Tema 1.

Introducción a la instrumentación

TEMA 1: INTRODUCCIÓN A LA
INSTRUMENTACIÓN
1. Introducción .............................................................................................................. 1
2. Conceptos básicos ..................................................................................................... 1
3. Diagrama de bloques de un sistema de instrumentación........................................... 2
Transductor................................................................................................................ 2
Acondicionamiento de señal ..................................................................................... 3
Almacenamiento........................................................................................................ 3
Fuente de alimentación.............................................................................................. 3
4. Aplicaciones .............................................................................................................. 4
Monitorización de procesos y operaciones ............................................................... 4
Control de procesos y operaciones............................................................................ 4
Análisis experimental................................................................................................ 4
5. Proceso de medida. Calibración ................................................................................ 5
Calibración ................................................................................................................ 6
Métodos de medida ................................................................................................... 7
6. Características metrológicas y no metrológicas ........................................................ 7

abarca áreas tales como la detección,

1. Introducción
Con el contenido de este tema se
pretende introducir al lector en los
primeros conceptos sobre los sistemas
de instrumentación. Además, con este
tema, se trata de dar una panorámica
general con la que poder vislumbrar
los contenidos de los temas
posteriores. El tema está estructurado
de la siguiente forma. En primer lugar,
se definen conceptos muy genéricos
sobre la instrumentación, qué es la
instrumentación, qué es la medida, cuál
es la finalidad de estos sistemas.
Seguidamente se verá cómo es un
diagrama de bloques del sistema de
instrumentación, se verá de qué está
compuesto, incluyéndose una breve
descripción de los elementos que lo
constituyen. En un siguiente apartado,
se hará una lista de las principales
líneas de aplicación de estos sistemas.
Se finalizará el tema haciendo una
breve introducción al proceso de
medida y las distintas técnicas de
medida que existen.
2. Conceptos básicos
La instrumentación es una disciplina
de la ingeniería y de la ciencia que
adquisición, control y análisis de datos.
Instrumento es algo de lo que nos
valemos para conseguir un fin, en
nustro caso el fin es la medida. En lo
sucesivo, cuando hablemos de
instrumento, nos referiremos a
instrumento electrónico de medida.
La medida es una forma de aprender
acerca de los objetos que nos rodean de
manera cuantitativa. Estos objetos son
muy diversos y presentan un número
ilimitado de propiedades físicas como
puede ser el color, peso, tamaño, etc.
Cuando el experimentador se propone
obtener información acerca de objetos
particulares, selecciona un limitado
número de propiedades que son
comunes al rango completo de objetos
que conoce. A estas propiedades, se les
denomina magnitudes físicas. Aquí, el
término magnitud física se refiere a
todas las propiedades estudiadas, no
solo en el campo de la física, sino en
otros campos de la ciencia y la
tecnología, química, biológica,
económica, etc. Estas propiedades
pueden ser adquiridas de dichos
objetos debido a que se manifiestan
mediante distintas formas de energía.
La cantidad de energía que identifica
 Tema 1. Introducción a la instrumentación
una determinada magnitud física, es
decir, el valor de dicha magnitud física
estará expresado en un determinado
sistema de unidades. En lo sucesivo, se
tratará de utilizar el Sistema
Internacional como sistema de
representación de estas magnitudes.
Durante el proceso de medida, a estos
sistemas se les denomina sistema bajo
pruebas, en la nomenclatura
anglosajona, se les conoce por Device
Under Test (DUT). Nosotros, a partir
de ahora usaremos las siglas DUT para
referirnos a dichos sistemas.
La finalidad del sistema de medida es,
por tanto, la de presentar a un
observador el valor numérico lo más
aproximado posible al valor real de
una determinada magnitud física que
está siendo medida del DUT. Como se
observa en la figura 1, la entrada al
sistema de medida es el valor real y la
salida del sistema de media se
denomina valor medido. Como se
verá después, los sistemas de
instrumentación tendrán objetivos más
ambiciosos que la mera medida, como
es el control y el tratamiento de la
información, aunque siempre incluirán,
de una forma u otra, un proceso de
medida.
Figura 1. Proceso de medida.
3. Diagrama de bloques de
un sistema de
instrumentación
Los instrumentos electrónicos sirven
de nexo de unión entre el medio y el
observador.
La finalidad de un sistema de
instrumentación es la de estimar los
valores de las magnitudes físicas
presentando el resultado de la
estimación a un observador y permitir
a dicho observador interactuar con el
medio.
En la Figura 2, se muestra la estructura
interna de un instrumento electrónico
en el que pueden observarse los
siguientes bloques: transductores,
acondicionamiento de señal, control,
almacenamiento, análisis de datos y
fuente de alimentación. A continuación
comentaremos, de forma breve, estos
bloques. Algunos de ellos serán
desarrollados en temas posteriores con
mayor detalle.
Transductor
Un transductor es aquel dispositivo
que acepta energía proveniente de una
parte del sistema y la emite con
diferente forma a otra parte de tal
sistema. Al transductor o conjunto de
ellos que permite obtener información
del medio se le denomina sensor. Al
transductor o conjunto de ellos que
permite actuar sobre dicho medio se le
denomina actuador. Un ejemplo de
sensor es una sonda de temperatura
que transforma energía térmica en
energía eléctrica. Un ejemplo de
actuador es una resistencia que,
aportándole energía eléctrica, permite
calentar el medio variando su
temperatura.
Existe una familia de transductores que
interaccionan directamente con el
observador para permitirle conocer las
magnitudes que están siendo medidas,
la mayoría de estos transductores
intercambian radiación luminosa y son
 Tema 1. Introducción a la instrumentación
Figura 2. Diagrama general simplificado de un sistema de medida
conocidos como elementos de
visualización o transductores
indicadores, por ejemplo: tubo de
rayos catódicos, indicadores
electromecánicos (indicadores de
aguja), diodos leds, displays de cristal
líquido, etc. Finalmente, a los
transductores que permiten al
observador actuar sobre el sistema de
instrumentación, se les denominan
transductores de mando.
Acondicionamiento de señal
El acondicionamiento de señal se usa
para conectar eléctricamente los
distintos transductores con los
elementos que procesan los datos, es
decir, los sistemas de control,
almacenamiento o análisis de la
información, modificando la señal
eléctrica que proviene de los
transductores o que se envía hacia
ellos, para que sea compatible y tenga
los valores adecuados. Algunas de las
tareas que tiene el bloque de
acondicionamiento son:
Conversión tensión/corriente.
Amplificación.
Filtrado.
Aislamiento galvánico.
Conversión A/D D/A.
Telemetría.
Modulación/demodulación.
Algunas de estas funciones serán
tratadas en temas posteriores.
Almacenamiento
El almacenamiento permite tener un
registro de la medida para que el
observador pueda estudiar la
información o que dicha información
sea procesada con tiempo suficiente.
Por ejemplo, el registro de los latidos
cardíacos, la captura de un transitorio
de descarga de un condensador, etc.
El almacenamiento se realiza
fundamentalmente en dispositivos de
memorias analógicas o digitales. Otros
sistemas de almacenamiento con
soporte físico diferente son los
sistemas de almacenamiento basados
en registradores de papel, discos, cintas
etc. Incluso los ploters e impresoras
podrían estar incluidos en esta familia
aunque además pueden hacer la
función de transductores indicadores.
Fuente de alimentación
La fuente de alimentación debe ser
diseñada en función de las necesidades
de precisión de los elementos que
integran el sistema de instrumentación.
En este sentido, es importante tener en
cuenta su inmunidad o rechazo a las
variaciones de tensión que pueda
 Tema 1. Introducción a la instrumentación
experimentar dicha fuente. Este efecto
resulta de gran importancia en los
casos en que la fuente ha de alimentar
algún transductor o elemento de
acondicionamiento.
Existen dos tipos de fuentes de
alimentación, dependiendo de donde
proviene la energía: Batería y red
eléctrica. En algunos casos pueden
coexistir los dos tipos de fuentes.
En uso de baterías puede recomendarse
en diferentes casos. Por ejemplo, en
equipos autónomos para ser utilizados
en lugares carentes de red eléctrica;
para aislar al equipo de medida de
tensiones peligrosas (determinadas
normas de seguridad lo recomiendan);
para evitar posibles interferencias que
puedan llegar a través de los cables de
conexión a red y en sistemas de
emergencia, que deben ponerse en
funcionamiento una vez que
desaparece la alimentación de la red
eléctrica.
4. Aplicaciones
Las aplicaciones fundamentales de los
instrumentos electrónicos son la
monitorización de procesos y corriente circulante por la resistencia.
operaciones, el control de procesos y
operaciones y el análisis experimental.
Monitorización de procesos y
operaciones
En este caso el sistema de
instrumentación realiza
exclusivamente la función de medida
almacenamiento y procesamiento pero
no actúa sobre el medio. En este caso
el bloque de control resulta
innecesario. Ciertas aplicaciones de la
medida pueden caracterizarse por tener
esencialmente una función de
monitorización, por ejemplo, los
termómetros, barómetros y Muchos de tales problemas requieren
anemómetros de una estación
meteorológica. Estos indican
exclusivamente el estado del entorno y
no se utilizan para ejercer ninguna
acción sobre dicho entorno. Otro
ejemplo mucho más cercano a nosotros
lo constituyen los equipos de
monitorización de las constantes
vitales de los pacientes en los
hospitales.
Control de procesos y
operaciones
En este caso, el sistema de
instrumentación ejerce su acción sobre
el medio. El instrumento puede ser
considerado realmente como un
sistema de control. En la Figura 3, se
representa la estructura típica de un
sistema de control con
retroalimentación, el cual actúa sobre
el medio para que las magnitudes a
controlar coincidan el lo posible con
las magnitudes deseadas.
Un ejemplo muy familiar de sistema de
control, y a su vez sencillo, es el de un
calentador que utiliza un termostato
para controlar la temperatura la de
resistencia calefactora. El sensor de
temperatura es un elemento bimetálico
que, a partir de cierta temperatura, se
deforma accionando un interruptor
(elemento actuador) que corta la
Figura 3. Sistema de instrumentación
destinado al control de procesos.
Análisis experimental
La solución de problemas de ingeniería
requiere generalmente la utilización de
dos métodos: teórico y experimental.
el uso simultáneo de ambos.
Características de los métodos
teóricos:
1. Dar resultados de carácter general.
 Tema 1. Introducción a la instrumentación
2. Requieren la aplicación de
hipótesis de simplificación. Por
ello, no es el sistema lo que se
estudia sino un modelo
simplificado.
3. En algunos casos, conduce a
complicados problemas
matemáticos. Actualmente las
técnicas computacionales resuelven
problemas inabordables en otra
época.
4. Requieren sólo papel, lápiz y
computador.
5. No hay que gastar tiempo en
construir maquetas, ensamblar y
chequear instrumentos ni adquirir
datos.
Características de los métodos
experimentales:
1. A menudo dan resultados
aplicables sólo al sistema
específico en experimentación.
Sin embargo, técnicas tales
como el análisis dimensional y
modelado de datos pueden
permitir alguna generalización.
2. No se necesita hacer ninguna
suposición de simplificación.
3. Se necesitan medidas precisas,
Esto requiere la utilización de
equipos caros y complicados,
así como un largo periodo de
tiempo para su estudio y puesta
a punto.
4. Se requiere la presencia del
sistema o, en su defecto, de un
modelo a escala.
5. Se requiere, en general, un
largo tiempo para diseño,
construcción, ensamblaje y
puesta a punto del propio
sistema y de los aparatos de
medida.
Los tipos de problemas en los que
puede necesitarse la utilización de
experimentación y, por lo tanto, de
instrumentos de medida son:
1. Cuando se pretende demostrar la
validez de predicciones teóricas y
mejorar la teoría.
2. Formulación de relaciones
empíricas en situaciones donde no
existe una teoría o ésta es
excesivamente compleja de
formular.
3. Determinación de parámetros de
materiales, componentes, sistemas,
variables e índices de
comportamiento.
4. Estudio de fenómenos, con la
ayuda de la teoría.
5. Solución de ecuaciones
matemáticas mediante analogía.
5. Proceso de medida.
Calibración
Un sistema de medida o cualquiera de
sus partes responde a una forma de
energía, o conjunto de ellas, que
denominaremos estímulos X e y, a
través de sus transductores, transforma
dicha energía a otra o conjunto de ellas
que denominaremos respuestas Yr , tal
como se muestra en la Figura 4. La
respuesta es lo que el observador
detecta a través de los transductores
indicadores. A este proceso se le
denomina proceso de medida.
Figura 4. Proceso de medida.
Como se muestra en la Figura 4, los
sistemas de medida se ven afectados
por una serie de acciones externas, X i
y el resultado rara vez refleja el valor
esperado. Incluso el propio
instrumento puede alterar lo que se
pretende medir. Esto da lugar a lo que
se conoce como errores de medida. En
 Tema 1. Introducción a la instrumentación
el siguiente tema se estudiarán dichos
errores, sus componentes y cómo
tratarlos. Teniendo en cuenta todos
estos errores, el resultado de una
medida se considera completo cuando
incluye dos partes fundamentales, el
valor atribuido al valor medido y la
incertidumbre de la medida asociada
con dicho valor. La comprobación de
la veracidad de los resultados de los
sistemas de medida se realiza mediante
el proceso de calibración.
Calibración
Con la calibración de un sistema de
medida se pretende comprobar que la
medida de dicho sistema es la correcta
y además determinar su incertidumbre.
Para ello, se realiza un proceso con el
fin de determinar ambos valores. Se
realiza un proceso similar al propio
proceso de medida. Para realizar la
calibración debe modelarse el sistema
de medida según una función de las
variables de entrada.
Y=f(X1, X2, ….Xn)
Entre las entradas, se encuentran, entre
otras, la lectura que se realiza con
equipos de la más alta precisión, los
estándares de medida o patrones,
condiciones ambientales, etc, y además
deben conocerse las incertidumbres de
todos estos valores de entrada. A partir
de toda esta información se determinan
las magnitudes de salida y sus
incertidumbres como se verá en el
próximo tema.
El término estándar hace referencia a
un dispositivo de medida construido
para producir y/o mantener una unidad
de medida con el propósito de
transferirlo a otro estándar inferior de
la cadena de calibración.
A la posibilidad de conocer la cadena
de estándares, con sus
correspondientes certificados de
calibración, que anteceden a un
instrumento se le denomina
trazabilidad del instrumento.
Los estándares se clasifican de distinta
forma. Una posible manera es su
clasificación en fundamentales o
derivados, según estén basados en
magnitudes fundamentales o derivadas
del sistema internacional.
Otra posible clasificación es en
estándares primarios, secundarios y de
trabajo.
Los estándares primarios mantienen
y/o producen las unidades de medida y
transfieren sus dimensiones con la más
alta precisión alcanzable.
A los estándares primarios se les
denomina internacionales (realmente
se encuentran en algunos organismos
internacionales), cuando sólo se
utilizan para mantener pero no
transferir unidades y nacionales
cuando, además de mantener los
patrones primarios, los transfieren a
estándares secundarios. Los estándares
secundarios se encuentran en
organismos oficiales y centros de
calibración.
Los estándares de trabajo se utilizan
para medida y calibración en los
laboratorios de las industrias, las
plantas de producción, universidades,
etc., a los que pertenecen.
Cada cierto tiempo, todo patrón debe
ser enviado a los laboratorios de
calibración para ser recalibrados. Es
necesario conoce cuanto tiempo pasó
desde la última calibración, ya que esta
información permite evaluar la
incertidumbre que aparece debido al
paso del tiempo.
Los requerimientos esenciales para
mantener una uniformidad y
trazabilidad en los instrumentos, así
como de sus medidas asociadas son
expresar los resultados en unidades
oficiales, ya sean fundamentales o
derivadas, del sistema internacional.
 Tema 1. Introducción a la instrumentación
Métodos de medida
Según la manera en que los datos
experimentales son procesados para
encontrar el resultado de la medida, los
métodos de medida se dividen en:
directos e indirectos. Estos pueden
ser, a su vez: simultáneos y
acumulativos.
La medida directa se obtiene de los
datos sin tener que hacer uso de
ninguna relación. Por ejemplo, la
medida de tensión con un voltímetro.
La medida indirecta se obtiene
utilizando relaciones entre las variables
medidas de manera que el resultado es
inferido de las medidas. Las medidas
pueden ser simultánea, cuando se
miden las mismas variables al mismo
tiempo, y acumulativa, cuando se van
tomando distintas medidas en distintas
condiciones. Un ejemplo de medida
acumulativa es la medida de los
parámetros que relacionan el valor de
la resistencia con la temperatura,
R R0 (1 At Bt 2 ) . Estos parámetros
pueden obtenerse planteando un
sistema de ecuaciones, midiendo las
resistencias y la temperatura para tres
condiciones de temperatura.
Según que la medida se realice sin
tener en cuenta el tiempo se dividen en
medidas estáticas y medidas
dinámicas.
Una última clasificación se realiza
dependiendo de la manera en que se
utilizan los estándares. En este caso se
dividen en métodos directos, donde se
mide con un equipo calibrado de
antemano, y métodos de
comparación, donde la medida se
obtiene con referencia a un patrón que
se encuentra presente durante el
proceso de medida. Los últimos se
clasifican, a su vez, en métodos de
balanceo, diferencial, de sustitución
y de coincidencia.
6. Características
metrológicas y no
metrológicas
Las características metrológicas están
relacionadas con la forma y calidad
con que se obtiene la medida, por
ejemplo: errores, sensibilidad,
linealidad, etc.
Las características no metrológicas
están relacionadas principalmente con
el correcto funcionamiento del sistema,
por ejemplo, la seguridad, la fiabilidad,
las emisiones de interferencia, etc.
La determinación de las características
metrológicas se realiza mediante lo que
se conoce como ensayo de calibración.
La determinación del resto de
características no metrológicas se
obtienen mediante otros ensayos
regidos por normativas internacionales.
De esta forma se garantiza que los
equipos que se comercialicen cumplan
todos los requisitos necesarios par
dicha comercialización.
Las características metrológicas se
tratarán en detalle en próximos temas.
Referencias.
[1] W. D. Cooper y Albert D. Helfrick,
“Instrumentación Electrónica Moderna
y Técnicas de Medición”, Prentice Hall
Hispanoamericana 1991.
[2] Ramón Pallas Areny,
Transductores y Acondicionadores de
Señal, Marcombo, 1989.
[3] Anton F. P. Van Putten, “Electronic
Measurement Systems”, Prentice Hall,
1988.
[4] B. R. Bannister y D. G. Whitehead,
“Instrumentación. Transductores e
interfaz”. Addison-Wesley
Iberoamericana. 1994.
 Tema 2. Características metrológicas

TEMA 2: CARACTERÍSTICAS METROLÓGICAS

1. Introducción. ..............................................................................................................1
2. Errores........................................................................................................................1
3. Características sistemáticas........................................................................................3
4. Modelo estático del sistema de medida. ....................................................................6
5. Repetibilidad e Incertidumbre....................................................................................7
Apédice: Errores aleatorios. Tratamiento estadístico. ...................................................8

métodos estadísticos.
1. Introducción También conviene comentar que los
Las características metrológicas están sistemas de instrumentación o sus
relacionadas con la forma y calidad partes se pueden modelar mediante una
con que se obtiene la medida, por parte estática y otra dinámica, que
ejemplo errores, sensibilidad, podrán dividir a dicho modelo en dos
linealidad, etc. submodelos: modelo estático y modelo
Las características no metrológicas dinámico.
están relacionadas principalmente con El modelo estático está relacionado
el correcto funcionamiento del sistema, con cantidades que permanecen
por ejemplo la seguridad, la fiabilidad, invariables con el tiempo o que
las emisiones de interferencia, etc. cambian muy lentamente, y el modelo
La determinación de las características dinámico se asocia a magnitudes
metrológicas se realiza mediante lo que variables con el tiempo.
se conoce como ensayo de calibración. Para estructurar este tema, en primer
La determinación del resto de lugar se harán una serie de definiciones
características no metrológicas se previas. Se comienza con distintos
obtienen mediante otros ensayos conceptos de error. Seguidamente, se
regidos por normativas internacionales. definen conceptos relacionados con las
De esta forma, se garantiza que los características sistemáticas. Después,
equipos que se comercialicen cumplan se estudiará el modelo estático, el cual
todos los requisitos necesarios para permitirá determinar la componente
dicha comercialización. sistemática del sistema de medida.
Este tema versará acerca de las Seguidamente se verá cómo, a partir
principales características metrológicas del modelo estático, se pueden
de los sistemas de instrumentación. determinar los valores de la medida y
Todas estas características pueden ser la incertidumbre de dicha medida.
resumidas en lo que se conoce como Finalmente se establecerá el modelo
modelo generalizado del sistema de dinámico y la forma de determinar los
medida. Este modelo generalizado se errores en esta situación.
podrá, a su vez, aplicar a determinadas Al final del tema se incluye un
partes de dicho sistema. apéndice donde se hace un recordatorio
Todo sistema de medida puede de la estadística básica para determinar
modelarse a través de una parte el resultado de la medida y sus
sistemática y una parte aleatoria. La incertidumbres.
parte sistemática se caracteriza porque
puede ser exactamente cuantificada por 2. Errores
medios matemáticos o gráficos. La El Valor real de una variable se
parte aleatoria se caracteriza porque no define como el valor medido que se ha
puede ser exactamente determinada y obtenido con estándares de la máxima
solo pueden ser cuantificadas mediante precisión. También puede considerarse

1

como valor real el valor teórico que se
desea o debería alcanzar con el
instrumento.
El Valor medido es el valor que se
obtiene durante el proceso de medida.
Cuando se realizan varias medidas el
valor que se usa para representar
dichas medidas es la media,
desechando las medidas que se
consideran anómalas.
El error se define como la diferencia
entre el valor medido y el valor real.
e Ymedido Yreal (1)
El error relativo porcentual o
porcentaje de error se define como la
relación entre error absoluto y el valor
real, en tanto por ciento.
e escala (f. s. r.). El concepto de fondo
er 100 (2)
Yreal
La exactitud es el complementario del
error.
A 100 er (3)
La incertidumbre es el grado de
discordancia entre un grupo de
mediciones realizadas ante las mismas
condiciones aparentes. Para una
medida dentro de un conjunto de
medidas, la incertidumbre indica la
dispersión de dicha medida respecto al
valor medio. Se usa la desviación
como estimación de dicha
incertidumbre.
Y Yn
I 100 (4)
Y para su voltímetro. Si el instrumento
Yn Valor de la n-ésima medida.
Y Valor medio de una serie de
medidas.
Cuando se considera un conjunto de
medidas, la incertidumbre se determina
mediante la desviación estándar (raíz
cuadrara positiva de la varianza). A
este valor se le denomina
incertidumbre estándar de la
medida.
La precisión o repetibilidad es el
grado de concordancia dentro de un
grupo de mediciones realizadas en las
mismas condiciones. Es el
2
Tema 2. Características metrológicas
complementario de la incertidumbre.
P 100 I (5)
Si un instrumento es preciso no tiene
por qué ser exacto y viceversa.
Error de incertidumbre se toma 2
veces la incertidumbre estándar,
también se conoce como
incertidumbre extendida U
Cuando se expresa la medida, se hace
en base a dos términos: la medida Y y
la incertidumbre U. Se debe expresar
en la forma Y U .
El error límite es el error absoluto
junto con el error de incertidumbre
expresado como porcentaje respecto de
la escala total de medida o fondo de
de escala se define más adelante en la
página 4. Esta forma de presentar el
error es la más utilizada por los
fabricantes.
Puede observarse que si se realizan
medidas de valores menores del fondo
de escala, el error porcentual irá
aumentando a medida que las medidas
son más pequeñas. Por esta razón se
recomienda realizar las medidas lo más
cerca posible del máximo valor del
rango de medidas.
_______________________________
Ejemplo:
Un fabricante de un voltímetro
proporciona un error límite del 2%
tiene 300V de fondo de escala tendrá
un error de 0.02 300=6V. Si medimos
120V el error porcentual será igual a
6
100 5%
120
_______________________________
El error en la medida se compone de
dos partes: error sistemático y error
aleatorio.
Los errores sistemáticos son aquellos
que se repiten constantemente y
afectan siempre en el mismo sentido.
Son debidos a problemas con
 Tema 2. Características metrológicas

instrumentos, entornos o problemas de procedimiento de medida.

observación. Variaciones durante repetidas
Los errores de instrumento son observaciones del DUT bajo
debidos a elementos que componen los condiciones aparentemente
instrumentos, por ejemplo tensión de idénticas. Todas las anteriores
muelles, movimiento de indicadores fuentes de incertidumbre pueden
mala calibración o fallo en los contribuir a esta última fuente de
instrumentos en general. Se pueden incertidumbre.
reducir realizando un adecuado
mantenimiento. 3. Características
Los errores del entorno se producen sistemáticas
cuando se utilizan los instrumentos en
Como se observa en la Figura 1, el
condiciones de trabajo diferentes a las
sistema durante el proceso de medida,
recomendadas, por ejemplo
ante un estímulo que representa a la
variaciones de temperatura, presión,
magnitud física que se pretende medir
humedad, fuerzas gravitacionales
Xe, presenta una respuesta Yr o
electrostáticas, campos
resultado de la medida. El sistema
electromagnéticos, etc.
además, responde a todos los demás
Los errores de observación son los
factores externos Xi que intervienen en
introducidos por el observador. Se
el proceso de medida.
deben a utilización de fórmulas o
La relación existente entre la respuesta
modelos aproximados, etc.
y el estimulo junto a los factores
Los errores aleatorios, también
externos no se conoce con exactitud.
conocidos como incertidumbres, se
El proceso de calibración permite
producen alternativamente y afectan en
conocer con cierta exactitud dicha
los dos sentidos; son la acumulación de
relación. Esta relación entrada/salida, o
un gran número de efectos imposibles
estímulo/respuesta, puede establecerse
de modelar y controlar. Las principales
mediante una función matemática
fuentes de incertidumbre se listan a
Y=f(Xe,Xi).
continuación.
Definición incompleta del DUT.
Realización imperfecta del DUT.
Muestra del DUT no
representativa.
Conocimiento inadecuado de los
efectos producidos por las
condiciones ambientales o
imperfecta medida de éstas.
Errores de apreciación en medidas
de tipo analógico. Figura 1. Proceso de medida.
Resolución finita de los
instrumentos. Una estimación de la medida, la
Inexactitud de los estándares de estimación de la salida y, se determina
medida y materiales de referencia. de la ecuación anterior usando los
Valores inexactos de constantes y valores estimados de las entradas, xi y
otros parámetros obtenidos de la propia función que relaciona estos
fuentes externas y usados en valores con la salida:.
algoritmos de reducción de datos. y=f(x1,x2,…xn)
Aproximaciones y suposiciones Las incertidumbre de la medida
incorporadas durante el también se calcula a partir de las

3
 Tema 2. Características metrológicas

incertidumbres de las entradas Xi.

Para las siguientes definiciones, se
considerará una sola entrada y una sola
salida, es decir, una función
monoevaluada de la forma Y=f(X).
El rango de entrada viene
determinado por los valores mínimos y
máximos a la entrada, es decir, xmin y
xmax. Asimismo, el rango de salida se
determina por ymin e ymax.
El fondo de escala o span es la
máxima variación de la variable, es
decir, para la entrada la diferencia
entre el valor máximo y el mínimo
Xf=xmax-xmin. Análogamente se define
el fondo de escala de salida como
Yf=ymax-ymin.
Un sistema de medida es lineal cuando
la función f que relaciona la entrada
con la salida corresponde a una línea
recta en su rango de variabilidad. La
expresión de la recta que pasa por los
puntos extremos es:
ymax ymin
y ymin ( x xmin ) (6)
xmax xmin
y ax b (7)
Esta recta puede obtenerse por
regresión y no necesariamente se
fuerza a que pase por los puntos
extremos. Por ejemplo, la recta puede
ser trazada mediante mínimo
cuadrados pero hacer que pase por el
origen de coordenadas o por algún
punto concreto como por ejemplo uno
de los puntos extremos del rango de
medida. Como se muestra en la Figura
2, la relación entre la entrada y la
salida del sistema de medida puede ser
aproximadamente lineal (caso a) o
puede que no sea lineal (casos b a d).
La recta puede pasar por puntos
extremos (caso a y c), puede forzarse a
que pase por el origen de coordenadas
(caso c), o se puede hacer que la recta
pase por un punto arbitrario como es el
que corresponde en la Figura 2(d) al
rango superior.
Figura 2. Regresión lineal: a) la recta
pasa por puntos extremos, b) la recta
pasa por el origen, c) la recta pasa por
puntos extremos, d) la recta pasa por el
rango superior.
La sensibilidad estática de un
instrumento puede ser definida como la
pendiente de la curva de calibración.
La no linealidad aparece cuando la
función entrada salida no puede ser
definida como una línea recta.
Esta no linealidad puede establecerse
en forma de una función cuyo valor
corresponde a la diferencia entre el
valor real y el correspondiente a la
recta que mejor se aproxima y que se
define como estándar.
NL( x) y ( x) (ax b) (8)
en cuyo caso,
y( x) ax b NL( x) (9)
El error de no linealidad se expresa
en función del máximo valor NL en
valor absoluto, es decir Nˆ L , y referido
al fondo de escala de salida.
Nˆ L
eNL 100 (10)
Yf
Es habitual expresar la relación y(x) en
forma polinómica:
n
y( x) ai xi (11)
i 0
También se utilizan otras expresiones
como es el caso de funciones

4
 Tema 2. Características metrológicas

exponenciales. las principales fuentes de no linealidad.

Aparece como consecuencia de
rozamientos, flujos, etc. La curva se
representa en la Figura 4.
Matemáticamente, la histéresis se
define como la diferencia entre la
curva superior y la inferior.
H ( x) y ( x)1 y ( x) 2 (13)
Se define el error de histéresis como el
valor máximo de la histéresis y
referido al fondo de escala de salida en
tanto por ciento.
Hˆ
eH 100 (14)
Yf

Figura 3. Representación gráfica de la

no linealidad y del error de no
linealidad.

_______________________________
Ejemplo
La resistencia en ohmios de un
termistor viene dada por la expresión
3300

R (T ) 0.04e T 273 (12)

Determinar el error de linealidad en el
rango de cero a 25° respecto a la recta
que pasa por los puntos extremos.
Solución:
La recta que pasa por los puntos
extremos del rango es:
RC(T)=7108-181,2T
La diferencia entre R y RC es Figura 4. Representación gráfica de la
3300
no histéresis y del error de histéresis
NL(T ) 0.04e 7108 181,2T
T 273

El máximo valor de NL es 664 .

Expresado en % es El umbral es el mínimo valor de la
entrada a partir del cual se obtiene un
ENL=100*664/4530=14,68%
valor medible a la salida.
_______________________________
La resolución es el cambio de la
entrada con un pequeño cambio
En este último caso, la linealidad se
medible en la salida.
mide como la máxima desviación de la
Ambos conceptos pueden ser dados
mejor línea recta de un rango de
como términos absolutos o como un
medidas. Se suele expresar como un
porcentaje de la medida o del fondo de porcentaje del fondo de escala.
Los espacios muertos corresponden al
escala.
cambio total de la entrada para obtener
El fenómeno de histéresis es una de

5
 Tema 2. Características metrológicas

cambios medibles en la salida. desplazamiento paralelo de la recta

4. Modelo estático del
sistema de medida
El modelo estático del sistema de
medida permite determinar el valor de
la medida junto con su incertidumbre.
Antes de introducir el modelo estático
del sistema de medida se definirán
característica. El desplazamiento de
sensibilidad dará lugar a un giro de la
recta respecto del punto de corte con el
eje de abscisa.
De esta forma, un incremento en la
sensibilidad puede ser expresado por:
a( X i )
a Xi a DS i X i (18)
Xi
i i

algunos errores sistemáticos. Si se producen sendos incrementos en

Hasta ahora se ha considerado que la los parámetros de la recta
salida sólo depende de la entrada. Para característica, se puede determinar la
determinar el modelo estático lo más salida como:
simplificado posible se considerarán Y a a x b b
(19)
que los efectos de los demás factores, a x a x b b
condiciones ambientales, etc. influyen Si no aparecen efectos de histéresis
directamente sobre las constantes de la pero si de no linealidad y ambientales,
recta entonces la salida viene dada por:
Y a ( X i ) x b( X i ) (15) y ax b NL ( x) a(
n
DSi xi ) x
Una segunda aproximación es i 0 (20)
m
considerar que esta influencia se b( DCi xi ) x
produce de forma lineal. i 0

Para determinas la relación lineal es La Figura 6 muestra esta ecuación en

necesario definir los siguientes forma de diagrama de bloques.
parámetros: desplazamiento de cero y
y desplazamiento del factor de escala
o de sensibilidad.

