) USB A/B
CT SB2 CT Analyzer
CT Analyzer CT SB2
o
PC
con PC
RS232 (1:1)
OMICRON 17
Manual del usuario de CT SB2
X5
P2
X4
Carga
X3
P1 Cableado para la medida de carga;
X2 consulte Figura 4-4
X1
*
*
* Si desea obtener más información sobre cómo conectar el enlace de comunicación entre CT SB2 y CT Analyzer, consulte
la sección 4.2 en la página 17.
Figura 4-2: Configuración de medida básica para pruebas de TC de relación múltiple (TC de 6 tomas,
sin medida de carga, sin medida de resistencia del devanado primario)
AVISO
La alta tensión o la corriente pueden provocar la muerte o lesiones graves
Proporcionar tensión de prueba a un TC puede desencadenar tensiones altamente
peligrosas en otras tomas o núcleos del TC.
► No toque otras tomas ni devanados del TC durante la prueba.
► Al probar TC de varios núcleos, asegúrese de que no hay otros devanados del TC
abiertos. Deje los devanados secundarios de otros núcleos (no medidos) conectados
o cortocircuítelos si los devanados están abiertos.
► Conecte siempre las tomas o los devanados secundarios a la caja de conexiones
CT SB2 para garantizar la seguridad durante las pruebas.
18 OMICRON
Configuración de medidas
TC
X2
P2
Carga
P1 Cableado para la medida de carga; consulte Figura 4-4
X1
*
*
* Si desea obtener más información sobre cómo conectar el enlace de comunicación entre CT SB2 y CT Analyzer, consulte
la sección 4.2 en la página 17.
Figura 4-3: Configuración de medida básica para pruebas de TC de relación única (sin medida de carga,
sin medida de resistencia del devanado primario)
OMICRON 19
Manual del usuario de CT SB2
TC
X6
X5
P2
X4
Carga
X3
P1
X2
X1
Cableado TC básico;
consulte Figura 4-2 o Figura 4-3
*
*
* Si desea obtener más información sobre cómo conectar el enlace de comunicación entre CT SB2 y CT Analyzer, consulte
la sección 4.2 en la página 17.
20 OMICRON
Configuración de medidas
TC
X6
X5
P2
X4
X3
Carga
P1
X2
X1
Cableado TC básico;
consulte Figura 4-2 o Figura 4-3
*
*
* Si desea obtener más información sobre cómo conectar el enlace de comunicación entre CT SB2 y CT Analyzer, consulte la
sección 4.2 en la página 17.
Figura 4-5: Cableado adicional requerido para la medida de resistencia del devanado primario
OMICRON 21
Manual del usuario de CT SB2
Parámetro Descripción
I-pn Corriente primaria nominal.
I-sn Corriente secundaria nominal.
Norma Norma conforme a la cual se tiene que realizar la prueba.
f Frecuencia nominal del TC.
P/M Tipo de TC. Introduzca "P" para un TC de protección y "M" para un TC de
medición.
Clase Clase de precisión nominal del TC.
Consulte la tabla 8-3 de la página 39 para ver información detallada sobre los parámetros.
La ejecución de la prueba no es compatible si no hay datos especificados en el parámetro I-pn.
Todos los demás parámetros pueden asignarse con valores predeterminados y deben adaptarse en
consonancia.
22 OMICRON
Prueba de TC en modo de prueba de MR ("nueva prueba de MR")
5. Abra la tarjeta Configuración de MR (consulte Figura 5-2) y configure la prueba de relación múltiple
según el TC que se está sometiendo a prueba.
Parámetro Descripción
Número de Seleccione el número total de conexiones de toma disponibles en el TC de
tomas relación múltiple utilizando las teclas configurables.
Toma en uso Seleccione la combinación de tomas utilizada durante el funcionamiento del TC
(por ejemplo, X1-X5) a través de las teclas configurables. Por defecto, el
campo "Toma en uso" está establecido en la combinación de tomas completa.
Al concluir la prueba, la tarjeta Resultados de la prueba mostrará los
resultados de la combinación de tomas seleccionada en este campo.
Tomas Esta columna enumera todas las combinaciones de toma posibles del TC (por
ejemplo, X1-X5, X1-X4, X1-X3...). El número de combinaciones de tomas
disponibles depende del número de tomas especificado en el campo
"Número de tomas".
Cuando la ficha de la tarjeta Configuración de MR está resaltada, puede
seleccionar X1 o se utilizará la toma más alta disponible como la toma común.
La toma común predefinida puede seleccionarse en la configuración del
dispositivo de CT Analyzer; consulte el capítulo 7 en la página 33.
La tecla configurable Mostrar Tomas Interm. permite mostrar las
combinaciones de tomas intermedias en lugar de las combinaciones de tomas.
Si se muestran las combinaciones de tomas intermedias, la tecla configurable
cambia a Mostrar Tomas.
Ipn : Isn (A) Introduzca la relación nominal para cada combinación de tomas por separado.
Se debe especificar Ipn para cada combinación de tomas que aparece en esta
columna. Isn se toma de la tarjeta CT-Objeto.
Los datos para la combinación de tomas completa únicamente pueden
establecerse en la tarjeta CT-Objeto.
Prueba Utilice esta columna para seleccionar las combinaciones de tomas que desea
medir durante la prueba. Puede activar o desactivar cada combinación de toma
única por separado (no se puede desactivar la combinación de tomas
completa). Al desactivar las combinaciones de tomas no utilizadas, se
disminuye la duración de la prueba.
OMICRON 23
Manual del usuario de CT SB2
24 OMICRON
Prueba de TC en modo de prueba de MR ("nueva prueba de MR")
2. Abra la tarjeta Resultados de MR para ver datos detallados para las distintas combinaciones de
tomas del TC de relación múltiple. Puede cambiar esta tarjeta para que muestre los resultados de
relación (por ejemplo, relación del devanado, error de relación y de fase, etc.) o los resultados de la
excitación (por ejemplo, Vkn, Ikn, etc.).
Figura 5-5: Tarjeta Resultados de MR con los resultados de la relación (izquierda) y los resultados
de la excitación (derecha)
Para obtener una descripción detallada de esta tarjeta, consulte la sección 8.3 en la página 41.
3. Abra la tarjeta CT-Objeto e introduzca los datos de "Ubicación" y "Objeto". A continuación, pulse la
tecla ESC para centrarse en la ficha de la tarjeta CT-Objeto y guardar su prueba.
Figura 5-6: Tarjeta CT-Objeto una vez finalizada la prueba, lista para introducir los detalles de
ubicación
OMICRON 25
Manual del usuario de CT SB2
26 OMICRON
Prueba de TC en modo de prueba avanzada de MR ("nueva prueba avanzada de MR")
2. Utilice la tarjeta CT-Objeto para especificar los datos de TC de acuerdo con la placa de nombre del
TC. Especifique los datos según el orden indicado en la siguiente tabla.
