Capı́tulo 10

Difracción por cristales

10.1. Diagrama de difracción de un cristal: ecua-

ciones de Laue.
Un cristal se puede considerar como un empaquetamiento compacto tridimen-
sional de celdas unidad (definidas por tres vectores básicos a, b y c), cada
una de las cuales contiene la misma distribución atómica (compuesta por s áto-
mos). Respecto al origen (elegido arbitrariamente) de cada celda los átomos
tendrán definidas sus posiciones mediante vectores del tipo ri = xi a + yi b +
zi c (i = 1, · · · , s) y elegida arbitrariamente una celdilla como origen, la posi-
ción de cualquier otra celdilla (la n-ésima) vendrá definida por el vector de la
red de traslaciones Rn = n1 a + n2 b + n3 c (n1 , n2 , n3 ∈ Z). Ası́, por ejemplo, en
la siguiente figura el vector de la red Rn es a + 2b.

Figura 10.1: Vector de posición ri de un átomo en una celda y vector de red

Rn = a + 2b

Respecto al origen fijado, la posición de cualquier átomo en cualquier celdilla

56 Difracción por cristales

estará determinado por el vector Ri,n = ri + Rn Para calcular la amplitud

difractada por el cristal, podemos considerar a éste como una red de puntos
(con traslaciones básicas a, b y c) y suponer que cada punto dispersa una
amplitud F (S) equivalente a la dispersada por la celda unidad de dicho cristal
(recuérdese que S ≡ s − so es el vector de difracción). Si el cristal contiene N1 ,
N2 y N3 celdas a lo largo de a, b y c respectivamente, la amplitud difractada
por el cristal será:


G (S) = F (S) e2πıRn ·S
n
1 −1
N 2 −1
N 3 −1
N
= F (S) e2πın1 a·S e2πın2 b·S e2πın3 c·S (10.1)
n1 =0 n2 =0 n3 =0

Cada uno de los sumandos es una progresión geométrica y su suma vale:


N i −1
1 − e2πıNi ai ·S
e2πıni ai ·S = (i = 1, 2, 3) (10.2)
ni =0
1 − e2πıai ·S

2
La intensidad difractada I (S) es proporcional a |G (S)| ; multiplicando cada
sumando por su conjugado complejo se obtiene:
N −1 2
 i  sen2 πNi ai · S
 
 e2πıni ai ·S  = = Ja2i (10.3)
  sen 2 πa · S
i
n =0
i

donde Jai es la función de interferencia ya definida. La intensidad difractada es,

por tanto:

2 sen2 πN1 a · S sen2 πN2 b · S sen2 πN3 c · S

I (S) ∝ |F (S)| (10.4)
sen2 πa · S sen2 πb · S sen2 πc · S
Cada una de las funciones de interferencia en 10.3 tiene máximos iguales a N12 ,
N22 y N32 para:

a·S = h
b·S = k h, k,  ∈ Z (10.5)
c·S = 

respectivamente. El conjunto 10.5 de ecuaciones simultáneas recibe el nombre

de Ecuaciones de Laue e indican las direcciones posibles en que se producirán
haces difractados por un cristal. En un cristal, N12 , N22 y N32 son muy grandes
(del orden de varios miles) por lo que las funciones de interferencia 10.3 sólo
tienen valores apreciables cuando se cumplen las ecuaciones de Laue simultánea-
mente, y la intensidad vale:

2 2
I (S) ∝ |F (S)| N12 N22 N32 ≡ |F (S)| N 2 (10.6)

Recordando que |S| = 2 sen θ/λ, las ecuaciones de Laue 10.5 pueden ponerse en
la forma:
10.1 Ecuaciones de Laue 57

sen θ
a · S = 2a cos ψ = h
λ
sen θ
b · S = 2b cos φ = k (10.7)
λ
sen θ
c · S = 2c cos χ = 
λ

donde cos ψ, cos φ y cos χ son los cosenos directores del vector S en la base
(a, b, c). De acuerdo a las ecuaciones anteriores, estos cosenos directores son
proporcionales a h/a, k/b y /c respectivamente, las cuales son las fracciones en
que el plano de la red de ı́ndices de Miller (hk), corta a los ejes a, b y c (ver
siguiente figura).