Figura 5. Desplazamiento de cero y de

sensibilidad.
Figura 6. Modelo estático del sistema
1 b( X i ) de medida.
DCi (16)
b Xi Pasemos ahora a ver la componente
y desplazamiento de sensibilidad: aleatoria del sistema de medida.
1 a( X i )
DS i (17) Modelo multietapa
a Xi
Se considera ahora un sistema con n
Como se observa en la Figura 5, un elementos conectados en serie.
desplazamiento de cero produce un

6
 Tema 2. Características metrológicas

Supuesto cada elemento lineal e de las demás variables de la forma

independiente de las condiciones siguiente:
ambientales, se puede determinar su y
y
x
y
xi
y
a
y
b (24)
modelo equivalente multiplicando x i xi a b
todas las constantes que relacionan las Y la incertidumbre se puede
entradas con las salidas de cada etapa:
determinar como:
2 2 2
y y y
y kx ki x (21)
2

x
2
x
xi
2
xi
a
2
ax (25)
i
i 2
y 2
b
b
x k1 k2 kn 6. Modelo dinámico del
sistema de medida
Figura 7. Modelo multietapa. Si el sistema de medida está sujeto a
rápidas variaciones de la entrada, la
e x y (1 ki ) x (22) relación entrada-salida puede ser
i diferente a la del caso estático o
Se observa que el error será nulo si cuasiestático. La respuesta dinámica
ki 1 . (23) puede ser expresada mediante
i ecuaciones diferenciales. Las
características dinámicas dependerán
5. Repetibilidad e (en el caso lineal) del orden de las
Incertidumbre ecuaciones diferenciales.
La repetibilidad de un instrumento es
Los instrumentos de primer orden (por
la capacidad de dicho instrumento de
repetir la misma medida manteniendo ejemplo, medidor de temperatura), se
puede caracterizar por un parámetro
las variables de entrada x y las demás
denominado Constante de Tiempo
condiciones ambientales xi constantes.
(expresada en segundos) del sistema.
La falta de repetibilidad es debida a La ecuación diferencial es:
dos factores: y y xt (26)
Para un mismo instrumento, ni las
Un sistema de segundo orden puede
entradas ni las condiciones ambientales
caracterizarse por dos parámetros:
permanecen realmente constantes, es
decir aparecen variciones de entrada y frecuencia natural rad y
n s
condiciones de medida ( x, xi ). amortiguamiento del sistema. La
Para una serie del mismo instrumento, ecuación diferencial es:
algunos componentes que se 1 2
supusieron de antemano iguales, en 2 y y y xt (27)
n n
realidad los parámetros de las
ecuaciones que relacionan las entradas En general, se pueden modelar
con las salidas varían. Esto equivale a 0sistemas de orden superior colocando
que los parámetros de la relación lineal en cascada estos subsistemas de primer
varían ( a, b ). y segundo orden.
Los parámetros dan una idea del error
Para el primer caso se asume que las
dinámico y como este se ve afectado
variables de entrada tienen una
en función de la entrada. Por ejemplo,
distribución gaussiana, en cuyo caso,
una constante de tiempo baja da lugar a
tanto la medida como la incertidumbre
una rápida respuesta y bajo error
de esta pueden calcularse de las medias
dinámico. Un sistema con alto da
de las medidas y de las incertidumbres

7
 Tema 2. Características metrológicas

lugar a bajas oscilaciones pero es más E (t )

lento (mayor error dinámico).
Las funciones de transferencia típicas yˆ n G ( jn )1 sen(n 1t n ) sen(n 1t )
se expresan mediante la transformada n 1

de Laplace, que se define como: siendo yˆ n bn la amplitud del n-ésimo

st
armónico y n arg G ( jn 1 ) .
F ( s) e f (t )dt (28)
0

El sistema de primer orden puede Apédice: Errores aleatorios.

representarse por una función de la Tratamiento estadístico
forma: El error total incluye los dos errores,
1 sistemático y aleatorio.
G( s) (29)
1 s e e s ea (34)
Y el sistema de segundo orden por una El error aleatorio es una variable
función de la forma: aleatoria y, aunque el error sistemático
1 no lo es, el error total también será una
G( s) (30) variable aleatoria.
1 2 2
2
s s 1 La función de densidad más utilizada
n n
para modelar este error es la función de
Está claro que a partir de G(s) se puede tipo gaussiano denominada función
obtener la salida con una determinada normal:
entrada variante con el tiempo x(t ) . El teorema central del límite demuestra
Haciendo su antitransformada de que la suma de n variables aleatorias,
Laplace se obtiene y (t ) . Pues bien, el cuando n , es una variable
error dinámico se define como la aleatoria de distribución normal.
diferencia entre la señal medida y la La función de densidad normal ( , )
señal real: se define como:
E (t ) y (t ) x (t ) (31) 1 2
2

o lo que es lo mismo: f x e x 2
2
E (t ) L 1 G ( s ) x ( s ) x(t ) (32) x (35)
En el caso particular en el que se
tengan señales periódicas se puede e es (36)
hacer uso del análisis de Fourier. De
este modo, se puede expresar la señal e ea (37)
en forma de una serie de Fourier:
f (t ) a0 an cos(n 1t ) bn sen(n 1t )
n 1 n 1
f e
(33)
T

2 2

an f (t ) cos(n 1t )dt
T T
2
T

2 2

bn f (t ) sen(n 1t )dt
T T
2
T

1 2

a0
T T
f (t ) dt e
es
2

En este caso el error dinámico que

Los errores se caracterizan
tiene el sistema de medida se puede
numéricamente mediante la esperanza
obtener como:
y la varianza:

8
 Tema 2. Características metrológicas

de dar la medida es hacerlo junto con

Ee e f e de (38) los valores mínimo y máximo del error
total y la probabilidad de que dicho
2 error caiga entre los límites.
Var e e Ee f e de (39)
Cuando no se conoce se emplea s
En el caso en que la función de que es una aproximación por defecto.
densidad f(e) sea una distribución t s t s
ms m ms (45)
normal ( , ), pueden calcularse n n
dichos valores, obteniéndose:
Algunas definiciones de error
Ee e f e de (40) estadístico:
Error probable: es r 0.675 que
2 corresponde al error que es probable
Var e e Ee f e de
que ocurra en un 50% de los casos.
(41)
Error estándar o incertidumbre
Var ea ea2 f ea dea 2

La esperanza caracteriza la parte
sistemática:
E e E es ea
E es E ea es (42)
es E e (43)
Para obtener una medida de la
dispersión en unidades del error se
define la desviación típica como:
e Var e (44)
No es suficiente para determinar el
error máximo.
El máximo error depende también del
tipo de función de densidad. Para el
caso de funciones no acotadas como es
el caso de la gaussiana, el error
aleatorio puede tomar cualquier valor.
Hay que introducir, por tanto, el
concepto de intervalo de confianza. El
área bajo la función de densidad en
dicho intervalo es la probabilidad de
que el error esté en dicho intervalo. El
nivel de confianza de la media de una
serie de medidas más usado es el 0.95,
2
que equivale a un intervalo , desviación estándar:
n
donde “n” es el número de medidas y
es la desviación de una muestra de
la población.
Para expresar el error o el resultado de
una medida, han de darse dos errores, y
el nivel de confianza. Otra posibilidad
estándar de la media:
n
Error estándar extendido 2
n
Se asume que la influencia en la
medida de cualquier otro parámetro
que no sea controlable actúa de manera
aleatoria. Si no se conoce la función de
densidad se puede obtener una
aproximación a partir de los propios
datos.
La media es un valor representativo de
un conjunto de datos. La más usada es
la media aritmética:
x1 x...xn
x (46)
n
La desviación es la diferencia de
cualquier dato respecto a la media.
d i xi x (47)
La desviación media nos da una idea
de cuanto se separan los datos de su
valor medio:
d 1 d 2 ... d n
D (48)
n
Más utilizada es el aproximador de la
d 12 ... d n2
(49)
s
n
Para datos menores de 30 el
denominador suele ser n-1.
Cuando se tiene un número reducido
de muestras el estimador de la

9
 Tema 2. Características metrológicas

desviación típica debe se corregido por obtener una representación adecuada

la t de Student que permite extender el del resultado.
intervalo de confianza para tener en Si se realizan sumas o rectas se
cuenta la falta de información. En la obtendrán con un número de dígitos
tabla 1 se muestra la t de Student para decimales igual al del menor de los
distintos grados de libertad y distintos sumandos.
niveles de confianza. ______________________________
Ejemplo:
Grado
s P=68. P=95% P=99 P=99.7 12343.342+22.45+45.948332+123.1=
De 3% % 3% 12534.840332=12534.8
Libert (1 ) (2 ) (3 ) _______________________________
ad
1 1.8 12.7 64 235 Si se realizan multiplicaciones o
2 1.32 4.30 9.9 19.2 divisiones se expresa el resultado con
3 1.20 3.18 5.8 9.2 un número de dígitos significativos
4 1.15 2.78 4.6 6.6 igual al del operando de menor número
de dígitos totales.
5 1.11 2.57 4.0 5.5
_______________________________
6 1.09 2.45 3.7 4.9
Ejemplo:
7 1.08 2.37 3.5 4.5
8 1.07 2.31 3.4 4.3
3.189 2.0=6.4
9 1.06 2.26 3.2 4.1
3.189 2.00=6.38
10 1.05 2.23 3.2 4.0
3.189 2.000=6.378
15 1.03 2.13 3.0 3.6
3.189 2.0000=6.378
20 1.03 2.09 2.8 3.4
Los dígitos que se desprecian se
30 1.02 2.04 2.8 3.3 redondean.
50 1.01 2.01 2.7 3.2 _______________________________
100 1.00 1.98 2.6 3.1
1.00 1.96 2.58 3.0 BIBLIOGRAFÍA
Tabla 1. Valores de la t de Student
_______________________________ John P. Bentley, “Principles of
Ejemplo: Measurement System” Editorial:
Una serie de 5 medidas dan media Longman. Tercera edición de 1995.
m 1.123 A y 0.005 A ISBN 0-582-23779-3
Para 99% y 4 t 4.6 Robert A. Witte. “Spectrum and
4.6 0005 Network Measurements”. P T R
1.123 1
m Prentice-Hall, Englewood Clifds, New
52
Jersey, 1993.
4.6 0.005
1.123 1 Alan V. Oppenheim, Ronald W.
5 2
Schafer. “Discrete-Time Signal
1113
. m 1133
. Processing”. Prentice-Hall
_______________________________ International, Inc. 1989.
J.W. Cooley, J.W. Tukey. “An
Los dígitos significativos dan una idea Algorithm for the Machine Calculation
de la precisión de la medida de forma of Complex Fourier Series”. Math
que la medida debe redondearse hasta Computation (vol 19). 1965.
los valores de la incertidumbre.
Cuando se realizan cálculos, se pueden
seguir las siguientes reglas a la hora de

10
 Instrumentación básica de medida electrónica

TEMA 3. INSTRUMENTACIÓN BÁSICA DE MEDIDA

ELECTRÓNICA
1. Introducción................................................................................................................................. 1
2. El galvanómetro de D’Arsonval, Permanent Magnetic Movil Coil (PMMC) ............................ 3
Amperímetro DC ......................................................................................................................... 5
Voltímetros DC ........................................................................................................................... 6
Medida de Resistencia................................................................................................................. 6
3. Amplificación .............................................................................................................................. 7
4. Medida de corriente alterna AC .................................................................................................. 7
Medida RMS no real ................................................................................................................... 7
Valor medio de la tensión rectificada...................................................................................... 8
Valor Pico................................................................................................................................ 9
Medida RMS real ...................................................................................................................... 10
Circuitos de cálculo analógico o digital ................................................................................ 10
Electrodinamómetro .............................................................................................................. 10
Transductores de Efecto Hall ................................................................................................ 11
Termoacopladores ................................................................................................................. 12
5. Multímetro digital...................................................................................................................... 12

sensibilidad de 20 k en un rango de 0 a
1. Introducción V
0.5 V, tiene una impedancia de entrada de
Este tema está dedicado a estudiar la 10K .
instrumentación básica de medida
Con la aparición de la electrónica, se
electrónica. Estos instrumentos permiten
incorpora a estos instrumentos una etapa
realizar medidas de tensión, corriente y
amplificadora cuya misión primordial es
resistencia en un régimen permanente, tanto
reducir los efectos de carga que tenían estos
para señal continua (DC) como para alterna
multímetros.
(AC).
Aparecen entonces los voltímetros
El primer instrumento de este tipo que se
electrónicos, Electronic Volt-Meters (EVM).
utilizó, se basó en un transductor
Los diferentes tipos de voltímetros
electromecánico, el galvanómetro de
electrónicos se vinieron denominando según
D’Arsonval, que permitía visualizar,
la tecnología empleada. En un principio
mediante una aguja sobre una escala, la
fueron voltímetros de válvulas. Con la
corriente circulante a través de él.
aparición del transistor surgieron los
Añadiendo una serie de resistencias, se pudo
voltímetros de transistores, y actualmente los
construir un instrumento de medida, que
de transistores de efecto de campo.
permitía medir no sólo la corriente, sino
Gracias a la etapa amplificadora que
también la tensión y la resistencia, todo ello
incorpora, el EVM posee impedancias de
en diferentes rangos. Este instrumento,
denominado Volt-Ohm-miliamperímetro entrada que van de 10 a 100M y se
(VOM) electromecánico, es un instrumento mantienen en todo el rango de medida,
preciso y robusto, pero sufre de un pudiendo medir corrientes del orden de pA.
importante inconveniente, la baja Podemos hacer una clasificación de estos
sensibilidad que da lugar a una baja instrumentos atendiendo a la manera de
impedancia de entrada. Por ejemplo, con una procesar la información y presentar el

1

resultado de la medida. Según la
representación de la información, existen
dos clases de voltímetros electrónicos:
analógicos y digitales. Para que la
representación sea digital, es necesario,
como es lógico, un procesamiento digital.
Este procesamiento digital se realiza
mediante un convertidor analógico digital.
En la Figura 1(b) se muestra un diagrama de
bloques simplificado en el que se observa
A A
(a)
Figura 1. Diagrama simplificado de un EVM. a) EVM analógico y b) EVM digital.
Figura 2. Multímetro digital FLUKE 37 (en
la parte superior) y fuente de alimentación
DC PHILIPS PE 1542 (en la parte inferior).
2
Instrumentación básica de medida electrónica
cómo la señal, una vez amplificada, se
convierte de analógica a digital, para
posteriormente ser representada mediante un
display numérico. También se ha
representado en la misma figura, parte (a),
un diagrama de bloques simplificado de un
voltímetro electrónico analógico. Para este
caso, la señal se amplifica y la salida del
amplificador actúa sobre el galvanómetro
que representa la medida en una escala.
CONVERTIDOR
A/D
DISPLAY
(b)
En la fotografía de Figura 2, parte superior,
puede observarse el multímetro digital
FLUKE 37. En la parte inferior de dicha
figura se muestra la fuente de alimentación
PHILIPS PE 1542, la cual incorpora tres
galvanómetros de D’Arsonval para
representar la tensión o la corriente de
salida. Este es un caso claro en el que no es
necesaria una gran precisión en la medida de
la tensión y de corriente, por lo que el
empleo de este sistema es mucho más
sencillo y, a su vez, más barato.
Pero aún habiendo un procesado digital, la
representación puede ser también analógica.
Por ejemplo, en la Figura 3 puede
observarse una ampliación de la pantalla del
multímetro FLUKE 37, en la cual se observa
en la parte superior los dígitos y en la parte
inferior una barra que corresponde a una
representación analógica conviviendo con la
digital. Esta barra horizontal está constituida

por 30 marcas, una por cada voltio medido.
En la foto aparecen 12 marcas debido a que
la tensión que se está midiendo en ese
momento es de 12,13V.
Figura 3. Fotografía ampliada del display
del multímetro digital FLUKE 37.
La representación analógica presenta la
ventaja de ser más rápida en dar una
información aproximada, incluso permite
visualizar variaciones transitorias de la
magnitud que se está midiendo. En cambio,
la representación digital permite una lectura
más precisa, quedando limitada dicha
precisión por el número de dígitos que
emplea el indicador.
2. El galvanómetro de
D’Arsonval, Permanent
Magnetic Movil Coil (PMMC)
El galvanómetro de D’Arsonval es un
transductor indicador electromecánico.
Los indicadores en general, y en particular
los indicadores electromecánicos, son
transductores actuadores, ya que en su
interacción directa con el observador
transforman la energía en forma de señal
eléctrica del sistema de medida en señal
luminosa.
El PMMC se engloba dentro de la
clasificación de transductores analógicos. La
ventaja fundamental de los indicadores
analógicos, cuando no se requiere gran
precisión en la medida, es la de presentar la
medida de manera que la lectura sea rápida,
3
Instrumentación básica de medida electrónica
sin necesidad de distracción para el
observador. Por ejemplo, el medidor de
velocidad o el nivel del depósito de
combustible de un vehículo.
El principal inconveniente es una menor
precisión en la medida. Por esta última
razón, estos indicadores están siendo
sustituidos paulatinamente por indicadores
digitales.
Los indicadores electromecánicos son, por
tanto, transductores actuadores moduladores
que constan de varias etapas de
transducción. Transforman energía eléctrica
en energía magnética; ésta se transforma en
energía mecánica que produce un
movimiento de una parte del instrumento, la
aguja indicadora, que gira o deflecta
respecto de una posición inicial. Una última
transformación a energía luminosa permite
al observador visualizar la posición de dicha
aguja. El objetivo es, por tanto, mostrar el
valor de una magnitud eléctrica, la corriente
que circula a través del indicador, mediante
el giro de una aguja de manera que dicho
giro resulte proporcional a la corriente.
Como se muestra en la Figura 4, el giro de la
aguja indicadora resulta proporcional a la
corriente de forma instantánea, k i (t ) . Si
la corriente varía de manera rápida, es decir,
a frecuencias mayores de la inversa de la
constante de tiempo del sistema mecánico,
dicho sistema mecánico no puede moverse a
la misma vez que varía la corriente, con lo
que la lectura será proporcional al valor
medio de la corriente instantánea:
1
k i (t ) dt
TT
El símbolo que se emplea para representar
un indicador electromecánico es el
mostrado en la Figura 5. Los valores que se
representan en la dicha figura se refieren a la
resistencia interna Rm y a la corriente de
fondo de escala I fs que, como se verá más
adelante, son los parámetros de diseño que
caracterizan al indicador.
 Instrumentación básica de medida electrónica

Savart.
F lT I B

i(t)

Figura 4. Representación gráfica del

indicador electromecánico.

Rm , I fs

Figura 5. Símbolo representativo del

indicador electromecánico.
El esquema físico de este transductor se
muestra en la Figura 6. Está constituido por
una bobina móvil unida a la aguja
indicadora. La bobina se encuentra
sustentada por sus extremos y gira respecto a
su eje de giro en el interior de un campo
magnético permanentemente. El campo
magnético es generado mediante un imán
permanente.
Este es un dispositivo sensible a la corriente
circulante por la bobina móvil. El campo que
genera la corriente circulante por la bobina
móvil interacciona con el campo
estacionario. El sistema electromecánico
transforma la corriente en un par
proporcional a dicha corriente. Este par
produce el movimiento del indicador de
forma que dicho movimiento pueda ser
visualizado en una escala. La lectura sobre la
escala será indicativa de la magnitud
medida, es decir, de la corriente.
En el esquema mostrado en la Figura 6, se
representan los vectores del campo
magnético, corriente y fuerza que se
relacionan a través de la ley de Biot y
Figura 6. Galvanómetro de D'Arsonval.
El par de giro M es el producto de la fuerza
F por la distancia de los conductores activos
al eje de giro r.
M F r lT r I B
La longitud total de conductores activos es el
número de espiras por la longitud total de un
conductor de ida y el de vuelta
correspondiente a una espira, es decir:
lT N 2l .
Como el área de una espira es dos veces el
radio por la longitud de la espira, A 2r l ,
se tiene finalmente:
M F r lT r I B N A B I
El resorte se encarga de hacer que el ángulo
de giro sea proporcional al par; puesto que
dicho par es proporcional a la corriente, se
tiene que el giro aplicado será proporcional a
la corriente.

4
 Instrumentación básica de medida electrónica

El galvanómetro se caracteriza por una Rm

corriente de fondo de escala I fs y una multiplicación RS .
n 1
resistencia interna Rm . Ejemplo:
Los errores de observación son debidos al Un galvanómetro de 1mA con Rm 100 se
tamaño de la escala, que es limitado (va a quiere usar con fondo de escala 100mA.
influir en la resolución del instrumento), y a 1 100
RS 101
.
error de paralaje. Este error es debido a que 100 1
el observador no se sitúa justo encima de la Para variar el rango de medida se puede
aguja indicadora. Para evitar este error se cambiar el valor de la resistencia derivación.
coloca un espejo, de manera que la medida En la Figura 8 se muestra una configuración
se da por buena cuando la aguja queda justo con tres resistencias. El uso de un
encima de su imagen. conmutador permite cambiar el rango de
Los principales errores que se producen con medida.
este tipo de medidores están provocados por
los efectos de carga, debido a que el
galvanómetro posee una resistencia interna
relativamente baja que carga al circuito que
se pretende medir. Como es lógico, este
error será menor cuanto mayor sea la
resistencia interna del galvanómetro.
A continuación se analizan algunos de los
montajes básicos que pueden realizarse con
este tipo de indicador.
Figura 8. Amperímetro multi-rango basado
Amperímetro DC en el galvanómetro.
Es la función básica, ya que la deflexión es Otra alternativa para configurar las
proporcional a la corriente. Para corrientes resistencias del amperímetro multi-rango es
elevadas se utiliza una resistencia la Derivación Universal Ayrton que se
derivación, conocida como resistencia muestra en la Figura 9.
Shunt.

Rp R m , I fs

Figura 7. Amperímetro DC de un solo Figura 9. Amperímetro DC multi-rango

rango. mediante derivación universal Airton
Como característica del divisor de corriente
I
se usa n . Mediante esta división de
I fs
corriente se determina el factor de

5
 Instrumentación básica de medida electrónica

V I fs RS Rm I fs RS I fs Rm
V I fs Rm V
RS Rm
I fs I fs
Voltímetros DC En la expresión anterior se puede definir la
Se realiza añadiendo en serie una resistencia 1
sensibilidad como S . En tal
denominada resistencia multiplicadora como I fs V
se muestra en la Figura 10. caso, la ecuación anterior se reduce a:
Para dicho voltímetro, se puede determinar R S S V Rm y, por tanto, RT S V ,
qué valor de resistencia Rs deber utilizarse
para obtener una tensión de fondo de escala siendo RT Rs Rm .
V de la siguiente forma: Esta resistencia total RT corresponde al
efecto de carga que introduce el medidor
sobre el sistema que se pretende medir.
Dicho efecto de carga produce un error, que
se hace mayor cuanto menor es la
sensibilidad para el mismo rango. Por otra
parte, se hace mayor este error por efecto de
carga para menores rangos y la misma
Figura 10. Voltímetro basado en el sensibilidad.
galvanómentro. Para tener distintos fondos de escala de la
tensión, es necesario añadir varias
resistencias de la forma que se muestra en la.
Se pueden combinar en paralelo Figura 11(a)
o en serie Figura 11(b), siendo la forma más
común la configuración en serie.
Rm , I fs
Rz

x
(a) RX

y
E

Figura 12. Medidor de resistencia basado en

el galvanómetro de D’Arsonval.

(b) Medida de Resistencia

Figura 11. Configuraciones para voltímetro El circuito para medida de resistencia se
multirango. (a) Paralelo. (b) Serie. muestra en la Figura 12. Como se observa en
esa figura, la resistencia a ser medida Rx se
conecta entre los terminales x e y. Cuando la

6

resistencia es nula, es decir, cuando se
cortocircuitan los terminales x e y, el
galvanómetro marca el fondo de escala, ya
que así se obtiene la máxima corriente por
dicho galvanómetro. A medida que la
resistencia aumenta, la corriente a través del
galvanómetro disminuye. La relación entre
la resistencia y la corriente es no lineal; en
concreto, es una relación hiperbólica, ya que
la corriente es inversamente proporcional a
la resistencia. La escala de medida de
resistencia se dibuja teniendo precisamente
en cuenta dicha relación. El potenciómetro
R2 permite efectuar la calibración del
instrumento para conseguir que la aguja
indicadora marque exactamente el fondo de
escala cuando los terminales de medida se
encuentran cortocircuitados.
3. Amplificación
La amplificación se realiza
fundamentalmente para aumentar la
impedancia de entrada del medidor, de
manera que al conectarlo al sistema que se
pretende medir se reduzcan los efectos de
carga.
Los montajes amplificadores que se emplean
son montajes del tipo acoplamiento directo o
par diferencial y se recurre a transistores del
tipo efecto de campo, bien sea JFET o
MOSFET.
4. Medida de corriente alterna
AC
La medida de tensión o corriente alterna
(AC) se basa en la medida del valor eficaz o
valor RMS (proveniente del acrónimo
anglosajón Root Means Square).
El valor RMS se define como:
1 2
Vrms v (t )dt
TT
La realización de este tipo de medida lleva
asociada errores debidos al rango de
frecuencias que abarca la señal que está
siendo medida en relación al ancho de banda
7
Instrumentación básica de medida electrónica
del medidor. Además, dicho error también se
verá afectado por otras características
propias de la señal, como son el factor de
forma y el factor de cresta. Veamos en
detalle algunos de estos parámetros.
Ancho de Banda
El ancho de banda del instrumento es un
factor importante. El resultado de la medida
no se altera si los armónicos fundamentales
no superan el ancho de banda del
instrumento, pero si la frecuencia es elevada
no se podrá medir correctamente el valor
eficaz.
Factor de Cresta
Se define como la relación
up
FC
u rms
siendo up el valor de pico de entrada y u rms
su valor eficaz.
Los valores de pico no deben superar el
límite de entrada del amplificador AC. Por
eso, cuanto mayor sea el FC, mayor error
tendremos en la medida. Por ejemplo, un
factor de cresta de 7 puede producir errores
del orden del 3% en un voltímetro de medida
AC.
Factor de Forma
El factor de forma relaciona el valor eficaz
con el valor medio de la señal
Vrms
K
Vav
siendo Vav el valor medio.
Las técnicas de medida RMS se dividen en
dos tipos, medida no real y medida real. En
la medida no real se determina el valor RMS
de forma indirecta.
Medida RMS no real
Se basa en la determinación de
características de una señal, como el valor
medio rectificado y valor pico, para, a través
de esta información, determinar el valor
eficaz. Por ejemplo, para una señal cuya
forma de onda es senoidal, se puede
determinar con facilidad el valor pico, que

será proporcional al valor eficaz, siendo la
constante de proporcionalidad la raíz de dos.
Basta con determinar el valor de pico para
así poder determinar el valor RMS, el cual
será real sólo para señales del tipo senoidal.
Las dos técnicas empleadas son la
determinación del valor medio de la tensión
rectificada y la determinación del valor de
pico. Tanto una como otra realizan un
rectificado de la señal haciendo uso de
circuitos simples con diodos.
Si se pretende rectificar la señal, hay dos
posibilidades con respecto a la
amplificación, rectificar antes y amplificar
después ( Figura 13), o bien, amplificar
primero y rectificar después ( Figura 14).
Vi
A rectifcada como entrada al galvanómetro,
Figura 13. Rectificación antes de amplificar.
Vi
A E AV
Figura 14. Amplificación antes de rectificar.
Si se rectifica antes de amplificar, se tendrá
menos sensibilidad, debido a que la caída
directa de los diodos impide medir señales
débiles. Para este caso, se obtiene como
ventaja el disponer de un mayor ancho de
banda. Si se amplifica antes de rectificar,
ocurre lo contrario, se tiene un ancho de
banda limitado pero se consigue una mayor
sensibilidad. El ancho de banda está limitado
8
Instrumentación básica de medida electrónica
por el ancho de banda del amplificador de
alterna empleado.
Como se verá más adelante, algunas técnicas
de medida AC son sensibles al valor medio
de la señal. Generalmente la señal es
senoidal y la calibración respecto al valor
RMS es válida. Pero para otras formas de
onda es necesaria una corrección de las
medidas, consistente en multiplicar las
lecturas obtenidas por una constante.
Valor medio de la tensión
rectificada
El galvanómetro es sensible al valor medio
de la tensión. Si la tensión es alterna con
media cero, la salida del galvanómetro será
cero. Puesto que el medidor necesita una
componente de continua, se usa la tensión
obteniéndose, por tanto, el valor medio de la
tensión alterna rectificada. Una posible
realización mediante circuito rectificador de
media onda se muestra en la Figura 15. La
otra posibilidad, es decir, empleando un
circuito rectificador de onda completa, se
muestra en la Figura 16.
Para una rectificación de media onda:
Ep 2
Erms
Para onda completa:
2 Ep 2 2
E AV E rms
R1 D1
Rm , I fs
Figura 15. Circuito de medida AC mediante
rectificador de media onda.
 Instrumentación básica de medida electrónica

de la del detector de pico.

V se produce un desplazamiento del nivel de
Rm , I fs
Figura 16. Circuito de medida AC mediante
rectificador de onda completa.
Valor Pico
Hay distintos montajes de sistemas
detectores de pico. Los dos montajes básicos
son el detector de pico y el detector pico-
pico.
La medida pico se realiza mediante un
simple circuito detector como el mostrado en
la Figura 17. Este circuito también se
conoce como circuito detector de envolvente
o demodulador de amplitud, ya que se usa en
aplicaciones de radio AM como circuito
demodulador. El funcionamiento de este
circuito es muy sencillo. Cuando la tensión
de entrada supera la tensión del
condensador, el diodo conduce, quedándose
el condensador cargado al valor máximo de
la tensión de entrada. Cuando dicha tensión
de entrada baja por debajo de la tensión del
condensador, el diodo se corta y la tensión
de salida permanece constante e igual al
valor pico.
El circuito, que se muestra en la Figura 18
consiste en dos etapas. En una primera etapa,
continua de valor Vp; es decir, el circuito
desplazador de nivel realiza la función de
restar a la señal de entrada un valor de
tensión igual al valor pico. La segunda etapa
corresponde a un circuito detector de pico
negativo, ya que la señal VAK es siempre
negativa. El funcionamiento de la primera
etapa del circuito se basa en el hecho de que
el condensador se carga al valor pico durante
el primer ciclo de tensión de entrada; una
vez que la tensión de entrada diminuye por
debajo del valor pico, el diodo se corta y el
condensador no vuelve a descargarse. A
partir de este momento, la tensión de salida
es igual a la tensión de entrada menos el
valor pico.
Figura 18. Circuito detector pico-pico.
Como se observa en la Figura 18,
Vi Vc VAK
A partir del primer máximo de Vi,
Vc Vp Cte.
Vc V p Cte. VAK Vi Vp
En la Figura 19 se representan las formas de
onda para el circuito detector pico-pico.

Vi Vo

Figura 17. Circuito detector de pico.

Para mejorar la sensibilidad del sistema de
medida se emplea el detector pico-pico. Este
detector da lugar a una sensibilidad del doble

9

Figura 19. Formas de onda del detector
pico-pico.
Para medida de voltajes de radiofrecuencia
se suele usar un montaje similar al detector
pico de la Figura 17, el cual se incluye en la
propia sonda de medida. El diodo que se
emplea es el diodo Schottky.
Los diodos Schottky tienen la ventaja de
poseer muy poca caída directa y muy baja
capacidad parásita. Sin embargo, tienen el
inconveniente de soportar muy baja tensión
inversa.
Para medida de potencia de radiofrecuencia
(hasta el orden de nW) se usa el mismo
circuito detector de pico, pero con una
resistencia normalizada colocada a la entrada
del detector de 50 .
En estos dos últimos casos la tensión DC
que se genera es muy baja, por lo que se
precisa de una etapa amplificadora de alta
sensibilidad.
Medida RMS real
Esta técnica se emplea para la medida de
valores RMS de ondas complejas. Las
técnicas que se van a analizar en este
10
Instrumentación básica de medida electrónica
apartado son las basadas en: circuitos de
cálculo analógico o digital,
electrodinamómetro, transductores de efecto
Hall y termoacopladores.
Circuitos de cálculo analógico o
digital
Esta técnica hace uso de varios módulos que
realizan el cálculo del valor RMS, como se
muestra en la Figura 20. Estos módulos
pueden ser implementados mediante
circuitos analógicos o mediante circuitos
digitales. Como puede observarse en dicha
Figura 20, en el primer módulo se determina
el cuadrado instantáneo de la tensión de
entrada, en la segunda etapa se determina el
valor medio y en la tercera la raíz cuadrada.
Un ejemplo de circuito integrado que calcula
el valor RMS real mediante módulos
analógicos es el circuito integrado AD536.
Figura 20. Determinación del valor RMS
real mediante módulos de cálculo.
Electrodinamómetro
Su principal aplicación se centra en la
medida de magnitudes alternas de
instalaciones eléctricas de 50Hz o 60Hz, y se
emplea principalmente como elemento
indicador de panel. Consta de una bobina
fija y una móvil. Las dos bobinas son
atravesadas por la misma corriente que se
pretende medir.

Bobina móvil
Im L
2
L
2
Bobina fija
Figura 21. Esquema eléctrico del
electrodinamómetro para medida de
corriente RMS.
La bobina fija suele estar separada en dos
mitades, como se observa en la Figura 21.
En este caso, la corriente que circula por la
bobina fija produce un campo magnético que
es proporcional a dicha corriente, B K1 I .
Por tanto, utilizando la misma expresión
obtenida para el galvanómetro de
D’Arsonval, se tiene:
M F r r lT I K1 I k I 2
Cuando la corriente es alterna, la deflexión
angular promedio de la aguja es
proporcional al valor medio. Se calibra la
escala en función de la raíz cuadrada de este
valor medio. Esta calibración equivale a
obtener el valor RMS.
Este transductor indicador también se utiliza
para medida de potencia. Se hace pasar por
la bobina fija la corriente, y con la móvil se
mide la tensión (mediante una resistencia en
serie).
El producto v i promediado corresponde a
la potencia promedio:
1
T Una de las principales aplicaciones del
PAV v i dt
T0
Transductores de Efecto Hall
El transductor de efecto Hall es un
transductor de tipo modulador. Está
constituido por una barra de material
semiconductor. El campo magnético B hace
que los portadores de carga, asociados a la
11
Instrumentación básica de medida electrónica
corriente I, se desvíen de su trayectoria,
produciéndose una fuerza electromotriz UAB
en la dirección perpendicular al campo B y a
la corriente I.
Figura 22. Transductor de efecto Hall.
La fuerza electromotriz generada es
B I
U AB U H RH Z X
a
siendo RH el coeficiente Hall.
Podemos hacer que el campo se genere por
la misma corriente que atraviesa el
transductor, con lo que se obtiene una
tensión proporcional al valor instantáneo de
la corriente elevado al cuadrado. Dicho valor
corresponde al valor eficaz elevado al
cuadrado. Otra de las aplicaciones de este
transductor es la medida de potencia. En este
caso, se hace lo mismo que para el
electrodinamómetro; por ejemplo, se hace el
campo magnético proporcional a la tensión y
se hace circular la corriente, con lo cual se
consigue el producto de la corriente y la
tensión de forma instantánea. Una vez
obtenido dicho producto se realiza un
filtrado que determina el valor medio.
transductor de efecto Hall es la medida de
corriente continua de forma aislada. Como
es sabido, la corriente alterna se puede medir
con aislamiento gracias al empleo de
transformador de corriente. Este
transformador proporciona un aislamiento
pero no permite medir corrientes de baja
frecuencia ni corriente continua. Como el
transductor de efecto Hall es sensible al

campo magnético y este campo es
proporcional a la corriente que generó dicho
campo, se puede medir dicha corriente de
forma totalmente aislada y, además, esa
corriente puede ser corriente continua, ya
que el efecto sigue existiendo aunque la
intensidad de campo no varíe con el tiempo.
Termoacopladores
Consiste en utilizar un elemento
termoacoplador. El termoacoplador está
constituido por una resistencia calefactora y
un sensor de temperatura. La potencia
disipada por la resistencia es proporcional al
valor eficaz elevado al cuadrado, tanto de la
tensión aplicada a la resistencia como de la
corriente que circula por dicha resistencia.
Figura 23. Termoacoplador.
Los sensores de temperatura pueden ser del
tipo termopar o del tipo resistencia metálica.
La tensión del termopar es proporcional a la
temperatura:
2
Vrms
Vo f p f K Vrms
2
R
El factor k depende de la distancia y de los
materiales empleados.
El principal problema de este método es la
no linealidad del termopar. Una posible
solución es disponer dos termopares en el
12
Instrumentación básica de medida electrónica
mismo encapsulado, dispuestos según un
circuito de realimentación.
La realimentación negativa reduce el tiempo
de respuesta, pero como contrapartida se
reduce la sensibilidad y se requiere una
ganancia alta en bucle abierto para que no se
deteriore la misma.
Estos medidores RMS son capaces de medir
señales de muy alta frecuencia, incluso en el
rango de las microondas.
5. Multímetro digital
La medida se realiza según los bloques
mostrados en la Figura 24.
En el bloque acondicionamiento de la señal
se incluye el cambio de rango y el tipo de
medida (tensión, corriente o resistencia).
También se incluye los circuitos para
medida de corriente alterna.
Una vez preparada la señal medida, se
realiza la conversión A/D. Tras ésta, existe
una serie de circuitos digitales que gobiernan
el display para realizar la representación
numérica del resultado de la conversión.
Figura 24. Diagrama de bloques del
voltímetro digital.
 Instrumentación básica de medida electrónica

VA

Vx

Figura 25. Convertidor A/D simple rampa.

Figura 26. . Convertidor A/D simple rampa. Formas de onda.

13
 Instrumentación básica de medida electrónica

Figura 27. Conversión analógica-digital de doble rampa.