Parámetro Descripción
I-pn Corriente primaria nominal para la combinación de tomas completa del TC y la
corriente secundaria nominal del TC.
I-sn
Los datos del TC para la combinación de tomas completa únicamente pueden
establecerse en la tarjeta CT-Objeto.
Si la norma seleccionada es IEEE C57.13 y el "Número de tomas" está
establecido en 5 o 3 en la tarjeta Configuración de MR, CT Analyzer ofrece
teclas configurables con relaciones predefinidas cuando el campo "I-pn" se
selecciona con el cursor. Si selecciona uno de estos esquemas de relación
múltiple predefinidos, CT Analyzer especificará automáticamente las relaciones
para todas las combinaciones de tomas en la tarjeta Configuración de MR.
Si la norma seleccionada no es IEEE C57.13, introduzca los valores para Ipn y Isn
manualmente.
Norma Norma que se usará para la prueba del TC y la evaluación de la prueba.
P/M Tipo de TC. Introduzca "P" para un TC de protección y "M" para un TC de
medición.
Clase Clase de precisión nominal del TC. Este campo estará disponible tras
seleccionar el tipo de TC (TC de protección o de medición).
VA (o Vb) Carga nominal de la combinación de tomas completa del TC.
cos ϕ Para los TC de protección de IEEE C57.13, clases C, K y T, introduzca la tensión
nominal del terminal secundario Vb en lugar de VA. A continuación, CT Analyzer
calculará el valor de VA automáticamente.
El cos ϕ para la carga nominal se selecciona automáticamente según la norma.
OMICRON 27
Manual del usuario de CT SB2
Parámetro Descripción
Carga Carga funcional y cos ϕ de la toma en uso.
cos ϕ Si el valor de la carga funcional conectada está disponible, introduzca los valores
en estos campos. Si mide la carga durante la prueba de TC a través de la función
de medición de la carga de CT Analyzer, estos campos se completarán
automáticamente.
Si no indica ningún valor en estos campos, CT Analyzer utilizará
automáticamente los mismos valores que para la carga nominal.
3. Abra la tarjeta Configuración de MR (consulte Figura 6-2) y configure la prueba según el TC que
se está sometiendo a prueba.
Parámetro Descripción
Número de Seleccione el número total de conexiones de toma disponibles en el TC de
tomas relación múltiple utilizando las teclas configurables.
Si el número de tomas seleccionadas es 5 o 3, CT Analyzer presenta las teclas
configurables con las relaciones de TC predefinidas cuando el campo "I-pn" se
selecciona en la tarjeta CT-Objeto.
Toma en uso Seleccione la combinación de tomas utilizada durante el funcionamiento del TC
(por ejemplo, X1-X5) a través de las teclas configurables. Por defecto, el
campo "Toma en uso" está establecido en la combinación de tomas completa.
Para la combinación de tomas seleccionada aquí, CT Analyzer muestra los
resultados de prueba detallados en las tarjetas Resistencia, Excitación y
Relación. La evaluación de prueba automática de la tarjeta Evaluación
siempre se realiza para la combinación de tomas completa dada por el
Número de tomas (por ejemplo, para X1-X5 si el número de tomas = 5).
28 OMICRON
Prueba de TC en modo de prueba avanzada de MR ("nueva prueba avanzada de MR")
Parámetro Descripción
Tomas Esta columna enumera todas las combinaciones de toma posibles del TC (por
ejemplo, X1-X5, X1-X4, X1-X3...). El número de combinaciones de tomas
disponibles depende del número de tomas especificado en el campo
"Número de tomas".
Cuando la ficha de la tarjeta Configuración de MR está resaltada, puede
seleccionar X1 o se utilizará la toma más alta disponible como la toma común.
La toma común predefinida puede seleccionarse en la configuración del
dispositivo de CT Analyzer; consulte el capítulo 7 en la página 33.
La tecla configurable Mostrar Tomas Interm. permite mostrar las
combinaciones de tomas intermedias en lugar de las combinaciones de tomas.
Si se muestran las combinaciones de tomas intermedias, la tecla configurable
cambia a Mostrar Tomas.
Ipn : Isn (A) Introduzca la relación nominal para cada combinación de tomas por separado.
Si ha seleccionado un esquema de relación múltiple predefinido para
IEEE C57.13 en la tarjeta CT-Objeto, esta columna se completará
automáticamente con relaciones predefinidas para todas las combinaciones de
tomas.
Si ha introducido Ipn y Isn manualmente en la tarjeta CT-Objeto, debe
especificar en esta columna el Ipn para cada combinación de tomas. Isn
siempre se toma de la tarjeta CT-Objeto.
CT Analyzer efectúa automáticamente una comprobación de plausibilidad para
las relaciones introducidas por el usuario. Por ejemplo, se muestra un mensaje
de error si el Ipn introducido para X1-X3 es superior al Ipn especificado para
X1-X4.
Los datos para la combinación de tomas completa únicamente pueden
establecerse en la tarjeta CT-Objeto.
OMICRON 29
Manual del usuario de CT SB2
Parámetro Descripción
VA Carga nominal para cada combinación de tomas.
cos ϕ
Para obtener los resultados de medición correctos, las cargas nominales de las
combinaciones internas de tomas (por ejemplo, X1-X2, etc.) deben ser
menores que la carga nominal para la combinación de tomas completa de
acuerdo con las relaciones de devanado de las combinaciones de toma (por
ejemplo, 25 VA para X1-X5, 12,5 VA para X1-X4, etc.). CT Analyzer admite
esta situación gracias a una función automática.
Tan pronto como la corriente primaria Ipn se especifica para una combinación
o
de tomas, CT Analyzer calcula y establece automáticamente la carga nominal y
cos ϕ correspondientes para esta combinación de tomas. El usuario puede
modificar manualmente la carga nominal (VA) que asigna automáticamente
CT Analyzer para todas las combinaciones de tomas y tomas intermedias
excepto la combinación de tomas completa.
La columna "VA" se muestra por defecto cuando se abre la tarjeta
Configuración-de MR por primera vez tras inicializar una nueva prueba en el
modo de prueba avanzada de MR. El uso de la tecla configurable Carga Func.
permite visualizar la columna "Carga".
Carga Carga funcional y cos ϕ para cada combinación de tomas.
cos ϕ
Esta columna muestra la carga funcional y cos ϕ especificadas en la tarjeta
CT-Objeto para cada combinación de tomas. El usuario no puede modificar
estos valores.
La columna "Carga" se muestra si el usuario selecciona mostrar la carga
funcional a través de la tecla programable Carga Func.