Figura 10.2: Vector ⊥ plano (hkl ) y vector de difracción S

Esto implica que el vector S es perperdicular al plano (hk). Además si d (hk)

es el espaciado de la familia de planos (hk):

a b c
d (hk) = cos ψ = cos φ = cos χ (10.8)
h k 
luego |S| = 1/d (hk) y sustituyendo en 10.7:

2d (hk) sen θ = λ (10.9)

Esta ecuación es la llamada Ley de Bragg y nos permite interpretar las condi-
ciones de difracción en términos de reflexión especular: sólo habrá haces difracta-
dos en aquellas direcciones para las cuales, el haz incidente y el difractado están
relacionados uno con el otro por una reflexión especular sobre un plano de red
del cristal. En efecto la ley de Bragg se puede derivar aplicando la condición de
interferencia constructiva a los rayos reflejados por un conjunto de planos retic-
ulares consecutivos, esto es, una familia de planos (hk) como se esquematiza
en la figura siguiente.
Si θ es el ángulo de incidencia y reflexión, la interferencia será constructiva
cuando la deferencia de caminos de los haces incidente y difractado (“reflejado”)
sea un número entero de longitudes de onda:
58 Difracción por cristales

Figura 10.3: Interpretación de Ec. de Laue en términos de reflexión por planos

Δ1 − Δ2 = nλ
d (hk)
Δ1 = Δ2 = Δ1 cos 2θ
sen θ
Δ1 − Δ2 = 2d (hk) sen θ = nλ

Si (hk) son primos entre sı́ y n (hk) = (HKL), la ecuación anterior se trans-
forma en:

d (hk)
2 sen θ = λ ⇒ 2d (HKL) sen θ = λ (10.10)
n
Es importante tener en cuenta que la ley de Bragg se refiere a planos reticulates
de la red de traslación, y no a planos formados por átomos. La ley de Bragg es
una consecuencia de las ecuaciones de Laue y por lo tanto de la periodicidad de
la estructura cristalina.
En la figura siguiente, se representa la radiación “reflejada” por capas de átomos
que es menos abstracta que la reflexión por planos reticulares. Nótese que los
haces que provienen de planos equivalentes por traslación deben de estar en fase
y de aquı́ se deriva la ley de Bragg. La interferencia de los rayos reflejados por
planos de diferentes átomos dentro de la celda unidad da lugar a la amplitud
global F (S) que se llama factor de estructura.

10.2. Interpretación de las ecuaciones de Laue

en términos de la red recı́proca: Esfera de
Ewald.
Las ecuaciones de Laue 10.5 nos determinan las condiciones de interferencia, esto
es, las direcciones en las cuales se producen haces difractados. Estas ecuaciones
tienen una solución elegante si se recurre a la red recı́proca. Recordemos que
los vectores de la red recı́proca r ∗ = ha∗ + kb∗ + c∗ verifican las siguientes
propiedades:
10.2 La esfera de Ewald 59

i son perpendiculares a las familias de planos (hk) de la red directa.

ii tienen por módulo el inverso de la distancia interplanar de cada familia
(hk).
El vector de difracción S correspondiente a un haz difractado, posee las mismas
caracterı́sticas que el vector de la red recı́proca r ∗ correspondiente a la tripleta
(hk) derivada de las ecuaciones de Laue. Por tanto podremos expresar S como:

S = r ∗ = ha∗ + kb∗ + c∗ (10.11)

y la solución de las ecuaciones de Laue es, ahora, evidente:

a · S = a · (ha∗ + kb∗ + c∗ ) = h

b · S = b · (ha∗ + kb∗ + c∗ ) = k (10.12)
c · S = c · (ha∗ + kb∗ + c∗ ) = 
De este modo, podemos expresar las condiciones de difracción diciendo que
habrá haz difractado en aquellas direcciones para las cuales los vectores de
difracción correspondientes sean vectores de la red recı́proca. Si r ∗ es el vector
de posición de un nudo de una lı́nea de la red recı́proca y h, k y  no tienen
ningún factor en común, el punto (hk) es el más próximo al origen de los que
se encuentran sobre la fila, y el módulo de r ∗ (hk) es el inverso del verdadero
espaciado de los planos (hk). El punto r ∗ (2h, 2k, 2), tiene por módulo el doble
del módulo de r ∗ (hk) y representa la mitad del espaciado de los planos (hk).
Expresando esto en términos de la ley de Bragg:

2d (2h, 2k, 2) sen θ = λ

(10.13)
2d (hk) sen θ = 2λ
Esto es, la reflexión de primer orden del plano (2h, 2k, 2) es realmente la re-
flexión de segundo orden del plano (hk). En este sentido, cada punto de la red
recı́proca esta asociado a una dirección de difracción del cristal y el conjunto
de haces difractados que produce un cristal esta representado por el conjunto
de puntos de su red recı́proca. La correspondencia entre las intensidades difrac-
tadas y los puntos de la red recı́proca se establece de la manera siguiente: cada
una de las funciones de interferencia es una función periódica cuyos máximos
valen Ni2 y su anchura es proporcional a 1/Ni . Cuando Ni tiende a infinito, la
función de interferencia converge hacia un conjunto de funciones δ igualmente
espaciadas
∞
sen N πx
lı́m = δ (x − n) n ∈ Z
N →∞ sen πx
n=−∞

Para un cristal el producto de las tres funciones Ja Jb Jc es un conjunto de fun-

ciones d tridimensionales, cuyas posiciones determinan la red recı́proca. Pode-
mos asociar a cada nudo de la red recı́proca un volumen igual a la integral del
máximo de la correspondiente función de interferencia:

lı́m Ja Jb Jc d3 S
N1 N2 N3 →∞
máximo
En el entorno del nudo de la red recı́proca r ∗ definido por S = r ∗ + 1 a∗ +
2 b∗ + 3 c∗ (con a · S = h + 1 , b · S = k + 2 , c · S =  + 3 ) el elemento de
60 Difracción por cristales

Figura 10.4: Conjunto de funciones δ de Dirac

volumen es d3 S = d1 a∗ · (d2 b∗ ∧ d3 c∗ ) = d1 d2 d3 /V , y la integral anterior

vale:


lı́m Ja Jb Jc d3 S =
N1 N2 N3 →∞
máximo
∞
1 sen πN1 1 sen πN2 2 sen πN3 3 3 1
= lı́m d = (10.14)
V N1 N2 N3 →∞ sen π1 sen π2 sen π3 V
−∞

dado que la integral para Ja , por ejemplo, es:

∞ ∞
sen πN1 x sen πN1 x
lı́m dx = lı́m dx
N1 →∞ sen πx N1 →∞ πx
−∞ −∞
∞
1 sen πN1 x
= lı́m dx = 1 (x ≡ a · S)
π N1 →∞ x
−∞

De acuerdo con lo anterior tenemos que la amplitud difractada por un cristal

viene dada por la siguiente expresión:

1 
lı́m G (S) = F (S) δ (a · S − h) δ (b · S − k) δ (c · S − )
N1 N2 N3 →∞ V
h k 
1 
= F (S) δ (S − r ∗ ) (10.15)
V
h,k,l

La integral sobre el máximo principal de una función J 2 es, para N1 , N2 , N3

grandes:
 ∞
sen2 πN1 x 2 sen2 πN1 x
dx = 2 dx = N1 (x ≡ a · S)
sen2 πx π x2
máximo 0

y la intensidad difractada por el cristal:

N1 N2 N3 
I (S) ∝ |G (S)|2 = |F (S)|2 δ (S − r ∗ ) (10.16)
V
h,k,
10.2 La esfera de Ewald 61

De este modo el conjunto de haces difractados por un cristal se corresponde

con el conjunto de puntos del espacio recı́proco, teniendo asociado cada punto
2
un peso proporcional a |F (S)| . Si consideramos una sola ecuación de Laue,
a · S = h por ejemplo, el lugar geométrico de todos los vectores S que satisfacen
la ecuación es una serie de planos perpendiculares a a y equidistantes con un
periodo 1/a. Estos planos contienen los extremos de todos los vectores S y
constituyen la red recı́proca de un cristal unidimensional (ver figura en la página
siguiente).