Los métodos que se usan para la conversión Vx

A/D son: Tx t3 t2 t2 t1
Vref
Simple Rampa
El método se ilustra en la Figura 25. Las Vc
formas de onda se muestran e la Figura 26.
El inconveniente de este método es 2n T XT
principalmente la dependencia con C y R.
Doble Rampa t1 t2 t3
Un diagrama de bloques de este método se
muestra en la Figura 27. Con el de doble Vref
rampa el inconveniente anterior se evita, ya Vx
RC
que, como se muestra en la Figura 28, RC
aunque exista una variación de R o C, dicha
variación se compensa por la carga y
descarga del condensador. Otra forma de Figura 28. Tensión del condensador del
verlo, es calculando el valor del tiempo Convertidor analógico-digital de doble
durante el que el contador se incrementa rampa.
durante la fase de desintegración o de Los multímetros digitales emplean un
descarga del condensador Tx, que representa circuito integrado, que incluye la conversión
la información del resultado de la A/D y gran parte de los circuitos digitales
conversión. Se tiene que: que gobiernan el display. Un CI típico es el
t t
1 3 1 2 ICL 7135. Este circuito integrado incluye
VA Vref dt V x dt además la posibilidad de autocorrección de
RC t2 RC t1
derivas. En ellos, el proceso de conversión
Operando se llega a que:

14
 Instrumentación básica de medida electrónica

se divide en cuatro etapas: superior), el generador de pulsos de reloj

1 Autocero (AZ). Se carga un condensador a para la conversión A/D basado en el CI 555
la tensión de offset. Este condensador (parte inferior derecha) y los reguladores de
quedará en serie con el condensador del tensión de 5V y -5V, entre otros.
integrador, con lo que esta tensión se
descuenta de la tensión medida.
2 Integración. Es el proceso normal de carga
del condensador con tensión de entrada Vx y
durante un periodo de tiempo fijo.
3 Desintegración. Es el proceso normal de
descarga del condensador con una tensión
constante y durante un tiempo Tx que
determina el resultado de la conversión.
4 Puesta a cero del integrador (ZI). Se
prepara el integrador para la siguiente
medida, de forma que el condensador está
totalmente descargado.
En la Figura 29 y en la Figura 30 se
representa el esquema electrónico completo
de un multímetro digital.
En la Figura 29 pueden observarse las etapas
divisoras de resistencias para variar el rango
de medida tanto de tensión/resistencias
(divisor de resistencias de la parte superior)
como corriente (divisor de resistencias de la
parte inferior). También puede observarse el
circuito de generación de corriente para la
medida de resistencia (en la parte central a la
izquierda de la figura) y el circuito de
medida de valor RMS real (en la parte
inferior derecha).
En la Figura 30 se observa el amplificador
de entrada (a la izquierda), el convertidor
A/D de doble rampa (en el centro) el
convertidor de código BCD a 7 segmentos
(parte superior derecha), el display
compuesto por cuatro dígitos y medio (parte

15
 Instrumentación básica de medida electrónica

Figura 29. Esquema electrónico de la etapa de acondicionamiento de un multímetro digital.

16
 Instrumentación básica de medida electrónica

Figura 30. Esquema electrónico de la etapa de conversión A/D y representación de un multímetro

digital.

17
 El osciloscopio

TEMA 4. EL OSCILOSCOPIO
1. Introducción.................................................................................................................. 1
2. Tipos de osciloscopios.................................................................................................. 1
3. Tubo de rayos catódicos ............................................................................................... 4
4. Sistema de deflexión vertical........................................................................................ 8
5. Sistema de deflexión horizontal ................................................................................... 9
6. Puntas de prueba......................................................................................................... 11
Sistema de fijación ..................................................................................................... 12
Sonda pasiva de alta impedancia................................................................................ 12
Sonda pasiva de baja impedancia ............................................................................... 13
Sonda de medida diferencial ...................................................................................... 15
Sondas activas ............................................................................................................ 15
7. Osciloscopios digitales ............................................................................................... 17

siguiente apartado se hace una

1. Introducción clasificación de los distintos tipos de
El osciloscopio es un instrumento de osciloscopios que existen. En dicho
laboratorio muy versátil. Permite aparatado se introducen los diagramas
representar una señal, tensión, corriente, de bloques y algunos conceptos básicos
potencia, en función del tiempo o en que permiten describir el
función de otras señales. funcionamiento de estos equipos. En los
Existen dos tipos de osciloscopios, apartados 3, 4 y 5 se analizan las partes
analógicos y digitales. Los fundamentales de los osciloscopios. En
osciloscopios analógicos se basan en la el punto 6 se presenta una lista de
generación de un haz de electrones, el algunas de las puntas de prueba más
cual se hace visible cuando incide sobre utilizadas para conectar los
una pantalla de fósforo. En estos osciloscopios con el exterior.
osciloscopios, los electrones son Finalmente, en el apartado 7 se estudia
desviados proporcionalmente a los con mayor detalle el osciloscopio
valores de tensión de entrada. Los digital, que es el más utilizado
osciloscopios digitales, denominados de actualmente.
almacenamiento, se construyen
mediante un sistema de conversión 2. Tipos de osciloscopios
analógico/digital y una memoria de Como se comentó en la introducción,
almacenamiento. La información los osciloscopios se clasifican en
almacenada en estos osciloscopios se analógicos y digitales, aunque existen
representa mediante un monitor de osciloscopios que incorporan ambas
video o cualquier otro medio de tecnologías, denominados mixtos.
representación. Los osciloscopios analógicos se
El osciloscopio puede ser considerado caracterizan por incluir un TRC
como un elemento capaz de registrar la electrostático en el cual se realiza un
información pero, a diferencia de los verdadero proceso de transducción. En
elementos registradores de papel estos TRC’s electrostáticos, los niveles
continuo o plotter, la señal representada de tensión de entrada se convierten en
puede variar muy rápidamente. Esto es desplazamientos del punto de incidencia
posible porque, en este caso, no existen del haz de electrones proporcionales a
inercias en los elementos móviles. dicha tensión de entrada. Un diagrama
A continuación se expone la de bloques del osciloscopio analógico
organización de este tema. En el se muestra en la Figura 1. En el

1
 El osciloscopio

osciloscopio analógico, la señal Y formas de onda de la señal de entrada Y

puede ser representada en función de y de la señal de barrido X=Kt generada
otra señal X o en función del tiempo internamente en el interior de
sólo con que dicha señal X varíe osciloscopio analógico. En esta figura
proporcionalmente con el tiempo. Esto se ha representado un barrido
se consigue generando una rampa de independiente de la señal Y, el cual se
tensión en el módulo denominado denomina barrido no sincronizado.
generador de base de tiempo. En este Debido a esta falta de sincronismo las
módulo se hace variar X de la forma señales periódicas no pueden
X=Kt. En la Figura 2 se muestran las visualizarse de forma clara.

Intensidad Enfoque

Z Control
Posición Y TRC
Cañón de Electrones

Y Amplificador Línea de
Vertical Retardo

X
Amplificador
Generación Barrido Base Horizontal
de Pulso Tiempo
Pulso externo

Posición X
Base de Tiempo

Figura 1. Diagrama de bloques de un osciloscopio analógico.

Y 1 2 3
1 2 3

(a) (b)
Figura 2. Barrido no sincronizado de un osciloscopio analógico. (a) Formas de onda de
entrada al TRC y (b) resultado de la representación.
Y 1 2 3

(a) (b)
Figura 3. Barrido sincronizado de un osciloscopio analógico. (a) Formas de onda de
entrada al TRC y (b) resultado de la representación.

2

Mediante el circuito generador de
pulso de sincronismo se elige un punto
de la señal Y a partir del cual se realiza
el barrido de la rampa. A este barrido se
le denomina barrido sincronizado. Las
formas de onda para el caso del barrido
sincronizado se muestran en la Figura 3.
CTR
Aten A/D P VIDEO
Memoria
Figura 4. Diagrama de bloques de un
osciloscopio digital.
Aten A/D Memori
F D/A
Disparo
Barrido
Figura 5. Diagrama de bloques del osciloscopio mixto analógico digital.
Según la manera de representar distintos
canales, los osciloscopios pueden
clasificarse en: osciloscopios de doble
canal y osciloscopios doble traza.
El osciloscopio de doble canal se
utiliza para obtener simultáneamente
señales no periódicas en breve espacio
de tiempo. Está constituido por un TRC
con varios haces de electrones y varios
juegos de pantallas deflectoras
verticales; por ser un sistema muy caro
apenas se usa en la actualidad.
El osciloscopio de doble traza presenta
varios canales con un TRC de un solo
haz. Se basa en la conmutación de un
canal a otro aprovechando la
persistencia del fósforo como se
muestra en la Figura 6. Estos poseen
dos modos de funcionamiento, alterno
(ALT) y troceado o chopper (CHOP).
En modo alterno se representa un canal
3
El osciloscopio
En los osciloscopios digitales (ver
Figura 4) la señal se convierte a formato
digital mediante un proceso de
conversión analógica digital. Esta señal
se almacena en una memoria. La
información almacenada se representa a
menor frecuencia mediante una pantalla
de video.
El osciloscopio mixto incluye las dos
formas de tratamiento de la señal, es
decir, usa el tubo de rayos catódicos en
forma analógica y además, dicho tubo
se usa como pantalla de representación
para la información digital.
D/A
por cada pulso de disparo, es decir, la
señal de conmutación proviene del
circuito de barrido, como puede
observarse en la Figura 6.
En modo troceado se representa cada
canal por tramos, es decir, se usa una
onda de mayor frecuencia que la de
barrido y se va conmutando entre un
canal y otro a dicha frecuencia.
El osciloscopio de doble traza incorpora
un sistema mediante el cual, para
señales de baja frecuencia (tiempo por
división mayor de 0.1 ms ) conmuta
div
de forma automática a modo CHOP.

Canal A
Canal B
SW
Barrido
Figura 6. Diagrama de bloques de un
osciloscopio de doble traza.
A los osciloscopios con capacidad de
mantener la información durante un
cierto tiempo se les denomina
osciloscopios de memoria.
El osciloscopio de memoria almacena la
señal en un punto intermedio para poder
ser tratada, bien convertida a digital o
representada de manera más lenta. El
almacenamiento se puede realizar de
distinta forma, mediante memoria CCD
basada en dispositivos de acoplamiento
de carga, mediante TRC de emisión
secundaria de electrones o mediante
memoria digital. Las memorias CCD’s
están constituidas por capacidades
gobernadas por interruptores analógicos
de forma que se almacenan los valores
de tensión en una serie de
condensadores. Cada muestra se va
transfiriendo de un condensador a otro
en forma de buffer.
-
+ Es similar a un tubo de imagen de un
+ televisor, pero en este caso el haz de
- electrones se desvía mediante campo
- eléctrico y no magnético. Por esta razón
-
Cátodos Seundarios
Figura 7. TRC con emisión secundaria.
El TRC con emisión secundaria (ver
Figura 7) corresponde a un osciloscopio
de memoria con un haz de electrones
primario y un haz de electrones
secundarios. El haz de electrones
primario dibuja la curva sobre una
rejilla metálica próxima a la pantalla de
fósforo, cargando positivamente la zona
que es alcanzada por el haz primario.
Existe un haz secundario y uniforme
4
El osciloscopio
proveniente de los cátodos secundarios
que atraviesa la zona cargada
positivamente. El resto de la rejilla
metálica está a un potencial negativo,
que impide el paso de la nube de
electrones uniforme generada por los
cátodos secundarios.
El osciloscopio de muestreo se emplea
para representar señales periódicas de
muy alta frecuencia. Éstos usan técnicas
de muestreo para almacenar señales de
frecuencias superiores a la máxima
admisible por el sistema de adquisición.
A esta técnica se le denomina muestreo
en tiempo equivalente, a diferencia del
muestreo convencional denominado
muestreo en tiempo real. El muestreo
puede ser realizado en forma analógica
o digital. La idea consiste en adquirir en
cada ciclo de señal una parte de dicha
señal; una vez transcurridos varios
ciclos, la señal original puede ser
reconstruida con la información captada
en dichos ciclos. Debido al avance de la
tecnología digital, los osciloscopios de
muestreo digitales son los que más se
usan en la actualidad. Con ellos se
pueden lograr frecuencias de muestreo
en tiempo equivalente de decenas de
GHz.
3. Tubo de rayos catódicos
a este tubo se le denomina tubo
electrostático.
Está constituido por un envoltorio de
vidrio al vacío, en cuyo interior se
encuentran las siguientes etapas (ver
Figura 9):
1. Emisión. Cátodo emisor de
electrones K, G.
2. Enfoque y Aceleración. Ánodos
preacelerador a1, enfoque a2 y
aceleración a3.
3. Deflexión. Pantallas deflectoras X,
Y.

4. Postacelaración. Elementos de
postaceleración P1, P2.
5 Representación. Pantalla de fósforo.
Todas las conexiones eléctricas
menos la alta tensión se realizan en
la base.
El emisor de electrones se compone
del triodo y el foco. Su misión es la de
generar electrones mediante un proceso
termoiónico producido en el cátodo
caliente. El cátodo se rodea de una capa
cilíndrica con una pequeña abertura y a
potencial negativo que repele los
electrones. Actúa como rejilla de
control. El foco estigmático consiste en
una puerta de rejilla de válvulas con tres
ánodos, como se muestra en la Figura
10.
Las pantallas deflectoras desvían el
haz de electrones en las dos direcciones.
Se produce de forma electrostática
mediante campos eléctricos, a trasladando por el interior de la pantalla
diferencia del tubo de imágenes de
video, cuya deflexión es magnética.
Este tipo de deflexión electroestática
ofrece la ventaja de trabajar a mayores
frecuencias y tener una gran linealidad.
Las pantallas deflectoras se colocan en
ángulo recto. Estas pantallas suelen
proporcionarse en forma de ángulo para
63Vac f
f
G
a1
1M K
a2 a3
470K
-1500 V
2,5M
500K
Intensidad Z Foco
Figura 9. Esquema del tubo de rayos catódicos.
El osciloscopio
aumentar la dimensión de la pantalla y
disminuir la longitud del tubo. Hay tres
tipos:
(a) (b) (c)
Figura 8. Perfil de la pantalla deflectora.
a) En ángulo, b) acodadas, c) curvas.
La máxima respuesta en frecuencia está
limitada por el tiempo invertido en
viajar un electrón a través de la longitud
total de la pantalla deflectora. Para
sistemas que trabajan en alta frecuencia
se recurre al uso de pantallas
segmentadas, como se muestra en la
Figura 11. Con ellas se pretende hacer
que la onda de tensión se transmita al
haz de electrones a la vez que se va
deflectora. Se realiza una línea de
retardo mediante parámetros
concentrados de forma que la tensión se
va aplicando al haz de electrones a la
vez que se va desplazando por la línea
de retardo.
Y X
P1
2kV
P2
300V
20kV
1M
Astigmatismo
5
 El osciloscopio

E1 La intensidad de campo entre placas se

puede determinar a partir de la tensión
entre placas VD como:
VD
ED y
d
K E2 siendo d la distancia entre placas.
G El electrón se somete a una fuerza:
a1 e VD
a2 F e ED y
d
Figura 10. Sistema de enfoque. Ánodos Esta fuerza actuará mientras atraviese
a1 y a2. Lentes electrónicas E1y E2. las placas durante un tiempo:
l
te
Ve
El electrón adquirirá una componente
de velocidad sobre el eje y:
Figura 11. Placas de deflexión e VD l
Vy a te
segmentadas. d m Ve
A continuación, se pretende determinar Por otra parte, la energía de aceleración
la relación existente entre la tensión se invierte en imprimir una energía
entre placas y la desviación que cinética de valor:
experimenta el haz de electrones una 1
m Ve2 Vac e
vez que incide sobre la pantalla de 2
fósforo. Esta relación es el factor de siendo Vac el potencial de aceleración.
deflexión. Si la pantalla está a una distancia L, de
Supóngase un TRC monoacelerado, es la pantalla deflectora (ver Figura 12) el
decir, la única aceleración que se aplica electrón tardará un tiempo de vuelo:
es la debida a la diferencia de potencial L
tv
cátodo ánodo. Sea un electrón que viaja Ve
con velocidad Ve según la dirección Z La distancia recorrida en dirección
como se muestra en la Figura 12. vertical será el producto de la
y componente de velocidad en dirección
e vertical Vy por tv:
V y L e l L VD
D Vy tv
z Ve Z Ve d m Ve2
x VD l L
D S p VD
VD 2 d Vac
+ 2 S p es la sensibilidad de placas:
l L
D Sp en cmV
d 2 d Vac
1
F D Factor de deflexión V cm .
VD Sp
l 2 Ejemplo:
L 15 cm, l=2 cm, d=1 cm, Vac 500 V
Figura 12. Desviación del haz de 33.2V
electrones. F .D
cm

6

Existen condicionantes que hacen que
S p no sea tan grande como se desee:
La distancia entre placas d está limitada
por los extremos de las placas; los
electrones siguen una parábola y pueden
variar la sensibilidad o chocar con
dichas placas. Además, si d disminuye,
la capacidad parásita entre placas
aumenta.
La longitud de placas l, también está
limitada por las mismas razones que d.
Además, si la tensión entre placas Ve
varía mientras el electrón pasa a través
de la placa, este efecto no repercute
sobre el haz y se pierde sensibilidad.
Esto significa que en realidad la
sensibilidad S p no es constante, será
función de la frecuencia, y se verá más
influenciada para mayores longitudes de
placas. Para tener una longitud de
placas sin por ello afectar
2 KV
Figura 13. TRC con postaceleración.
Los materiales con la propiedad de
emitir luz al ser bombardeados por
electrones se denominan fluorescentes.
Poseen otra propiedad denominada
fosforescencia que es la capacidad de
emitir luz durante un cierto espacio de
tiempo. A este tiempo se le denomina
persistencia. En función de esta
persistencia, los TRC se clasifican en:
TRC de persistencia corta. La
persistencia es del orden de
microsegundos. Está realizado
mediante fósforo del tipo
P 4 P11 P31 .
TRC de persistencia media. La
persistencia es del orden de
7
El osciloscopio
excesivamente a la respuesta en
frecuencia se usan las placas
segmentadas. Estas placas se muestran
en la Figura 11. El sistema se comporta
como una línea de parámetros
distribuidos.
La tensión de aceleración Vac debe ser
baja pero, si esto ocurre en un TRC
monoacelerado, el fósforo queda poco
iluminado.
L no puede hacerse excesivamente largo
por ser un equipo portátil de laboratorio.
La postaceleración se hace necesaria
para frecuencias por encima de los
10MHz con el fin de poder iluminar
bien el fósforo. Se coloca una rejilla o
unas hélices para generar un campo
equipotencial de alta tensión que
produzca esa postaceleración. En la
Figura 13 se muestra este sistema.
20 KV
milisegundos. Está realizado
mediante fósforo del tipo P1 P 2 .
TRC de persistencia larga. La
persistencia es del orden de
segundos. Está realizado mediante
fósforo del tipo P 7 .
 El osciloscopio

Amplifición
Preamplificador
C Vertical
AC
Línea de
Atenuador retardo
DC
Acoplamiento
Al circuito de
sincronismo

Figura 14. Sistema de deflexión vertical.

10 mV
20 mV
50 mV
900K 100 mV
Prev Prev
200 mV
90K 500 mV 1000
1V
10-30pF 2V
10K 600
5V
400

Volt
div

Figura 15. Etapa atenuadora del sistema de deflexión vertical.

ancho de banda.
4. Sistema de deflexión Otra característica muy relacionada con
vertical las anteriores es el tiempo de subida.
El diagrama de bloques se muestra en la El tiempo de subida es el tiempo que
Figura 14. El acoplamiento puede ser tarda la señal en pasar del 10% al 90%
DC o AC. Para realizar el acoplamiento ante una entrada escalón. Está
AC se coloca un condensador en serie relacionado con el ancho de banda
con un valor típico de 01. F. mediante la expresión:
tr BW 0.35
El atenuador de entrada se construye en tr es el tiempo de subida en S.
la secuencia 1- 2- 5, por ejemplo 10, 20,
BW es el ancho de banda en MHz.
50, 100, 200mV. Ha de dar siempre la Para etapas en cascada se demuestra
misma impedancia de entrada. Si la empíricamente que:
impedancia de entrada al amplificador 2 2
es elevada, la impedancia de entrada del rN r1 ... rn

atenuador apenas variará. Lo que si La impedancia de entrada es otra

varía es la impedancia de entrada del
amplificador a alta frecuencia. Se
recurre a colocar un atenuador
compensado y en dos etapas.
El conjunto atenuador-preamplificador-
amplificador va a estar caracterizado
por la sensibilidad medida en cmV para
media banda, mínima atenuación y el
característica importante para medida de
sistemas de alta impedancia. Valores
típicos de impedancia de entrada son:
Rim 1 M Cim 50 pF
La línea de retardo ha de permitir la
visualización de la señal justo antes del
disparo y coloca para visualizar la
subida de la señal justo antes del
instante de disparo.

8
 El osciloscopio

5. Sistema de deflexión
horizontal
Cuando se desea medir la respuesta I

temporal de una señal, el haz de

elctrones se deflecta en sentido Vh
horizontal a velocidad constante con el
tiempo. Figura 16. Circuito equivalente para
La variación de la tensión horizontal se
generación de rampa.
realiza mediante una rampa de tensión
La pendiente de la rampa se puede
producida por el proceso de carga de un controlar mediante la variación de I y C.
condensador a corriente constante como
En la Figura 17 se muestra un circuito
el mostrado en el circuito de la Figura
que permite variar la pendiente de esta
16. rampa que se usa para fijar V/div del
La tensión de salida del circuito se
osciloscopio.
calcula de la ecuación:
dv I
Cte
dt C
15 V
N

R R/5

R/3

+10
Descarga Barrido

C C C
10 100 50ns
20 s div
div
Figura 17. Variación de la escala de tiempo por división en un osciloscopio analógico.

Acoplamiento
Canal A DC
AC Amp. Comparador Rectificador
Canal B
AF Dif. Inversor Schmitt Pulsos
EXT Disparo
1
Nivel Pendiente Derivador
GF

Figura 18. Circuito de acoplamiento del disparo.

9
 El osciloscopio

6 Impulso TRC Eje Z

Disparo
1 + Monoestable 2 Integrador 3
X de
Fig. 17
+ barrido

4 Monoestable
de
retención

Figura 19. Circuito de temporización para el disparo del barrido.

1
T1
Salida del monoestable de
2 barrido

Barrido
3

Retención
4

Entrada del monoestable de

5 barrido Línea de Disparo

Histéresis
6 Impulso

Eje Z TRC

Figura 20. Formas de onda del circuito de barrido horizontal.

El barrido puede ser simple o síncrono. la cual se realiza el tratamiento del

El barrido síncrono utiliza la pulso de sincronismo.
información del pulso de disparo de uno El acoplamiento para el disparo se elige
de los canales o del exterior. El pulso de de distintas señales: canal A, canal B,
sincronismo también puede ser tomado señal externa o la red eléctrica. El
de la propia red eléctrica. El diagrama acoplamiento consiste en una serie de
de bloques del sistema de generación de filtros que acondicionan la señal de
pulso de sincronismo para un sincronismo. Los filtros empleados dan
osciloscopio típico de ancho de banda lugar a los distintos tipos de
igual a 60MHz, se muestra en la Figura acoplamientos para el disparo:
18. En este diagrama se distingue una acoplamiento DC, AC, HF y LF.
primera etapa que se denomina El acoplamiento DC es el más sencillo
acoplamiento para el disparo en la ya que se realiza mediante un paso
que se prepara la señal para usarla de directo. El ancho de banda está limitado
señal de sincronismo y una segunda en por la impedancia de entrada del

10

amplificador diferencial. Teniendo en
cuenta dicha impedancia, el sistema
presenta un comportamiento de filtro
paso bajo, es decir, cubre el rango desde
DC hasta unos 20MHz.
El acoplamiento AC es el más usado.
Elimina la componente continua de la
señal con la que se pretende sincronizar.
Este filtro de acoplamiento presenta un
comportamiento de filtro pasabanda con
una frecuencia inferior de 60Hz y una
superior de 20MHz.
El acoplamiento HF o rechazo de alta
frecuencia se comporta como un filtro
pasabanda que presenta una frecuencia
inferior de 60Hz y una superior de
50KHz.
El acoplamiento LF o rechazo de baja
frecuencia se comporta como un filtro
pasabanda que presenta una frecuencia
inferior situada en 50kHz y una superior
de 20MHz.
Como puede observarse en la Figura 18,
una vez que se elige la señal de
sincronismo y se filtra, esta señal se
compara con un nivel de tensión que es
conocido como nivel de disparo
(LEVEL). Seguidamente, esta señal se
invierte mediante un circuito inversor,
en función de que se pretenda
sincronizar con el flanco positivo o el
flanco negativo (SLOPE). Esta señal se
compara con cero voltios mediante un
comparador Schmitt para convertirla a
una señal cuadrada. Esta señal cuadrada
se hace pasar por un circuito derivador.
Tras este circuito se obtienen pulsos. Un
circuito rectificador elimina los pulsos
positivos para generar los pulsos de
sincronismo.
Los pulsos de sincronismo se usan para
producir la señal que determina el
comienzo de la rampa de tiempo. Estos
pulsos de sincronismo son temporizados
mediante el circuito de retención de la
Figura 19. El circuito monoestable,
cuando recibe un pulso, mantiene
activada la salida durante un tiempo T.
El monoestable de retención evita que
exista disparo mientras la señal de
11
El osciloscopio
barrido está decayendo. Este
monoestable puede ser controlado para
valores mayores mediante el
potenciómetro denominado HOLD-
OFF. Éste temporizador permite
representar señales complejas con
varios flancos de forma que los flancos
siguientes al de disparo son rechazados
por dicha temporización.
Cuando no existe señal de disparo el
osciloscopio se encuentra bloqueado.
Existe un circuito de disparo automático
que asegura el arranque del barrido en
ausencia de disparo. En modo
automático, el circuito de base de
tiempo se conmuta a modo auto unos
100ms después del último pulso de
disparo. Cuando llega un nuevo pulso se
conmuta a modo normal.
Para señales de frecuencia inferior a
10Hz es recomendable utilizar modo
normal para evitar la interacción con el
circuito de disparo automático.
El modo único (single) sólo acepta un
pulso de disparo. Se utiliza para captura
de transitorios. Sólo se permite un
nuevo pulso si se utiliza el pulsador de
reset.
6. Puntas de prueba
Son prolongadores o cables que
permiten conectar el osciloscopio al
sistema a medir. También se les
denomina sondas.
En la Figura 21 se muestra una sonda
junto a sus accesorios.
Figura 21. Sonda típica 10:1 junto con
sus accesorios.
 El osciloscopio

Las misiones de la sonda son: Existen sondas de pequeña dimensión

Disminuir los efectos de carga sobre para dispositivos de montaje superficial
el sistema a medir. Generalmente (SMD). En la Figura 23 se muestra una
tendrán alta impedancia o una de estas sondas conectada a un circuito
impedancia de adaptación. integrado.
Disminuir los efectos de retorno por
cable de tierra. Poseen un cable de
tierra muy corto para que las
inducciones sean mínimas.
Minimizar los efectos de
perturbación electromagnéticas
gracias al uso de cables
apantallados.
Producir una conexión mecánica
sólida.
Figura 23. Sonda de pequeño tamaño
Extender el rango de medida. Es
para sistemas de montaje superficial.
decir, aumentar la tensión máxima
medida mediante sondas
atenuadoras. Por ejemplo, la sonda
atenuadora x10 extiende el rango
hasta 400V, y la sonda atenuadora
x100 lo extiende hasta los 4kV.
Posibilidad de efectuar medidas de
otro tipo: medida diferencial,
medida de corriente, temperatura,
radiación luminosa, etc, sin más que
emplear sondas que incluyan el
transductor correspondiente a ese
tipo de medida.
Compensar los efectos de las Figura 24. Kit de una sonda de
capacitancias del propio cable y de pequeñas dimensiones para sistemas de
la entrada del osciloscopio para montaje superficial.
aumentar el rango de frecuencias. En la Figura 24 se muestra el kit
completo de esta sonda.
Sistema de fijación
Existen conectores para placa de Sonda pasiva de alta impedancia
circuito impreso para realizar una mejor Desde la figura 25 a la 28 se muestran
fijación en los sistemas bajo prueba. diferentes modelos de sondas pasivas.
Estos conectores se muestran en la Una sonda pasiva 10:1 junto con la
Figura 22. impedancia de entrada del osciloscopio
puede representarse por el circuito
equivalente de la Figura 25. En dicho
circuito R1 C1 representa la impedancia
de la sonda y R2 C2 la impedancia de
entrada del osciloscopio.

Figura 22. Enchufe soporte para sonda.

12
 El osciloscopio

R1 es un recorte de la respuesta (domina la

respuesta de filtro paso-bajo).
C1 Cuando R1 C1 R2 C2 se dice que
V1 R2 C2 V2 está sobrecompensada.

Figura 25. Modelo equivalente de una

sonda pasiva 10:1 junto con la
impedancia de entrada del osciloscopio.
Para esta sonda se puede determinar la
relación de atenuación en función de la (a) (b)
frecuencia. Definiendo las siguientes Figura 26. Efecto de la
admitancias: descompensación de la sonda sobre una
1 onda cuadrada. a)Subcompensada
Y1 1 j R1 C1
R1 b)Sobrecompensada.
1
Y2 1 j R2 C2 La sonda pasiva de tensión tiene
R2
distintas disposiciones constructivas
1 para la relación 10:1.
V2 Z2 Y2 Y1 1
V1 Z1 Z2 1 1 Y1 Y2 Y Las sondas 10:1 presentan menor
Y1 Y2 1 2 capacidad de entrada que las 1:1 (la
Y1
capacidad de la 1:1 es la del
V2 R2
osciloscopio) del orden de 10 pF. Se
V1 1 j R2 C2 puede disminuir dicha capacidad
R2 R1
1 j 1 R1 aumentando la relación de atenuación,
En el caso en que R1 C1 R2 C2 la por ejemplo 100:1. Esta sonda presenta
V R2 una alta impedancia de entrada y una
relación de tensión 2 . Es baja capacitancia, de unos 2pF, pero la
V1 R1 R2
señal está muy atenuada.
decir, esta relación de tensiones no
depende de la frecuencia. En este caso Sonda pasiva de baja impedancia
se dice que la sonda está compensada. Existen otro tipo de sondas de menor
La impedancia total que cargará al capacidad pero presentan el
circuito que se pretende medir es inconveniente de una impedancia
R1 R2
Z Z1 Z2 menor. Se trata de las sondas de baja
1 j R1 C1 1 j R2 C2
impedancia como la mostrada en la
Con la condición anterior Figura 30. Éstas se realizan mediante
R1 C1 R2 C2 : una línea de transmisión que conecta
R1 R2 R2 directamente con el osciloscopio en una
Z
R2 1 j R2 C2 terminación de 50 .
Se observa que la impedancia ha sido Debido a la baja capacitancia y baja
aumentada en el factor de atenuación. impedancia de entrada de este tipo de
La compensación se consigue haciendo sondas, la principal aplicación de ésta es
que varíe el condensador de la sonda a la medida en alta frecuencia.
para adaptarlo a la impedancia de
entrada de cada osciloscopio.
Cuando R1 C1 R2 C2 se dice que la
sonda está subcompensada y el efecto

13
 El osciloscopio

10 pF Ajuste Compensado Osciloscopio

5-30 pF

Punta Tip 9M
40 pF 1M
Tierra

Figura 27. Sonda pasiva 10:1 de alta impedancia con condensador de compensación en
el conector del osciloscopio.

5 30 pF
14-21 pF
Punta 9M CC 100 pF 1M
CS 2 4 pF

Figura 28. Sonda pasiva 10:1 de alta impedancia con condensador de compensación en
la carcasa.

Figura 29. Sonda pasiva 10:1 de alta impedancia con circuito de compensación de alta
frecuencia.

450

50 50

Figura 30. Sondas pasivas de baja impedancia para alta frecuencia.

La baja capacitancia de entrada de estas Además, la pequeña dimensión de estas

sondas, en torno a los 0.25pF, se debe a
que la impedancia vista desde el
comienzo de la línea de transmisión es
50 resistivo puro. El sistema de masa
permite a este tipo de sondas llegar a
varios GHz de ancho de banda.
puntas de prueba permite el fácil acceso
a pequeños componentes. Esta sonda se
suministra con dos posibilidades de
atenuación, 10:1 con 500 de
impedancia total vista desde la entrada,

14
 El osciloscopio

y 20:1 con una impedancia total de haceVS 0 , se obtiene:

1000 . VA VB Vmc
RA RB
Vmc
1 1
R1 RA R2 RB K1 1 K2 1
K2 K1
V mc
K1 1 K2 1

R1 R2
Si se hace K2 K1 , es decir
,
R A RB
la tensión de modo común quedará
atenuada totalmente.
Las características típicas de estas
sondas son 500 MHz de ancho de banda
con 10:1 de atenuación. Para un
máximo de 100:1 de atenuación, se
Figura 31. Sonda de alta frecuencia y
sus accesorios. puede llegar a frecuencias del orden de
los GHz.
Una alta resistencia de entrada de 1
Sonda de medida diferencial MOhm y baja capacitancia de entrada,
Para realizar medida diferencial inferior a 6 pF, permiten minimizar los
utilizando dos sondas hay que efectos de carga sobre el circuito bajo
asegurarse de que sean iguales y la prueba.
atenuación sea la misma. En la Figura El CMRR puede ser mayor de 40 dB a
32 se observa el circuito equivalente de 10 MHz.
dos sondas que no tienen los mismos Un inconveniente que presentan es su
valores de impedancias. baja tensión de entrada que suele ser de
Canal A ± 30V.
VA
RA
R1 Sondas activas
VS
RB Se consigue reducir la capacidad de
VB entrada y aumentar la impedancia sin
R2 Canal B perder sensibilidad. Se puede llegar
Vmc hasta los 250 MHz sin pérdida de señal
de entrada. Se basan en la utilización de
un amplificador con entrada FET.
Figura 32. Modelo equivalente de la
VCC
medida diferencial mediante dos
sondas.

VCC

Figura 33. Sonda diferencial. Figura 34. Circuito electrónico de una

sonda activa.
En el circuito de la Figura 32, si se

15
 El osciloscopio

Figura 35. Sonda activa.

Figura 37. Sonda de corriente.
La sonda de la Figura 35 es una sonda
activa 10:1 capaz de medir hasta Para la medida de corriente continua
2.5GHz con una impedancia de carga de DC se usa la sonda Hall. El transductor
0.6pF y 100k . La máxima tensión de de efecto Hall que incorpora dicha
entrada es 40Vac. sonda permite medir corrientes
A modo de resumen con respecto a las continuas, ya que el campo magnético
sondas analizadas anteriormente, en la es proporcional a la corriente circulante
Figura 36 se representa un gráfico por el cable. Un esquema equivalente de
comparativo de la impedancia de la sonda de corriente DC se muestra en
entrada de dichas sondas en función de la Figura 39.
la frecuencia.
Cable Transformador
AC

Figura 36. Impedancia de entrada de las Figura 38. Sonda de medida de

principales sondas en función de la corriente AC.
frecuencia.
Sensor Hall
Sonda de medida de corriente
La medida de corriente se realiza
mediante la sonda de corriente como la
mostrada en la Figura 37. La sonda de
corriente se basa en un transformador de
corriente de forma que el primario de Cable
dicho transformador es el propio cable
por el que circula la corriente que se
Figura 39. Sonda de corriente DC
pretende medir. El secundario del
basada en transductor de efecto Hall.
transformador se bobina sobre el núcleo
de hierro que rodea al cable (ver Figura
38). Mediante este método pueden
medirse corrientes de hasta un rango de
frecuencias de 50 MHz.