Prueba Utilice esta columna para seleccionar las combinaciones de toma que desea
medir durante la prueba de TC. Puede activar o desactivar cada combinación
de toma única por separado (no se puede desactivar la combinación de tomas
completa). Al desactivar las combinaciones de tomas no utilizadas, se
disminuye la duración de la prueba.
4. Inicie la prueba pulsando la tecla en CT Analyzer. El LED rojo de CT Analyzer parpadea para
indicar que la prueba de TC está en curso.
30 OMICRON
Prueba de TC en modo de prueba avanzada de MR ("nueva prueba avanzada de MR")
OMICRON 31
Manual del usuario de CT SB2
La tarjeta Resultados de MR muestra datos detallados para las distintas combinaciones de tomas del
TC de relación múltiple. Puede cambiar esta tarjeta para que muestre los resultados de relación (por
ejemplo, relación del devanado, error de relación y de fase, etc.) o los resultados de la excitación (por
ejemplo, Vkn, Ikn, etc.).
Para obtener una descripción detallada de esta tarjeta, consulte la sección 9.3 en la página 56.
CT Analyzer calcula los resultados de la carga funcional (parámetro "Carga" de la tarjeta CT-Objeto) y
de la carga nominal (parámetro "VA" de la tarjeta CT-Objeto). En función de la carga seleccionada, la
tarjeta Resultados de MR muestra los resultados calculados con la carga nominal o con la carga
funcional.
Figura 6-5: Tarjeta Resultados de MR con los resultados de la relación (izquierda) y los resultados de
la excitación (derecha)
Sugerencia: Es posible simular el rendimiento del TC para otros valores de carga que no sea la carga
nominal si se modifica el valor "Carga" en la tarjeta CT-Objeto. CT Analyzer efectuará a continuación
un nuevo cálculo de los resultados mostrados en la tarjeta Resultados de MR para la nueva carga
funcional.
En la tarjeta CT-Objeto, introduzca la información de "Ubicación" y "Objeto" y guarde la prueba (utilice
las teclas de cursor para desplazarse en la tarjeta y seleccione los campos de edición).
En la tarjeta Evaluación, es posible visualizar la evaluación de los resultados de la medición para la
combinación de tomas completa.
Si lo desea, puede visualizar los resultados de medición para la toma en uso seleccionada en la tarjeta
Configuración de MR si visualiza las tarjetas Resistencia, Excitación y Relación.
32 OMICRON
Ajustes por defecto de CT Analyzer para pruebas de TC de relación múltiple con CT SB2
múltiple. La página Ajustar modo de inicio tiene el aspecto mostrado en Figura Menú Principal:
- Ajustes
7-1. Tecla configurable
Selecc.
Menú Ajustes:
- Seleccionar modo
de inicio
Tecla configurable
Selecc.
-> página
Ajustar modo de
inicio
Modifique los ajustes por defecto según sea necesario y pulse la tecla configurable Atrás para aplicar
los ajustes.
OMICRON 33
Manual del usuario de CT SB2
Opción Descripción
Prueba de inicio Utilice la opción Prueba de inicio junto con la opción Modo de inicio para
seleccionar el modo de prueba predeterminado que aparece en CT Analyzer
y
cada vez que se enciende.
Modo de inicio Prueba de inicio: Seleccione Prueba de TC, Prueba avanzada de TC o
Quick.
Modo de inicio: Seleccione Relación única o Relación múltiple.
► El modo Prueba de TC de relación única y el modo Prueba avanzada
de TC de relación única corresponden a las opciones del menú principal de
CT Analyzer "Nueva prueba de TC" y "Nueva prueba avanzada de TC".
→ Consulte el Manual del usuario de CT Analyzer.
► El modo Prueba de TC de relación múltiple y el modo Prueba avanzada
de TC de relación múltiple corresponden a las opciones del menú principal
de CT Analyzer "Nueva prueba de MR" y "Nueva prueba avanzada de MR".
Al seleccionar un modo de prueba de relación múltiple, se muestran los
parámetros adicionales "Número de tomas" y "Toma común" que se
describen a continuación.
→ Consulte el capítulo 5 en la página 22 para ver el modo de prueba de TC
de relación múltiple.
→ Consulte el capítulo 6 en la página 26 para ver el modo de prueba
avanzada de TC de relación múltiple.
► Quick: Al seleccionar el modo Prueba rápida, se ocultarán las opciones de
Modo de inicio, Número de tomas y Toma común porque la función
Prueba rápida no se puede utilizar con la caja de conexiones CT SB2.
Número de tomas Solo disponible si el Modo de inicio = Relación múltiple
El número de tomas es el número total de conexiones de toma disponible en
TC de relación múltiple.
Seleccione el número de tomas predeterminado mediante las teclas
configurables N.º toma 2 a N.º toma 6.
El número de tomas definido aquí se aplica por defecto para las nuevas
pruebas de relación múltiple inicializadas en el modo de prueba de MR o el
modo de prueba avanzada de MR.
Toma común Solo disponible si el Modo de inicio = Relación múltiple
La toma común es la toma que se utiliza como referencia para todas las
combinaciones de tomas (por ejemplo, X1-X2, X1-X3, X1-X4, etc. si la toma
común es X1).
Seleccione la toma común por defecto mediante las teclas configurables X1 y
X#, donde # es el número de toma más alto disponible, en función del número
de tomas seleccionado.
La toma común definida aquí se aplica por defecto para las nuevas pruebas de
relación múltiple inicializadas en el modo de prueba de MR o el modo de
prueba avanzada de MR.
34 OMICRON
Tarjetas de prueba de CT Analyzer para el modo de prueba de MR
OMICRON 35
Manual del usuario de CT SB2
Figura 8-1: Tarjeta CT-Objeto con los datos de la placa del nombre introducidos
Parámetro Descripción
I-pn Corriente primaria nominal para la combinación de tomas completa del TC y la
corriente secundaria nominal del TC. Estos valores especifican la relación de toma
I-sn
completa mostrada en la tarjeta Configuración-de MR. La relación de toma completa
del TC únicamente puede especificarse y/o modificarse aquí.
Valores posibles de I-pn: 1 a 99000A.
Valores posibles de I-sn: 0,05 a 25A o teclas configurables 1,0A, 2,0A, 5,0A, 1,0A/√3,
2,0A/√3, 5,0A/√3. Valor por defecto: Definido en los ajustes de prueba por defecto.
Para IEEE C57.13 únicamente:
Si la norma seleccionada es IEEE C57.13 y el "Número de tomas" está establecido en
3 o 5 en la tarjeta Configuración de MR, CT Analyzer ofrece teclas configurables con
relaciones predefinidas de TC de 3 o 5 tomas cuando el campo "I-pn" se selecciona
con el cursor.