Figura 10.5: Red recı́proca de una red unidimensional

Por otra parte, la relación S = s − so con |s| = |so | = 1/λ nos limita el lugar
geométrico de los vectores S ya que éste relaciona dos vectores s y so que yacen
sobre una esfera de radio 1/λ.

Figura 10.6: Relación geométrica para una ecuación de Laue

La intersección de esta esfera con los planos recı́procos nos define las direc-
ciones s de los haces difractados que, según la figura anterior, están sobre una
superficie cónica CAB. Los haces difractados s se encuentran por lo tanto so-
bre conos coaxiales alrededor del eje a. Las condiciones de difracción de un
cristal bidimensional implican que se satisfagan dos de las ecuaciones de Laue
62 Difracción por cristales

simultáneamente. El lugar geométrico de los vectores S que las satisfacen serán

las lı́neas de intersección de los planos definidos por las ecuaciones a · S = h y
b · S = k. Tales planos son perpendiculares a los vectores a y b y estan equies-
paciados 1/a y 1/b respectivamente. Las direcciones de los haces difractados
vendrán dadas por las intersecciones de dos series de conos coaxiales alrededor
de las direcciones de a y b respectivamente, correspondientes a las soluciones
de cada una de las ecuaciones de Laue, como se muestra en la figura siguiente.

Figura 10.7: Red recı́proca bidimensional

Si colocáramos una pantalla paralela a a y b, se observarı́an las intersecciones

de los haces difractados con la pantalla. En la figura siguiente se muestran dos
cristales bidimensionales y los diagramas de difracción asociados.

Figura 10.8: (a) Dos motivos diferentes formando (b) dos cristales bidimension-
ales y (c) sus diagramas de difracción correspondientes
10.2 La esfera de Ewald 63

Para un cristal tridimensional, la verificación simultánea de las tres ecuaciones

de Laue, determina el lugar geométrico de los vectores S como la intersección
de tres familias de planos perpendiculares a los ejes a, b y c, y equiespaciados
1/a, 1/b y 1/c respectivamente. El conjunto de puntos determinados por las
intersecciones de las tres familias de planos constituye la red recı́proca. Las
direcciones s de los haces difractados serán las intersecciones de tres series de
conos coaxiales a los ejes a, b y c. Esta intersección no será un punto sobre la
superficie de la esfera de reflexión salvo para ciertas direcciones del haz primario,
so , relativas a los ejes cristalográficos. La aplicación de la ley de Bragg y la
construcción de Ewald nos permite calcular la dirección del haz incidente so
respecto a los ejes cristalográficos, para obtener condiciones de difracción. En la
figura siguiente representamos el conjunto de puntos (hk0) de una red recı́proca.

Figura 10.9: Construcción de Ewald para interpretar condiciones de difracción

El vértice del vector so coincide con el origen de red recı́proca (000). Si trazamos
una esfera de radio 1/λ (esfera de Ewald) alrededor del punto M, todo nudo
de la red recı́proca que esté sobre la esfera satisface las ecuaciones de Laue y la
ley de Bragg. En la figura siguiente, la familia de planos con ı́ndices (210) está en
posición de “reflejar” el haz incidente en la dirección del vector s. Está claro
que para obtener otro haz difractado, hemos de mover el espacio recı́proco, esto
es el cristal, o bien la esfera de Ewald alrededor del origen (000). Mover la esfera
equivale a girar el haz incidente, lo que suele ser más complicado de hacer (por
motivos mecánicos) que mover el cristal. Notemos que todos los nudos de la
red recı́proca teóricamente accesibles en un experimento de difracción dependen
de los parámetros de red del cristal y de la longitud de onda utilizada. Todos
64 Difracción por cristales

ellos se encuentran en el interior de una esfera de radio 2/λ, llamada esfera

limitante.