16
 El osciloscopio

7. Osciloscopios digitales muestrear la señal ciclo a ciclo pero en

Estos osciloscopios son los más instantes no consecutivos. En este caso
empleados en la actualidad, se puede muestrear información de la
principalmente en laboratorios de señal antes y después del instante de
investigación y desarrollo de sistemas disparo, como se muestra en la Figura
electrónicos. 42.
Las principales ventajas que incorporan El muestreo múltiple consiste en
este tipo de instrumentos son: muestrear la señal varias veces por
periodo. Esta técnica permite disminuir
Captura de señales simples o
repetitivas. el tiempo de adquisición. En el caso de
muestrear dos veces por periodo, como
Representación permanente de la
se muestra en la Figura 43, el tiempo se
forma de onda.
reduce a la mitad.
Almacenamiento de eventos para un
posterior tratamiento.
Visualización de la señal antes y
después del disparo.
Control pleno de las condiciones de
adquisición.
Capacidad de medida con cursores.
Capacidad de comunicación de la
información.
Capacidad de control remoto y
almacenamiento de la
configuración.
La estructura se mostró en la Figura 4.
En dicha estructura se observan dos
bloques fundamentales: el convertidor
A/D y la memoria.
La capacidad de muestreo de estos
osciloscopios se basa en técnicas de
conversión A/D muy rápidas. La técnica
empleada es la conversión tipo flash. En
la Figura 40 se muestra un convertidor
A/D tipo flash de 8 bits capaz de
muestrear a 200Ms/s.
La velocidad de muestreo se incrementa
aún más mediante técnicas de muestreo
en tiempo equivalente, tal como fue
comentado anteriormente.
El muestreo en tiempo equivalente
puede realizarse de varias formas:
muestreo secuencial, muestreo aleatorio
y muestreo múltiple. El muestreo Figura 40. Convertidor A/D tipo flash
secuencial consiste en muestrear la de 8 bits AD770.
señal cada ciclo o periodo de señal de
forma consecutiva a partir del instante
de disparo, tal como se muestra en la
Figura 41.
El muestreo aleatorio consiste en

17
 El osciloscopio

Señal los canales simultáneos. Por ejemplo,

un osciloscopio de 4 canales almacena
Señal de
muestreo
cada canal con 6 bits de resolución.
Esto es debido a que para una
Señal
resultante
representación de cuatro señales
simultáneas se ocupa un cuarto de la
Figura 41. Muestreo en tiempo pantalla, con lo que se necesita un
equivalente secuencial. cuarto de información para visualizarse.
Esto puede verse a simple vista en la
visualización de un osciloscopio de 4
canales donde se ven trazas más gruesas
Señal
debido a los 6 bits de resolución que
usan. La resolución influye
Señal de
muestreo directamente en la precisión. En los
osciloscopios digitales queda reducida
Señal
resultante en muchos casos al orden del 2%, que
es similar a la precisión de los
Figura 42. Muestreo en tiempo osciloscopios analógicos.
equivalente aleatorio. La capacidad de memoria N equivale
al número de datos que el osciloscopio
es capaz de almacenar. Las memorias
Señal empleadas en estos sistemas son
memorias especiales, de muy alta
velocidad. Estas memorias se realizan
Señal de
muestreo 1
mediante lógica ECL. La capacidad de
Señal de memoria típica de los osciloscopios
muestreo 2
digitales es del orden de 500kB por
Señal canal. Algunos osciloscopios de alta
resultante gama llegan hasta unos 2MB por canal.
El tiempo máximo que puede ser
Figura 43. Muestreo en tiempo capturado por un osciloscopio digital se
equivalente aleatorio múltiple con dos denomina tiempo de ventana Tw. Éste,
muestras por periodo. se calcula como el producto de la
capacidad de memoria por el periodo de
Las características técnicas del
muestreo Ts.
osciloscopio digital se resumen
Tw=Ts N
básicamente en tres parámetros:
Por otra parte, el tiempo de ventana es
resolución, velocidad de muestreo y
igual al tiempo por división o base de
capacidad de memoria.
tiempo (T/div) multiplicado por el
La resolución está íntimamente
número de divisiones D
relacionada con el número de bits del
convertidor A/D. Ésta puede ser Tw T .D
div
cuantificada como 1/n, donde n es el La frecuencia de muestreo es la
número de bits del convertidor A/D. inversa del tiempo de muestreo y se
Algunos osciloscopios multitraza, expresa en muestras por unidad de
cuando representan varios canales tiempo. Se suele usar megamuestras por
simultáneos reducen la resolución de la segundo, en la literatura anglosajona
traza. Esto es debido a que, al ser muy megasamples per second (MS/s) como
cara la memoria de almacenamiento, unidad más habitual. Con las
usan menos bits para almacenar todos ecucaciones anteriores se puede

18

determinar la relación que existe entre
la frecuencia de muestreo y el tiempo
por división:
N representación que poseen algunos de
f S ( S / s)
T .D
div
Esta expresión aparece representada en
la Figura 44.
Debido a que la capacidad de memoria
es una cantidad constante, la única
forma de capturar tiempos mayores es
hacer el periodo de muestreo más
grande. Por ejemplo, un osciloscopio de
100kB de capacidad de almacenamiento
y un periodo de muestreo de 2ns
(500MS/s) es capaz de almacenar un
tiempo de ventana de 0,2ms a dicha
frecuencia de muestreo.
Si el usuario quisiera representar un
tiempo de 4ms, el tiempo de muestreo
debería ser aumentado 20 veces, con lo
que la precisión en la medida de tiempo
se degrada en la misma proporción.
Figura 44. Relación entre la frecuencia
de muestreo y la base de tiempo.
Cuando se cambia el tiempo por
división, se cambia la frecuencia de
muestreo y el osciloscopio digital
presenta problemas de aliasing. Para
resolver este problema se debe usar
filtros antialiasing de ancho de banda
variable. Algunos osciloscopios
digitales incluyen estos filtros, pero la
mayoría de los osciloscopios digitales
no los incluyen. Para evitar problemas
en estos casos, es conveniente realizar
las medidas comenzado por el tiempo
por división más pequeño e ir
reduciendo dicho tiempo. Con ello se
evita muestrear señales de alta
frecuencia con una frecuencia de
19
El osciloscopio
muestreo insuficiente.
A continuación se describen algunas de
las posibilidades de procesado y
los osciloscopios digitales del mercado.
-Mejora del aliasing: interpolación
lineal, sinusoidal, sinusoidal
modificada.
-Representación en función del tiempo
Y-t: cursores, máximo, mínimo,
amplitud, valores pico-pico, tiempo de
subida y bajada, sobreoscilación,
preoscilación, ancho de pulso,
frecuencia, periodo, duty-cycle (es la
relación entre el tiempo en alto y el
periodo de una señal cuadrada), valor
RMS, valor AC-RMS, área.
- Representación en función del tiempo
Y-t especiales: trigger, constante, suma,
delta, ratio, multiplicación, media,
logaritmo, antilogaritmo conseno,
cuenta, FFT.
-Representación en modo Y-X:
cursores, cursor de tiempo, radio,
ángulo, área, integración de X en Y y
viceversa.
Además de estas características
comunes a la mayoría de los
osciloscopios digitales, algunos de
gama alta incorporan las siguientes
características muy útiles en sistemas de
comunicación:
-Alta profundidad de memoria por
canal, que permita ver señales pulsadas
a distancia con alta resolución en el
tiempo.
-Muestreo simultáneo de todos los
canales que permita realizar un análisis
de fase correcto de señales complejas.
-Cursores especiales en modo XY para
medida relativa de fase y amplitud.
-Muestreo sincronizado con una señal
digital externa. Esto resulta útil para
representación de constelaciones
vectoriales (ver Figura 45).
-Procesado de señal interna,
principalmente la FFT que permite usar
el osciloscopio como analizador de
señal.

-Persistencia variable que permita
visualizar diagrama de ojo (ver Figura
46).
-Inclusión de máscaras de tolerancia
para ensayos del tipo pasa/falla muy
comunes en normas de
telecomunicación (ANSI, CCITT).
-Condiciones de disparo definidas por
tiempo o estados de otro canal o de una
señal externa. Intervalo (glitch), TV,
Figura 45. Representación de una modulación vectorial mediante un osciloscopio digital
de la marca Lecroy.
20
El osciloscopio
caída de señal, patrón lógico.
-Capacidad de realizar análisis de
histogramas de fluctuaciones de
amplitud, parpadeo de pulso (edge
jitter) y otras propiedades de señales
complejas.
En las Figuras 45 y 46 se representan, a
modo de ejemplo, dos ventanas de
aplicaciones de un osciloscopio digital
de la marca Lecroy.
 El osciloscopio

Figura 46. Representación del diagrama del ojo mediante el osciloscopio digital Lecroy.

21
 Generadores de Señal

TEMA 5. GENERADORES DE SEÑAL

1. Introducción.................................................................................................................. 1
2 Osciladores .................................................................................................................... 2
Osciladores de un solo transistor.................................................................................. 2
Circuitos resonantes...................................................................................................... 4
Estabilidad de la oscilación .......................................................................................... 5
Oscilador de cristal ....................................................................................................... 6
3 Atenuador ...................................................................................................................... 7
Variación de la atenuación ........................................................................................... 8
Atenuador variable. Control Automático de Nivel (CAN) .......................................... 8
4 Síntesis de frecuencia .................................................................................................... 9
Método indirecto o PLL ............................................................................................... 9
Síntesis Directa............................................................................................................. 9
Síntesis Digital............................................................................................................ 12
5. Generador de funciones.............................................................................................. 12

Se puede decir, por tanto, que genera

1. Introducción señales de muy diversos tipos y niveles
Un generador de señal es un de potencia.
instrumento electrónico, que se emplea Los objetivos de un generador son:
para proporcionar condiciones de obtener una señal de frecuencia estable
prueba conocidas y realizar operaciones y conocida, tener un control sobre la
como evaluar ganancias, observar amplitud de la señal en todo el rango de
respuestas en frecuencia, sintonizar, frecuencias y generar una señal libre de
etc... Puede ser empleado para distorsión cuando dicha señal sea de
caracterizar circuitos electrónicos. Por tipo sinusoidal.
ejemplo, en circuitos de comunicación La estructura simplificada de un
permite sustituir la señal a niveles de generador de señal se muestra en la
antena y realizar labores de ajuste o Figura 1.
reparación sin la necesidad de que ATENUADOR
CONFORMADOR
exista la señal real, ya que ésta puede VARIABLE
ser emulada por dicho generador.
También se puede utilizar para
caracterizar dispositivos, por ejemplo, Ajuste de Ajuste
para determinar la ganancia de un frecuencia de
amplitud
amplificador. En este caso, lo que se
hace es que se introduce la señal del
generador, que es conocida en cada Figura 1. Estructura simplificada de un
momento, a la entrada del amplificador generador de señal.
y se mide la respuesta de dicho El conformador produce la forma de
amplificador, calculando la ganancia onda para la que se ha diseñado el
como el cociente entre la señal de salida generador. Cada forma de onda
y la de entrada. generada da lugar a un tipo de
instrumento concreto. En la tabla 1 se
listan algunos instrumentos generadores

1
 Generadores de Señal

y el tipo de conformador que emplean. desplazamiento de fase), que suele estar

Los rangos de frecuencia son compuesta por componentes pasivos
orientativos e indican valores de R,L,C.
algunos equipos comerciales. En un oscilador, la tensión de salida Vo
es distinta de cero incluso cuando
Equipo Tipo de Rango de
generador Conformador frecuencia
Vin 0 . Viendo la ecuación, esto ocurre
Generador de Oscilador de RF 9kHz-1,8GHz cuando 1 A 0 A 1.
radiofrecuencia
Generador de Oscilador de audio 10Hz-40kHz Para que se produzca oscilación, según
audio el criterio de Barkhausen, A debe
Generador de Multivibrador con 10mHz-2MHz
forma de onda comparadores tener módulo 1 y fase cero, pero en este
Generador de Sintetizador digital 10mHz-5MHz
forma de onda
caso se parte de un circuito
arbitraria realimentado positivamente. En este
Generador de
pulsos
Multivibrador
astable
10kHz-4GHz caso,
Generador de Sintetizador P-Q 10Hz-4GHz A 1 e j0
onda vectorial
Para que las oscilaciones se mantengan,
Tabla 1. Distintos tipos de generadores es necesaria una ganancia mayor que la
de señal. unidad. En cualquier caso, dicha
El atenuador reduce los niveles de ganancia no debe ser mucho mayor para
potencia de la señal de forma evitar que el amplificador sature.
controlada. En la mayoría de las La red de retardo está formada por
aplicaciones es necesario el empleo de componentes pasivos: redes RC o LC (a
señales de bajo nivel, por ejemplo, a la estas últimas se las denomina tanques
entrada de un amplificador. resonantes).
Con este análisis se trata de predecir la
2 Osciladores frecuencia y la mínima ganancia de
oscilación, debido a que está basando en
Un oscilador no es más que un un modelo lineal. El carácter no lineal
amplificador con una realimentación del oscilador impide que pueda
positiva, siguiendo un esquema como el conocerse con exactitud la amplitud y
mostrado en la Figura 2. forma de las oscilaciones.
Vi Vo
A Osciladores de un solo transistor
En algunos casos no es tan sencillo
identificar la ganancia en bucle
abierto A . Existe un método de
análisis directo para osciladores de un
Figura 2. Sistema realimentado. solo transistor.
De acuerdo con el esquema de la Figura Para el caso de circuitos osciladores con
2, la expresión de la ganancia de un solo transistor, se puede partir de una
realimentación es estructura básica, como la representada
A en la Figura 3(a). A partir del modelo de
Af
1 A pequeña señal de la Figura 3(b) se
La realimentación se realiza mediante la obtienen las ecuaciones de malla
red de realimentación (red de siguientes

2
 Generadores de Señal

Z1 Z2 Z3 0
2
Z3 Z1 1
Z1 1 Z2 Z3 0 Z3 1 0 Z2
3
ZL Z1 Z2 1 0 Z2 0 Z1 0 Z2
Vi Si 0 es positiva las impedancias
Z2
Z1 y Z 2 son del mismo tipo. La Z 3
(a) debe ser contraria.
IS Se observa que para que la suma total
+
sea cero las impedancias puras deben
Z3 Z1 V
Zi gm ro ser bobinas y condensadores. De la
segunda ecuación (que obliga a que X 1
RL sea del mismo signo que X 2 ), debe
Vi

Z2
haber dos bobinas (Hartley) o dos
condensadores (Colpitts).
(b)
Figura 3. Circuito oscilador de un solo
transistor: (a) modelo simplificado, (b) C1
modelo de pequeña señal.
L
VS Z2 Z3 IS V gm V Z 2
Z1 Z i C2
V IS
Z1 Z i
Para que se produzcan las oscilaciones (a)
IS y V deben ser no nulas cuando
VS 0. Ésto se cumple cuando el
determinante de la matriz de L1
impedancias es igual a cero, es decir,
Z 2 Z 3 1 + gm Z 2 C
Z 0
Z 1 - 1+ 1 L2
Zi
Desarrollando el determinante
Z
Z1 Z2 Z3 1 Z2 Z3 gm Z1 Z2 0 (b)
Zi
Figura 4. Circuitos típicos osciladores
o de radiofrecuencia, (a) oscilador
Z1 Z2 Z3 r Z1 Z2 Z3 0 Z1 Z2 0 Colpitts y (b) oscilador Hartley
para el caso en que Z i r . Es importante hacer notar que los
En otros casos, Z i estará compuesta por circuitos representados en la figura
una capacidad en paralelo que puede corresponden a un modelo de pequeña
englobarse en Z1 . señal antes de sustituir los modelos de
los transistores. Los circuitos reales
deben incluir la fuente de alimentación
y las resistencias de polarización, así

3
 Generadores de Señal

como los condensadores y las bobinas la bobina un circuito cuya impedancia

de desacoplo.
Circuitos resonantes
Existe otra forma de interpretar los
circuitos osciladores, basada en los
circuitos resonantes. En la Figura 5 se
representa un circuito resonante simple.
Este circuito está formado por una
bobina y un condensador. La resistencia
r representa la resistencia parásita de la
bobina. Puede demostrarse que si la
resistencia r es cero, y se parte del
condensador cargado a un cierto valor
de tensión VC0, el circuito es oscilante y
su frecuencia de oscilación es
de entrada sea una resistencia negativa e
igual a la resistencia parásita en serie
con un condensador, como se muestra
en la Figura 6, se puede construir un
circuito resonante puro. La resistencia
negativa puede interpretarse como una
fuente de energía que alimenta al
circuito y permite compensar la energía
disipada por las resistencias.
En la Figura 7 se muestra un circuito
cuya impedancia de entrada
corresponde con un condensador y una
resistencia negativa.
L

1
LC R

Demostración:
Analizando el circuito mediante la C
transformada de Laplace, considerando
una carga inicial del condensador Vco y Figura 5. Circuito resonante.
la resistencia despreciable, se obtiene la
siguiente ecuación para la corriente que
circula a través del circuito: r -r
1 Vco
LsI I 0
Cs s L C
La corriente se obtiene despejándola de
la ecuación anterior:
C Figura 6. Circuto resonante con
I ( s) Vco
L 2 s2 compensación de la resistencia parásita.
1
siendo .
LC
Realizando la antitransformada se
obtiene: r C1
C Zi
i(t ) Vco sen( t )
L
Por tanto, el circuito se comporta como
L C2
un oscilador armónico.
Si el valor de la resistencia es distinto
de cero, puede demostrarse que el
circuito acaba amortiguándose, es decir Figura 7. Circuito equivalente a un
las oscilaciones desaparecen tras un condensador y una resistencia negativa.
cierto tiempo. Si se consigue conectar a

4
 Generadores de Señal

Demostración interferencias, lo que se conoce como

Se substituye el transistor por su ruido de fase. Debido a que esta
modelo de pequeña señal, como se estabilidad está ligada a la fase de la
muestra en la Figura 8. función de transferencia del oscilador,
Ii se denominará estabilidad de fase.
La estabilidad de fase se define como
+
r d
Z1 V gmV S
d
Se puede observar con un ejemplo que
Vi
RL la estabilidad de fase depende
Zi directamente del factor de calidad del
Z2 circuito resonante. Se verá que cuanto
mayor sea dicho factor de calidad, la
estabilidad de fase será mayor.
Figura 8. Modelo de pequeña señal del
circuito de la Figura 7.
Para este circuito se calcula la tensión
de entrada como:
Vi Z 2 ( I i gm V ) V Io L C R
Z1 r
V Ii Vo
Z1 r
Z1 r Figura 9. Circuito resonante paralelo.
Vi Ii Z2 (1 gm Z 2 )
Z1 r
Vi Z r La admitancia equivalente del circuito
Zi Z 2 (1 gm Z 2 ) 1 es
Ii Z1 r
1 1 1 jR 1
Considerando Z1 r , se obtiene Y j C 1 LC
R j L R L
1 gm Definiendo
Zi Z2 Z1 gm Z 2 Z1 2
j C C1C1
1 R ( L)2
o 1
Q= R o

( LC ) 2 L ro
Estabilidad de la oscilación o

Existe una estabilidad a largo plazo Se obtiene

debido a cambios en la frecuencia por Vo 1 R
dependencia de la temperatura y Io Y
envejecimiento de los componentes. 1 j Q o

o
Existe otra estabilidad a corto plazo, es
decir, se producen cambios rápidos en arctg Q o

la frecuencia del oscilador. Esto hará o

que la frecuencia final pueda diferir de
la frecuencia para la que el oscilador ha
sido diseñado. Estos casos serán más d Q 1 o
2
propicios a la aparición de fenómenos, d o
2

1 Q2 o
como la modulación de la frecuencia de o
oscilación. Esta modulación puede ser
producida por ruido interno o por

5
 Generadores de Señal

d 2Q
S
d o o

L
Oscilador de cristal
Los osciladores de cristal presentan
unos valores de Q muy elevados R C’
(cientos de miles). Es por ello por lo
que se emplean cristales para estabilizar
los osciladores.
Se basan en un material, cristal piezo- C
eléctrico (cuarzo), al que se le colocan
dos terminales metálicos. Se le aplica
una tensión y se ejerce una fuerza Figura 10. Símbolo del cristal y su
mecánica, y viceversa. modelo equivalente.
Otro oscilador de frecuencia por encima
de 30 kHz es el oscilador de cristal. Demostración:
El fabricante nos da el modelo eléctrico R es despreciable y se calcula la
que sustituye al comportamiento impedancia serie formada por L y C:
interno. 1 1 CL 2
Valores típicos de un cristal de 90 kHz Z j L
j C j C
son:
L 137H, C = 0.0235 pF, R =15K, C'= 3.5 pF La admitancia total, incluyendo ahora el
2 fL condensador C’, es
Q 5154.8 j C
R Y j C'
La reactancia del cristal en función de la 1 CL 2
frecuencia es una curva que sigue la C C ' (1 CL 2 )
Y j
ecuación: 1 CL 2
j 2 2
C
jX L
s
1 CL 2
C' 2 p
2
j C' C '
donde: 1 CL 2
1 Dividiendo numerador y denominador
2
s por LC, se obtiene:
LC C
es la frecuencia de resonancia serie, y: 1
C' 2
2 1 1 1 LC
2 2

p j C' j C ' 2p
L C C' 1 2 s
2

es la frecuencia de resonancia paralelo. LC

La inversa de la expresión anterior
equivale a la impedancia.
Gráficamente, la forma de X L respecto
a se muestra en la Figura 11.

6
 Generadores de Señal

Si C'>>C, entonces p es a la frecuencia paralelo y, entonces, se

aproximadamente igual a dice que el diseño del oscilador es un
s , aunque
diseño paralelo.
siempre s < p .
3 Atenuador
jXL El atenuador reduce la potencia de la
señal en una cantidad fija. La reducción
se puede expresar en forma logarítmica
como
P
A 10 log i
Po
El atenuador más comúnmente utilizado
wS wP w es el atenuador en PI, que se muestra en
la Figura 12(a). Otra topología es la del
atenuador en T de la Figura 12(b).
R2
R1 R2

R1 R3 R3

Figura 11. Curva característica de la
reactancia del cristal.
El oscilador se puede diseñar teniendo
en cuenta el peso de la componente
capacitiva o no. Cuando la frecuencia
de diseño (frecuencia de oscilación)
debe tener un valor elevado, el peso de
las capacidades es importante y no
pueden despreciarse. En este caso, se
dice que se diseña el oscilador en modo
serie, ya que, al ser las capacidades
comparables a las inductancias, la
reactancia resultante es baja y, por
tanto, el punto de trabajo se encuentra
próximo a la frecuencia serie.
Al contrario, si la frecuencia a la que se
pretende diseñar el oscilador no es una
frecuencia muy elevada, el efecto de las
capacidades puede considerarse
despreciable y el cristal se comporta
con un alto valor de reactancia, es decir,
como una bobina pura. En este caso, el
punto de equilibrio para la frecuencia
final de oscilación se encuentra próximo
(a) (b)
Figura 12. Atenuadores típicos, (a) en
PI y (b) en T.
Para altas frecuencias, se usan
resistencias especiales para eliminar la
reactancia parásita.
Los criterios de diseño son la
impedancia de entrada Z i y salida
Z o determinadas, y la atenuación. Esto
da lugar a tres ecuaciones con tres
incógnitas que son las tres resistencias
del atenuador. Es decir se parte de Z i ,
Pi
Z o y A 10 log( N ) , siendo N .
Po
Para el caso en que la impedancia de
entrada sea igual a la de salida, se suele
utilizar sistemas de impedancia
Z 50 y se puede partir de la relación
V
de tensiones i N y de los valores
Vo
de las impedancias Zi Zo 50 .

7

Variación de la atenuación
Para variar la atenuación se recurre a
atenuadores por pasos. Consiste en
colocar varios atenuadores en cascada,
de manera que la atenuación del
conjunto es la suma de cada uno de
ellos.
También pueden combinarse
atenuadores en serie. De esta forma, con
atenuadores de 1, 2, 4 y 8 dB, se puede
atenuar de 0 a 16 dB en pasos de 1 dB
codificando los interruptores en lógica
binaria:
También se realizan atenuadores de
pistón. En ellos:
L forma que aumenta la conductividad y,
A dB 32
d
Operan por debajo de la frecuencia de
diseño de la guía de onda. La
atenuación se produce por reflexión y
hace que la impedancia de entrada no
sea constante.
Atenuador variable. Control
Automático de Nivel (CAN)
El atenuador de ganancia variable
permite realizar un ajuste de la amplitud
de salida de forma fina. Como no puede
producirse grandes variaciones de nivel
mediante estas técnicas, es necesario el
empleo de ambas técnicas de variación
de la atenuación de manera conjunta.
Por tanto, un ajuste de nivel se realiza
variando de forma gruesa la atenuación
mediante el atenuador por pasos (se
consigue abarcar grandes rangos de
niveles), y ajustando dicha amplitud al
valor deseado mediante el atenuador de
ganancia variable. El atenuador de
ganancia variable puede ser realizado de
forma sencilla mediante un circuito
basado en el diodo PIN, como el
mostrado en la Figura 11. El diodo PIN
es un componente semiconductor
realizado mediante tres capas, una n,
8
Generadores de Señal
otra p y entre ambas una capa de
material intrínseco. El funcionamiento
de este dispositivo se basa en el
fenómeno de la modulación de la
conductividad de la unión p-n que
experimenten los diodos y transistores
bipolares. En este caso, el fenómeno se
ve aumentado debido a la presencia de
la capa de material intrínseco. Esta capa
hace que el diodo se comporte como
una resistencia de un valor
relativamente alto. Cuando el diodo se
polariza directamente en continua,
aparece una mayor concentración de
portadores en la zona intrínseca, de
por tanto, disminuye la resistencia de
RF. Estos diodos se diseñan para que su
capacitancia sea baja.
Un circuito típico atenuador de
ganancia variable en T es el mostrado
en la Figura 13.
Entre las aplicaciones de los
atenuadores de ganancia variable
podemos destacar, por un lado, la
modulación de amplitud y, por otro, la
más importante que es el control
automático de nivel (CAN).
El CAN se utiliza para obtener una
tensión o potencia de generación lo mas
constante posible e independiente de la
carga e incluso de la atenuación que se
este introduciendo. Para ello, se utiliza
un circuito realimentado consistente en
medir la tensión o la potencia a la
entrada del atenuador. El resultado de
dicha medida se compara con el nivel
de referencia deseado y, con el error
resultante de dicha comparación, se
actúa sobre la atenuación para tratar de
disminuir dicho error.
 Generadores de Señal

COMPARADOR
15V DE FASE
DIVISOR
4.7 K PROGRAMABLE
OSCILADOR
VCO
PATRON

FILTRO
51 51
0.01K Figura 15. Método indirecto o PLL.
Como se muestra en la Figura 15, se
4.7K produce una frecuencia mediante un
oscilador controlado por tensión (VCO).
Esta frecuencia se divide por un número
entero N, mediante un divisor
10K programable. La frecuencia dividida se
compara con la que proviene de un
oscilador patrón mediante un
comparador de fase. El resultado de la
comparación se hace pasar a través de
Figura 13. Atenuador basado en diodo un filtro para generar una tensión
PIN. continua que actúa sobre el VCO. Esta
tensión hace que el VCO mantenga la
frecuencia a un valor constante. Las dos
PIN ATEN frecuencias, la dividida por N y la del
oscilador patrón, deberán ser idénticas,
e incluso deberán estar en fase, es decir:
RMS fVCO
f CLK ,
Figura 14. Diagrama de bloque de un N
Control Automático de Nivel. fVCO N f CLK

4 Síntesis de frecuencia Síntesis Directa

Para controlar la frecuencia del La síntesis directa consiste en la
oscilador y poder generar una gran generación de las frecuencias
variedad de frecuencias diferentes, se directamente a partir de los osciladores
recurre a varios métodos de síntesis. mediante procesos que incluirán, en
Estos métodos se pueden dividir en tres gran parte de ellos, etapas de mezcla,
tipos: división y filtrado.
- Método indirecto o circuito de fase Las técnicas de síntesis directa que se
fija PLL. estudiarán son:
- Síntesis directa. -Generación de armónicos.
- Síntesis digital. -Oscilador múltiple.
-Doble mezclado más divisor por 10.
-División y multiplicación de
Método indirecto o PLL frecuencias.
Utiliza el esquema de la Figura 15. Generación de armónicos

9

Es el método de síntesis más sencillo.
Este método introduce una no linealidad
a la salida del oscilador para producir
distorsión y generar armónicos. Estos
armónicos serán las nuevas frecuencias
sintetizadas, las cuales se seleccionan
mediante filtros pasabanda, como se
muestra en la Figura 16.
GENERADOR
DE
ARMONICOS
Figura 16. Generación de armónicos.
Oscilador múltiple
En este caso, se parte de varios bancos
de osciladores, de manera que se
selecciona entre cada uno de ellos la
frecuencia que se pretende sintetizar.
Para tener mayor precisión se pueden
combinar varios bancos, como se
muestra en la Figura 17.
MEZCLADOR
9 por 10.
9 oscil.
oscil.
10-
1-9kHz 90kHz
Figura 17. Oscilador múltiple.
En dicha figura se representan dos
bancos de osciladores. Se puede
seleccionar de cada un de ellos una
frecuencia y ambas se suman mediante
un circuito mezclador. Se observa
como, a partir de los 18 osciladores, se
pueden sintetizar frecuencias desde
10kHz hasta 99kHz en pasos constantes
de 1kHz; es decir, se utiliza un banco de
osciladores para cada dígito de
precisión que se desee obtener. El filtro
10
Generadores de Señal
pasabanda de salida elimina todas las
frecuencias no deseadas.
Doble mezcla más divisor por 10
Con esta técnica de síntesis se pretende
producir frecuencias con un alto grado
de precisión, pero empleando un
mínimo número de osciladores. A
diferencia de la técnica anterior, que
empleaba un banco de osciladores
completo para cada dígito de precisión,
ésta utiliza un mismo banco de
osciladores para todos los dígitos. El
sintetizador se construye empleando una
etapa, como la representada en la Figura
18, por cada dígito de precisión que se
desee obtener.
fi+f 1*/10
fi+f1 fi+f1+f2+f1*=10fi+f1*
fi
DIVISOR
1/10
f1
f2+f1*
10 osciladores
Figura 18. Etapa elemental del
sintetizador doble mezcla más división
En cada una estas etapas, la frecuencia
resultante es f i f1 . Esta frecuencia se
mezcla con otra frecuencia de valor
f 2 f1* . Esta última representa la
frecuencia de un banco de 10
osciladores, donde f 2 es la frecuencia
*
del primero de los osciladores y f1 es
un número entero del 0 al 9, que se va
sumando a f 2 para obtener todas las
frecuencias del banco de osciladores.
Mediante esta segunda mezcla, se
*
obtiene f i f1 f 2 f1 . El sistema se
diseña con la restricción de que las
frecuencias deben cumplir la
relación 10 f i f i f 1 f 2 , por lo que
la frecuencia resultante será 10 f i f1* .
 Generadores de Señal

fi+f1+f2+f1*=10fi+f1* fi+f1*/10
fi
DIVISOR
1/10

f1 f2+f1*

0123456789

fi+f1+f2+f1*/10+f2*=10fi+f1*/10+f2* fi+f1*/100+f2*/10 fo=10fi+f1*/100+f2*/10+f3*

DIVISOR
1/10

f1 f2+f2* f1 f2+f3*
0123456789 0123456789

0123456789
f1
f2+fi*

10 osciladores

Figura 19. Diagrama de bloques de un sintetizador doble mezcla más división por 10 de
tres etapas.

Una vez dividida dicha frecuencia por
10, se obtiene una frecuencia de salida
f1*
igual a f i para siguiente etapa.
10
A modo de ejemplo, se representa en la
Figura 19 un sintetizador de tres etapas.
Un detalle de importancia a tener en
cuenta es que en todos estos diseños, la
última etapa se deja sin dividir. Como
se observa en dicha figura, se necesitan
12 osciladores en total para generar
frecuencias con tres dígitos de
precisión. Cada dígito se programa
mediante el conmutador de cada etapa,
que elige un valor determinado de
frecuencia del banco de osciladores, que
es compartido por todas las etapas.
Como se observa en la Figura 19, la
frecuencia resultante es
f 2* f1*
f o 10 f i f3*
10 100
Se ve que f3* controla el dígito más
significativo, y f1* , el menos
significativo.
Ejemplo: se desea diseñar un
sintetizador que genere frecuencias
de 10MHz 19.99MHz con incrementos
de 10 KHz .
Solución: lo primero que puede
deducirse es que, como hay que
controlar tres dígitos, se necesitarán tres
etapas.
Lo segundo que se puede determinar es
la frecuencia f i . De la expresión de la
frecuencia de salida, cuando todos los
dígitos son iguales a cero, se tiene que
f o 10 f i ; por tanto, f i 1MHz . De la
relación que deben cumplir las
frecuencias
10 f i f i f 1 f 2

11

se obtiene 9MHz f1 f 2 . El reparto
de las frecuencias f1 y f 2 se realiza de
forma arbitraria, pero interesa que la
relación de mezclado, definida como el
cociente de las frecuencias a mezclar,
sea próximo a la unidad. Por ejemplo:
fi
r 1
f1
Esto hace que se elija f1 3MHz y
f 2 6 MHz .
Los osciladores del banco de
osciladores valdrán 6MHz, 7MHz,
8MHz y así hasta 15MHz.
División multiplicación de frecuencia
Esta técnica es muy sencilla. Consiste
en dividir la frecuencia mediante
divisores y seleccionar las distintas
frecuencias que se van generando tras la
división. Lo mismo puede hacerse
multiplicando las frecuencias.
Síntesis Digital
El diagrama de bloques se muestra en la
Figura 20. La técnica consiste en una
memoria donde de almacenan los
valores discretos de la forma de onda
que se pretende sintetizar. La memoria
se direcciona mediante un contador que
se incrementa con una señal de reloj.
ROM D/A
CONTADOR
CLK
Figura 20. Sintetizador digital.
Cada dato diseccionado se convierte a
analógico mediante el convertidor
analógico digital. Finalmente, la salida
del convertidor es filtrada mediante un
12
Generadores de Señal
filtro paso bajo para eliminar el
escalonamiento de la conversión.
Esta técnica es la empleada por los
generadores de forma arbitraria. Otra
aplicación de gran interés es la
generación de barridos de frecuencia. El
barrido de frecuencia consiste en la
generación de una señal modulada en
frecuencia en la que la señal que se
modula es proporcional al tiempo, es
decir, una rampa. La ventaja de realizar
el barrido con esta técnica es que se
evitan los problemas de no linealidad
que aparecen en los VCO’s (osciladores
controlados por tensión) cuando son
utilizados para esta aplicación.
5. Generador de funciones
El generador de funciones es un
generador muy utilizado en laboratorio
para aplicaciones de propósito general.
Las funciones que genera son:
sinusoidal, triangular y cuadrada. El
rango de frecuencias se extiende desde
fracciones de Hz a cientos de kHz.
Para generar las funciones utiliza una de
ellas como función primaria y, a partir
de ella, genera las demás.
Una de las muchas alternativas puede
ser el circuito de la Figura 21. En este
circuito, la función primaria es la señal
triangular.
La onda cuadrada se obtiene mediante
el circuito comparador con histéresis.
La conversión de onda triangular a onda
sinusoidal se realiza mediante un
circuito recortador basado en diodos.
i(v)
i(v) L
Figura 21. Generador de funciones.
En las figuras 22, 23 y 24 se muestran

los esquemas de detalle de un generador
de formas de onda. En la Figura 22 se
muestra los circuitos electrónicos
usados para producir la onda triangular
básica. Pueden observarse, en el centro,
dos amplificadores operacionales
conectados a dos transistores que actúan
de fuente de corriente para cargar a un
condensador a corriente constante. En la
Figura 23 se muestra el circuito de
comparación, en la parte inferior y el
circuito que genera la forma de onda
senoidal a partir de la forma de onda
13
Generadores de Señal
triangular, en la parte superior del
esquema. En la Figura 24 se muestra el
esquema del circuito de representación
digital de la frecuencia (en la partes
superior) y el amplificador de salida
(parte inferior). En la parte inferior, a la
derecha de la figura se muestran los
atenuadores por pasos del generador de
señal. La impedancia de salida del
amplificador y las impedancias de los
atenuadores se ajustan para un sistema
de 50 Ohmios.
 Generadores de Señal

Figura 22. Esquema completo de un generador de funciones.

14
 Generadores de Señal

Figura 23. Esquema completo de un generador de funciones. Parte de formación onda

senoidal a partir de la onda triangular y de comparación.

15
 Generadores de Señal

Figura 24. Esquema completo de un generador de funciones. Parte de presentación

digital de la frecuencia, amplificación y atenuación.