Si selecciona uno de estos esquemas de relación múltiple predefinidos, CT Analyzer
especificará automáticamente las relaciones para todas las combinaciones de tomas
en la tarjeta Configuración de MR. Por ejemplo, si se selecciona la tecla configurable
1200 : 5 A, resultarán relaciones nominales de 1200 : 5, 1000 : 5, 900 : 5 y 400 : 5.
Si selecciona el esquema de relación múltiple predefinido, posiblemente se
sobrescribirá la configuración de Ipn e Isn en la tarjeta CT-Objeto y las relaciones de la
tarjeta Configuración de MR.
Norma Norma conforme a la cual se tiene que realizar la prueba.
Valores posibles: Teclas configurables IEC 60044-1, IEC 60044-6, IEEE C57.13 o
IEC 61869-2
Valor por defecto: Norma definida en los ajustes de prueba por defecto.
f Frecuencia nominal del TC.
Valores posibles: Valor entre 16 y 400 Hz o teclas configurables 16.7Hz, 50Hz, 60Hz
o 400Hz.
Valor por defecto: frecuencia definida en los ajustes de prueba por defecto.
36 OMICRON
Tarjetas de prueba de CT Analyzer para el modo de prueba de MR
Tabla 8-1: Parámetros y ajustes de la tarjeta CT-Objeto para el modo de prueba de MR (continuación)
Parámetro Descripción
P/M Definición del tipo de TC: TC de protección o medición.
Valores posibles: Teclas configurables Prot. TC, Med. TC.
Valor por defecto: Definido en los ajustes de prueba por defecto.
Clase Clase de precisión del TC.
Valores posibles: Según la norma seleccionada.
Valor por defecto: Definido en los ajustes de prueba por defecto.
OMICRON 37
Manual del usuario de CT SB2
Tecla Descripción
configurable
La tecla configurable Común Toma a X# permite seleccionar la toma común (por
ejemplo, la toma X5 en lugar de la toma por defecto X1). La toma común es la toma
que se utiliza como referencia para todas las combinaciones de tomas (por ejemplo,
X1-X2, X1-X3, X1-X4, etc. si la toma común es X1).
Si la toma más alta (por ejemplo, X5) está seleccionada como la toma común, la
tecla configurable cambia a Común Toma a X1.
La toma común por defecto se puede seleccionar con la opción Seleccionar modo
de inicio del menú de ajustes; consulte el capítulo 7 en la página 33.
Use la tecla configurable Mostrar Tomas Interm. para mostrar las combinaciones de
tomas intermedias en lugar de las combinaciones de tomas. Si se muestran las
combinaciones de tomas intermedias, la tecla configurable se etiqueta como
Mostrar Tomas.
Ejemplos de combinaciones de tomas: X1-X2, X1-X3, X1-X4, etc.
Ejemplos de combinaciones de tomas intermedias: X2-X3, X2-X4, X3-X4, etc.
38 OMICRON
Tarjetas de prueba de CT Analyzer para el modo de prueba de MR
Parámetro Descripción
Número de tomas Número total de conexiones de toma disponibles en el TC de relación múltiple.
Valores posibles: Teclas configurables N.º tomas 2, N.º tomas 3, N.º tomas 4,
N.º tomas 5 o N.º tomas 6.
El número de tomas predeterminado se puede seleccionar con la opción
Seleccionar modo de inicio del menú de ajustes; consulte el capítulo 7 en la
página 33.
Si se está realizando una prueba TC de relación única con la caja de conexiones
CT SB2, seleccione N.º tomas 2. Sin embargo, se recomienda realizar la prueba
de TC de relación única con el modo de prueba de TC de relación única normal de
CT Analyzer sin utilizar CT SB2.
Toma en uso La combinación de toma utilizada durante el funcionamiento del TC (por ejemplo,
X1-X4).
Seleccione la combinación de toma a través de las teclas configurables (por
ejemplo, X1-X5, X1-X4). Para seleccionar una combinación de tomas intermedias
para la toma en uso, pulse la tecla configurable Mostrar Tomas Interm. La tarjeta
Configuración-de MR ofrece las teclas configurables para las combinaciones de
tomas intermedias (por ejemplo X2-X4, X3-X4).
Al concluir la prueba, la tarjeta Resultados de la prueba mostrará los resultados
de la combinación de tomas seleccionada en este campo.
Por defecto, la "Toma en uso" está establecida en la combinación de tomas
completa dada por el "Número de tomas".
Tomas En esta columna se enumeran todas las combinaciones de tomas posibles del TC
(por ejemplo, X1-X5, X1-X4, X1-X3...). El número de combinaciones de tomas
disponibles depende del número de tomas especificado en el campo
"Número de tomas".
Si se muestra la tarjeta Configuración de MR pero no está en modo de edición
(esto es, la ficha de la tarjeta está resaltada, tal y como se muestra en Figura 8-2
en página 38) puede conmutar la toma común.
Ejemplo:
X1 se estima como la toma común por defecto, X5 es la toma más alta disponible:
Pulse la tecla configurable Común Toma a X5 para utilizar X5 como la toma
común en lugar de X1. A continuación, la tecla configurable cambia a
Común Toma a X1.
La tecla configurable Mostrar Tomas Interm. permite mostrar las combinaciones
de tomas intermedias en lugar de las combinaciones de tomas. Si se muestran las
combinaciones de tomas intermedias, la tecla configurable cambia a
Mostrar Tomas.
Ejemplos de combinaciones de tomas intermedias: X2-X3, X2-X4, X3-X4.
OMICRON 39
Manual del usuario de CT SB2
Parámetro Descripción
Ipn : Isn (A) Utilice esta columna para establecer la relación de corriente nominal Ipn / Isn para
cada combinación de tomas.
La relación nominal para la combinación de tomas completa (por ejemplo, X1-X5
para un TC de 5 tomas) se adopta automáticamente de la tarjeta CT-Objeto y no
puede modificarse en la tarjeta Configuración de MR.
Para otras combinaciones de tomas, el usuario puede modificar o introducir Ipn.
Isn siempre se toma de la tarjeta CT-Objeto.
CT Analyzer efectúa automáticamente una comprobación de plausibilidad para
las relaciones introducidas por el usuario. Por ejemplo, se muestra un mensaje de
error si el Ipn introducido para X1-X3 es superior al Ipn especificado para X1-X4.
Las relaciones de las combinaciones de tomas intermedias (por ejemplo, X2-X4)
se calculan a partir de las combinaciones de tomas y el usuario no puede
modificarlas.
Prueba En esta columna, seleccione las combinaciones de toma que desea medir
durante la prueba.
Puede seleccionar o anular la selección de cada combinación de tomas por
separado mediante las teclas configurables Activar y Desact. No se puede
desactivar la combinación de tomas completa.
Al desactivar las combinaciones de tomas no utilizadas, se disminuye la duración
de la prueba. Las tomas desactivadas no se miden. Por lo tanto, las
combinaciones de tomas desactivadas no ofrecen resultados de pruebas.