10.3. El factor de estructura.

En el apartado anterior, hemos considerado el cristal como una red tridimension-
al de puntos cada uno de los cuales dispersa una amplitud F (S). Esta función
F (S) corresponde a la amplitud difundida por el conjunto de átomos contenidos
en la celdilla unidad. Si ρ (r) representa la distribución de material difractante
en la celda, F (S) es la transformada de Fourier de dicha distribución:


F (S) = ρ (r) e2πıS·r d3 r (10.17)
celda

Si ρ (r) representa a un conjunto de átomos discretos en posiciones ri = xi a +

yi b + zi c, la expresión anterior integral se transforma en una suma sobre todos
los vectores de posición ri .

F (S) = fi (S) e2πıS·ri (10.18)
átomos en la celda

donde fi (S) es el llamado factor de forma asociado a cada átomo. F (S) se

llama, como ya adelantábamos, factor de estructura y es la transformada de
Fourier de la repartición de materia difractante de una celda. Según hemos vis-
to anteriormente, cada haz difractado con vector de difracción S está asociado
a una familia de planos (hk) 1 y, por lo tanto, el factor de estructura podrá ex-
presarse en términos de los ı́ndices de Miller. En general, F (S) es una cantidad
compleja que podrá expresarse en la forma:

F (S) = A (S) + ıB (S)

con (suponiendo s átomos por celda unidad):


s
A (S) = fi (S) cos 2πS · ri
i=1 (10.19)

s
B (S) = fi (S) sen 2πS · ri
i=1

o en forma vectorial

F (S) = |F (S)| eıφ(S)

 
siendo φ (S) = tg−1 B(S)
A(S) . El módulo (al cuadrado) del factor de estructura
será:
1 Debe recordarse en todo momento que dicha asociación es por pura conveniencia y que

los ı́ndices de Miller constituyen sólo una tripleta de enteros que satisfacen las ecuaciones de
Laue.
10.4 Simetrı́a del espacio recı́proco ponderado 65

 2  s 2
2

s 
|F (S)| = fi (S) cos 2πS · ri + fi (S) sen 2πS · ri
i=1 i=1

s  s
= fi (S) fj (S) [cos 2πS · ri cos 2πS · rj +
i=1 j=1
+ sen 2πS · ri sen 2πS · rj ]

2

s 
s
|F (S)| = fi fj cos 2πS · (ri − rj ) (10.20)
i=1 j=1

Este último resultado es muy importante ya que nos dice que el módulo del
factor de estructura no depende más que de las distancias interatómicas entre
los átomos de la celda unidad y no de las coordenadas de los átomos, las cuales
dependen de la elección del origen. Puesto que las intensidades de los haces
difractados son proporcionales a los cuadrados de los módulos de los factores
de estructura, las intensidades contienen en sus valores información sobre las
posiciones relativas de los átomos dentro de la celda.

10.4. Simetrı́a del espacio recı́proco ponderado.

Ley de Friedel.
Sabemos que estructura cristalina queda definida por:
a) Una red de traslaciones.
b) Un motivo o contenido de la celdilla unidad.
Estas dos caracterı́sticas se traducen en el diagrama de difracción en:
a) Direcciones discretas de interferencia según las ecuaciones de Laue.
b) El valor de las intensidades de los haces difractados.
Sabemos además que la intensidad difractada es proporcional al cuadrado del
módulo del factor de estructura:
2
I (hk) = K (hk) |F (hk)|
donde K (hk) es un factor de proporcionalidad (en principio dependiente del
ángulo de Bragg, θ) que puede descomponerse en varios términos que se estu-
diarán separadamente más adelante. Por ejemplo en dicho factor están inclu-
idos los efectos de polarización, absorción, extinción y un término geométrico
que depende del dispositivo experimental. Considerada la difracción como una
propiedad fı́sica del cristal, la distribución de las intensidades en el espacio
recı́proco2 ha de reflejar la simetrı́a del cristal. La simetrı́a del conjunto de
2 Al asociar la intensidad difractada (es decir un “peso” en sentido estadı́stico) correspon-