16
 Analizadores de Señal

TEMA 6: ANALIZADORES DE SEÑAL

1. Introducción ...............................................................................................................1
2. Analizador de espectros heterodino ...........................................................................1
Diagrama de bloques de detalle del analizador de espectros heterodino...................2
Ajustes del panel frontal del analizador.....................................................................5
Características fundamentales del analizador de espectros heterodino .....................6
Medida con el analizador de espectros ......................................................................9
3 Analizador de espectros digital...................................................................................9
Problemas con la realización de un analizador de espectros digital ........................10
4. Otros analizadores de señal......................................................................................11
Analizador de onda ..................................................................................................11

1. Introducción Los analizadores de señal se dividen en

Los analizadores de señal son dos tipos fundamentales: barrido
instrumentos que proporcionan sintonizado y de tiempo real.
medidas de amplitud de tensión y
potencia de una señal en función de la 2. Analizador de espectros
frecuencia. Por tanto, realizan las heterodino
medidas en el dominio de la Es un instrumento de medida que
frecuencia, a diferencia, por ejemplo, permite visualizar el espectro de una
del osciloscopio, que realiza dichas señal, es decir, visualiza la magnitud
medidas en el dominio del tiempo. de dicha señal en función de la
La medida de la amplitud de la señal se frecuencia. Esta visualización se
representa preferentemente en forma realiza mediante el empleo de un tubo
logarítmica, y relativa a valores de de rayos catódicos (TRC) analógico.
tensión o potencia. Al ser los niveles El analizador de espectro es similar a
de señal bajos, es habitual el uso de un receptor superheterodino de FI más
dBm (decibelio relativo a un milivatio) alta. n la Figura 1 se muestra un
para medida de potencia o dBµV diagrama de bloques del analizador de
(decibelio relativo a un microvoltio) espectros heterodino básico. La señal
para representar valores RMS de de entrada al analizador V1(f) se mezcla
tensión. con el oscilador, controlado por
Los analizadores permiten caracterizar tensión (VCO) para obtenerse la señal
señales, y la técnica de medida, V2(f). Esta señal es igual que V1(f),
siempre que sea analógica, se basa en pero trasladada en frecuencia, justo el
tomar una fracción de la señal, valor de la frecuencia del VCO fOL. La
empleando un filtro pasabanda de un señal mezclada se hace pasar a través
determinado ancho de banda. La de un amplificador sintonizado que,
medida dependerá, por tanto, del ancho además de amplificar, actúa como
de banda empleado para realizarla. filtro pasabanda. La frecuencia a la que
Si los analizadores de señal se está sintonizado el filtro se denomina
combinan con los generadores de frecuencia intermedia (FI) fI.
señal, se puede caracterizar la
respuesta de dispositivos, tales como
amplificadores, filtros, mezcladores,
osciladores, etc...

1

V1(f) V2(f)
f fI fOL
V2(f)
V1(f)
fOL
VCO
Rampa
Figura 1. Diagrama de bloques del analizador de espectros heterodino básico.
La señal resultante V3(f) es una porción
de la señal mezclada, y será
proporcional a V1. Esta señal resultante
aparece como señal de banda estrecha,
es decir, presenta una forma de onda
casi senoide; por tanto, su valor eficaz
puede ser fácilmente determinado
mediante un detector de pico. El
resultado es una tensión continua que
es proporcional a la amplitud de la
señal original a una frecuencia igual a
fI-fOL. Para recorrer todo el espectro, se
realiza un barrido en frecuencia del
VCO. Este barrido consiste en
introducir una forma de onda de
tensión en rampa al VCO. Esta misma
rampa se emplea como señal de
barrido en dirección horizontal de un
tubo de rayos catódicos (TRC). El
TRC permite visualizar el espectro en
una pantalla de fósforo. La señal a la
salida de detector de pico se hace pasar
al sistema de deflexión vertical del
TRC. La visualización del espectro se
basa, por tanto, en la composición en el
TRC de los dos movimientos
simultáneos, horizontal proporcional al
tiempo o a la frecuencia, y vertical
proporcional a la amplitud de la señal.
Analizadores de Señal
V3(f)
fI f
f
V3(f)
fI
Deflexión
vertical
Deflexión TRC
horizontal
Diagrama de bloques de detalle
del analizador de espectros
heterodino
En la Figura 2 se muestra el diagrama
de bloques de un analizador de
espectros con más detalle. En este
caso, se ha representado un sistema
superheterodino con doble mezcla.
Como ejemplo, se han representado
unos valores de frecuencia típicos para
este tipo de analizadores.
En primer lugar, la entrada se convierte
a una FI más alta que la mayor
frecuencia de la señal de entrada, en
este caso, 400 MHz. Como en todos
los mezclados superheterodinos, debe
emplearse un filtro paso bajo para
evitar que frecuencias no deseadas
pasen a través del primer mezclador,
siendo amplificadas posteriormente e
introduciendo errores de medida.
Como la mayoría de los equipos que
presentan una alta sensibilidad, se
añade un atenuador a la entrada para
poder medir señales de niveles
superiores.
2
 Analizadores de Señal

0-300Mhz 400 Mhz 21.4 Mhz

LOG

RBW=1khz Log/Lin

Rampa VCO 400-700 Oscilador

Mhz 421.4Mhz

Deflexión
horizontal

Deflexión
vertical

Filtro de Microproc.
video CAD
Figura 2. Diagrama de bloques del analizador de espectro heterodino.

Figura 3. Panel frontal del analizador de espectros heterodino HM5010.

3

Figura 4. Diagrama de bloques detallado del analizador de señal heterodino HM5010.
El empleo de atenuadores a la entrada
evita el uso de amplificadores de
ganancia variable, que resultan mucho
más difíciles de diseñar. Para lograr
que el analizador tenga una
selectividad en frecuencia muy alta (en
este caso llegar hasta 1kHz) hay que
4
Analizadores de Señal
emplear una segunda etapa de mezcla
hacia una frecuencia más baja. Esta
segunda FI (en la Figura 2 es de
21.4MHz) permite usar filtros
pasabanda de cristal que son muy
selectivos.Tras este filtro se introduce
un amplificador logarítmico que

permite la representación en
decibelios. Después, aparece el
detector de pico que proporciona un
valor continuo proporcional al nivel de
la señal. Tras el detector y antes de
representar la información de espectro,
se introduce un filtro de video. La
misión de éste es promediar las señales
de banda ancha, por ejemplo ruido,
para poder determinar su nivel medio.
Este filtro debe usarse sólo cuando se
realizan estas medidas, ya que puede
introducir errores al medir señales de
banda estrecha debido a que reduce sus
picos, tal como se muestra en la Figura
5.
(a) (b)
Figura 5. Efecto de introducir filtro de
video: (a) sin filtro, (b) con filtro.
Existe un tipo de analizadores de
espectros que incorporan un soporte
digital que permite mejorar sus
prestaciones. Éste consiste en un
convertidor analógico digital que
convierte a digital la señal que va a ser
representada por el sistema de
deflexión vertical. El convertidor va
seguido de un sistema de
almacenamiento, todo ello gobernado
mediante una estructura
microprocesadora. El sistema
microprocesador incorpora la
posibilidad de actuar directamente
sobre el TRC, usándolo como un
monitor de video para representar toda
la información generada por dicho
sistema. Las prestaciones que
incorpora el soporte digital son
similares a las que incorporan los
osciloscopios mixtos analógicos-
digitales. En concreto, permite mejorar
la calidad de la traza, la realización de
las medidas y las comunicaciones con
el usuario. Respecto a la calidad de la
traza, los analizadores de espectros
5
Analizadores de Señal
heterodinos presentan el inconveniente
de que para tiempos de barrido largos,
en vez de aparecer una traza, se
observa un punto debido a una
persistencia del fósforo limitada. Si la
traza se almacena durante un barrido,
puede representarse posteriormente
con mayor velocidad y, por tanto,
aparece mucho mejor representada.
Respecto a la realización de medidas,
aparece la incorporación de cursores,
tanto para medida de amplitud como
de frecuencia. El sistema proporciona
los valores en formato numérico de la
posición de los cursores. También
puede realizar medidas automatizadas.
Respecto a las comunicaciones con el
usuario, permite el almacenamiento de
la configuración del sistema y el
almacenamiento de los datos, de
manera que pueda exportarse a fichero.
En la Figura 4 se muestra un diagrama
de bloques mucho más detallado del
analizador de espectros heterodino.
Este diagrama de bloques corresponde
al analizador de espectros HM5010.
Ajustes del panel frontal del
analizador
Una vez descrita la estructura del
analizador de espectros, se describirán
los distintos ajustes que se pueden
realizar desde el panel frontal del
equipo, y cómo estos actúan sobre los
distintos módulos del diagrama de
bloques anteriormente descrito. En la
Figura 3 se muestra una vista del panel
frontal del analizador de espectros
heterodino HM5010. En esta figura se
observan numerados los distintos
botones que pueden ser manejados
para ajustar los parámetros de medida
del analizador.
Se comenzará por los ajustes de
frecuencia. La frecuencia del primer
oscilador local se barre
electrónicamente en forma de rampa.
Mediante esta rampa se puede
controlar el rango de frecuencias que
se puede representar en la pantalla. La

rampa tendrá un valor mínimo y un
valor máximo de tensión, que
corresponden a los valores de
frecuencia mínimo y máximo a
representar. El tiempo de barrido TB se
define como el tiempo que tarda la
rampa en representar todas las
frecuencias, desde la mínima a la
máxima. Este tiempo de barrido puede
ser controlado por el usuario desde el
panel frontal. Este tiempo variará el
rango de frecuencias que se
representa (SCANWITH), a este rango
de frecuencias se le denomina también
SPAN del analizador. El SPAN se
expresa en unidades de frecuencia por
división (Hz/div, MHz/div, etc.).
La frecuencia en torno a la que se
centra este rango se denomina
frecuencia central (FREQ). Existen
dos formas de establecer el rango de
frecuencias a representar: se pueden
especificar las frecuencias mínima
(START) y máxima (STOP) o se
puede especificar SPAN y frecuencia
central (FREQ). En la Figura 6 se
representa una vista de la pantalla del
analizador en la que se introducen
START y STOP para seleccionar el
rango de frecuencias.
Otro punto de la estructura del
analizador donde se puede actuar es
sobre el atenuador de entrada, para
controlar los niveles de medida. El
nivel de referencia (REF) también
aparece representado en la Figura 6. Se
expresa en dBm, que es el nivel
absoluto que corresponde a la parte
superior de la pantalla. Las medidas se
realizan siempre relativas a dicho
nivel. En algunos analizadores, suele
ser fijo el valor de decibelios por
división (dB/div o también aparece
como dB/). Si se varia la atenuación de
entrada y se mantiene constante los
dB/, el nivel absoluto irá cambiando en
función del valor de dicho atenuador.
En un analizador con soporte digital se
puede especificar el nivel de
referencia, de forma que se ajusta el
6
Analizadores de Señal
atenuador de entrada para que se tenga
ese valor.
REF xdBm
LOG
a dB/
START kHz
RBW bkHz
STOP kHz
Figura 6. Vista de la pantalla de un
analizador de espectros.
También se puede actuar sobre la
resolución del filtro pasabanda de la
segunda etapa mezcladora. Al ancho
de banda de este filtro se le denomina
Ancho de banda de resolución
(RBW) y puede ser controlado, aunque
sólo se pueden fijar ciertos valores.
Para analizador la Figura 3, se
encuentra la siguiente correspondencia
numérica: FREQ es el botón 9. REF se
controla mediante el ajuste de la
atenuación a través de los botones 14.
RBW se ajusta mediante el botón 10 y
el filtro de video se introduce mediante
el botón 11.
Características fundamentales
del analizador de espectros
heterodino
A continuación se describirán en
detalle las características
fundamentales del analizador de
espectros.
Rango de frecuencias
Varía dependiendo de la utilidad. Los
más asequibles son los del rango
intermedio (kHz - MHz). En el
diagrama de la Figura 2 va de 0 - 300
MHz, aunque conviene decir que para
bajas frecuencias (Hz) y para el rango
de microondas (sobre los GHz) la
electrónica es más complicada y, por
tanto, estos analizadores son más
caros. La frecuencia mínima en estos
analizadores heterodinos estará

limitada, debido a que siempre aparece
en pantalla un pico correspondiente a
la frecuencia del oscilador VCO, que
ocultará toda la información cerca de la
frecuencia cero. El rango superior está
limitado, como se ha comentado, por la
electrónica empleada.
Resolución en frecuencia
La resolución en frecuencia va a
permitir discernir entre tonos de
frecuencia cercanos. La resolución se
mide en forma de ancho de banda del
filtro FI. Si hay varios, el de ancho de
banda menor será el que dé la mejor
resolución del analizador. Este ancho
de banda del filtro de resolución se
conoce como RBW (Resolution
BandWidth), y cuanto más estrecho
sea, mejor será el discernimiento de
frecuencias. Si se introduce un tono
puro, a la salida no se verá éste sino la
forma del filtro de resolución de FI. Se
verá más estrecho si el ancho de banda
del filtro es más estrecho.
Factor de forma
Determina de qué forma se enmascaran
señales pequeñas. Se define por la
relación
BW60
FF
RBW
donde BW60 es el ancho de banda
medido a 60dB del nivel central del
filtro. Esta característica permite ver
cómo el analizador es capaz de
discernir entre señales próximas y de
niveles muy diferentes. Como se
muestra en la Figura 7, aparecen dos
señales cercanas pero separadas más
del RBW, y aparecen dos filtros
diferentes, uno con FF1 y otro con FF2.
Interesa usar el filtro con FF1 para que
no se enmascare la señal de menor
nivel.
7
Analizadores de Señal
Figura 7. Factores de forma.
Rango dinámico
Se define como la diferencia entre el
máximo valor medible y el nivel
mínimo detectable.
El nivel superior estará limitado por la
distorsión asociada a la no linealidad
del mezclador. Aparece cuando se hace
pasar la señal a través del mezclador.
Dicha señal interacciona con el VCO y
se mezcla, pero si hay a la entrada
otras señales a frecuencias próximas,
también se mezclan, produciendo
distorsión y señales espúreas. De entre
todas ellas, la más importante es la
intermodulación de tercer orden, y es
el principal factor limitante en el rango
dinámico del analizador de espectro.
Se mide aplicando dos señales
próximas a la entrada del analizador, y
se ajusta el nivel de éstas de modo que
el producto de intermodulación
aparezca por encima del ruido interno
generado por el analizador. Otra forma
de determinar el rango dinámico del
analizador es a través del punto de
intercepción de intermodulación de
tercer orden. Para ello se aplican dos
tonos próximos al analizador. Si los
niveles de las dos señales de entrada se
incrementan, el producto de
intermodulación de tercer orden
aumenta tres veces el incremento de
decibelios de las dos señales de entrada
(esto indica que la relación abarca el
tercer orden). La intermodulación de
tercer orden aumenta a una razón
mucho mayor que el aumento en las
dos señales de entrada, lo que significa
que el producto de la intermodulación

terminará por tener el mismo nivel que
las dos señales de entrada. Este nivel,
donde se cruzan la característica lineal
y la de tercer orden, recibe el nombre
de punto de intercepción de tercer
orden y es una indicación del límite del
rango dinámico del analizador de
espectro (todo esto se puede apreciar
en la Figura 8). El nivel de cualquier
producto de tercer orden se determina
a partir de la expresión
P3 3Pent 2 I p
Para establecer el rango dinámico del
analizador de espectro, los productos
de intermodulación deben ser los
mismos que la señal mínima detectable
o visible (SMD) en el analizador. Por
motivo de simplicidad, se considera
que la intermodulación es igual al nivel
de ruido. La ecuación que determina la
potencia de intermodulación se iguala
al SMD cuando la potencia de entrada
es máxima:
SMD 3Pmax 2 I p 3 Pmax SMD 2 I p
3( Pmax SMD) 2( I p SMD)
2 atenuación (ver Figura 9). Para
RD Pmax SMD ( I p SMD )
3
Po (dBm)
20 IP3
Po (Pi)
0 20
Pi(dBm)
P3 (Pi)
-40
Figura 8. Recta característica del
producto de intermodulación de tercer
orden.
La SMD dependerá de la resolución de
ancho de banda y de otros factores. El
punto de intercepción IP3 es fijo y es lo
8
Analizadores de Señal
que proporciona normalmente el
fabricante, y con ambos se puede
obtener el rango dinámico.
Véase cómo depende SMD con el
ancho de banda del filtro FI
RBW
SMD 114dBm 10 log FR
1MHz
donde FR es la figura o cifra de ruido
SNRo
del analizador FR
SNRi
Velocidad de barrido
Depende de la rampa de barrido que
ataca al TRC del analizador. El tiempo
de barrido no se puede escoger
arbitrariamente, ya que está
relacionado con otras características
del analizador como el RBW y el
SPAN escogido.
En relación con el RBW, hay que decir
que cuando se pasa la señal por el
segundo filtro de FI (el de menor
RBW) la señal aparece retrasada y
atenuada. Cuanto más estrecho sea el
filtro, es decir, cuanto menor sea
RBW, mayor será el retardo y la
compensar el error producido por este
retardo, es necesario aumentar el
tiempo de barrido en forma
proporcional a retardo, por lo que la
relación óptima es una relación inversa
entre RBW y el tiempo de barrido, tal
como se aprecia en laFigura 9.
SPAN
TB 0.44
RBW
2
Entre el SPAN y el TB debe existir una
relación lineal, ya que la frecuencia es
proporcional a la rampa y, por tanto, al
tiempo de barrido, luego hay una
relación directa con el SPAN. Se puede
determinar un punto óptimo con la
siguiente expresión:

RBW
TB
RBW
Figura 9. Relaciones entre ,TB y
RBW.
Con este TB óptimo se minimizan los
errores en la visualización producidas
por el barrido de frecuencias. Hay
analizadores que seleccionan
automáticamente el TB según esta ley,
de acuerdo al SPAN y al RBW que se
haya fijado.
Medida con el analizador de
espectros
En general, con el analizador de
espectro interesará medir niveles y
frecuencias. La pantalla está
cuadriculada en 10 partes para
frecuencia y 8 partes para niveles. Para
la medida de potencia se fija un nivel
de referencia en la parte superior de la
pantalla, y toda medida se hace con
relación a ese nivel, tal y como se
Filtro Anti-
Atenuador Amplificador Solapamiento
Figura 10. Diagrama de bloques del analizador de espectros digital.
El diagrama de bloques del analizador
de espectro digital se observa en la
Figura 10. Nótese las similitudes con el
osciloscopio digital. Se observan los
siguientes bloques: atenuador, filtro
Analizadores de Señal
mostró en la Figura 6.
Para medir la frecuencia se fija una
frecuencia central. Cuando se enciende
el aparato aparece con el máximo
SPAN, que el analizador es capaz de
TB
visualizar (SPAN: MHz/div). Una vez
fijada la frecuencia central, se va
disminuyendo el SPAN, que hace que
la señal se vaya ensanchando (es como
si se hiciera un zoom en esa zona). Se
tiene un pulso que se puede desplazar
con un cursor y que va dando la
frecuencia que hay en cada punto
(frecuencia absoluta).
3 Analizador de espectros
digital
Existen métodos matemáticos para
calcular el espectro de una señal si
dicha señal se reduce a una ecuación
matemática o a un conjunto de puntos
dado. El método matemático más
directo es la transformada de Fourier.
Si una señal se transforma mediante un
conjunto de puntos mediante la
digitalización de una señal analógica,
se puede programar un ordenador para
obtener su transformada de Fourier y
calcular su espectro. El método
empleado para calcular la transformada
de Fourier que es más eficiente es el
algoritmo de la transformada rápida de
Fourier (FFT).
Sistema
A/D FFT de video
Muestreo Transformada
Rápida de Fourier
paso bajo, etapa de muestreo y
retención S&H, etapa de conversión
analógica/digital, bloque de cálculo
FFT y pantalla de video (equivalente a
un monitor de televisión).
9

La FFT se programa en una placa
microprocesadora que realiza todas las
operaciones. La FFT toma N muestras
de la señal que se almacenan en
memoria, procesándose posteriormente
para obtener el resultado deseado. Se
hace la transformada de los N datos
obteniendo N/2 +1 valores complejos,
que son la transformada FFT con una
ventana temporal de duración TW. Cada
punto de los N/2 + 1 se llama línea
espectral o bin. En cada bin es como si
se tuviera un filtro de frecuencia muy
estrecho, sintonizado a una frecuencia
concreta. La separación entre
frecuencias (entre bin y bin) es f .
Este incremento de frecuencia se puede
determinar como la inversa del tiempo
de ventana Ts
1 fS
f
TS N
Problemas con la realización de
un analizador de espectros
digital
Para la realización de un analizador de
espectros digital se plantea una serie de
problemas que se tratarán a
continuación.
Resolución
La resolución está controlada por el
incremento de frecuencia f. Para
mejorar la resolución habría que
disminuir este incremento. Para ello, y
observando la relación que existe con
TW, se ve que este objetivo se logra si
se aumenta el número de muestras N o
se disminuye la frecuencia de muestreo
fS.
El número de muestras N es difícil
variarlo porque no se puede tener un
número excesivo de muestras
almacenadas en memoria, por lo
normalmente permanece constante. En
algunos casos, puede añadirse ceros a
la trasformada, con lo que se produce
un efecto equivalente al aumento del
número de muestras. Esta técnica se
conoce como “Cero Padding”.
Si se disminuye la frecuencia de
10
Analizadores de Señal
muestreo se deberá modificar el ancho
de banda del filtro LP antialiasing. El
problema es que este filtro es fijo, por
lo que se usa un filtro antialiasing
digital de ancho de banda variable
antes del módulo de la FFT, y a
medida que va variando la frecuencia
de muestreo, el procesador modifica la
frecuencias de corte del filtro digital.
Visualización de frecuencias
El segundo problema que se plantea es
que las frecuencias que se pueden
visualizar están comprendidas entre 0 y
N
f . Si se desea realizar una
2
ampliación de la frecuencia, la
visualización en pantalla siempre
comienza desde cero (la amplitud del
bin cero corresponde a la componente
DC). Si se quiere representar una
banda de frecuencia que no parta de
cero, ha de realizarse una mezcla
heterodina digital. Esta se realiza con
un oscilador local, que permitirá
trasladar la frecuencia del espectro a la
frecuencia central del oscilador local,
que además se puede controlar
digitalmente.
Error de pérdidas (leakage)
La situación ideal de funcionamiento
del equipo se da cuando la ventana
temporal que se usa toma un periodo
completo de la señal de entrada. Si esto
no ocurre, la ventana incluye parte del
siguiente periodo o menos del que
realmente tiene, y se realiza la
transformada suponiendo que es
periódica. Esa es la razón de que no
coincida con la verdadera transformada
de la señal. A este fenómeno se le
conoce como leakage o error de
pérdida. Este puede suponer un
problema grave, porque puede
provocar errores graves en magnitud y
frecuencia.
Para evitar este problema, se usan otras
ventanas distintas de la ventana
rectangular para lograr que en los
extremos la señal valga cero y así
siempre se esté transformando un

periodo completo, aunque en este caso
dé una señal ligeramente modificada.
Para esta señal modificada, los errores
son muy bajos comparados con los
errores de pérdida. Estas ventanas son:
Ventana de Hamming: sirve para medir
cualitativamente un espectro con
mayor resolución. La señal resultante
tendrá una cierta modulación, pero ésta
produce un error poco significativo.
Ventana de Hanning: es más ancha,
por lo que empeora la resolución, pero
se comete un error menor en medidas
de magnitud.
Ventana exponencial: permite quedarse
con la parte transitoria de señal,
eliminando la información del régimen
permanente y evitando así el salto
entre ventana y ventana, ya que lleva la
señal a cero.
4. Otros analizadores de
señal
Se estudiará a continuación los
siguientes analizadores: analizador de
de onda y analizador de distorsión.
Analizador de onda
Este instrumento proporciona una
medida de una señal (tensión o
potencia) mediante un indicador
(display o galvanómetro) a una
frecuencia determinada y con un
determinado ancho de banda.
Para el caso de medida de potencia, el
analizador de onda recibe el nombre de
vatímetro de señal.
Para la selección de la frecuencia se
usa un filtro paso de banda (BPF) de
banda estrecha, de forma que, una vez
que atraviesa el filtro, la señal es de
tipo senoide y, por tanto, fácilmente
medible, ya que se puede determinar su
valor eficaz mediante un detector de
envolvente.
Según el método que se emplee para la
selección de la frecuencia existen 2
tipos de analizadores de onda:
analizador de frecuencia selectiva y el
analizador heterodino.
11
Analizadores de Señal
Analizador de frecuencia selectiva
Se emplea en el rango de baja
frecuencia, por ejemplo, en las
frecuencias de audio, y puede usar bien
filtros sintonizables (variables) o bien
un banco de filtros. El inconveniente
que presenta este analizador es que el
rango de frecuencia es muy limitado
debido a las limitaciones de los propios
filtros.
Analizador heterodino
Los analizadores también reciben el
nombre de receptores, ya que se
realizan de la misma forma que un
receptor de radio.
Se emplea para el rango de
radiofrecuencia y usa el procedimiento
de mezcla heterodina, que consiste en
variar el espectro de la señal, dejando
el filtro fijo (lo único que puede variar
es su ancho de banda). La señal de
entrada se desplaza a una frecuencia
intermedia más alta (FI) por medio de
un oscilador local interno. La salida del
amplificador FI se rectifica y se aplica
al circuito de medición. La estructura
es idéntica a la del analizador de
espectros heterodino, pero en este caso,
se simplifica bastante, ya que no es
necesaria la visualización del espectro.
Analizador de distorsión
Es un dispositivo que permite analizar
la distorsión que sufren las señales
senoidales después de pasar por un
dispositivo no lineal. El
comportamiento no lineal de los
elementos de un circuito introduce
armónicos de la frecuencia
fundamental en la onda de salida, por
lo que la distorsión resultante recibe el
nombre de distorsión armónica.
La distorsión armónica total THD se
define como
2 2
E2 E3 ...
THD
E1
siendo Ei los valores eficaces de los i-
ésimos armónicos.
También se define el factor de
 Analizadores de Señal

distorsión como Computation (vol 19). 1965.

2 2
E2 E3 ...
KHD
E rms
En este caso, se divide por el valor
eficaz de la señal Erms.
La relación entre ambas magnitudes es
la siguiente:
2
E RMS
THD 1
E1
1 KHD
1
1 ( KHD) 2 1 ( KHD) 2
Conviene destacar que si la distorsión
es menor del 10%, el THD es
aproximadamente igual al KHD.
En este instrumento, la onda de entrada
se aplica a un filtro rechazo de banda
que suprime la frecuencia fundamental,
pero permite el paso de todas las
componentes de frecuencias
armónicas. En una primera medida se
hace pasar la señal a través del filtro de
forma que se mide el valor rms de
todos los armónicos distintos del la
componente fundamental. En una
segunda medida se determina el valor
RMS de la señal. Con el cociente de
ambas se calcula el factor de
distorsión.

RMS

Figura 11. Analizador de distorsión.

BIBLIOGRAFÍA
Robert A. Witte. “Spectrum and
Network Measurements”. P T R
Prentice-Hall, Englewood Clifds, New
Jersey, 1993.
Alan V. Oppenheim, Ronald W.
Schafer. “Discrete-Time Signal
Processing”. Prentice-Hall
International, Inc. 1989.
J.W. Cooley, J.W. Tukey. “An
Algorithm for the Machine Calculation
of Complex Fourier Series”. Math

12
 Tema 7. Analizadores de red

Copyright
Tema 7. Analizadores de red Tema adaptado de
2000

Slide 1
Welcome to Network Analyzer Basics.
 Análisis de red NO ES.…

Router
Bridge
Repeater
Hub

Your IEEE 802.3 X.25 ISDN

switched-packet data stream
is running at 147 MBPS with
-9
a BER of 1.523 X 10 . . .

Copyright
Tema 7. Analizadores de red Tema adaptado de
2000

Slide 2
This module is not about computer networks! When the name "network analyzer" was
coined many years ago, there were no such things as computer networks. Back then,
networks always referred to electrical networks. Today, when we refer to the things that
network analyzers measure, we speak mostly about devices and components.
 ¿Qué tipo de dispositivos son testeados?

Alto
Duplexores RFICs
Diplexores MMICs
Filtros T/R módulos
Acopladores Transceivers
Puentes
Separadores, divisores Receptores
Combinadores Sintonizadores
Aisladores Convertidores
Circuladores
Integración

Attenuadores VCAs
Adaptadores Amplificadores
Abierto, corto, carga Antenas
Línea de retardo VCOs
Cables Conmutador VTFs
Líneas de transmisión Multiplexor Osciladores
Guiaondas Mezclador Moduladores
Resonadores Muestreador VCAtten’s
Multiplicador
Dieléctricos
Bajo

R, L, C's Diodos Transistores

Pasivo Tipo de dispositivo Activo

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Tema 7. Analizadores de red Tema adaptado de
2000

Slide 3
Here are some examples of the types of devices that you can test with network analyzers.
They include both passive and active devices (and some that have attributes of both).
Many of these devices need to be characterized for both linear and nonlinear behavior. It
is not possible to completely characterize all of these devices with just one piece of test
equipment.

The next slide shows a model covering the wide range of measurements necessary for
complete linear and nonlinear characterization of devices. This model requires a variety
of stimulus and response tools. It takes a large range of test equipment to accomplish all
of the measurements shown on this chart. Some instruments are optimized for one test
only (like bit-error rate), while others, like network analyzers, are much more general-
purpose in nature. Network analyzers can measure both linear and nonlinear behavior of
devices, although the measurement techniques are different (frequency versus power
sweeps for example). This module focuses on swept-frequency and swept-power
measurements made with network analyzers
 Modelo del dispositivo de medida
RFIC test
Compleja Ded. Testers
BER Full call
EVM sequence
VSA ACP Pulsed S-parm.
Harm. Dist. Pulse profiling
LO stability Regrowth
SA Intermodulation
Image Rej. NF Constell.
Distortion
Eye
VNA Gain/Flat. Compr'n
Herramienta

Phase/GD AM-PM
TG/SA Isolation
Rtn Ls/VSWR
SNA Impedance
S-parameters
NF Mtr. NF
Imped. An.
LCR/Z
Param. An. I-V
Plano de Medida
Simple

Power Mtr. Absol.

Power
Det/Scope Gain/Flatness
DC CW Swept Swept Noise 2-tonos Multi- Modulación Pulso- Protocolo
freq power tono compleja RF
Simple Tipo de estímulo Complejo

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2000

Slide 4
Here is a key to many of the abbreviations used above:
Response
84000 84000 series high-volume RFIC tester
Ded. Testers Dedicated (usually one-box) testers
VSA Vector signal analyzer
SA Spectrum analyzer
VNA Vector network analyzer
TG/SA Tracking generator/spectrum analyzer
SNA Scalar network analyzer
NF Mtr. Noise-figure meter
Imped. An. Impedance analyzer (LCR meter)
Power Mtr. Power meter
Det./Scope Diode detector/oscilloscope
Measurement
ACP Adjacent channel power
AM-PM AM to PM conversion
BER Bit-error rate
Compr'n Gain compression
Constell. Constellation diagram
EVM Error-vector magnitude
Eye Eye diagram
GD Group delay
Harm. Dist. Harmonic distortion
NF Noise figure
Regrowth Spectral regrowth
Rtn Ls Return loss
VSWR Voltage standing wave ratio
 Det/Scope: Osciloscopio más
generador de barrido
Osciloscopio en modo X-Y

Generador de barrido

Y
X Z

Detector Detector
de de
tono envolvente

Vg
DUT

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2000
 TG/SA: Analizador de espectros
más generdor de barrido
Analizador de espectros

856 3A SPECTRUM ANALYZER 9 kHz - 2 6.5 GHz

Generador de barrido
Analizador de espectros con
generador de tracking
8 56 3A SPECTRUM ANALYZER 9 k Hz - 26 .5 G Hz

DUT

DUT

Copyright
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 SNA, VNA: Analizador de red
escalar y vectorial
Analizador de red

G R A

DUT

Copyright
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 Analogía entre la luz y la energía en RF

Incidente
Transmitida

Reflejada
Luz

DUT

RF

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Slide 5
One of the most fundamental concepts of high-frequency network analysis involves
incident, reflected and transmitted waves traveling along transmission lines. It is helpful to
think of traveling waves along a transmission line in terms of a lightwave analogy. We can
imagine incident light striking some optical component like a clear lens. Some of the light
is reflected off the surface of the lens, but most of the light continues on through the lens.
If the lens were made of some lossy material, then a portion of the light could be
absorbed within the lens. If the lens had mirrored surfaces, then most of the light would
be reflected and little or none would be transmitted through the lens. This concept is valid
for RF signals as well, except the electromagnetic energy is in the RF range instead of
the optical range, and our components and circuits are electrical devices and networks
instead of lenses and mirrors.

Network analysis is concerned with the accurate measurement of the ratios of the
reflected signal to the incident signal, and the transmitted signal to the incident signal.
 ¿Porqué necesitamos testear
componentes?
• Verificar las especificaciones de
“bloques fucionales” para construir
sistemas de RF más complejos.
• Asegurar la transmisión de señales
de comunicación sin distorsión:
– lineal: ampitud constante, fase lineal
/ rertardo de grupo constante.
– nolineal: harmónicos,
intermodulación, compresión,
conversión de AM-a-PM.
• Asegurar óptima adaptación cuando
se pretende absorber potencia
(ejem. Antenas). KPWR FM 97

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Slide 6
Components are tested for a variety of reasons. Many components are used as "building
blocks" in more complicated RF systems. For example, in most transceivers there are
amplifiers to boost LO power to mixers, and filters to remove signal harmonics. Often,
R&D engineers need to measure these components to verify their simulation models and
their actual hardware prototypes. For component production, a manufacturer must
measure the performance of their products so they can provide accurate specifications.
This is essential so prospective customers will know how a particular component will
behave in their application.

When used in communications systems to pass signals, designers want to ensure the
component or circuit is not causing excessive signal distortion. This can be in the form of
linear distortion where flat magnitude and linear phase shift versus frequency is not
maintained over the bandwidth of interest, or in the form of nonlinear effects like
intermodulation distortion.

Often it is most important to measure how reflective a component is, to ensure that it
absorbs energy efficiently. Measuring antenna match is a good example.
 La necesidad de conocer magnitud y fase
S21
1. Completa
S11 S22
caracterización de
redes S12
2. Diseño de 4. Caracterización en el
adaptaciones dominio del tiempo.
Mag

3. Modelado Tiempo

High-frequency transistor model 5. Corrección de errores

en forma vectorial
Error
Base
Collector
Medido
Emitter
Actual

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Slide 7
In many situations, magnitude-only data is sufficient for out needs. For example, we may
only care about the gain of an amplifier or the stop-band rejection of a filter. However, as
we will explore throughout this paper, measuring phase is a critical element of network
analysis.