Al desactivar una combinación de tomas también se desactivan las
combinaciones de tomas intermedias correspondientes. No se puede desactivar
una combinación de tomas intermedias específicas.
40 OMICRON
Tarjetas de prueba de CT Analyzer para el modo de prueba de MR
Figura 8-3: Tarjeta Resultados de MR con resultados de medida: Página para resultados de relación
(izquierda) y página para resultados de excitación (derecha)
Tecla Descripción
configurable
Utilice esta tecla configurable para cambiar entre los resultados de relación y los
resultados de excitación.
Si se muestran los resultados de relación, la tecla configurable se etiqueta como
Mostrar Excit. para mostrar los resultados de excitación.
Si se muestran los resultados de excitación, la tecla configurable se etiqueta como
Mostrar Relación para mostrar los resultados de relación.
Esta tecla configurable permite conmutar la unidad para el error de fase (columna
"Pol. (’)") entre minutos y grados.
Si el error de fase se muestra en minutos, la tecla configurable muestra la etiqueta
Pol. en grados. Si el error de fase se muestra en grados, la tecla configurable
muestra la etiqueta Pol. en minutos.
Esta tecla configurable permite mostrar las combinaciones de tomas intermedias en
lugar de las combinaciones de tomas.
Si se muestran las combinaciones de tomas, la tecla configurable se etiqueta como
Mostrar Tomas Interm.. Si se muestran las combinaciones de tomas intermedias, la
tecla configurable se etiqueta como Mostrar Tomas.
OMICRON 41
Manual del usuario de CT SB2
Columna Descripción
Ipn : Isec (A) Esta columna muestra la relación de corriente medida para cada combinación de
tomas Ipn / Isec.
N Esta columna muestra la relación del devanado medido para cada combinación de
tomas.
Rel. (%) Esta columna muestra el error de relación medido para cada combinación de tomas
en %.
Pol. (’) Esta columna muestra el error de fase medido por cada combinación de tomas
(polaridad) en minutos o grados. Para cambiar la unidad, use la tecla configurable
Pol. (°)
Pol. en grados o Pol. en minutos.
Columna Descripción
Rct (mΩ) Resistencia del devanado secundario.
Vkn (V) Tensión de punto de inflexión.
Ikn (mA) Corriente del punto de inflexión.
Vb (V) El resultado que se muestra en esta columna depende de la norma seleccionada en
TCF la tarjeta CT-Objeto y del tipo de TC.
ALF Vb (IEEE C57.13, solo TCs de protección): Tensión nominal del terminal secundario
FS estimada para los TC de protección.
Kssc TCF (IEEE C57.13, solo TCs de medición): Factor de corrección del transformador
para los TCs de medición.
ALF (IEC 60044-1, solo TCs de protección): Factor limitador de la precisión para los
TCs de protección.
FS (IEC 60044-1, solo TCs de medición): Factor de seguridad del instrumento para
los TCs de medición.
Kssc (solo IEC 60044-6): Factor de corriente simétrica nominal de cortocircuito.
42 OMICRON
Tarjetas de prueba de CT Analyzer para el modo de prueba de MR
Tecla Descripción
configurable
Muestra los resultados detallados de la prueba de resistencia del devanado
secundario. Consulte la sección 8.4.3.
Parámetro Descripción
Resist. de Resistencia del devanado secundario medida para la combinación de tomas.
devanado sec.
Tensión del punto de Tensión del punto de inflexión medida.
inflexión
CT-Ratio@Ipn(0VA) Relación de corriente con la corriente primaria nominal y una carga de 0 VA.
ε Solo está disponible para normas IEC. Error en % con la corriente primaria
nominal y una carga de 0 VA.
RCF Solamente disponible para IEEE C57.13. Factor de corrección de relación.
Fase Desfase con la corriente primaria nominal y una carga de 0 VA.
OMICRON 43
Manual del usuario de CT SB2
Parámetro Descripción
Pol. Correcta: Polaridad correcta, el ángulo de fase está comprendido en el rango
0° ± 45°.
Incorrecto: polaridad incorrecta del TC o polaridad incorrecta de los cables
de medición.
F Hay dos parámetros adicionales disponibles para los TCs de protección
IEC 60044-1 e IEC 61869-2 que permiten visualizar el error compuesto para
y
diferentes múltiplos de la corriente secundaria nominal Isn.
εc@Ipn*F
Utilice el parámetro "F" para especificar el factor (por ejemplo,
1 x, 5 x o 10 x Isn) y lea el error compuesto resultante del campo "εc@Ipn*F".
Tabla 8-9: Resultados de la prueba para la medición de la resistencia del devanado secundario
Parámetro Descripción
I-CC Corriente utilizada para la medición. Seleccionada de forma automática, no
modificable por el usuario.
Si Isn es 0.2 A o superior, ICC se ajusta automáticamente como Isn.
Si Isn es inferior a 0.2 A, ICC se ajusta automáticamente en 0.2 A.
Valor máximo: 5 A.
V-CC Tensión medida.
R-med Resistencia medida a temperatura ambiente.
R-ref Resistencia de referencia (resistencia con compensación de temperatura,
compensada conforme a Tref).
44 OMICRON
Tarjetas de prueba de CT Analyzer para el modo de prueba de MR
Tabla 8-9: Resultados de la prueba para la medición de la resistencia del devanado secundario
Parámetro Descripción
T-med Temperatura del devanado del TC en el momento de la medición.
Valor utilizado:
Temperatura ambiente definida en los Ajustes (menú principal).
Si esta temperatura no se ajusta correctamente, el valor de resistencia de referencia
(Rref) a la temperatura de referencia no se calculará correctamente.
T-ref Temperatura de referencia, es decir, la temperatura para la que está indicado el TC.
Valor utilizado:
Temperatura de referencia definida en los Ajustes (menú principal).
La resistencia del devanado a la temperatura de referencia se calcula a partir de la
resistencia del devanado medida a la temperatura ambiente (Tmed) y a la
temperatura de referencia especificada.
OMICRON 45
Manual del usuario de CT SB2
Tecla Descripción
configurable
Mueve el cursor hacia arriba en el gráfico de excitación.
Figura 8-7: Introducción de un valor de corriente para ver sus valores correspondientes de tensión e
inductancia en el gráfico de excitación
46 OMICRON
Tarjetas de prueba de CT Analyzer para el modo de prueba avanzada de MR
OMICRON 47
Manual del usuario de CT SB2
Figura 9-1: Tarjeta CT-Objeto con los datos de la placa del nombre introducidos
Parámetro Descripción
I-pn Corriente primaria nominal para la combinación de tomas completa del TC y
la corriente secundaria nominal del TC. Estos valores especifican la relación de
I-sn
toma completa mostrada en la tarjeta Configuración-de MR. La relación de
toma completa del TC únicamente puede especificarse y/o modificarse aquí.