diente a cada nudo de la red recı́proca, dicho retı́culo matemático cobra significación fı́sica.
Como consecuencia la simetrı́a de la red de puntos ideales es disminuida a un subgrupo si se
habı́a elegido una base convencional. La red recı́proca fı́sica que incluye las intensidades de los
haces difractados recibe el nombre de red recı́proca pesada o red recı́proca ponderada.
66 Difracción por cristales

haces difractados viene determinada por la simetrı́a puntual del cristal, por lo
que a cada diagrama de difracción se le puede asociar uno de los 32 grupos pun-
tuales cristalográficos. Pero además el fenómeno de la difracción, bajo ciertas
condiciones, añade al grupo puntual del cristal un centro de inversión, indepen-
dientemente de que el cristal lo posea o no. En efecto, como hemos visto el factor
de estructura es una cantidad compleja:

s
F (S) = F (hk) = fi (hk) e2πı(hxi +kyi +zi )
i=1

donde ri = xi a + yi b + zi c es el vector de posición del átomo i-ésimo en la celda

unidad, S = ha∗ + kb∗ + c∗ es el vector de difracción y la suma se extiende
sobre los s átomos contenidos en la celda unidad. Podemos explicitar las partes
real e imaginaria de esta cantidad:


s
F (hk) = fi (hk) cos 2π (hxi + kyi + zi ) +
i=1

s
+ı fi (hk) sen 2π (hxi + kyi + zi )
i=1
= A (hk) + ıB (hk)


Por otra parte las intensidades de las reflexiones (hk) y h̄k̄ ¯ son propor-

2

cionales a |F (hk)|2 y F h̄k̄ ¯  respectivamente pero, por definición: F h̄k̄ ¯ =
∗
F (hk) y, por tanto:


F h̄k̄ ¯  = |F (hk)| (10.21)

es decir el diagrama de difracción será centrosimétrico. Esta última

 ecuación es
la ley de Friedel: las intensidades de las reflexiones (hk) y h̄k̄ ¯ son iguales,
aunque el cristal no sea centrosimétrico. Como consecuencia la simetrı́a de un
diagrama de difracción corresponderá a uno de los 11 grupos puntuales cen-
trosimétricos, los cuales se conocen con el nombre de clases de Laue. La ley de
Friedel es válida si el factor de difusión fi (hk) para cada átomo es una canti-
dad real, lo que sólo es una aproximación debido al fenómeno de la dispersión
anómala. Cuando la dispersión anómala es importante, los factores de difusión
son cantidades complejas y la ley de Friedel no es válida. Pero esta ley es una
buena aproximación y se corresponde bien con las observaciones experimentales,
salvo si la longitud de onda de la radiación utilizada está próxima a una cuña
de absorción de alguno de los elementos presentes en el cristal.
Dada la correspondencia entre la red recı́proca y el diagrama de difracción que
asocia a cada nudo de la red recı́proca la intensidad del correspondiente haz
difractado, podemos determinar la simetrı́a de la red recı́proca (y directa), a
partir de la simetrı́a observada en los diagramas de difracción. Ası́ por ejemplo,
si a lo largo del eje b de una celda hay un eje de rotación binario, o un plano
de simetrı́a perpendicular, se deberá verificar:

 
 

|F (hk)| = F hk̄  = F h̄k̄ ¯  = F h̄k ¯ 
En efecto, tal elemento de simetrı́a relaciona parejas de átomos situados en:
10.4 Simetrı́a del espacio recı́proco ponderado 67

(x, y, z) → (−x, y, −z)