Complete characterization of devices and networks involves measurement of phase as

well as magnitude. This is necessary for developing circuit models for simulation and to
design matching circuits based on conjugate-matching techniques. Time-domain
characterization requires magnitude and phase information to perform the inverse-Fourier
transform. Finally, for best measurement accuracy, phase data is required to perform
vector error correction.
 Índice
1. ¿Qué medidas se realizan?
Líneas de transmisión
Parámetros de Reflexión y
transmisión
Definición de parámetros S
2. Hardware del analizador de red
Dispositivos de separación
Tipos de detección
Rango dinámico
T/R versus parámetros-S
3. Modelo de error y calibración
Tipos de errores de medida
Modelo de una y dos puertas
Corrección de errores
Cálculo de incertidumbres
4. Ejemplos de medidas
5. Apéndice

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Slide 8
In this section we will review reflection and transmission measurements. We will see that
transmission lines are needed to convey RF and microwave energy from one point to
another with minimal loss, that transmission lines have a characteristic impedance, and
that a termination at the end of a transmission line must match the characteristic
impedance of the line to prevent loss of energy due to reflections. We will see how the
Smith chart simplifies the process of converting reflection data to the complex impedance
of the termination. For transmission measurements, we will discuss not only simple gain
and loss but distortion introduced by linear devices. We will introduce S-parameters and
explain why they are used instead of h-, y-, or z-parameters at RF and microwave
frequencies.
 Líneas de transmisión
+ -
I
Bajas frecuencias
Longitud de onda >> longitud de cables
corriente (I) circula por cables sin problemas de adaptación
La tensión y corrientes medidas no dependen de la
posición

Altas frecuencias
Longitud de onda » o << longitud del medio de
transmisión
Necesidad de líneas de transmisión para una
eficiente transferencia de potencia
La adaptación a una impedancia característica es de
suma importacia para reducir reflexiones: máxima
transferencia de potencia
La medida de la envolvente de la tensión depende
de la longitud
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Slide 9
The need for efficient transfer of RF power is one of the main reasons behind the use of
transmission lines. At low frequencies where the wavelength of the signals are much
larger than the length of the circuit conductors, a simple wire is very useful for carrying
power. Current travels down the wire easily, and voltage and current are the same no
matter where we measure along the wire.

At high frequencies however, the wavelength of signals of interest are comparable to or

much smaller than the length of conductors. In this case, power transmission can best be
thought of in terms of traveling waves.

Of critical importance is that a lossless transmission line takes on a characteristic

impedance (Zo). In fact, an infinitely long transmission line appears to be a resistive load!
When the transmission line is terminated in its characteristic impedance, maximum power
is transferred to the load. When the termination is not Zo, the portion of the signal which
is not absorbed by the load is reflected back toward the source. This creates a condition
where the envelope voltage along the transmission line varies with position. We will
examine the incident and reflected waves on transmission lines with different load
conditions in following slides
 Línea de transmisión Zo
• Zo determina la relación entre la tensión y la corriente de la
onda
• Zo es función de las dimensiones físicas y de r
• Zo es normalmente real (e.g. 50 o 75 ohms)
Twisted-pair 1.5

1.4 attenuation is
Waveguide lowest at 77 ohms
1.3

a 1.2

normalized values
50 ohm standard
1.1
b
1.0

Coaxial 0.9
r
h
h 0.8

0.7 power handling capacity

peaks at 30 ohms
w1 0.6
w
w2 0.5
10 20 30 40 50 60 70 80 90 100

Coplanar Microstrip characteristic impedance

for coaxial airlines (ohms)

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Slide 10
RF transmission lines can be made in a variety of transmission media. Common
examples are coaxial, waveguide, twisted pair, coplanar, stripline and microstrip. RF
circuit design on printed-circuit boards (PCB) often use coplanar or microstrip
transmission lines. The fundamental parameter of a transmission line is its characteristic
impedance Zo. Zo describes the relationship between the voltage and current traveling
waves, and is a function of the various dimensions of the transmission line and the
dielectric constant ( r) of the non-conducting material in the transmission line. For most
RF systems, Zo is either 50 or 75 ohms.
For low-power situations (cable TV, for example) coaxial transmission lines are optimized
for low loss, which works out to about 75 ohms (for coaxial transmission lines with air
dielectric). For RF and microwave communication and radar applications, where high
power is often encountered, coaxial transmission lines are designed to have a
characteristic impedance of 50 ohms, a compromise between maximum power handling
(occurring at 30 ohms) and minimum loss.
 Eficiencia de la transferencia de potencia
RS

Para impedancias complejas: máxima

RL
transferencia de potencia ZL = ZS*

Rs +jX
1.2
Potencia Carga
(normalizada)

1
0.8 -jX
0.6
0.4 RL
0.2
0
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

RL / RS

Máxima potenicia es transferida cuando RL = RS

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Slide 11
Before we begin our discussion about transmission lines, let us look at the condition for
maximum power transfer into a load, given a source impedance of Rs. The graph above
shows that the matched condition (RL = RS) results in the maximum power dissipated
in the load resistor. This condition is true whether the stimulus is a DC voltage source or
an RF sinusoid.

For maximum transfer of energy into a transmission line from a source or from a
transmission line to a load (the next stage of an amplifier, an antenna, etc.), the
impedance of the source and load should match the characteristic impedance of the
transmission line. In general, then, Zo is the target for input and output impedances of
devices and networks.

When the source impedance is not purely resistive, the maximum power transfer occurs
when the load impedance is equal to the complex conjugate of the source impedance.
This condition is met by reversing the sign of the imaginary part of the impedance. For
example, if RS = 0.6 + j0.3, then the complex conjugate RS* = 0.6 - j0.3.

Sometimes the source impedance is adjusted to be the complex conjugate of the load
impedance. For example, when matching to an antenna, the load impedance is
determined by the characteristics of the antenna. A designer has to optimize the output
match of the RF amplifier over the frequency range of the antenna so that maximum RF
power is transmitted through the antenna
 Terminación de línea con Zo
Zo =Impedancia
características de la
Zs = Zo línea de transmisión

Zo

Vinc

Vrefl = 0 (toda la potencia

indicente es absorbida)

Desde el punto de vista de la reflexión, una línea

de transmisión terminada con Zo se comporta
como una línea de longitud infinita
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Slide 12
Let's review what happens when transmission lines are terminated in various
impedances, starting with a Zo load. Since a transmission line terminated in its
characteristic impedance results in maximum transfer of power to the load, there is no
reflected signal. This result is the same as if the transmission line was infinitely long. If we
were to look at the envelope of the RF signal versus distance along the transmission line,
it would be constant (no standing-wave pattern). This is because there is energy flowing
in one direction only.
 Línea terminada con Abierto, Corto

Zs = Zo

Vinc

Vrefl En fase (0o) para abierto,

En contrafase (180o) para corto

Desde el punto de vista de la reflexión, la terminación

corto o abierto refleja toda la potencia
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Slide 13
Next, let's terminate our line in a short circuit. Since purely reactive elements cannot
dissipate any power, and there is nowhere else for the energy to go, a reflected wave is
launched back down the line toward the source. For Ohm's law to be satisfied (no voltage
across the short), this reflected wave must be equal in voltage magnitude to the incident
wave, and be 180o out of phase with it. This satisfies the condition that the total voltage
must equal zero at the plane of the short circuit. Our reflected and incident voltage (and
current) waves will be identical in magnitude but traveling in the opposite direction.

Now let us leave our line open. This time, Ohm's law tells us that the open can support no
current. Therefore, our reflected current wave must be 180o out of phase with respect to
the incident wave (the voltage wave will be in phase with the incident wave). This
guarantees that current at the open will be zero. Again, our reflected and incident current
(and voltage) waves will be identical in magnitude, but traveling in the opposite direction.
For both the short and open cases, a standing-wave pattern will be set up on the
transmission line. The valleys will be at zero and the peaks at twice the incident voltage
level. The peaks and valleys of the short and open will be shifted in position along the line
with respect to each other, in order to satisfy Ohm's law as described above.
 Terminación de 25

Zs = Zo

ZL = 25

Vinc

Vrefl

El patrón de onda estacionario no pasa por cero

como con en el caso de corto o abierto
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Slide 14
Finally, let's terminate our line with a 25 resistor (an impedance between the full
reflection of an open or short circuit and the perfect termination of a 50 load). Some
(but not all) of our incident energy will be absorbed in the load, and some will be reflected
back towards the source. We will find that our reflected voltage wave will have an
amplitude 1/3 that of the incident wave, and that the two waves will be 180o out of phase
at the load. The phase relationship between the incident and reflected waves will change
as a function of distance along the transmission line from the load. The valleys of the
standing-wave pattern will no longer be zero, and the peak will be less than that of the
short/open case.

The significance of standing waves should not go unnoticed. Ohm's law tells us the
complex relationship between the incident and reflected signals at the load. Assuming a
50-ohm source, the voltage across a 25-ohm load resistor will be two thirds of the voltage
across a 50-ohm load. Hence, the voltage of the reflected signal is one third the voltage of
the incident signal and is 180o out of phase with it. However, as we move away from the
load toward the source, we find that the phase between the incident and reflected signals
changes! The vector sum of the two signals therefore also changes along the line,
producing the standing wave pattern. The apparent impedance also changes along the
line because the relative amplitude and phase of the incident and reflected waves at any
given point uniquely determine the measured impedance. For example, if we made a
measurement one quarter wavelength away from the 25-ohm load, the results would
indicate a 100-ohm load. The standing wave pattern repeats every half wavelength, as
does the apparent impedance.
 Caracterización de dispositivos en alta
frecuencia
Incidente
Transmitida
R
B
Reflejada
A

REFLEXIÓN TRANSMISIÓN

Reflejada A Transmitida B
= =
Incident. R Incident. R

Return Group
SWR Gain / Loss Delay
Loss
S-Parameters Impedance, Insertion
S11, S22 Reflection Admittance S-Parameters Phase
Coefficient S21, S12 Transmission
R+jX,
G+jB Coefficient

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Slide 15
Now that we fully understand the relationship of electromagnetic waves, we must also
recognize the terms used to describe them. Common network analyzer terminology has
the incident wave measured with the R (for reference) receiver. The reflected wave is
measured with the A receiver and the transmitted wave is measured with the B receiver.
With amplitude and phase information of these three waves, we can quantify the
reflection and transmission characteristics of our device under test (DUT). Some of the
common measured terms are scalar in nature (the phase part is ignored or not
measured), while others are vector (both magnitude and phase are measured). For
example, return loss is a scalar measurement of reflection, while impedance results from
a vector reflection measurement. Some, like group delay, are purely phase-related
measurements.
Ratioed reflection is often shown as A/R and ratioed transmission is often shown as B/R,
relating to the measurement receivers used in the network analyzer
 Medida de reflexión
Coeficiente Vreflejada ZL ZO
= = =
Reflexión VIncident. Z L + ZO

Pérdidas de refl. = -20 log( ), =

Relación de onda estacionaria

Emax
Emin Emax 1+
VSWR = =
Emin 1-

No reflexión Total reflexión

(ZL = Zo) (ZL = open, short)

0 1
dB RL 0 dB
1 VSWR
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Slide 16
Let's now examine reflection measurements. The first term for reflected waves is
reflection coefficient gamma ( ). Reflection coefficient is the ratio of the reflected signal
voltage to the incident signal voltage. It can be calculated as shown above by knowing the
impedances of the transmission line and the load. The magnitude portion of gamma is
called rho ( ). A transmission line terminated in Zo will have all energy transferred to the
load; hence Vrefl = 0 and = 0. When ZL is not equal to Zo , some energy is reflected and
is greater than zero. When ZL is a short or open circuit, all energy is reflected and = 1.
The range of possible values for is therefore zero to one.

Since it is often very convenient to show reflection on a logarithmic display, the second
way to convey reflection is return loss. Return loss is expressed in terms of dB, and is a
scalar quantity. The definition for return loss includes a negative sign so that the return
loss value is always a positive number (when measuring reflection on a network analyzer
with a log magnitude format, ignoring the minus sign gives the results in terms of return
loss). Return loss can be thought of as the number of dB that the reflected signal is below
the incident signal. Return loss varies between infinity for a Zo impedance and 0 dB for
an open or short circuit.

As we have already seen, two waves traveling in opposite directions on the same
transmission line cause a "standing wave". This condition can be measured in terms of
the voltage-standing-wave ratio (VSWR or SWR for short). VSWR is defined as the
maximum value of the RF envelope over the minimum value of the envelope. This value
can be computed as (1+ )/(1- ). VSWR can take
 Carta de Smith .

o
+jX
Plano polar 90

1.0
.8
.6

0 +R .4
+ 180o .2 o
0
-

-jX

Plano recto -90 o

Constant X

Z L = Zo Constant R

Carta de Smith= mapea = 0

de plano recto a plano Z L = 0 (short) ZL = (open)

O
=1 0
polar =1 ±180
O

Carta de Smith
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Slide 17
Our network analyzer gives us complex reflection coefficient. However, we often want to know the
impedance of the DUT. The previous slide shows the relationship between reflection coefficient and
impedance, and we could manually perform the complex math to find the impedance. Although
programmable calculators and computers take the drudgery out of doing the math, a single number
does not always give us the complete picture. In addition, impedance almost certainly changes with
frequency, so even if we did all the math, we would end up with a table of numbers that may be difficult
to interpret.

A simple, graphical method solves this problem. Let's first plot reflection coefficient using a polar
display. For positive resistance, the absolute magnitude of varies from zero (perfect load) to unity (full
reflection) at some angle. So we have a unit circle, which marks the boundary of the polar plane shown
on the slide. An open would plot at 1 0o; a short at 1 180o; a perfect load at the center, and so on.
How do we get from the polar data to impedance graphically? Since there is a one-to-one
correspondence between complex reflection coefficient and impedance, we can map one plane onto the
other. If we try to map the polar plane onto the rectilinear impedance plane, we find that we have
problems. First of all, the rectilinear plane does not have values to infinity. Second, circles of constant
reflection coefficient are concentric on the polar plane but not on the rectilinear plane, making it difficult
to make judgments regarding two different impedances. Finally, phase angles plot as radii on the polar
plane but plot as arcs on the rectilinear plane, making it difficult to pinpoint.

The proper solution was first used in the 1930's, when Phillip H. Smith mapped the impedance plane
onto the polar plane, creating the chart that bears his name (the venerable Smith chart). Since unity at
zero degrees on the polar plane represents infinite impedance, both plus and minus infinite reactances,
as well as infinite resistance can be plotted. On the Smith chart, the vertical lines on the rectilinear plane
that indicate values of constant resistance map to circles, and the horizontal lines that indicate values of
constant reactance map to arcs. Zo maps to the exact center of the chart.

In general, Smith charts are normalized to Zo; that is, the impedance values are divided by Zo. The
chart is then independent of the characteristic impedance of the system in question. Actual impedance
values are derived by multiplying the indicated value by Zo. For example, in a 50-ohm system, a
normalized value of 0.3 - j0.15 becomes 15 - j7.5 ohms; in a 75-ohm system, 22.5 - j11.25 ohms.

Fortunately, we no longer have to go through the exercise ourselves. Out network analyzer can display
 Medida de transmisión
V Incident V Transmitida
DUT

V Transmitida
Coeficiente de transmisión = = =
V Incident

Pérdidas de inserción (dB) V Trans

= 20 Log = - 20 log
V Inc

V Trans
Ganancia (dB) = 20 Log = 20 log
V Inc

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Slide 18
Transmission coefficient is defined as the transmitted voltage divided by the incident
voltage. If |Vtrans| > |Vinc |, the DUT has gain, and if |Vtrans| < |Vinc|, the DUT exhibits
attenuation or insertion loss. When insertion loss is expressed in dB, a negative sign is
added in the definition so that the loss value is expressed as a positive number. The
phase portion of the transmission coefficient is called insertion phase.

There is more to transmission than simple gain or loss. In communications systems,

signals are time varying -- they occupy a given bandwidth and are made up of multiple
frequency components. It is important then to know to what extent the DUT alters the
makeup of the signal, thereby causing signal distortion. While we often think of distortion
as only the result of nonlinear networks, we will see shortly that linear networks can also
cause signal distortion.
Comportamiento lineal frente a comportamiento
no lineal
A * Sin 360o * f (t - to)
A
Comportamiento lineal:
Frecuecias de entrada y salidas
Time
to son las mismas (no se crean
frecuencas adicionales)
A
Sin 360 o * f * t
phase shift = La frecuencia de salidas solo
to * 360o * f
presenta cambios en amplitud y
Time f
1
Frequency fase

Input DUT Output

Comportamiento no
lineal:
Frecuencias de salidas
f Frequency
1 Time puede experimetar
desplazamiento (e.g.
mezcladores)
frequencias adicionales son
f Frequency
creadas (armónicos,
1
intermodulación)
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Slide 19
Before we explore linear signal distortion, lets review the differences between linear and
nonlinear behavior. Devices that behave linearly only impose magnitude and phase
changes on input signals. Any sinusoid appearing at the input will also appear at the
output at the same frequency. No new signals are created. When a single sinusoid is
passed through a linear network, we don't consider amplitude and phase changes as
distortion. However, when a complex, time-varying signal is passed through a linear
network, the amplitude and phase shifts can dramatically distort the time-domain
waveform.

Non-linear devices can shift input signals in frequency (a mixer for example) and/or
create new signals in the form of harmonics or intermodulation products. Many
components that behave linearly under most signal conditions can exhibit nonlinear
behavior if driven with a large enough input signal. This is true for both passive devices
like filters and even connectors, and active devices like amplifiers
 Línea sin distorsión
Red lineal

Amplitud constante sobre Fase lineal sobre la

la banda de interés banda de interés

Frecuencia
Magnitud

Fase
Frecuencia

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Slide 20
Now lets examine how linear networks can cause signal distortion. There are three
criteria that must be satisfied for linear distortionless transmission. First, the amplitude
(magnitude) response of the device or system must be flat over the bandwidth of interest.
This means all frequencies within the bandwidth will be attenuated identically. Second,
the phase response must be linear over the bandwidth of interest. And last, the device
must exhibit a "minimum-phase response", which means that at 0 Hz (DC), there is 0o
phase shift (0o n*180o is okay if we don't mind an inverted signal).

How can magnitude and phase distortion occur? The following two examples will illustrate
how both magnitude and phase responses can introduce linear signal distortion.
 Variación de la magnitud con la frecuencia

F(t) = sin wt + 1/3 sin 3wt + 1/5 sin 5wt

Tiempo
Tiempo

Red lineal

Magnitud

Frecuencia Frecuencia Frecuencia

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Slide 21
Here is an example of a square wave (consisting of three sinusoids) applied to a
bandpass filter. The filter imposes a non-uniform amplitude change to each frequency
component. Even though no phase changes are introduced, the frequency components
no longer sum to a square wave at the output. The square wave is now severely
distorted, having become more sinusoidal in nature.
 Variación de la fase con la frecuencia
F(t) = sin wt + 1 /3 sin 3wt + 1 /5 sin 5wt

Red lineal
Tiempo Tiempo

Magnitud

Frecuencia
0°
Frecuencia Frecuencia
-180°
-360°

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Slide 22
Let's apply the same square wave to another filter. Here, the third harmonic undergoes a
180o phase shift, but the other components are not phase shifted. All the amplitudes of
the three spectral components remain the same (filters which only affect the phase of
signals are called allpass filters). The output is again distorted, appearing very impulsive
this time.
 Desviación de fase
Uso del retardo eléctrico
para eliminar la porción
lineal de la fase
Respuesta de un Longitud eléctrica
filtro RF añadida
Desviación de fase
(Función de retardo)
Fase 45 /Div

Fase 1 /Div
o

Se

o
+ obtiene

Frecuencia Frecuencia Frecuencia

Baja resolución Alta resolución

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Slide 23
Now that we know insertion phase versus frequency is a very important characteristic of a
component, let's see how we would measure it. Looking at insertion phase directly is
usually not very useful. This is because the phase has a negative slope with respect to
frequency due to the electrical length of the device (the longer the device, the greater the
slope). Since it is only the deviation from linear phase which causes distortion, it is
desirable to remove the linear portion of the phase response. This can be accomplished
by using the electrical delay feature of the network analyzer to cancel the electrical length
of the DUT. This results in a high-resolution display of phase distortion (deviation from
linear phase).
 Retardo de grupo
Rizado de retardo de
Frecuencia tg grupo

to
Fase

Retardo medio

Retardo de Grupo (t g) = Frecuencia

d 1 d
=
d 360 o * df Rizado en GD supone distorsión de fase
en radianes GD medio indica el valor de la longitud eléctrica
en radianes/sec
del DUT
La apertura en la medidas es de suma
en grados
importancia.
f en Hertzios ( f)

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Slide 24
Another useful measure of phase distortion is group delay. Group delay is a measure of
the transit time of a signal through the device under test, versus frequency. Group delay
is calculated by differentiating the insertion-phase response of the DUT versus frequency.
Another way to say this is that group delay is a measure of the slope of the transmission
phase response. The linear portion of the phase response is converted to a constant
value (representing the average signal-transit time) and deviations from linear phase are
transformed into deviations from constant group delay. The variations in group delay
cause signal distortion, just as deviations from linear phase cause distortion. Group delay
is just another way to look at linear phase distortion.

When specifying or measuring group delay, it is important to quantify the aperture in

which the measurement is made. The aperture is defined as the frequency delta used in
the differentiation process (the denominator in the group-delay formula). As we widen the
aperture, trace noise is reduced but less group-delay resolution is available (we are
essentially averaging the phase response over a wider window). As we make the
aperture more narrow, trace noise increases but we have more measurement resolution.
 ¿Porqué medir retardo de grupo?

Fase

Fase
f f
d d
d d

Group
Delay
Group
Delay

f f

El mismo valor p-p del rizado de fase se obtiene en un caso

y en otro pero el GD resulta muy diferente.
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Slide 25
Why are both deviation from linear phase and group delay commonly measured?
Depending on the device, both may be important. Specifying a maximum peak-to-peak
value of phase ripple is not sufficient to completely characterize a device since the slope
of the phase ripple is dependent on the number of ripples which occur over a frequency
range of interest. Group delay takes this into account since it is the differentiated phase
response. Group delay is often a more easily interpreted indication of phase distortion.

The plot above shows that the same value of peak-to-peak phase ripple can result in
substantially different group delay responses. The response on the right with the larger
group-delay variation would cause more signal distortion.
¿Cómo caracterizar dispositivos desconocidos?
Los parámetros (H, Y, Z, S):
Proporciona modelo de comportamiento lineal del DUT
Medidas de magnitudes (e.g. tensión corriente) versus
frecuencia bajo determinadas cargas (e.g.circuito abierto)
Calcula parámetros de los dispisitivos directamente de
ensayos
Predice el comportamiento frente a cualquer fuente o
condición de carga

H-parameters Y-parameters Z-parameters

V1 = h11I1 + h12V2 I1 = y11V1 + y12V2 V1 = z11I1 + z12I2
I2 = h21I1 + h22V2 I2 = y21V1 + y22V2 V2 = z21I1 + z22I2

h11 = V1
I1 V2=0 (require corto)
h12 = V1
V2 I1=0 (require circuito abierto)
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Slide 26
In order to completely characterize an unknown linear two-port device, we must make
measurements under various conditions and compute a set of parameters. These
parameters can be used to completely describe the electrical behavior of our device (or
network), even under source and load conditions other than when we made our
measurements. For low-frequency characterization of devices, the three most commonly
measured parameters are the H, Y and Z-parameters. All of these parameters require
measuring the total voltage or current as a function of frequency at the input or output
nodes (ports) of the device. Furthermore, we have to apply either open or short circuits as
part of the measurement. Extending measurements of these parameters to high
frequencies is not very practical.
 ¿Porqué usar parámentros S?
Relativamente fácil de obtener a altas frecuencias
Medida de ondas de tensión transmitidas y reflejadas mediante
analizadores de red
No necesita corto y abierto para medir los parámetros que pueden
causar oscilaciones o destrucción de componentes
Se relaciona con medidas muy familiares (ganancia, pérdidas,
coeficiente de reflexión ...)
Pueden ponerse en cascada
Pueden calcularse los parámetros H, Y, o Z a partir de los S
Incident S21 Transmitida
a1
S11 b2
Reflejada DUT
S22
Port 1 Port 2 Reflejada
b1
a2
Transmitida S12 Incident

b1 = S11a1 + S12 a 2
b2 = S21 a1 + S22 a 2
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Slide 27
At high frequencies, it is very hard to measure total voltage and current at the device
ports. One cannot simply connect a voltmeter or current probe and get accurate
measurements due to the impedance of the probes themselves and the difficulty of
placing the probes at the desired positions. In addition, active devices may oscillate or
self-destruct with the connection of shorts and opens.

Clearly, some other way of characterizing high-frequency networks is needed that doesn't
have these drawbacks. That is why scattering or S-parameters were developed. S-
parameters have many advantages over the previously mentioned H, Y or Z-parameters.
They relate to familiar measurements such as gain, loss, and reflection coefficient. They
are defined in terms of voltage traveling waves, which are relatively easy to measure. S-
parameters don't require connection of undesirable loads to the device under test. The
measured S-parameters of multiple devices can be cascaded to predict overall system
performance. If desired, H, Y, or Z-parameters can be derived from S-parameters. And
very important for RF design, S-parameters are easily imported and used for circuit
simulations in electronic-design automation (EDA) tools like Agilent's Advanced Design
System (ADS). S-parameters are the shared language between simulation and
measurement.

An N-port device has N2 S-parameters. So, a two-port device has four S-parameters. The
numbering convention for S-parameters is that the first number following the "S" is the
port where the signal emerges, and the second number is the port where the signal is
applied. So, S21 is a measure of the signal coming out port 2 relative to the RF stimulus
entering port 1. When the numbers are the same (e.g., S11), it indicates a reflection
measurement, as the input and output ports are the same. The incident terms (a1, a2)
and output terms (b1, b2) represent voltage traveling waves.
 Medida de parámetros S
S b2
Incident 21 Transmitida
a1
Z0
S 11
Directa Reflejada DUT Load
b1 a2 = 0

Reflejada b1
S 11 = = a
Incident 1 a2 = 0 b2
S 22 = Reflejada
b = a a1 = 0
Transmitida 2 Incident 2
S 21 = = a
Incident 1 a2 = 0 b
Transmitida 1
S 12 = = a
Incident 2 a1 = 0

a1 = 0 b2
Z0 S 22
Load
DUT
Reflejada Inversa
a2
b1 Transmitida S 12 Incident

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S11 and S21 are determined by measuring the magnitude and phase of the incident,
reflected and transmitted voltage signals when the output is terminated in a perfect Zo (a
load that equals the characteristic impedance of the test system). This condition
guarantees that a2 is zero, since there is no reflection from an ideal load. S11 is
equivalent to the input complex reflection coefficient or impedance of the DUT, and S21 is
the forward complex transmission coefficient. Likewise, by placing the source at port 2
and terminating port 1 in a perfect load (making a1 zero), S22 and S12 measurements
can be made. S22 is equivalent to the output complex reflection coefficient or output
impedance of the DUT, and S12 is the reverse complex transmission coefficient.

The accuracy of S-parameter measurements depends greatly on how good a termination

we apply to the load port (the port not being stimulated). Anything other than a perfect
load will result in a1 or a2 not being zero (which violates the definition for S-parameters).
When the DUT is connected to the test ports of a network analyzer and we don't account
for imperfect test-port match, we have not done a very good job satisfying the condition of
a perfect termination. For this reason, two-port error correction, which corrects for source
and load match, is very important for accurate S-parameter measurements (two-port
correction is covered in the calibration section).
 Significado de los parámetros S

S11 = coeficiente de reflexión directo (entrada adap.)

S22 = coeficiente de reflexión inverso (salidas adap.)
S21 = coeficiente de transmisión directo (ganancia o
pérdida)
S12 = coeficiente de transmisión inverso (aislamiento)

Parámetros S son magnitudes

complejas y lineales, sin embargo
se suelen expresar en forma
logarítmica

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S-parameters are essentially the same parameters as some of the terms we have
mentioned before, such as input match and insertion loss. It is important to separate the
fundamental definition of S-parameters and the format in which they are often displayed.
S-parameters are inherently complex, linear quantities. They are expressed as real-and-
imaginary or magnitude-and-phase pairs. However, it isn't always very useful to view
them as linear pairs. Often we want to look only at the magnitude of the S-parameter (for
example, when looking at insertion loss or input match), and often, a logarithmic display is
most useful. A log-magnitude format lets us see far more dynamic range than a linear
format.
 Criterios para transmisión sin distorsión
Redes no lineales
• La saturación, cruce,
intermodulaciones y otros efectos no
lineales pueden causar distorsiones
en la señal
• Los efectos sobre el sistema
dependen de la cantidad y tipo de
distorsión generada.
Tiempo Tiempo

Frecuencia Frecuencia
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Slide 30
We have just seen how linear networks can cause distortion. Devices which behave
nonlinearly also introduce distortion. The example above shows an amplifier that is
overdriven, causing the signal at the output to "clip" due to saturation in the amplifier.
Because the output signal is no longer a pure sinusoid, harmonics are present at integer
multiples of the input frequency.

Passive devices can also exhibit nonlinear behavior at high power levels. A common
example is an L-C filter that uses inductors made with magnetic cores. Magnetic
materials often display hysteresis effects, which are highly nonlinear. Another example
are the connectors used in the antenna path of a cellular-phone base station. The metal-
to-metal contacts (especially if water and corrosion salts are present) combined with the
high-power transmitted signals can cause a diode effect to occur, producing very low-
level intermodulation products. Although the level of the intermodulation products is
usually quite small, they can be significant compared to the low signal strength of the
received signals, causing interference problems.
 Medida del comportamiento no lineal
:Principales métodos de medida
Mediante analizador de red y barrido
de potencia
compresión
Conversión de AM a PM
Mediante analizador de espectros
más fuentes RL 0 dBm ATTEN 10 dB 10 dB / DIV
armónicos
Productos de intermodulación
8563A S PE CT RU M AN A LYZ ER 9 kH z - 26. 5 G Hz

LPF DUT

CENTER 20.00000 MHz SPAN 10.00 kHz

RB 30 Hz VB 30 Hz ST 20 sec

LPF
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Slide 31
So far, we've focused most of our attention on linear swept-frequency characterization,
which is needed for both passive and active devices. We already know that nonlinear
behavior is important to quantify, as it can cause severe signal distortion. The most
common nonlinear measurements are gain compression and AM-to-PM conversion
(usually measured with network analyzers and power sweeps), and harmonic and
intermodulation distortion (usually measured with spectrum analyzers and signal
sources). We will cover swept-power measurements using a network analyzer in more
detail in the typical-measurements section of this presentation. The slide shows how
intermodulation distortion is typically measured using two signal sources and a spectrum
analyzer as a receiver.
 Diferencias entre Analizador de red y
Analizador de espectro .

SP E CTR U M AN A LYZ ER 9 kH z - 26. 5

8563A G Hz
Relación de

Amplitude
Amplitud

Mide Mide señales

señales desconocidas
Frequency conocidas
Frequency
Analizador de red:
Mide componentes,
Analizador de espectros:
Mide características de amplitud
dispositivos,
de señal, nivel de portadora,
circuitos, módulos.
bandas laterales, armónicos...)
Contiene generador y
Puede demodular (& medir)
receptor
señales complejas
Muestra relaciones de fase y
Es receptor solamente (un solo
amplitud
canal)
(barrido de frecuencia o
Puede usarse para medida escalar
potencia)
(no mide fase) con ayuda de un
Ofrece la posibilidad de
generador de barrido iinterno o
corrección
Tema dedeerrores
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Copyright
externo 2000

Slide 32
Now that we have seen some of the measurements that are commonly done with network
and spectrum analyzers, it might be helpful to review the main differences between these
instruments. Although they often both contain tuned receivers operating over similar
frequency ranges, they are optimized for very different measurement applications.

Network analyzers are used to measure components, devices, circuits, and sub-
assemblies. They contain both a source and multiple receivers, and generally display
ratioed amplitude and phase information (frequency or power sweeps). A network
analyzer is always looking at a known signal (in terms of frequency), since it is a stimulus-
response system. With network analyzers, it is harder to get an (accurate) trace on the
display, but very easy to interpret the results. With vector-error correction, network
analyzers provide much higher measurement accuracy than spectrum analyzers.

Spectrum analyzers are most often used to measure signal characteristics such as carrier
level, sidebands, harmonics, phase noise, etc., on unknown signals. They are most
commonly configured as a single-channel receiver, without a source. Because of the
flexibility needed to analyze signals, spectrum analyzers generally have a much wider
range of IF bandwidths available than most network analyzers. Spectrum analyzers are
often used with external sources for nonlinear stimulus/response testing. When combined
with a tracking generator, spectrum analyzers can be used for scalar component testing
(magnitude versus frequency, but no phase measurements). With spectrum analyzers, it
is easy to get a trace on the display, but interpreting the results can be much more
difficult than with a network analyzer.
 Índice

1. ¿Qué medidas se pueden

realizar?
2. Hardware del analizador de red
3. Modelos de error y calibración
4. Ejemplos de medida
5. Apéndice

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Slide 33
In this next section, we will look at the main parts of a network analyzer.
 Diagrama de bloques generalizado
de un analizador de red
Incident Transmitida

DUT
Reflejada
FUENTE

SEPARADOR

INCIDENT REFLEJADA TRANSMITIDA

(R) (A) (B)

RECEPTOR / DETECTOR

PROCESADOR / DISPLAY

Copyright
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Slide 34
Here is a generalized block diagram of a network analyzer, showing the major signal-
processing sections. In order to measure the incident, reflected and transmitted signal,
four sections are required:

• Source for stimulus

• Signal-separation devices
• Receivers that downconvert and detect the signals
• Processor/display for calculating and reviewing the results

We will briefly examine each of these sections. More detailed information about the signal
separation devices and receiver section are in the appendix.
 Fuente

Produce los estímulos del

sistema
Barre en frecuencia o potencia
Tradicionalmente usa fuente
separada
Muchos la integran en el equipo

Copyright
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Slide 35
The signal source supplies the stimulus for our stimulus-response test system. We can
either sweep the frequency of the source or sweep its power level. Traditionally, network
analyzers used a separate source. These sources were either based on open-loop
voltage-controlled oscillators (VCOs) which were cheaper, or more expensive
synthesized sweepers which provided higher performance, especially for measuring
narrowband devices. Excessive phase noise on open-loop VCOs degrades measurement
accuracy considerably when measuring narrowband components over small frequency
spans. Most network analyzers that Agilent sells today have integrated, synthesized
sources, providing excellent frequency resolution and stability.
 Incident Transmitted

Separador SOURCE
Reflected
DUT

SIGNAL
SEPARATION

REFLE CTE D TRANSMITTED

INCIDENT (R) (A) (B)

RECEIVER / DETECTOR

PROCESSOR / DISPLAY

• Mide señal incidente

• Separa señal incidente de reflejada

separador
puente

Acoplador Detector

direccional Test Port

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Slide 36
The next major area we will cover is the signal separation block. The hardware used for
this function is generally called the "test set". The test set can be a separate box or
integrated within the network analyzer. There are two functions that our signal-separation
hardware must provide. The first is to measure a portion of the incident signal to provide a
reference for ratioing. This can be done with splitters or directional couplers. Splitters are
usually resistive. They are non-directional devices (more on directionality later) and can
be very broadband. The trade-off is that they usually have 6 dB or more of loss in each
arm. Directional couplers have very low insertion loss (through the main arm) and good
isolation and directivity. They are generally used in microwave network analyzers, but
their inherent high-pass response makes them unusable below 40 MHz or so.

The second function of the signal-splitting hardware is to separate the incident (forward)
and reflected (reverse) traveling waves at the input of our DUT. Again, couplers are ideal
in that they are directional, have low loss, and high reverse isolation. However, due to the
difficulty of making truly broadband couplers, bridges are often used instead. Bridges
work down to DC, but have more loss, resulting in less signal power delivered to the
DUT. See the appendix for a more complete description of how a directional bridge
works.
 Directividad
La directividad es una medida de
cómo puede separarse la señal
reflejada de la incidente

(señal indeseada) (Señal deseada)

Puerto de test

Acoplador Direccional

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Slide 37
Unfortunately, real signal-separation devices are never perfect. For example, let's take a
closer look at the actual performance of a 3-port directional coupler.

Ideally, a signal traveling in the coupler's reverse direction will not appear at all at the
coupled port. In reality, however, some energy does leak through to the coupled arm, as a
result of finite isolation.