Valores posibles de I-pn: 1 a 99000A.
Valores posibles de I-sn: 0,05 a 25A o teclas configurables 1,0A, 2,0A, 5,0A,
1.0A/√3, 2,0A/√3, 5,0A/√3. Valor por defecto: Definido en los ajustes de prueba
por defecto.
Para IEEE C57.13 únicamente:
Si la norma seleccionada es IEEE C57.13 y el "Número de tomas" está
establecido en 3 o 5 en la tarjeta Configuración de MR, CT Analyzer ofrece
teclas configurables con relaciones predefinidas de TC de 3 o 5 tomas cuando el
campo "I-pn" se selecciona con el cursor.
Si selecciona uno de estos esquemas de relación múltiple predefinidos,
CT Analyzer especificará automáticamente las relaciones para todas las
combinaciones de tomas en la tarjeta Configuración de MR. Por ejemplo, si se
selecciona la tecla configurable 1200 : 5 A, resultarán relaciones nominales de
1200 : 5, 1000 : 5, 900 : 5 y 400 : 5.
Si selecciona el esquema de relación múltiple predefinido, posiblemente se
sobrescribirá la configuración de Ipn e Isn en la tarjeta CT-Objeto y las relaciones
de la tarjeta Configuración de MR.
Norma Norma que se usará para la prueba del TC y la evaluación de la prueba.
P/M * Tipo de TC. Introduzca "P" para un TC de protección y "M" para un TC de
medición.
* Este parámetro es importante para la evaluación. No será posible una
evaluación automática si el usuario no ha introducido los datos de este
parámetro antes de la prueba.
48 OMICRON
Tarjetas de prueba de CT Analyzer para el modo de prueba avanzada de MR
Parámetro Descripción
Clase * Clase de precisión nominal del TC. Este campo estará disponible tras
seleccionar el tipo de TC (TC de protección o de medición).
La clase será seleccionada mediante las teclas configurables o será
determinada por CT Analyzer durante la prueba. La determinación automática
y durante la prueba funciona únicamente para los TC de medición IEC 61869-2 o
IEC 60044-1 e IEEE C57.13. Si se ha introducido el signo de interrogación para
el parámetro "P/M", el usuario no podrá definir la "Clase", sino que CT Analyzer
la determinará automáticamente.
* Este parámetro es importante para la evaluación. No será posible una
evaluación automática si el usuario no ha introducido los datos de este
parámetro antes de la prueba.
Designación de Solo para TC de medición de la norma IEEE C57.13:
carga (si está Una tecla configurable Evaluar en VA y un campo "Designación de carga"
disponible) adicionales están disponibles para los TC de medición de acuerdo con la norma
IEEE C57.13.
► Utilice la opción Evaluar en VA si la clase de exactitud del TC solo se aplica
a una carga o un rango de carga específicos.
La evaluación de TC se realiza normalmente para la carga máxima
especificada y todas las cargas más bajas definidas en la norma. Si
selecciona la opción Evaluar en VA y el ajuste de clase, CT Analyzer
realizará la evaluación solo del valor de carga o el rango de carga
especificado en el campo "Designación de carga". La tabla de relación y la
tabla de fases de la tarjeta Relación solo mostrarán el error para la carga o
el rango de carga específicos.
► Utilice el campo "Designación de carga" para especificar la carga funcional de
los TC de medición de IEEE C57.13. Para ello, seleccione una designación
de carga definida en la norma mediante las teclas configurables (en lugar del
parámetro "VA").
Si desea obtener información más detallada, consulte el Manual del usuario de
CT Analyzer:
► Vea la sección 8.2.3, tabla 8-4 en la página 94: Descripción del parámetro
"Clase"
► Vea la sección 8.2.3, tabla 8-11 en la página 110: Descripción del parámetro
"Designación de carga"
OMICRON 49
Manual del usuario de CT SB2
Parámetro Descripción
VA (o Vb) * Carga nominal de la combinación de tomas completa del TC.
cos ϕ El cos ϕ para la carga nominal se selecciona automáticamente según la norma.
CT Analyzer reduce automáticamente la carga nominal especificada aquí para
las combinaciones de tomas individuales disponibles en la tarjeta
Configuración de MR en función de sus relaciones (consulte "VA" en la
página 55).
* Este parámetro es importante para la evaluación. No será posible una
evaluación automática si el usuario no ha introducido los datos de este
parámetro antes de la prueba.
Solo para TC de protección de IEEE C57.13:
Si se selecciona la norma IEEE C57.13 con el tipo "TC de protección" (clase C,
K o T), los parámetros VA y Cos ϕ no son accesibles para el usuario. En este
caso, el usuario debe introducir la tensión en terminal Vb.
Después de seleccionar la tensión en terminal secundario Vb con una de las
teclas configurables disponibles, el campo "Designación de carga" muestra la
designación de carga de la norma correspondiente; por ejemplo B-1.0.
CT Analyzer calcula automáticamente la designación de carga. Si introduce un
valor de Vb que las teclas configurables no ofrecen, se mostrará PERSONAL.
en este campo para indicar que la carga seleccionada no está definida en la
norma.
Carga Carga funcional y cos ϕ de la toma en uso.
cos ϕ Introduzca manualmente la carga o mida la carga a través de la tarjeta Carga.
La carga funcional especificada aquí se utiliza para todas las combinaciones de
tomas indicadas en la tarjeta Configuración de MR. En contraposición a la
carga nominal (VA), la carga funcional no se reduce en función de las relaciones
(consulte "Carga" en la página 55).
Por ejemplo, podría utilizar estos campos para simular el comportamiento de TC
con distintas condiciones de carga tras la prueba. Introduzca el valor deseado y
visualice los resultados de medición de la prueba de TC de relación múltiple
para la nueva carga funcional en la tarjeta Resultados-de MR (consulte la
sección 9.3.2 en la página 57).
Nota: En función de la norma y tipo de TC seleccionados, pueden ser necesarios más datos u otros
datos sobre TC para una evaluación correcta. Si se activa la opción "Comprobar ajustes "*" antes del
inicio" en los ajustes de prueba predeterminados de CT Analyzer, todos los parámetros que sean
necesarios para la evaluación aparecerán marcados con un asterisco ("*") en la tarjeta CT-Objeto. Si
desea obtener más información, consulte el manual del usuario de CT Analyzer.
50 OMICRON
Tarjetas de prueba de CT Analyzer para el modo de prueba avanzada de MR
OMICRON 51
Manual del usuario de CT SB2
Tecla Descripción
configurable
Por defecto, la tabla de la tarjeta Configuración de MR muestra los valores de la
carga nominal. Utilice la tecla configurable Carga Func. para mostrar esta tabla con
la carga funcional.