Introduciendo esta relación en la expresión del factor de estructura:


s
F (hk) = fi (hk) e2πı(hxi +kyi +zi )
i=1


s/2  
= fi (hk) e2πı(hxi +kyi +zi ) + e2πı(−hxi +kyi −zi )
i=1

es decir:


s/2
F (hk) = 2 fi (hk) e2πikyi cos 2π (hxi + zi )
i=1


de donde se deduce que |F (hk)| = F h̄k ¯ . Teniendo en cuenta que además
se cumple la ley de Friedel obtenemos la relación anterior entre los módulos de
los factores de estructura. Ası́ pues, en general, cada operación de simetrı́a ex-
istente en una estructura cristalina, se traduce en una relación entre factores de
estructura (y de aquı́ entre intensidades) de los haces difractados. La presencia
de ciertos elementos de simetrı́a puede ası́ ser detectada por simple inspección
del diagrama de difracción. Pero, salvo en el caso de que se haga una detección
tridimensional de las intensidades, en la mayor parte de los métodos experimen-
tales las intensidades de los haces difractados se recogen sobre superficies planas,
y la imagen obtenida del espacio recı́proco se corresponderá con una proyección
parcial (a veces distorsionada) del mismo. Si la proyección se hace a lo largo
de una dirección cualquiera, será difı́cil identificar la simetrı́a del diagrama de
difracción. Por esto conviene que el cristal (su espacio recı́proco) tenga una ori-
entación adecuada tanto respecto al haz de rayos-X incidente como respecto al
plano de proyección que recoge los haces difractados.
La expresión para el factor de estructura puede simplificarse si se conoce la
simetrı́a del contenido de la celda unidad. Si la estructura es centrosimétrica y
se elige el origen sobre un centro de inversión, el factor de estructura es una
cantidad real. En efecto, en este caso la densidad de “materia difractante” veri-
fica la igualdad ρ (r) = ρ (−r); es decir, en la imagen de distribución discreta de
átomos, se tendrá que para cualquier átomo en el punto (x, y, z), existirá otro
en (−x, −y, −z) y por consiguiente:


s
F (hk) = fi (hk) e2πı(hxi +kyi +zi )
i=1


s/2  
= fi (hk) e2πı(hxi +kyi +zi ) + e−2πı(hxi +kyi +zi )
i=1

es decir:


s/2
F (hk) = 2 fi (hk) cos 2π (hxi + kyi + zi ) = ± |F (hk)|
i=1
68 Difracción por cristales

Las expresiones de los factores de estructura reducidos y factorizados por simetrı́a,

para los 230 grupos espaciales, se encuentran tabuladas en el volumen A de las
Tablas Internacionales de Cristalografı́a.

10.5. Extinciones sistemáticas.

La determinación del grupo espacial de simetrı́a de un cristal implica la deter-
minación de su red de Bravais y de los elementos de simetrı́a rotacional o grupo
puntual del cristal. Esto puede hacerse inspeccionando el espacio recı́proco pon-
derado [donde, como ya sabemos, a cada nudo (hk) se le asigna un peso pro-
porcional a la intensidad difractada I (hk)], mediante diagramas de difracción.
Ya hemos visto que la presencia de elementos de simetrı́a, implica relaciones
entre los factores de estructura y, por tanto, entre las intensidades asociadas.
Sin embargo esta técnica nos permite determinar el grupo puntual del cristal
(en la mayorı́a de los casos sólo la clase cristalina), con la incertidumbre del
centro de simetrı́a. Existen sin embargo ciertos elementos de simetrı́a que hacen
que ciertas clases de reflexiones posean intensidades sistemáticamente nulas. Es-
to es debido a que estos elementos de simetrı́a, relacionan parte del contenido
de la celda unidad con otras partes de la misma de tal forma que la diferen-
cia de fase entre las amplitudes difundidas por las partes equivalentes es de
π, produciéndose una interferencia destructiva. Los elementos de simetrı́a que
producen ausencias sistemáticas son las traslaciones fraccionarias de las redes
centradas, los ejes helicoidales y los planos de deslizamiento. Veamos algunos
ejemplos.

a) Extinciones debidas a una red centrada-I.