One of the most important parameter for couplers is their directivity. Directivity is a
measure of a coupler's ability to separate signals flowing in opposite directions within the
coupler. It can be thought of as the dynamic range available for reflection measurements.
Directivity can be defined as:

Directivity (dB) = Isolation (dB) - Forward Coupling Factor (dB) - Loss (through-arm) (dB)

The appendix contains a slide showing how adding attenuation to the ports of a coupler
can affect the effective directivity of a system (such as a network analyzer) that uses a
directional coupler.

As we will see in the next slide, finite directivity adds error to our measured results.
 Interacción de la directividad con el
DUT (Sin correción de errores)
0
Data Max
DUT RL = 40 dB

Directivity
Suma en-fase
Return Loss

Device
30

60
Frecuencia

Device
Valor
Min. Dato = Suma Vector.
Device

Directivid.
Directivid.

Se suman fuera
de fase
(cancelación)

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Slide 38
Directivity error is the main reason we see a large ripple pattern in many measurements
of return loss. At the peaks of the ripple, directivity is adding in phase with the reflection
from the DUT. In some cases, directivity will cancel the DUT's reflection, resulting in a
sharp dip in the response.
 Tipos de detectores
Incident Transmitted

DUT

Reflected
SOURCE

Escalar SIGNAL
SEPARATION

Diodo (se pierde información INCIDENT (R)

REFLE CTE D
(A)
TRANSMITTED
(B)

de fase) RECEIVER / DETECTOR

PROCESSOR / DISPLAY

DC
RF
AC

Receptor sintonizado
RF IF = F LO F RF
Vectorial
ADC / DSP
(magnitud y fase)
IF Filter

LO
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Slide 39
The next portion of the network analyzer we'll look at is the signal-detection block. There
are two basic ways of providing signal detection in network analyzers. Diode detectors
convert the RF signal level to a proportional DC level. If the stimulus signal is amplitude
modulated, the diode strips the RF carrier from the modulation (this is called AC
detection). Diode detection is inherently scalar, as phase information of the RF carrier is
lost.

The tuned receiver uses a local oscillator (LO) to mix the RF down to a lower
"intermediate" frequency (IF). The LO is either locked to the RF or the IF signal so that
the receivers in the network analyzer are always tuned to the RF signal present at the
input. The IF signal is bandpass filtered, which narrows the receiver bandwidth and
greatly improves sensitivity and dynamic range. Modern analyzers use an analog-to-
digital converter (ADC) and digital-signal processing (DSP) to extract magnitude and
phase information from the IF signal. The tuned-receiver approach is used in vector
network analyzers and spectrum analyzers.
 Diodo detector de banda ancha

Fácil de realizar banda ancha

Barato si se compara con el receptor sintonizado
Adecuado para medida de sistemas de traslación en
frecuencia
Mejora en rango dinámico por incrementar los valores
de potencia
sensibilidad y rango dinámico no muy elevados

10 MHz 26.5 GHz

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Slide 40
The two main advantages of diode detectors are that they provide broadband frequency
coverage ( < 10 MHz on the low end to > 26.5 GHz at the high end) and they are
inexpensive compared to a tuned receiver. Diode detectors provide medium sensitivity
and dynamic range: they can measure signals to -60 dBm or so and have a dynamic
range around 60 to 75 dB, depending on the detector type. Their broadband nature limits
their sensitivity and makes them sensitive to source harmonics and other spurious
signals. Dynamic range is improved in measurements by increasing input power.

AC detection eliminates the DC drift of the diode as an error source, resulting in more
accurate measurements. This scheme also reduces noise and other unwanted signals.
The major benefit of DC detection is that there is no modulation of the RF signal, which
can have adverse effects on the measurement of some devices. Examples include
amplifiers with AGC or large DC gain, and narrowband filters.

One application where broadband diode detectors are very useful is measuring
frequency-translating devices, particularly those with internal LOs.
 Detección de banda estrecha – Receptor

ADC / DSP

Mejor sensibilidad y rango dinámico

Mejor rechazo frente a armónicos y
señales espureas
Mejora de rango dinámico gracias a
aumento de potencia, disminución
de ancho de banda o promediado
Bajo ruido de fondo y lenta velocidad
de medida

10 MHz 26.5 GHz

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Slide 41
Tuned receivers provide the best sensitivity and dynamic range, and also provide
harmonic and spurious-signal rejection. The narrow IF filter produces a considerably
lower noise floor, resulting in a significant sensitivity improvement. For example, a
microwave vector network analyzer (using a tuned receiver) might have a 3 kHz IF
bandwidth, where a scalar analyzer's diode detector noise bandwidth might be 26.5 GHz.
Measurement dynamic range is improved with tuned receivers by increasing input power,
by decreasing IF bandwidth, or by averaging. The latter two techniques provide a trade off
between noise floor and measurement speed. Averaging reduces the noise floor of the
network analyzer (as opposed to just reducing the noise excursions as happens when
averaging spectrum analyzer data) because we are averaging complex data. Without
phase information, averaging does not improve analyzer sensitivity.

The same narrowband nature of tuned receivers that produces increased dynamic range
also eliminates harmonic and spurious responses. As was mentioned earlier, the RF
signal is downconverted and filtered before it is measured. The harmonics associated
with the source are also downconverted, but they appear at frequencies outside the IF
bandwidth and are therefore removed by filtering.
 Comparación de técnicas de recepción

Diodo Receptor
0 dB 0 dB

-50 dB -50 dB

-100 dB -100 dB
-60 dBm Sensibilidad < -100 dBm Sensibilidad
Más alto ruido de Alto rango dinámico
fondo
Inmunidad a armónicos
Respuestas falsas
Rango dinámico = máxima potencia – ruido de
fondo
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Slide 42
Dynamic range is generally defined as the maximum power the receiver can accurately
measure minus the receiver noise floor. There are many applications requiring large
dynamic range. One of the most common is measuring filter stopband performance. As
you can see here, at least 80 dB dynamic range is needed to properly characterize the
rejection characteristics of this filter. The plots show a typical narrowband filter measured
on an 8757 scalar network analyzer and on an 8510 vector network analyzer. Notice that
the filter exhibits 90 dB of rejection but the scalar analyzer is unable to measure it
because of its higher noise floor.

In the case where the scalar network analyzer was used with broadband diode detection,
a harmonic from the source created a "false" response. For example, at some point on a
broadband sweep, the second harmonic of the source might fall within the passband of
the filter. If this occurs, the detector will register a response, even though the stopband of
the filter is severely attenuating the frequency of the fundamental. This response from the
second harmonic would show on the display at the frequency of the fundamental. On the
tuned receiver, a false signal such as this would be filtered away and would not appear on
the display. Note that source subharmonics and spurious outputs can also cause false
display responses.
 Dynamic Range and Accuracy
Error Due to Interfering Signal
100

10 -

+
1
phase error Dynamic range
is very important
magn error
for measurement
0,1 accuracy!

0,01

0,001
0 -5 -10 -15 -20 -25 -30 -35 -40 -45 -50 -55 -60 -65 -70
Interfering signal (dB)

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Slide 43
This plot shows the effect that interfering signals (sinusoids or noise) have on
measurement accuracy. The magnitude error is calculated as 20*log [1 interfering-
signal] and the phase error is calculated as arc-tangent [interfering-signal], where the
interfering signal is expressed in linear terms. Note that a 0 dB interfering signal results in
(plus) 6 dB error when it adds in phase with the desired signal, and (negative) infinite
error when it cancels the desired signal.

To get low measurement uncertainty, more dynamic range is needed than the device
exhibits. For example, to get less than 0.1 dB magnitude error and less than 0.6 degree
phase error, our noise floor needs to be more than 39 dB below our measured power
levels (note that there are other sources of error besides noise that may limit
measurement accuracy). To achieve that level of accuracy while measuring 80 dB of
rejection would require 119 dB of dynamic range. One way to achieve this level is to
average test data using a tuned-receiver based network analyzer.
 T/R y parámetros S Test Sets
Transmisión/Reflexión Test Set Parámetros S Test Set
Source Source

Transfer switch

R R

A B A B

Port 1 Port 2 Port 1 Port 2

Fwd DUT Fwd DUT Rev

RF siempre sale de 1 RF sale de1 o de 2

puerto 2 siempre es Medida directa e inversa
receptor Calibración dos-puertos
Calibración un-puerto

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Slide 44
There are two basic types of test sets that are used with network analyzers. For
transmission/reflection (T/R) test sets, the RF power always comes out of test port one
and test port two is always connected to a receiver in the analyzer. To measure reverse
transmission or output reflection of the DUT, we must disconnect it, turn it around, and re-
connect it to the analyzer. T/R-based network analyzers offer only response and one-port
calibrations, so measurement accuracy is not as good as that which can be achieved with
S-parameter test sets. However, T/R-based analyzers are more economical. For the
8712, 8753 and 8720 families, Agilent uses the ET suffix to denote a T/R analyzer, and
the ES suffix to denote an S-parameter analyzer.

S-parameter test sets allow both forward and reverse measurements on the DUT, which
are needed to characterize all four S-parameters. RF power can come out of either test
port one or two, and either test port can be connected to a receiver. S-parameter test sets
also allow full two-port (12-term) error correction, which is the most accurate form
available. S-parameter network analyzers provide more performance than T/R-based
analyzers, but cost more due to extra RF components in the test set.

There are two different types of transfer switches that can be used in an S-parameter test
set: solid-state and mechanical. Solid-state switches have the advantage of infinite
lifetimes (assuming they are not damaged by too much power from the DUT). However,
they are more lossy so they reduce the maximum output power of the network analyzer.
Mechanical switches have very low loss and therefore allow higher output powers. Their
main disadvantage is that eventually they wear out (after 5 million cycles or so). When
using a network analyzer with mechanical switches, measurements are generally done in
single-sweep mode, so the transfer switch is not continuously switching.

S-parameter test sets can have either a 3-receiver (shown on slide) or 4-receiver
architecture. The 8753 series and standard 8720 series analyzers have a 3-receiver
architecture. Option 400 adds a fourth receiver to 8720 series analyzers, to allow true
TRL calibration. The 8510C family uses a 4-receiver architecture. More detailed
 Procesador / Display
Incident Transmitted

DUT 50 MH-20GHz
NE TWORK ANYZER
ACTIVE ENT RY
CHANNEL

Reflected
SOURCE
RES PONSE

SIGNAL
R CHANNEL
SEPARATION
STIMULUS INSTRUM ENT
STATE

INCIDENT REFLE CTE D TRANSMITTED T R L S

(R) (A) (B) H P- I B S TAT US

PO RT 1 PO RT 2

RECEIVER / DETECTOR

PROCESSOR / DISPLAY

marcadores
Líneas límite
Indicación
pasa/falla
Formato linear/log
grid/polar/carta
Smith
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Slide 45
The last major block of hardware in the network analyzer is the display/processor section.
This is where the reflection and transmission data is formatted in ways that make it easy
to interpret the measurement results. Most network analyzers have similar features such
as linear and logarithmic sweeps, linear and log formats, polar plots, Smith charts, etc.
Other common features are trace markers, limit lines, and pass/fail testing. Many of
Agilent's network analyzers have specialized measurement features tailored to a
particular market or application. One example is the E5100A/B, which has features
specific to crystal-resonator manufacturers.
 Medida automática
Simple: recall states
Más potente:
Test sequencing
Registro de secuencias
de test
Funciones avanzadas ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTUVWXYZ0123456789 + - / * = < > ( ) & "" " , . / ? ; : ' [ ]
1 ASSIGN @Hp8714 TO 800
IBASIC 2 OUTPUT @Hp8714;"SYST:PRES; *WAI"

programación 3 OUTPUT @Hp8714;"ABOR;:INIT1:CONT OFF;*WAI"

4 OUTPUT @Hp8714;"DISP:ANN:FREQ1:MODE SSTOP"
Interface programado por 5 OUTPUT @Hp8714;"DISP:ANN:FREQ1:MODE CSPAN"

usuario 6 OUTPUT @Hp8714;"SENS1:FREQ:CENT 175000000 HZ;*WAI"

7 OUTPUT @Hp8714;"ABOR;:INIT1:CONT OFF;:INIT1;*WAI"
8 OUTPUT @Hp8714;"DISP:WIND1:TRAC:Y:AUTO ONCE"
9 OUTPUT @Hp8714;"CALC1:MARK1 ON"
10 OUTPUT @Hp8714;"CALC1:MARK:FUNC BWID"
11 OUTPUT @Hp8714;"SENS2:STAT ON; *WAI"
12 OUTPUT @Hp8714;"SENS2:FUNC 'XFR:POW:RAT 1,0';DET NBAN; *WAI"
13 OUTPUT @Hp8714;"ABOR;:INIT1:CONT OFF;:INIT1;*WAI"
14 OUTPUT @Hp8714;"DISP:WIND2:TRAC:Y:AUTO ONCE"
15 OUTPUT @Hp8714;"ABOR;:INIT1:CONT ON;*WAI"
16 END

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Slide 46
All of Agilent's network analyzers offer some form of internal measurement automation.
The most simple form is recall states. This is an easy way to set up the analyzer to a pre-
configured measurement state, with all of the necessary instrument parameters.

More powerful automation can be achieved with test sequencing or Instrument BASIC
(IBASIC). Test sequencing is available on the 8753/8720 families and provides keystroke
recording and some advanced functions. IBASIC is available on the 8712ET/ES series
and provides the user with sophisticated programs and custom user interfaces and
measurement personalities.
 Agilent’s Series of HF Vector Analyzers
Microwave
8510C series
8720ET/ES series
110 GHz in
13.5, 20, 40 GHz
coax
economical
highest
fast, small, integrated
accuracy
test mixers, high-power
modular,
amps
flexible
pulse systems
Tx/Rx module
test
RF
8753ET/ES
8712ET/ES series series
1.3, 3 GHz 3, 6 GHz
low cost highest RF
narrowband and accuracy
broadband flexible
detection hardware
IBASIC / LAN more features
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OffsetCopyright
and
harmonic 2000
RF
sweeps

Slide 47
Shown here is a summary of Agilent's high-frequency families of vector network
analyzers.
 Agilent’s LF/RF Vector Analyzers

Combination NA / SA
4395A/4396B
500 MHz (4395A), 1.8 GHz (4396B)
impedance-measuring option
fast, FFT-based spectrum analysis
time-gated spectrum-analyzer option
IBASIC
standard test fixtures

E5100A/B
180, 300 MHz
economical
LF fast, small
target markets: crystals, resonators, filters
equivalent-circuit models
evaporation-monitor-function option

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Slide 48
Shown here is a summary of Agilent's low-frequency vector network analyzers and
combination network/spectrum analyzers.
 Analizador de espectros / Generador de
Tracking
RF in

IF 8563A S PE CT RU M AN A LYZ ER 9 kH z - 26. 5 G Hz

LO
DUT

Spectrum analyzer

TG out

DUT
f = IF Tracking generator

Diferencias respecto a analizadores de redes

Un canal -- no realiza ratio entre entrada y salida
Más caro que un analizador de red escalar (pero mejor rango
dinámico)
Solo normalización
Menor precisión
Bajo incremento de coste si se dispone ya de un analizador de
señal
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Slide 49
If the main difference between spectrum and network analyzers is a source, why don't we
add a tracking generator (a source that tracks the tuned frequency of the spectrum
analyzer) to our spectrum analyzer . . . then is it a network analyzer? Well, sort of.

A spectrum analyzer with a tracking generator can make swept scalar-magnitude

measurements, but it is still a single-channel receiver. Therefore it cannot make ratioed or
phase measurements. Also, the only error correction available is normalization (and
possibly open-short averaging). The amplitude accuracy with a spectrum analyzer is
roughly an order of magnitude worse than on a scalar network analyzer (dB vs. tenths of
dB). Finally, a spectrum analyzer with a tracking generator costs more than a scalar
network analyzer with similar frequency range, but it may be a small incremental cost to
add a tracking generator if the spectrum analyzer is already needed for other spectrum-
related measurements.
 Agenda

1. ¿Qué medidas se pueden

realizar?
2. Hardware del analizador de
red
3. Modelos de error y calibración
4. Ejemplos de medida
5. Apéndice

Porqué se necesita la corrección de error y la

calibración
Es imposible hacer un hardware perpecto
Sería extraordinariamente caro hacer una hardware
con mínimo error
Corrección de errores es lo más útil

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Slide 50
In this next section, we will talk about the need for error correction and how it is
accomplished. Why do we even need error-correction and calibration? It is impossible to
make perfect hardware which obviously would not need any form of error correction.
Even making the hardware good enough to eliminate the need for error correction for
most devices would be extremely expensive. The best balance is to make the hardware
as good as practically possible, balancing performance and cost. Error correction is then
a very useful tool to improve measurement accuracy.
 Modelo de error y calibración
1. ¿Qué medidas se pueden realizar?
2. Hardware del analizador de red
3. Modelos de error y calibración
• Errores de medida
• ´Qué es una corrección de
medida vectorial
• Tipos de calibración
• Precisión, ejemplos
• Consideraciones sobre
calibración
4. Ejemplos de medida
5. Apéndice

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Slide 51
We will explain the sources of measurement error, how it can be corrected with
calibration, and give accuracy examples using different calibration types.
 Errores de medida
AL
C Errores sistemáticos
Debido a imperfecciones en el
analizador y en el sistema de pruebas
Se supone que estos erorres son
independientes del tiempo Errors:
(predecibles)
SYSTEMATIC
Errores aleatorios
Measured Unknown
varian con el tiempo en forma Data RANDOM Device
aleatoria (impredecibles)
Principales componentes: Ruido del DRIFT
instrumento conmutación y
repetibilidad de conectores y cables
AL
R
E-
C Errores de deriva
Debido a cambios en las
características del sistema después
de haberse realizado la calibración
Fundamentalmente causado por la
variación de la temperatura
Copyright
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Slide 52
Let's look at the three basic sources of measurement error: systematic, random and drift.

Systematic errors are due to imperfections in the analyzer and test setup. They are
repeatable (and therefore predictable), and are assumed to be time invariant. Systematic
errors are characterized during the calibration process and mathematically removed
during measurements.
Random errors are unpredictable since they vary with time in a random fashion.
Therefore, they cannot be removed by calibration. The main contributors to random error
are instrument noise (source phase noise, sampler noise, IF noise).

Drift errors are due to the instrument or test-system performance changing after a
calibration has been done. Drift is primarily caused by temperature variation and it can be
removed by further calibration(s). The timeframe over which a calibration remains
accurate is dependent on the rate of drift that the test system undergoes in the user's test
environment. Providing a stable ambient temperature usually goes a long way towards
minimizing drift.
 Medida de errores sistemáticos

R A B
Directividad Crosstalk

DUT

Respuesta en frecuencia
Barrido en reflexión (A/R) Fuente Carga
Barrido en transmisión (B/R) Mismatch Mismatch

Seis términos de error directo y seis inversos calculan

12 términos de error para un dispositivo de dos puertos
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Slide 53
Shown here are the major systematic errors associated with network measurements. The
errors relating to signal leakage are directivity and crosstalk. Errors related to signal
reflections are source and load match. The final class of errors are related to frequency
response of the receivers, and are called reflection and transmission tracking. The full
two-port error model includes all six of these terms for the forward direction and the same
six (with different data) in the reverse direction, for a total of twelve error terms. This is
why we often refer to two-port calibration as twelve-term error correction
 Tipos de corrección de errores
respuesta (normalización)
simple de realizar
Sólo corrige error de barrido
Almacena la curva de referencia en memoria y thru
realiza los cálculos dividiendo por los datos
almacenados
vectorial
Necesita más estándares
Necesita un analizador con capacidad de medida
de fase
Tiene en cuenta la mayor parte de los errores
sistemáticos SHORT

OPEN
thru

S11a
LOAD

S11m
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Slide 54
The two main types of error correction that can be done are response (normalization)
corrections and vector corrections. Response calibration is simple to perform, but only
corrects for a few of the twelve possible systematic error terms (the tracking terms).
Response calibration is essentially a normalized measurement where a reference trace is
stored in memory, and subsequent measurement data is divided by this memory trace. A
more advanced form of response calibration is open/short averaging for reflection
measurements using broadband diode detectors. In this case, two traces are averaged
together to derive the reference trace.

Vector-error correction requires an analyzer that can measure both magnitude and
phase. It also requires measurements of more calibration standards. Vector-error
correction can account for all the major sources of systematic error and can give very
accurate measurements.

Note that a response calibration can be performed on a vector network analyzer, in which
case we store a complex (vector) reference trace in memory, so that we can display
normalized magnitude or phase data. This is not the same as vector-error correction
however (and not as accurate), because we are not measuring and removing the
individual systematic errors, all of which are complex or vector quantities.
 ¿Qué es una corrección vectorial de errores?
Proceso para caracterizar los errores sistemáticos
midiendo estándares conocidos y eliminando el
efecto que producen los errorres sobre medidas
sucesivas
Calibración de 1-puerto (medidas de reflexión)
Medida de sólo tres errores sistemáticos
directividad, fuente match, and barrido de reflexión
Calibración completa de 2-puertos (medidas de
reflexión y transmisión)
12 medidas de términos de error sistemáticos
usualmente requiere 12 medidas sobre cuatro
estándares conocidos (SOLT)
Los estándares se definen mediante un archivo de
definición de kit de calibración
VNA incluye este archivo

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Slide 55
Vector-error correction is the process of characterizing systematic error terms by
measuring known calibration standards, and then removing the effects of these errors
from subsequent measurements.

One-port calibration is used for reflection measurements and can measure and remove
three systematic error terms (directivity, source match, and reflection tracking). Full two-
port calibration can be used for both reflection and transmission measurements, and all
twelve systematic error terms are measured and removed. Two-port calibration usually
requires twelve measurements on four known standards (short-open-load-through or
SOLT). Some standards are measured multiple times (e.g., the through standard is
usually measured four times). The standards themselves are defined in a cal-kit definition
file, which is stored in the network analyzer. Agilent network analyzers contain all of the
cal-kit definitions for our standard calibration kits. In order to make accurate
measurements, the cal-kit definition MUST MATCH THE ACTUAL CALIBRATION KIT
USED! If user-built calibration standards are used (during fixtured measurements for
example), then the user must characterize the calibration standards and enter the
information into a user cal-kit file. Sources of more information about this topic can be
found in the appendix.
 Reflexión: Modelo 1-Puerto
Adapt. de error
RF in Ideal
RF in 1
ED = Directividad
S11A ED ES S11A ERT = Barrido en reflexión
ES = Match de fuente
S11M S11M
ERT S11M = Medido
S11 A = Actual
se miden 3 estándades y
S11A
se generan 3 ecuaciones
S11M = ED + ERT
con 3 incógnitas
1 - ES S11A
Si el DUT es de 2 puertos, se asume buena terminación en el segundo
puerto
Si se usa el puerto 2 del NA y el aislamiento del DUT es bajo (ejem. Filtro
pasabanda o cables):
la suposición de buena terminación no es válida y
la corrección de 2-puerto presenta mucho mejor resultado
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Slide 56
Taking the simplest case of a one-port reflection measurement, we have three systematic
errors and one equation to solve in order to calculate the actual reflection coefficient from
the measured value. In order to do this, we must first calculate the individual error terms
contained in this equation. We do this by creating three more equations with three
unknowns each, and solving them simultaneously. The three equations come from
measuring three known calibration standards, for example, a short, an open, and a Zo
load. Solving the equations will yield the systematic error terms and allow us to derive the
actual reflection S-parameter of the device from our measurements.

When measuring reflection two-port devices, a one-port calibration assumes a good

termination at port two of the device. If this condition is met (by connecting a load
calibration standard for example), the one-port calibration is quite accurate. If port two of
the device is connected to the network analyzer and the reverse isolation of the DUT is
low (for example, filter passbands or cables), the assumption of a good load termination
is not valid. In these cases, two-port error correction provides more accurate
measurements. An example of a two-port device where load match is not important is an
amplifier. The reverse isolation of the amplifier allows one-port calibration to be used
effectively. An example of the measurement error that can occur when measuring a two-
port filter using a one-port calibration will be shown shortly.
 Antes y después de una calibración 1-puerto
0
2.0

Datos antes de calibrar

1-puerto
20
1.1
Return Loss (dB)

VSWR
40
1.01

Datos después de
60 calibrar 1-puerto
1.001

6000 12000
MHz

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Slide 57
Shown here is a plot of reflection with and without one-port calibration. Without error
correction, we see the classic ripple pattern caused by the systematic errors interfering
with the measured signal. The error-corrected trace is much smoother and better
represents the device's actual reflection performance.
 Two-Port Error Correction
Reverse model
Forward model Port 1 Port 2
E RT'
Port 1 EX Port 2
S 21
a1 A b2
S 21A b2 E L' S11 S22 ED'
ETT A A E S' a2
a1 ES b1
ED S11 S22 a2
A A
b1 EL S12 A
ETT'
EX'
E RT S 12
A

ED = fwd directivity EL = fwd load match S11m ED S 22m ED ' S 21m EX S 12 m EX '
( )(1 ES ' ) E L( )( )
E S = fwd source match ETT = fwd transmission tracking S11a
E RT E RT ' E TT E TT '

ERT = fwd reflection tracking EX = fwd isolation (1

S11m E D'
E S )(1
S 22m ED '
ES ' ) E L 'EL (
S 21m EX
)(
S 12 m EX '
)
E RT E RT ' E TT E TT '
E D' = rev directivity EL' = rev load match
E S' = rev source match ETT' = rev transmission tracking S 21m EX S22 m ED'
( )(1 ( E S ' E L ))
E RT' = rev reflection tracking EX' = rev isolation E TT E RT '
S21a
S11m ED S 22m ED' S 21m EX S12 m E X '
(1 E S )(1 ES ' ) EL' EL( )( )
E RT E RT ' E TT E TT '
Each actual S-parameter is a
function of all four measured
S12 m E X ' S11m ED
( )(1 (ES E L ' ))
E TT ' E RT
S12 a
S-parameters (1
S11m E D
E S )(1
S 22m ED '
ES ' ) EL 'EL (
S 21m EX
)(
S12 m E X '
)
E RT E RT ' E TT E TT '
Analyzer must make forward
and reverse sweep to update S
( 22m
ED '
E RT '
)( 1
S11m
E RT
ED
ES )
S
E L ' ( 21m
E TT
E X S12 m E X '
)(
E TT '
)
S 22 a
any one S-parameter (1
S11m ED
E S )(1
S 22m ED'
ES ' ) E L ' EL (
S 21m EX
)(
S12m EX '
)
Luckily, you don't need to know E RT E RT ' E TT ETT '

these equations to use network

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analyzers!!! 2000

Slide 58
Two-port error correction is the most accurate form of error correction since it accounts for
all of the majorsources of systematic error. The error model for a two-port device is shown
above. Shown below are the equations to derive the actual device S-parameters from the
measured S-parameters, once the systematic error terms have been characterized. Notice
that each actual S-parameter is a function of all four measured S-parameters. The network
analyzer must make a forward and reverse sweep to update any one S-parameter. Luckily,
you don't need to know these equations to use network analyzers!!!
 Crosstalk: Pérdida de señal entre puertos
durante transmisión
DUT
Crosstalk puede ser problema con:
Dispositivos de alto aislamiento (e.g.,conmutadores
en abierto)
Dispositivos de alto rango dinámico (algunos filtros
rechazo de banda)
Calibración de Aislamiento
añade ruido al modelo de error (medida cerca del
ruido de fondo)
Se usa solo si es necesario (uso de promediado)
Si el crostalk es independiente del DUT
se usa dos terminaciones
Si es dependiente se usa una sola
terminación
LOAD DUT DUT LOAD

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Slide 59
When performing a two-port calibration, the user has the option of omitting the part of the
calibration that characterizes crosstalk or isolation. The definition of crosstalk is the signal
leakage between test ports when no device is present. Crosstalk can be a problem with
high-isolation devices (e.g., switch in open position) and high-dynamic range devices
(some filter stopbands). The isolation calibration adds noise to the error model since we
usually are measuring near the noise floor of the system. For this reason, one should only
perform the isolation calibration if it is really needed. If the isolation portion of the
calibration is done, trace averaging should be used to ensure that the system crosstalk is
not obscured by noise. In some network analyzers, crosstalk can be minimized by using
the alternate sweep mode instead of the chop mode (the chop mode makes
measurements on both the reflection (A) and transmission (B) receivers at each
frequency point, whereas the alternate mode turns off the reflection receiver during the
transmission measurement).

The best way to perform an isolation calibration is by placing the devices that will be
measured on each test port of the network analyzer, with terminations on the other two
device ports. Using this technique, the network analyzer sees the same impedance
versus frequency during the isolation calibration as it will during subsequent
measurements of the DUT. If this method is impractical (in test fixtures, or if only one
DUT is available, for example), than placing a terminated DUT on the source port and a
termination on the load port of the network analyzer is the next best alternative (the DUT
and termination must be swapped for the reverse measurement). If no DUT is available or
if the DUT will be tuned (which will change its port matches), then terminations should be
placed on each network analyzer test port for the isolation calibration.
 Errores y estándares de calibración
Sin corrección Respuesta 1-Puerto 2-puertos
SHORT
SHORT SHORT

DUT OPEN
OPEN OPEN
thru
LOAD
LOAD LOAD
Imprecisión
DUT
No se eliminan
erores DUT
Fácil de realizar thru
Se usa cuando no
se requiere alta Para medidas de reflexión
DUT
precisión Necesita buena
Elimina los errores terminación cuando se
calibran dispositivos de 2 Máxima precisión
de respuesta de
puertos Elimina errores de:
frecuencia
Elimina errores de:: Directividad
Fuente, carga
Respuesta enriquecida Directividad
Match de fuente match
Combina respuesta y 1-puerto Barrido de reflexión Barrido de
Corrige match de fuente para medida de reflexión y
trnasmisión trnasmisión
Crosstalk
Copyright
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Slide 60
A network analyzer can be used for uncorrected measurements, or with any one of a
number of calibration choices, including response calibrations and one- or two-port vector
calibrations. A summary of these calibrations is shown above. We will explore the
measurement uncertainties associated with the various calibration types in this section.
 Resumen de calibración
Test Set (cal type)
Reflexión
SHORT

T/R S-parameter
(one-port) (two-port)
OPEN
Tracking Reflexión
Directividad LOAD

Match de fuente
Match de carga
Test Set (cal type)

Transmisión T/R S-parameter

(two-port)
(response, isolation)
error puede se compens.
Tracking de transmisión
error no se puede comp.
Crosstalk
* Respuesta enriquecida: Corrige * )
match de fuente para medida de Match de fuente(
transmisión
Match de carga

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Slide 61
This summary shows which error terms are accounted for when using analyzers with T/R
test sets (models ending with ET) and S-parameter test sets (models ending with ES).
Notice that load match is the key error term than cannot be removed with a T/R-based
network analyzer.

The following examples show how measurement uncertainty can be estimated when
measuring two-port devices with a T/R-based network analyzer. We will also show how 2-
port error correction provides the least measurement uncertainty.
 EMI. Introducción

TEMA 8. EMI INTRODUCCIÓN

Introducción............................................................................................................................ 1
Componentes ante una situación de interferencia .................................................................. 1
Fuentes de Interferencias........................................................................................................ 2
Estimación de la interferencia radiada o conducida ............................................................... 3

qué tipo de interferencia se va a encontrar

Introducción esta última tarea resulta mucho más
El uso extenso de sistemas eléctricos y compleja.
electrónicos que funcionan próximos a Existen muchas técnicas de reducción de
otros dispositivos así como los avances en EMI y es conveniente ponerlas en
sistemas de comunicaciones ha hecho práctica lo antes posible durante el
imprescindible el estudio de las proceso de diseño. Si se hace al final,
interferencias que estos sistemas cuando el diseño es definitivo el coste de
producen. Hoy en día, los dispositivos las soluciones se incrementa
electrónicos deben ser diseñados no solo sustancialmente. Además, en estas fases
para funcionar sino que además deben finales del diseño se deben añadir nuevos
hacerlo ante un entorno de interferencias elementos que añaden complejidad y
y sin contribuir a que el nivel de reducen la fiabilidad.
interferencia de dicho entorno aumente. ¿Qué herramientas se emplean para el
La interferencia electromagnética (EMI estudio de las interferencias?
acrónimo anglosajón que proviene de Las principales herramientas de cálculo
Electromagnetic Interference) es un ruido utilizan los principios del
eléctrico o radioeléctrico que crea una electromagnetismo, basados en las
perturbación o respuesta indeseada en un ecuaciones de Maxwell, y las técnicas de
sistema. análisis de señal. Sin embargo, refiriendo
La compatibilidad electromagnética esta teoría a circuitos simples y sobre
(EMC acrónimo anglosajón que proviene todo en baja frecuencia, pueden hacerse
de Electro-Magnetic Compatibility) es la simplificaciones basadas en la teoría de
aptitud de un dispositivo de no perturbar circuitos, que pueden emplearse con gran
su entorno o de no ser perturbado por aproximación. Desafortunadamente, un
dicho entorno de forma intolerable. estudio detallado de la EMI da lugar a un
La susceptibilidad electromagnética gran número de casos especiales que no
(EMS acrónimo anglosajón que proviene se corresponden con el comportamiento
de Electro-Magnetic Susceptibility) es la normal desde el punto de vista de la teoría
incapacidad de un sistema electrónico de de circuitos. Esto hace que se tenga que
funcionar sin degradación ante una retornar con gran frecuencia a los
perturbación EMI. El concepto contrario principios del electromagnetismo para
es la Inmunidad. resolver estos problemas.
Los sistemas deben diseñarse para
minimizar las emisiones y también para Componentes ante una
ser inmunes ante estas. situación de interferencia
Desgraciadamente, como nunca se sabe Para que exista un problema de

1
 EMI. Introducción

interferencia deben existir al menos tres Z0=377

elementos: la fuente o culpable de dichas
interferencias, el camino de propagación Para el caso de campo cercano se
y el receptor o victima. distinguen dos casos: campos
Las perturbaciones pueden ser conducidas predominantemente eléctricos y campos
o radiadas. Se dice que son conducidas si predominantemente magnéticos, E 1/d3y
se propagan a través de materiales H /d2 en cuyo caso, la impedancia de la
conductores o guías (cables de onda es Z0 1/d y para campos
alimentación o de señal). Se miden en predominantemente magnéticos E 1/d2y
voltios o amperios aunque se prefiere H /d3 y la impedancia de la onda es
expresar dichas unidades en dB V. Las Z0 d
interferencias son radiadas si se propagan
a través del aire. En dicho caso, las
unidades utilizadas para su medida son
V/m y A/m, las cuales se expresan
Fuentes de Interferencias
Las interferencias pueden ser de origen
habitualmente en dB V/m o dB A/m.
externo o interno.
Las interferencias radiadas pueden ser, a
Las de origen interno se les denomina
su vez, de campo lejano o de campo
ruido intrínseco. Ruido térmico, ruido
próximo. Las de campo próximo se
Shot, ruido de contacto.
clasifican en capacitiva e inductiva.
Las fuentes de interferencia se clasifican
Las características del campo generado
en artificiales y naturales.
por una fuente de interferencia dependen
Artificiales pueden ser intencionadas o no
de la naturaleza de dicha fuente, de la
intencionadas.
frecuencia y la distancia al receptor.
Intencionadas:
El espacio que rodea a una fuente de
Electrónica de
interferencia puede dividirse en dos
Comunicaciones.
regiones. Distancia menor de que se No intencionadas:
denomina región de campo cercano, y Energía Eléctrica.
distancia mayor de que se denomina Herramientas y máquinas.
región de campo lejano. Donde es la Sistemas de Encendido.
longitud de la onda que, para el caso de Industria y Consumo.
propagación a través del aire, puede
determinarse por
m Naturales
c
m 2.997925 108 s Terrestres: Descargas
f Hz
electrostáticas (ESD), rayos.
c 300
Aproximadamente Extraterrestres: Sol, ruidos
f f ( MHz) galácticos, rayos cósmicos.
Para el caso de campo lejano, la
Las perturbaciones se manifiestan
impedancia de la onda toma el valor de la generalmente en forma pulsada. Se
consideran:
impedancia del medio que si es aire, vale Continuas: Cuando los

2
 EMI. Introducción

impulsos son de una Estimación de la interferencia

duración mayor de 200 ms. A partir de la expresión temporal de estos
Discontinuas: Con pulsos pulsos, se puede determinar la respuesta
menores de 200 ms. Estas en frecuencia. Algunos ejemplos de la
pueden ser simples cuando interferencia y su correspondiente
están separados a intervalos espectro se muestran en la figura 1.
mayores de 200ms y
múltiples con una separación
entre pulsos menor de 200
ms.