A continuación, la tecla configurable cambia a Carga Nominal para cambiar de
nuevo la tabla a los valores de carga nominal.
Para los valores de carga nominal, el encabezado de la columna es "VA"; en el caso
de los valores de carga funcional, el encabezado de la columna es "Carga".
Para obtener información detallada, consulte "VA" y "Carga" en página 55.
La tecla configurable Común Toma a X# permite seleccionar la toma común (por
ejemplo, la toma X5 en lugar de la toma por defecto X1). La toma común es la toma
que se utiliza como referencia para todas las combinaciones de tomas (por ejemplo,
X1-X2, X1-X3, X1-X4, etc. si la toma común es X1).
Si la toma más alta (por ejemplo, X5) está seleccionada como la toma común, la
tecla configurable cambia a Común Toma a X1.
La toma común por defecto se puede seleccionar con la opción Seleccionar modo
de inicio del menú de ajustes; consulte el capítulo 7 en la página 33.
Use la tecla configurable Mostrar Tomas Interm. para mostrar las combinaciones
de tomas intermedias en lugar de las combinaciones de tomas. Si se muestran las
combinaciones de tomas intermedias, la tecla configurable se etiqueta como
Mostrar Tomas.
Ejemplos de combinaciones de tomas: X1-X2, X1-X3, X1-X4, etc.
Ejemplos de combinaciones de tomas intermedias: X2-X3, X2-X4, X3-X4, etc.
52 OMICRON
Tarjetas de prueba de CT Analyzer para el modo de prueba avanzada de MR
Parámetro Descripción
Número de tomas Número total de conexiones de toma disponibles en el TC de relación múltiple.
Valores posibles: Teclas configurables N.º tomas 2, N.º tomas 3, N.º tomas 4,
N.º tomas 5 o N.º tomas 6.
Si el número de tomas seleccionadas es 5 o 3, CT Analyzer presenta las teclas
configurables con las relaciones de TC predefinidas cuando el campo "I-pn" se
selecciona en la tarjeta CT-Objeto (IEEE C57.13 solamente; consulte "I-pn" en la
página 48).
El número de tomas predeterminado se puede seleccionar con la opción
Seleccionar modo de inicio del menú de ajustes; consulte el capítulo 7 en la
página 33.
Si se está realizando una prueba TC de relación única con la caja de conexiones
CT SB2, seleccione N.º tomas 2. Sin embargo, se recomienda realizar la prueba
de TC de relación única con el modo de prueba de TC de relación única normal de
CT Analyzer sin utilizar CT SB2.
Toma en uso La combinación de toma utilizada durante el funcionamiento del TC (por ejemplo,
X1-X4).
Seleccione la combinación de toma a través de las teclas configurables (por
ejemplo, X1-X5, X1-X4). Para seleccionar una combinación de tomas intermedias
para la toma en uso, pulse la tecla configurable Mostrar Tomas Interm. La tarjeta
Configuración-de MR ofrece las teclas configurables para las combinaciones de
tomas intermedias (por ejemplo X2-X4, X3-X4).
Para la combinación de tomas seleccionada aquí, CT Analyzer muestra los
resultados de prueba detallados en las tarjetas Resistencia, Excitación y
Relación. Sin embargo, la evaluación de prueba automática de la tarjeta
Evaluación siempre se realiza para la combinación de tomas completa dada por
el Número de tomas (por ejemplo, para X1-X5 si el número de tomas = 5).
Consulte las secciones 9.4 y 9.5 en la página 59.
Por defecto, la "Toma en uso" está establecida en la combinación de tomas
completa dada por el "Número de tomas".
OMICRON 53
Manual del usuario de CT SB2
Parámetro Descripción
Tomas En esta columna se enumeran todas las combinaciones de tomas posibles del TC
(por ejemplo, X1-X5, X1-X4, X1-X3...). El número de combinaciones de tomas
disponibles depende del número de tomas especificado en el campo
"Número de tomas".
Si se muestra la tarjeta Configuración de MR pero no está en modo de edición
(esto es, la ficha de la tarjeta está resaltada, tal y como se muestra en Figura 9-2
en página 51) puede conmutar la toma común.
Ejemplo:
X1 se estima como la toma común por defecto, X5 es la toma más alta disponible:
Pulse la tecla configurable Común Toma a X5 para utilizar X5 como la toma
común en lugar de X1. A continuación, la tecla configurable cambia a
Común Toma a X1.
La tecla configurable Mostrar Tomas Interm. permite mostrar las combinaciones
de tomas intermedias en lugar de las combinaciones de tomas. Si se muestran las
combinaciones de tomas intermedias, la tecla configurable cambia a
Mostrar Tomas.
Ejemplos de combinaciones de tomas intermedias: X2-X3, X2-X4, X3-X4.
Ipn : Isn (A) Utilice esta columna para establecer la relación de corriente nominal Ipn / Isn para
cada combinación de tomas.
La relación nominal para la combinación de tomas completa (por ejemplo, X1-X5
para un TC de 5 tomas) se adopta automáticamente de la tarjeta CT-Objeto y no
puede modificarse en la tarjeta Configuración de MR.
Para otras combinaciones de tomas, el usuario puede modificar o introducir Ipn.
Isn siempre se toma de la tarjeta CT-Objeto.
CT Analyzer efectúa automáticamente una comprobación de plausibilidad para
las relaciones introducidas por el usuario. Por ejemplo, se muestra un mensaje de
error si el Ipn introducido para X1-X3 es superior al Ipn especificado para X1-X4.
Si ha seleccionado un esquema de relación múltiple predefinido en la tarjeta
CT-Objeto a través de las teclas configurables (IEEE C57.13 solamente; consulte
"I-pn" en la página 48), CT Analyzer introduce automáticamente las relaciones
nominales de TC para todas las combinaciones de tomas de acuerdo con este
esquema.
Las relaciones de las combinaciones de tomas intermedias (por ejemplo, X2-X4)
se calculan a partir de las combinaciones de tomas y el usuario no puede
modificarlas.
54 OMICRON
Tarjetas de prueba de CT Analyzer para el modo de prueba avanzada de MR
Parámetro Descripción
VA Utilice esta columna para establecer la carga nominal para cada combinación de
tomas.
cos ϕ
Para obtener los resultados de medición correctos, las cargas nominales para las
combinaciones de tomas interiores (por ejemplo, X1-X2, etc.) deben ser menores
que la carga nominal para la combinación de tomas completa de acuerdo con las
relaciones de devanado de las combinaciones de tomas (por ejemplo, 25VA para
X1-X5, 12,5VA para X1-X4, etc.). CT Analyzer admite esta situación gracias a una
función automática.