En una estructura con una red centrada de tipo I, los átomos están dis-
tribuidos en pares de coordenadas: (x, y, z) y (x + 1/2, y + 1/2, z + 1/2).
Podemos escribir el factor de estructura como:


s
F (hk) = fi (hk) e2πı(hxi +kyi +zi )
i=1


s/2  
= fi (hk) e2πı(hxi +kyi +zi ) + e2πı[h(xi +1/2)+k(yi +1/2)+(zi +1/2)]
i=1


s/2  
= fi (hk) e2πı(hxi +kyi +zi ) 1 + eπı(h+k+)
i=1

Tenemos pues que para aquellas reflexiones cuyos ı́ndices verifiquen h +

k +  = 2n (n ∈ Z)


s/2
F (hk) = 2 fi (hk) e2πı(hxi +kyi +zi )
i=1

mientras que si h + k +  = 2n + 1, F (hk) = 0, es decir, este último tipo

de reflexiones están sistemáticamente ausentes.
10.5 Extinciones sistemáticas 69

b) Extinciones debidas a ejes helicoidales y planos de deslizamiento.

Un eje helicoidal (21y por ejemplo), implica la operación de simetrı́a:
(x, y, z) → (−x, y + 1/2, −z). Siguiendo el procedimiento del ejemplo an-
terior podemos expresar el factor de estructura como:


s
F (hk) = fi (hk) e2πı(hxi +kyi +zi ) =
i=1


s/2  
fi (hk) e2πı(hxi +kyi +zi ) + e2πı[−hxi +k(yi +1/2)−zi ]
i=1

Para la lı́nea (0k0) del espacio recı́proco tenemos:

(0k0) k = 2n + 1 F (0k0) = 0
(0k0) k = 2n F (0k0) = 0

Un eje helicoidal produce extinciones en una lı́nea del espacio recı́pro-

co. De manera similar, un plano de deslizamiento produce extinciones
sistemáticas en un plano del espacio recı́proco. En la tabla siguiente se
resumen los tipos de ausencias sistemáticas para los diferentes elementos
de simetrı́a.
70 Difracción por cristales

10.6. Tabla de extinciones sistemáticas.

Ref lexión Condición Orientación Dirección Sı́mbolo

presencia plano/eje deslizamiento
(0k) k = 2n (100) b/2 b
 = 2n c/2 c
k +  = 2n b/2 + c/2 n
k +  = 4n b/4 ± c/4 b
(h0)  = 2n (010) c/2 c
h = 2n a/2 a
h +  = 2n c/2 + a/2 n
h +  = 4n a/4 ± c/4 d
(hk0) h = 2n (001) a/2 a
k = 2n b/2 b
h + k = 2n a/2 + b/2 n
h + k = 4n a/4 ± b/4 d
(hh̄0) l = 2n (112̄0) c/2 c
(0k̄k) (2̄110)
(h̄0h) (12̄10)
¯
(hh.2h.) l = 2n (11̄00) c/2 c
¯
(2h.hh) (011̄0)
¯
(h.2h.h) (1̄010)
(hh)  = 2n (11̄0) c/2 c, n
(hkk) h = 2n (011̄) a/2 a, n
(hkh) k = 2n (1̄01) b/2 b, n
(hh), (hh̄) l = 2n (110)(11̄0) c/2 c, n
2h +  = 2n a/4 ± b/4 ± c/4 = 2n d
(hkk), (hk k̄) h = 2n (011̄)(011) a/2 a, n
2k + h = 2n a/4 ± b/4 ± c/4 = 2n d
(hkh)(h̄kh) k = 2n (1̄01)(101) b/2 b, n
2h + k = 4n ±a/4 ± b/4 + c/4 d
(h00) h = 2n [100] a/2 21
42
h = 4n a/4 41 , 43
(0k0) k = 2n [010] b/2 21
42
k = 4n b/4 41 , 43
(00)  = 2n [001] c/2 21
42
 = 4n c/4 41 , 43
(000)  = 2n [001] c/2 63
 = 3n c/3 31 , 32 , 62 , 64
 = 6n c/6 61 , 65