Figura 1. Ejemplos de distintos espectros

3
 EMI. Introducción

Figura 2 Estimación gráfica de la intensidad de campo eléctrico emitido por un cable.

Es interesante hacer notar cómo el [6] Kennedy, G., Electronic
espectro de una onda trapezoidal queda Communications Systems, McGraw-Hill,
muy reducido a frecuencias mayores de 1970.
f2=1/ r, siendo r el tiempo de subida. [7] Ott, H. W., Noise Reduction
Este hecho permite concluir que un buen Techniques in Electronic Systems, John
método que permite reducir interferencias Wiley & Sons,
desde el origen es, impidiendo second edition, 1988.
variaciones bruscas en las formas de onda
de las fuentes generadoras.

Referencias:
[1] Henry W. Ott, “Noise Reduction
Techniqaues in Electronic Systems”. John
Willey & Sons, Inc. 1988
[2] D. Motchenbacher y J.A. Connelly,
“Low-Noise Electronic System Design”.
John Willey & Sons, Inc. 1993.
[3] Alain Charoy, Parásitos y
perturbaciones en electrónica, Paraninfo,
1996.
[4] Josep Balcells, Francesc Daura,
Rafael Esparza, Ramón Pallás,
"Interferencias Electromagnéticas en
sistemas electrónicos". Serie Mundo
Electrónico, Ed. Marcombo 1992.
[5] Paul, C., Introduction to
Electromagnetic Compatibility, John
Wiley & Sons, 1992.

2
 EMI. Sistemas de medida.

TEMA 9. EMI. SISTEMAS DE MEDIDA.

Introducción ..................................................................................................................................1
Ensayos de emisión radioeléctrica ................................................................................................2
Ensayo de emisión radiada........................................................................................................2
Ensayo de emisión conducida ...................................................................................................4
Ensayos de inmunidad...................................................................................................................5
Inmunidad radiada.....................................................................................................................5
Inmunidad conducida. Descargas electrostáticas......................................................................6
Inmunidad conducida. Transitorios...........................................................................................6
Inmunidad frente a campos magnéticos ....................................................................................6
Medida de SAR .............................................................................................................................8
Eduardo Galván Díez.
Profesor Titular del Departamento de Ingeniería Electrónica
de la Universidad de Sevilla.
e-mail: galvan@gte.esi.us.es

emisión Norma Internacional CEI 61000-6-

Introducción
Las medidas de interferencias se realizan
por dos razones fundamentales: para
verificar y depurar los diseños, y para
comprobar mediante ensayos
cumplimiento de las normativas
internacionales en relación con dichas
interferencias.
Muchos de los equipos que se usan para
realizar y calibrar los diferentes ensayos son
equipos de propósito general, analizadores
de espectros, antenas, sondas de campo, etc.
Estos, además de utilizarse para realizar los
ensayos, pueden servir depurar los
prototipos.
Los ensayos de interferencia se regulan
mediante organismos internacionales.
Concretamente en Europa existe el Comité
Europeo de Normalización Electrotécnica
CENELEC que se encarga de esa misión.
Este comité se inspira en normas de
organismos internacionales y adopta
habitualmente las recomendaciones del
Comité Internacional de Perturbaciones
Radioeléctricas CISPR de la IEEE. Muchas
de las normas generadas por dicho comité se
adoptan con las debidas modificaciones por
CENELEC y se reescriben en versión oficial
en los idiomas de los distintos países. Estas
van precedidas por las siglas del comité de
normalización correspondiente a cada
nación. Por ejemplo, la norma genérica de
3 es adoptada como Norma Europea EN
61000-6-3, y se traduce en versión oficial
con el nombre UNE-EN 61000-6-3 en
España o VDE EN 61000-6-3 en Alemania.
el Existen dos grupos de normas
fundamentales: normas de emisión y
normas de inmunidad o susceptibilidad.
A su vez, las normas de emisión se dividen
en perturbaciones radioeléctricas, armónicos
y fluctuaciones de tensión.
Las normas referentes a perturbaciones
radioeléctricas abarcan todas las
interferencias que un dispositivo es capaz de
enviar hacia el exterior, tanto a nivel radiado
como conducido por sus cables de
alimentación o señal. El rango de frecuencia
que se analiza en interferencia conducida es
de 9kHz a 30MHz, y para radiada es de
30MHz a 1000MHz.
Las normas relativas a armónicos analizan
el espectro de tensión y corriente de la
alimentación del equipo en baja frecuencia.
Determinan el grado de distorsión que el
equipo introduce en la alimentación.
Las normas relativas a las fluctuaciones de
tensión o Flicker determinan las
variaciones de tensión que un equipo
produce en la red de alimentación,
fundamentalmente debido a las variaciones
de carga.
Mediante los ensayos de inmunidad se
prueba si el dispositivo soporta

1

determinadas acciones externas, como por
ejemplo campos magnéticos,
electromagnéticos, fluctuaciones de tensión,
etc.
Las normas contemplan distintos
mecanismos de acoplamiento, que pueden
ser conducidos o radiados. Estos
acoplamientos se realizan a través de puntos
de conexión al dispositivo o acceso como se
muestra en la Figura 1. El acceso según la
norma es la interconexión particular del
dispositivo con el entorno electromagnético.
El acceso al DUT puede realizarse por
distintos puntos, como el acceso por la
alimentación tanto de continua como de
alterna, por los bornes de señal y control,
por el borne de tierra, y por el propio chasis
o envolvente. A este último se le denomina
acceso por la envolvente que se define
como la frontera física del aparato a través
del cual los campos electromagnéticos
pueden radiar o con el que pueden chocar.
Acceso por la
Acceso por la envolvente
alimentación de Acceso por el
corriente alterna borne de tierra
Acceso por la APARATO Acceso por los
alimentación de bornes de señales y
corriente continua de control
Figura 1. Acceso al dispositivo bajo prueba
en un ensayo de interferencia según la
normativa.
La norma define unos límites para cada
acceso y para distintas gamas de
frecuencias. Además, por regla general,
hacen referencia a normas básicas anteriores
o de referencia que aún siguen en vigor y
que definen de forma exhaustiva las
características de los sistemas de ensayo.
Existen dos normas recopilatorias que cubre
los ensayos genéricos de emisión.
La norma genérica de emisión en entornos
residenciales, comerciales y de industria
ligera UNE-EN 61000-6-3, que usa la tabla
1 como resumen completo de la norma, y la
UNE-EN 61000-6-4, aplicable a entornos
industriales. Esta última utiliza una tabla
similar a la anterior pero con la diferencia
2
EMI. Sistemas de medida.
de que se aumentan los niveles permitidos
desde el punto de vista de interferencia
conducida. La distancia de medida radiada
pasa a realizarse a 30m de distancia desde el
dispositivo, al sistema de medida. Además,
solo se tiene en cuenta la envolvente y la
alimentación de corriente alterna, siendo la
norma básica o de referencia la normativa
CISPR 11 en vez de la CISPR 22.
En los siguientes apartados se analizará en
mayor detalle el origen del problema y en
qué consisten los distintos ensayos que se
deben realizar. Los apartados se dividen en
ensayos de emisión radioeléctrica y ensayos
de inmunidad.
Ensayos de emisión
radioeléctrica
Estos ensayos consisten en medir los niveles
de emisión de los dispositivos bajo prueba y
verificar en los peores casos si dichos
niveles superan determinados valores.
En este apartado se estudiarán los ensayos
de emisión tanto a nivel radiado como
conducido.
Ensayo de emisión radiada
En este ensayo se mide, mediante una
antena receptora de banda ancha, la
radiación producida por el DUT a una
distancia de 3m (esta distancia puede ser
diferente según la normativa aplicada).
Como se observa en la Figura 2, el DUT se
coloca sobre una mesa rotatoria y en un
plano de masa. La antena de medida se
instala sobre un mástil cuya altura es
regulable. Esto permite medir la radiación
del equipo en prácticamente todas las
direcciones. Por tanto, el ensayo consiste en
verificar la máxima radiación emitida por el
equipo bajo pruebas.
Estos ensayos pueden realizarse en campo
abierto, aunque la mayoría se realizan en el
interior de una cámara denominada
semianecoica. También hay normas que
permiten realizar medidas mediante antenas
de cuadro para EUT de pequeñas
dimensiones. Este ensayo se muestra en la
Figura 3.
 EMI. Sistemas de medida.

Acceso Gama de frecuencias Límites Norma básica Nota para Observaciones

la
aplicación
Envolvente 30MHz a 230MHz 30dBuV/m a10m CISPR 22, Nota 1
230MHz a 1GHz 37dBuV/m a10m Clase B
Alimentación con 0kHz a 2kHz Según normas básica CEI 61000-3-2 Nota 2 Armónoicos y
corriente alterna CEI 61000-3-3 flicker

0.15MHz a 0.5MHz 66 a 56 dBuV

Límite que decrece en cuasipico
linealmente con el 56 a 46 dBuV
logaritmo de la frecuencia en valor medio
0.5MHz a 5MHz 56 cp 46 vm
5MHz a 30MHz 60 cp 50 vm
0.15MHz a 0.5MHz Según norma básica CISPR 14
perturbaciones
discontinuas
Señales de control, 0.15MHz a 0.5MHz 40 a 30 dBuV CISPR 22, Medida con
entradas, salidas Límite que decrece en cuasipico Clase B sonda de
CC y otras linealmente con el 30 a 20 dBuV corriente
logaritmo de la frecuencia en valor medio
0.5MHz a 30MHz 30 en valor cuasipico
20 dBuV en valor
medio
Nota 1: Aplicable únicamente a los aparatos que contienen dispositivos de tratamiento de datos
que funcionan a frecuencias superiores de 9kHz.
Nota 2: Aplicable a los aparatos correspondientes a la norma.

ANTENA DE los elementos durante dicho ensayo en el

BANDA
ANCHA interior de una cámara semianecoica.
26MHz-2GHz El equipamiento básico necesario para
realizar estos ensayos consiste en: una
cámara semianecoica con mesa rotatoria, un
EUT
mástil de antenas con controlador de mástil
MÁSTIL DE
MESA y mesa y una antena receptora.
ROTATORIA EMISIÓN RADIADA EN-61000-6-3
ANTENAS
RECEPTOR DE
ANTENA DE
CERTIFICACION BANDA ANCHA
26MHz-2GHz

Figura 2. Ensayo de emisión radiada.

EUT
ANTENA DE CUADRO
DE DIAMETRO 2m

856 3A
SP
ECT
R U MA N
AL Y
ZER 9 k
Hz - 2 6
.5 G H z

EUT

Figura 4. Emisión radiada en el interior de

una cámara anecoica.
La cámara semianecoica [5] consiste en un
recinto apantallado cubierto internamente,
85 63 A SPE
C T R U MA N A
LYZE
R 9 k H z - 2 6 .5 G H
z

paredes y techo, por un material absorbente

a la radiación electromagnética. Esta cámara
Figura 3. Ensayo de emisión con antena de
tiene la misión de evitar que la radiación
cuadro.
salga hacia el exterior, y además evita que
En la Figura 4 se muestra la disposición de penetre radiación externa que pueda

3

perturbar el ensayo. La instalación de
material absorbente en su interior permite
hacer que dicha cámara se comporte igual
que un campo abierto. En este sentido,
existen pruebas que verifican cuanto se
parece la cámara a un campo abierto. Con
ellas se compara la respuesta de dos antenas
gemelas calibradas con un analizador de
redes en campo abierto y se vuelve a medir
en el interior de la cámara. A la máxima
desviación entre unas curvas y otras se le
denomina NSA, admitiéndose un máximo
de 5dB.
Los materiales que se usan como
absorbentes son: pirámides de espuma
cubiertas de material absorbente o losetas de
ferrita. Estas últimas se usan para baja
frecuencia hasta 1GHz y evitan el uso de
pirámides de grandes dimensiones.
Las antenas más empleadas son las
logoperiódicas, ya que cubren prácticamente
todo el rango de ensayo evitando tener que
cambiar de antena durante el ensayo. Otras
antenas que se usan en estos ensayos son la
bicónica y el dipolo como se muestra en la
Figura 5.
Figura 5. Antena bicónica, dipolo y
logoperiódica.
Estos ensayos hacen uso de equipos de
medida en el dominio de la frecuencia. Esta
función es realizada por el analizador de
espectros, aunque se prefiere el uso de un
receptor que normalmente es del tipo
heterodino. Un receptor EMI es básicamente
un analizador de onda heterodino. Un
esquema simplificado del receptor se
muestra en la Figura 6.
Figura 6. Receptor de interferencias.
El sistema de medida de interferencias
consta de un transductor, la antena, que
convierte la interferencia en señales de
tensión que se envían al receptor. El
4
EMI. Sistemas de medida.
receptor está constituido por un elemento
detector, un filtro pasabanda y un indicador.
Por simplicidad, no se ha representado la
estructura completa que incluiría todo el
proceso de mezcla heterodina.
El detector puede ser: de pico, cuasipico,
valor medio y RMS real. La estructura de
estos detectores se muestra en la Figura 7.
(a)
(b)
(c)
(d)
Figura 7. Detectores. (a) pico, (b) cuasipico,
(c) valor medio, (d) RMS real
termodetector.
Actualmente se emplea el detector pico y
cuasipico. Éste último presenta una
constante de tiempo de carga del
condensador distinta de la de descarga. La
tendencia es emplear detectores de valor
medio o RMS que determina mejor los
niveles de interferencia de las señales
pulsadas y consigue medir con buena
precisión a altas frecuencias.
Ensayo de emisión conducida
Con este ensayo se pretende medir la
interferencia que circula por los cables de
alimentación (tanto de tensión alterna como
continua), los de señal y el cable de tierra
que conectan el equipo con el exterior.
Estos ensayos consisten en conectar el
dispositivo bajo prueba a la red eléctrica o a
cualquier otro equipo externo (para el caso
de medir la interferencia por cables de
control se conecta al equipo correspondiente
 EMI. Sistemas de medida.

con dichos cables y se mide sobre ellos) a 50/60Hz

LISN
50/60Hz

través de una red de adaptación de EUT

impedancia de línea (LISN), tal como se

EMI

muestra en la Figura 8.
CONTROL DE
EMI LINEA A MEDIR
50/60Hz 50/60Hz

LISN
EUT RECEPTOR DE
CERTIFICACION EMI
EMI

EMI Figura 10. Ensayo de emisión de

interferencia conducida para equipos
monofásicos.
8563A SPECT RUM ANALYZER 9kHz - 26.5 GHz

LISN PMM L3 32
50/60Hz 50/60Hz

Figura 8. Ensayo de emisión conducida. EUT

EMI

La LISN incluye dos módulos principales,

como se muestra en la Figura 9: un elemento
de adaptación que permite canalizar la EMI
CONTROL DE
LINEA A MEDIR

interferencia hacia el receptor y un módulo

de filtrado que evita que la interferencia
RECEPTOR DE
CERTIFICACION EMI
PMM 9000
salga o entre de la red eléctrica.
En la Figura 9 puede observarse con más Figura 11. Ensayo de emisión de
detalle como se construye físicamente esta interferencia conducida para equipos
red. Los elementos empleados para realizar trifásicos.
las funciones anteriormente descritas son LISN PMM L2 D

elementos pasivos, bobinas, condensadores

Señal datos Señal datos

EUT
y resistencias.
Easym
EMI
Esym

DUT
CONTROL DE
MODO A MEDIR
EMI
(simétrico/asimétrico)
FILTRADO

RECEPTOR DE
CERTIFICACION EMI

ADAPTACIÓN

Figura 12. Ensayo de emisión de

Figura 9. Red de estabilización de interferencia conducida para cables de señal.
impedancia de línea (LISN)
Los cables de alimentación pueden ser Inmunidad radiada
monofásicos con tres cables (fase, neutro,
Los ensayos que se realizan se representan
tierra) o trifásicos con 5 cables (3 fases más
de forma gráfica en la Figura 13 y Figura
neutro y tierra) como se muestra en las
14. En una primera medida es necesario
figuras 10 y 11 respectivamente.
calibrar el sistema de ensayo. Este proceso
En la Figura 12 se muestra el caso de cables
permite garantizar la condición de
de señal.
uniformidad de campo. Para ello se utiliza la
sonda isotrópica y el medidor de campo,
Ensayos de inmunidad realizándose un proceso de medida en un
Los ensayos de inmunidad también se plano para determinar si el campo es
dividen en inmunidad radiada e inmunidad uniforme en dicho plano, como se observa
conducida. en la Figura 13.

5
 EMI. Sistemas de medida.

antena y medidor de campo

INMUNIDAD RADIADA EN-61000-4-3 CALIBRACION

ANTENA DE
BANDA ANCHA
electromagnético.
26MHz-2GHz

Inmunidad conducida. Descargas

SONDA
ISOTROPICA
100KHz-1,5GHz

electrostáticas
En la Figura 15 se representa el ensayo de
descarga electrostática. El ensayo consiste
en la generación de una descarga sobre el
MEDIDOR de
DUT mediante el uso de una pistola de
CAMPO
descarga. El EUT se coloca sobre una mesa
que se conecta al plano de tierra mediante
AMPLIFICADOR GENERADOR DE
KALMUS
SEÑAL

una impedancia normalizada.

Figura 13. Ensayo de inmunidad radiada.
Calibración. PISTOLA DE DESCARGAS:
EMTEST P18 CON PUNTAS INTERCAMBIABLES
EMTEST VCP EMTEST M AD Y RSI para
INMUNIDAD RADIADA EN-61000-4-3 CALIBRACION descargas por aire y por contacto

EMTEST PRT
ANTENA DE
BANDA ANCHA
26MHz-2GHz EUT EMTEST ESD30
GENERADOR DE
DESCARGAS

EMTEST ESA 30

EUT

PLANO DE TIERRA

Figura 15. Sistema de ensayo de descargas

electrostáticas.
AMPLIFICADOR GENERADOR DE
KALMUS
SEÑAL

Figura 14. Ensayo de inmunidad radiada.

Inmunidad conducida. Transitorios
Una vez terminado el proceso de En las figuras 16 y17 se muestran los
calibración, se realiza el proceso de medida. ensayos que pueden realizarse con un
Mediante la antena, se inyecta el campo simulador de red de alimentación. Este
electromagnético con los niveles que las sistema permite la generación de ondas de
normas establecen y que se extienden en choque (SURGES), transitorios (EFT) y
frecuencias hasta varios GHz. Las últimas simulación de fallos de alimentación. La
revisiones de UNE-EN 61000-4-3 generación de tensión variable se realiza a la
contemplan la necesidad de probar los salida del simulador de fallos de
equipos a frecuencias superiores a 1 GHz alimentación mediante un VARIAC que es
debido a la mayor presencia de radiaciones un trasformador de tensión variable
de frecuencias superiores (por ejemplo controlado desde el propio sistema.
telefonía móvil). Debido a que los niveles
de campo deben ser suficientemente Inmunidad frente a campos
elevados se emplean amplificadores de RF magnéticos
para garantizar estos niveles de intensidad Este mismo equipo, junto con el
de campo. transformador variable, se usa para la
El equipamiento necesario para realizar realización del ensayo de inmunidad frente a
estos ensayos de inmunidad radiada será, campos magnéticos a frecuencia industrial
por tanto: un generador de señal, un según la norma 61000-4-8, como se muestra
amplificador de banda ancha y gran en la Figura 18, y campos magnéticos
potencia, un acoplador direccional, una pulsados, como se muestra en la Figura 19.
sonda isotrópica, un medidor de potencia,

6
 EMI. Sistemas de medida.

INMUNIDAD A TRANSITORIOS RAPIDOS EN 61000-4-4

líneas de alimentación trifásica
INMUNIDAD A TRANSITORIOS RAPIDOS EN 61000-4-4
líneas de alimentación monofásica
SIMULADOR ULTRACOMPACTO WINCOM
EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE
SIMULADOR ULTRACOMPACTO WINCOM
EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE
Generador
Transitorios
Generador EFT
Transitorios
EFT

CDN EUT
EUT
Interna

CDN Trifásica

EMTEST CNI 503 16 A

INMUNIDAD A ONDAS DE CHOQUE EN 61000-4-5

líneas de alimentación monofásica
INMUNIDAD A TRANSITORIOS RAPIDOS EN 61000-4-4
líneas de control o de datos
SIMULADOR ULTRACOMPACTO WINCOM
EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE
SIMULADOR ULTRACOMPACTO WINCOM
Generador
EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE
Ondas de
Choque
Generador SURGES
Transitorios
EFT

EUT
CDN EUT

PINZA DE ACOPLO CAPACITOVO

EMTEST HFK

INMUNIDAD A ONDAS DE CHOQUE EN 61000-4-5

INMUNIDAD A ONDAS DE CHOQUE EN 61000-4-5
líneas de alimentación trifásica
líneas de control o de datos

SIMULADOR ULTRACOMPACTO SIMULADOR ULTRACOMPACTO WINCOM

WINCOM
EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE
EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE

Generador
Generador
Ondas de
Ondas de
Choque
Choque
SURGES
SURGES

EUT EUT

CDN Trifásica RED DE ACOPLO

líneas de control o de datos
EMTEST CNI 503 16 A EMTEST CNV 504
LINEAS DE CONTROL O DATOS

Figura 16. Inmunidad a transitorios, ondas de choque.

7
 EMI. Sistemas de medida.

INMUNIDAD A INTERRUPCIONES Y VARIACIONES DE LA TENSION

DE ALIMENTACION EN 61000-4-11 unidad de masa. Los valores de SAR se
alimentación monofásica
expresan en unidades de W/kg en 1g o 10g
de tejido.
SIMULADOR ULTRACOMPACTO WINCOM
EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE

Simulador
de fallos de
El ensayo se realiza como se muestra en
laFigura 20.
Alimentación

Medidas SAR según EN50360

EUT

9
VARIAC
M EMTEST MV 2616
2.d
0-260V 2.a
5.b

2.b 2.c
2
10
1

Figura 17. Inmunidad a interrupción de la 5.c

5.a
7
3

fuente de alimentación. 4

INMUNIDAD CAMPOS MAGNETICOS A FRECUENCIA INDUSTRIAL EN 61000-4-8

SIMULADOR ULTRACOMPACTO WINCOM

EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE

Simulador ENSAYO
de fallos de
Alimentación
ANTENA DE LAZO
EMTEST MS 100

8
2.e
EUT
5.d
5.e

TRANSFORMADOR
VARIAC
DE CORRIENTE
M EMTEST MV 2616

Figura 20. Medida de SAR.

EMTEST MC2630

0-260V

Los límites permitidos dependen de los

Figura 18. Inmunidad a campos magnéticos distintos países o regiones y se presentan en
de alta frecuencia. la Tabla 1.
INMUNIDAD CAMPOS MAGNETICOS PULSADOS EN 61000-4-9

[1] Henry W. Ott, “Noise Reduction

SIMULADOR ULTRACOMPACTO
EMTEST UCS500 M/4
WINCOM
SOFTWARE
Techniqaues in Electronic Systems”. John
Generador
Ondas de
Willey & Sons, Inc. 1988
[2] Alain Charoy, Parásitos y perturbaciones
Choque
SURGES
ANTENA DE LAZO
EMTEST MS 100

en electrónica, Paraninfo, 1996.

EUT
Figura 19. Inmunidad a campos magnéticos
pulsados.
Medida de SAR
Se define el SAR como la tasa específica de
absorción (SAR Specific Absortion rate). Es
una medida de la radicación que absorbe la
cabeza de un ser humano cuando usa un
teléfono móvil. El valor del SAR es una
medida de la máxima energía absorbida por
[3] Josep Balcells, Francesc Daura, Rafael
Esparza, Ramón Pallás, "Interferencias
Electromagnéticas en sistemas
electrónicos". Serie Mundo Electrónico, Ed.
Marcombo 1992.
[4] Paul, C., Introduction to Electromagnetic
Compatibility, John Wiley & Sons, 1992.
[5] UNE-EN 50147-Cámaras anecóicas.
Parte 2: Adaptabilidad de un emplazamiento
de ensayo alternativo con respecto a la
atenuación
[6] EN 55011, EN55022, EN 55014. Límites
y métodos de medida de las características
relativas a las perturbaciones radioeléctricas
de los aparatos que producen energía en
radiofrecuencia

8
 EMI. Sistemas de medida.

[7] UNE-EN 61000-4-3. Compatibilidad de ensayo y de medida. Sección 6: Ensayo

electromagnética (CEM). Parte 4: Técnicas de inmunidad a las perturbaciones
de ensayo y de medida. Sección 3: Ensayos conducidas, inducidas por los campos de
de inmunidad a los campos radiofrecuencia.
electromagnéticos radiados de [12] UNE-EN 61000-4-8. Compatibilidad
radiofrecuencia. electromagnética (CEM). Parte 4: Técnicas
[8] UNE-EN 61000-4-2 Compatibilidad de ensayo y de medida. Sección 8: Ensayo
electromagnética (CEM). Parte 4: Técnicas de inmunidad a los campos magnéticos a
de ensayo y de medida. Sección 2: Ensayos frecuencia industrial. Norma básica de
de inmunidad a las descargas electrostáticas. CEM.
[9] UNE-EN 61000-4-4 Compatibilidad [13] UNE-EN 61000-4-9. Compatibilidad
electromagnética (CEM). Parte 4: Técnicas electromagnética (CEM). Parte 4: Técnicas
de ensayo y de medida. Sección 4: Ensayos de ensayo y de medida. Sección 9: Ensayos
de inmunidad a los transitorios eléctricos de inmunidad a los campos magnéticos
rápidos en ráfagas. Norma básica de CEM. impulsionales. Norma básica de CEM.
[10] UNE-EN 61000-4-5 Compatibilidad [14] UNE-EN 61000-4-11. Compatibilidad
electromagnética (CEM). Parte 4: Técnicas electromagnética (CEM). Parte 4: Técnicas
de ensayo y de medida. Sección 5: Ensayo de ensayo y de medida. Sección 11: Ensayos
de inmunidad a las ondas de choque. de inmunidad a los huecos de tensión,
[11] UNE-EN 61000-4-6 Compatibilidad interrupciones breves y variaciones de
electromagnética (CEM). Parte 4: Técnicas tensión.
Región Documentos de
Norma aplicable Límites
/País referencia
ICNIRP Guidelines
European Specification 2.0 W/Kg en 10g de
Europa 1998
ES 59005 tejido
(ICNIRP 1998)
Australian Communications
Australian Standard 1.6 W/Kg en 1g de
Australia Authority (ACA) Standard
AS/NZS 2772.1 tejido
(ACA RS 1999)
Federal Communications American Standard
1.6 W/Kg en 1g
USA Commission (FCC) ANSI C95.1 (ANSI
tejido
Guidelines (FCC 1997) 1992)
Tabla 1. Límites permitidos de SAR.

9
TEMA 9. EMI. SISTEMAS DE MEDIDA
1. Introducción
2. Sistemas de medida radiada
3. Sistemas de medida conducida
4. Medida de inmunidad
 Introducción
Comité Europeo de Normalización Electrotécnica CENELEC
Comité Internacional de Perturbaciones Radioeléctricas CISPR de la IEEE

Acceso por la alimentación de Acceso por la envolvente

Acceso por el borne de tierra
corriente alterna

Acceso por la alimentación de APARATO Acceso por los bornes de

corriente continua señales y de control
 Norma genérica de emisión en entornos residenciales, comerciales y de
industria ligera UNE-EN 61000-6-3
Acceso Gama de Límites Norma Nota para la Observacion
frecuencias básica aplicación es
Envolvente 30MHz a 230MHz 30dBuV/m a10m CISPR 22, Nota 1
230MHz a 1GHz 37dBuV/m a10m Clase B
Alimentación con 0kHz a 2kHz Según normas básica CEI 61000-3- Nota 2 Armónicos y
corriente alterna 2 flicker
CEI 61000-3-
3

0.15MHz a 0.5MHz 66 a 56 dBuV

Límite que decrece en cuasipico
linealmente con el 56 a 46 dBuV
logaritmo de la en valor medio
frecuencia
0.5MHz a 5MHz 56 cp 46 vm
5MHz a 30MHz 60 cp 50 vm
0.15MHz a 0.5MHz Según norma básica CISPR 14
perturbaciones
discontinuas
Señales de 0.15MHz a 0.5MHz 40 a 30 dBuV CISPR 22, Medida con
control, entradas, Límite que decrece en cuasipico Clase B sonda de
salidas CC y otras linealmente con el 30 a 20 dBuV corriente
logaritmo de la en valor medio
frecuencia
0.5MHz a 30MHz 30 en valor cuasipico
20 dBuV en valor medio

Nota 1: Aplicable únicamente a los aparatos que contienen dispositivos de tratamiento de datos que funcionan
a frecuencias superiores de 9kHz.
Nota 2: Aplicable a los aparatos correspondientes a la norma.
Ensayos de Emisión radiada
 EMISIÓN RADIADA EN-61000-6-3

ANTENA DE
BANDA ANCHA
26MHz-2GHz

EUT

SPE CTRU M AN ALYZER 9 k H z - 26 . 5 G H z

8 5 63 A
Ensayo de Interferencias Conducidas

LISN Red de Estabilización de Impedancias de

Línea
EMISIONES CONDUCIDAS para líneas de alimentación
EUT monofásicos

LISN
50/60Hz 50/60Hz

EUT
EMI

CONTROL DE
EMI LINEA A MEDIR

RECEPTOR DE
CERTIFICACION EMI
EMISIONES CONDUCIDAS para líneas de alimentación
EUT trifásicos

LISN PMM L3 32
50/60Hz 50/60Hz

EUT

EMI

CONTROL DE
EMI LINEA A MEDIR

RECEPTOR DE
CERTIFICACION EMI
PMM 9000
EMISIONES CONDUCIDAS para 2 líneas de telecomunicación

LISN PMM L2 D
Señal datos Señal datos

EUT
Easym
EMI
Esym

CONTROL DE
MODO A MEDIR
EMI
(simétrico/asimétrico)

RECEPTOR DE
CERTIFICACION EMI
 EMISIONES CONDUCIDAS. Otros métodos

50/60Hz 50/60Hz

EUT
EMI

SONDA DE TENSION
PMM SHC-2

EMI

RECEPTOR DE
CERTIFICACION EMI
PMM 9000
 MEDIDA DE LAS PERTURBACIONES
ELECTROMAGNETICAS RADIADAS

ANTENA DE CUADRO
DE DIAMETRO 2m
PMM RF-300

EUT

RECEPTOR DE
CERTIFICACION EMI
PMM 9000
 SISTEMAS DE ENSAYO

DE INMUNIDAD CONDUCIDA
 INMUNIDAD A DESCARGAS ELECTROSTATICAS EN 61000-4-2

PISTOLA DE DESCARGAS:
EMTEST P18 CON PUNTAS INTERCAMBIABLES
EMTEST VCP EMTEST M AD Y RSI para
descargas por aire y por contacto

EMTEST PRT

EUT EMTEST ESD30

GENERADOR DE
DESCARGAS

EMTEST ESA 30

PLANO DE TIERRA
 INMUNIDAD A TRANSITORIOS RAPIDOS EN 61000-4-4
líneas de alimentación monofásica

SIMULADOR ULTRACOMPACTO WINCOM

EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE

Generador
Transitorios
EFT

CDN
EUT
Interna
 INMUNIDAD A TRANSITORIOS RAPIDOS EN 61000-4-4
líneas de alimentación trifásica

SIMULADOR ULTRACOMPACTO WINCOM

EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE

Generador
Transitorios
EFT

EUT

CDN Trifásica

EMTEST CNI 503 16 A

 INMUNIDAD A TRANSITORIOS RAPIDOS EN 61000-4-4
líneas de control o de datos

SIMULADOR ULTRACOMPACTO WINCOM

EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE

Generador
Transitorios
EFT

EUT

PINZA DE ACOPLO CAPACITOVO

EMTEST HFK
LINEAS DE CONTROL O DATOS
 INMUNIDAD A ONDAS DE CHOQUE EN 61000-4-5
líneas de alimentación monofásica

SIMULADOR ULTRACOMPACTO WINCOM

EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE

Generador
Ondas de
Choque
SURGES

CDN EUT
 INMUNIDAD A ONDAS DE CHOQUE EN 61000-4-5
líneas de alimentación trifásica

SIMULADOR ULTRACOMPACTO WINCOM

EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE

Generador
Ondas de
Choque
SURGES

EUT

CDN Trifásica

EMTEST CNI 503 16 A

 INMUNIDAD A ONDAS DE CHOQUE EN 61000-4-5
líneas de control o de datos

SIMULADOR ULTRACOMPACTO WINCOM

EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE

Generador
Ondas de
Choque
SURGES

EUT

RED DE ACOPLO
líneas de control o de datos
EMTEST CNV 504
LINEAS DE CONTROL O DATOS
INMUNIDAD A INTERRUPCIONES Y VARIACIONES DE LA TENSION
DE ALIMENTACION EN 61000-4-11
alimentación monofásica

SIMULADOR ULTRACOMPACTO WINCOM

EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE

Simulador
de fallos de
Alimentación

EUT

VARIAC
M EMTEST MV 2616

0-260V
INMUNIDAD CAMPOS MAGNETICOS A FRECUENCIA INDUSTRIAL EN 61000-4-8

SIMULADOR ULTRACOMPACTO WINCOM

EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE

Simulador
de fallos de
Alimentación
ANTENA DE LAZO
EMTEST MS 100

EUT

VARIAC TRANSFORMADOR
DE CORRIENTE
M EMTEST MV 2616
EMTEST MC2630

0-260V
 INMUNIDAD CAMPOS MAGNETICOS PULSADOS EN 61000-4-9

SIMULADOR ULTRACOMPACTO WINCOM

EMTEST UCS500 M/4 SOFTWARE

Generador
Ondas de
Choque
SURGES
ANTENA DE LAZO
EMTEST MS 100

EUT
SISTEMAS DE ENSAYO

DE INMUNIDAD RADIADA

EN 6000-4-3
 INMUNIDAD RADIADA EN-61000-4-3 CALIBRACION

ANTENA DE
BANDA ANCHA
26MHz-2GHz

SONDA
ISOTROPICA
100KHz-1,5GHz

MEDIDOR de
CAMPO

AMPLIFICADOR GENERADOR DE
KALMUS
SEÑAL
 ENSAYO DE EMISIÓN SAR

Tasa específica de absorción (SAR Specific Absortion rate)

-- Reference to -- Reference
Region /
SAR measuremant to SAR Limit
Country
protocol limit
ICNIRP
European Specification
Guidelines 2.0 W/Kg in
Europe ES 59005 (1998)</FONT<
1998 10g of tissue
td>
(ICNIRP 1998)
Australian Australian
Communications Authority Standard 1.6 W/Kg in
Australia
(ACA) Standard AS/NZS 1g of tissue
(ACA RS 1999) 2772.1
American
Federal Communications
Standard ANSI 1.6 W/Kg in
US Commission (FCC)
C95.1 (ANSI 1g of tissue
Guidelines (FCC 1997)
1992)
 Medidas SAR según EN50360

2.d

2.a
5.b

2.b 2.c
2
10
1
5.a 3
5.c 7

ENSAYO

8
2.e

5.d
5.e