Tan pronto como la corriente primaria Ipn se especifica para una combinación de
tomas, CT Analyzer calcula y establece automáticamente la carga nominal y
cos ϕ correspondientes para esta combinación de tomas. Por este motivo,
CT Analyzer reduce automáticamente la carga nominal para la combinación de
tomas completa de acuerdo con la relación de la combinación de tomas
específica y redondea hasta el siguiente valor indicado en la norma (consulte
Figura 9-2 en página 51).
El usuario puede modificar manualmente la carga nominal (VA) que asigna
automáticamente CT Analyzer para todas las combinaciones de tomas y tomas
intermedias excepto la combinación de tomas completa. El usuario no puede
modificar cos ϕ .
La columna "VA" se muestra por defecto cuando se abre la tarjeta Configuración
de MR por primera vez tras inicializar una nueva prueba en el modo de
prueba avanzada de MR. Si en cambio se muestra la columna "Carga", utilice la
tecla configurable Carga Nominal para mostrar la columna "VA" de nuevo con las
cargas nominales.
Carga La columna "Carga" se muestra si se ha seleccionado la visualización de la carga
funcional en la tarjeta Configuración de MR utilizando la tecla configurable
cos ϕ
Carga func.
Esta columna muestra la carga funcional para la combinación de tomas. La carga
funcional se toma de la tarjeta CT-Objeto y no puede modificarse en la tarjeta
Configuración de MR. Se utiliza el mismo valor para todas las combinaciones de
tomas para probar el comportamiento de TC con la carga conectada.
Prueba En esta columna, seleccione las combinaciones de toma que desea medir
durante la prueba.
Puede seleccionar o anular la selección de cada combinación de tomas por
separado mediante las teclas configurables Activar y Desact. No se puede
desactivar la combinación de tomas completa.
Al desactivar las combinaciones de tomas no utilizadas, se disminuye la duración
de la prueba. Las tomas desactivadas no se miden. Por lo tanto, las
combinaciones de tomas desactivadas no ofrecen resultados de pruebas.
Al desactivar una combinación de tomas también se desactivan las
combinaciones de tomas intermedias correspondientes. No se puede desactivar
una combinación de tomas intermedias específicas.
OMICRON 55
Manual del usuario de CT SB2
Figura 9-3: Tarjeta Resultados de MR con resultados de medida: Página para resultados de relación
(izquierda) y página para resultados de excitación (derecha)
Tecla Descripción
configurable
Utilice esta tecla configurable para cambiar entre los resultados de relación y los
resultados de excitación.
Si se muestran los resultados de relación, la tecla configurable se etiqueta como
Mostrar Excit. para mostrar los resultados de excitación.
Si se muestran los resultados de excitación, la tecla configurable se etiqueta como
Mostrar Relación para mostrar los resultados de relación.
De forma predeterminada, los resultados se muestran para los valores de carga
nominal.
Pulse la tecla configurable Result. Carga funcional para mostrar los resultados de
la carga funcional. La carga funcional es la misma para todas las combinaciones de
tomas.
Si los resultados se muestran para la carga funcional, la tecla configurable cambia a
Result. Carga Nominal para volver a estos resultados.
Consulte la sección 9.3.2.
56 OMICRON
Tarjetas de prueba de CT Analyzer para el modo de prueba avanzada de MR
Tecla Descripción
configurable
Esta tecla configurable permite conmutar la unidad para el error de fase (columna
"Pol. (’)") entre minutos y grados.
Si el error de fase se muestra en minutos, la tecla configurable muestra la etiqueta
Pol. en grados. Si el error de fase se muestra en grados, la tecla configurable
muestra la etiqueta Pol. en minutos.
Esta tecla configurable permite mostrar las combinaciones de tomas intermedias en
lugar de las combinaciones de tomas.
Si se muestran las combinaciones de tomas, la tecla configurable se etiqueta como
Mostrar Tomas Interm.. Si se muestran las combinaciones de tomas intermedias,
la tecla configurable se etiqueta como Mostrar Tomas.
OMICRON 57
Manual del usuario de CT SB2
Columna Descripción
Ipn : Isec (A) Esta columna muestra la relación de corriente medida para cada combinación de
tomas Ipn / Isec.
N Esta columna muestra la relación del devanado medido para cada combinación de
tomas.
Rel. (%) Esta columna muestra el error de relación medido para cada combinación de tomas
en %.
Pol. (’) Esta columna muestra el error de fase medido por cada combinación de tomas
(polaridad) en minutos o grados. Para cambiar la unidad, use la tecla configurable
Pol. (°)
Pol. en grados o Pol. en minutos.
Columna Descripción
Rct (mΩ) Resistencia del devanado secundario.
Vkn (V) Tensión de punto de inflexión.
Ikn (mA) Corriente del punto de inflexión.
Vb (V) El resultado que se muestra en esta columna depende de la norma seleccionada en
TCF la tarjeta CT-Objeto y del tipo de TC.
ALF Vb (IEEE C57.13, solo TCs de protección): Tensión nominal del terminal secundario
FS estimada para los TC de protección.
Kssc TCF (IEEE C57.13, solo TCs de medición): Factor de corrección del transformador
para los TCs de medición.
ALF (IEC 60044-1, solo TCs de protección): Factor limitador de la precisión para los
TCs de protección.
FS (IEC 60044-1, solo TCs de medición): Factor de seguridad del instrumento para
los TCs de medición.
Kssc (solo IEC 60044-6): Factor de corriente simétrica nominal de cortocircuito.
58 OMICRON
Tarjetas de prueba de CT Analyzer para el modo de prueba avanzada de MR
OMICRON 59
Manual del usuario de CT SB2
10 Datos técnicos
10.1 Especificaciones
interfaz del PC
Conector SUB-D 9 polos, hembra
Vista exterior de las tomas de CT SB2.
5
9 nc
4 nc
8 RTS (salida)
3 RxD (entrada de datos / recibir)
7 CTS (entrada)
2 TxD (salida de datos / transmitir)
6 nc
1 nc
6
60 OMICRON
Datos técnicos
interfaz de CTA
Conector SUB-D de 9 polos, macho
Vista exterior de las patillas de CT SB2.
1
6
9
Conexiones necesarias:
1 2 3 4 5 6 7 8 apantallamiento
1 2 3 4 5 6 7 8 apantallamiento
OMICRON 61
Manual del usuario de CT SB2
10.5 Normas
62 OMICRON
Mantenimiento por parte del usuario
OMICRON 63
Manual del usuario de CT SB2
64 OMICRON
Asistencia
Asistencia
Queremos que cuando trabaje con nuestros productos saque el mayor provecho
posible. Si necesita asistencia, nosotros se la prestaremos.
OMICRON electronics GmbH, Oberes Ried 1, 6833 Klaus, Austria, +43 59495
OMICRON 65
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