Muchas de las estructuras cristalinas contienen dentro de ellas en comparación con toda la

estructura, átomos con diferentes características como por ejemplo los átomos pesados con
simetrías superiores , que hacen referencia a los tipos de órdenes de rotación (2,3,4,6) (como por
ejemplo elementos pseudo simétricos que son generados por cristales maclados, que surgen como
resultado de un cambio en la dirección del crecimiento de una red cristalina. Y la existencia de
angulos concurrentes, es decir átomos que están en el mismo plano, por eso le llaman
pseudosimetricos. Bueno estas características, hacen que los métodos estándar para deducir la
estructura a partir de las posiciones atómicas se dificulten y no se lleguen a buenos resultados

Es por esa razón que se deben aplicar métodos especiales, como por ejemplo el método de los
átomos pesados,

entonces en que consiste el método de los átomos pesados, entonces mire, si nosotros
hubiéramos tenido solamente unos pocos átomos en la celda unitaria, es muy posible deducir la
estructura de las posiciones de los máximos, porque es ahí donde se da interferencia constructiva
(CUANDO I =2N), pero cuando existen estructuras ya más complicadas, se dificulta porque ya
habrían puntos donde la superposición genere interferencia destructiva debido a que hay mínimos
de interferencia, pero puede ser posible si algunos atomos tienen números atomicos
apreciablente superiores a los de los otros, puesto que los factores de dispersión atomicos
aumentan con el numero de electrones en los atomos,

Los átomos "pesados" (al disponer de un gran número de electrones) contienen un poder de
dispersión muy grande y por lo tanto pueden llegar a modificar sensiblemente la intensidad del
patrón de difracción del cristal. Son precisamente estas diferencias de intensidad entre ambos
patrones de difracción las que se usan para calcular un mapa de vectores de situación
relativa entre los átomos pesados, a partir del cual es relativamente sencillo determinar sus
posiciones dentro de la celda unitaria.
Ahora esos atomos pesados (que son atomos fuertemente reflectantes) contribuirán mas a los
factores de estructura, en este caso, pueden obtenerse las posiciones de los atomos pesados, y
sus contribuciones a los factores de estructura pueden ser calculados, además si los atomos
pesados son lo bastante pesados, pueden, asi que un mapa de Fourier de la densidad electrónica
revelara las posiciones de algunos de los átomos más ligeros.

Bueno y Que son los factores de estructura??

Los factores de estructura, F(hkl), son las magnitudes fundamentales de las que depende la
función de la densidad electrónica, ρ(xyz), y la densidad electrónica es la que define la
localización de los átomos, es decir, la estructura interna de los cristales.

Los factores de estructura representan a las ondas difractadas, cada factor de estructura puede
considerarse como un vector, con módulo |F(hkl)| y fase Φ(hkl) (referida a un origen arbitrario de
fases), y representa la onda total resultante de la dispersión cooperativa, provocada por todos los
átomos de la celdilla, en una determinada dirección del espacio.

Por eso los atomos pesados contribuyen más a los factores de estructura, pues al ser más
reflectantes y con intensidades fuertes pues generara o difractaran más ondas.

Para entender mejor, ponemos un ejemplo, la figura 6 muestra la estructura de un cristal en p1,
p1 quiere decir celda primitiva que no tiene simetría, y dentro de esa celda, hay una disposición de
atomos pesados y los demás atomos restantes, que se consideran ligeros, entonces, los átomos
pesados tienen unos parámetros xs , ys , zs y xs , ys , 1/2 + z s que corresponden a las
posiciones en las que están los atomos respectivamente, entonces lo que se explica es que al ser
atomos pesados, estos contribuyen a factores de estructura, es decir estos contribuyen mucho a
que se refracten las ondas por que sus señales son fuertes, es decir que su intensisad es muy
fuerte, es decir que es igual a I= 2n que es interferencia constructiva, dando asi un valor del factor
de estructura, mientras los demás atomos, su factor de estructura es 0, es decir que su señal es
muy débil, no difractan sus ondas, por lo que su intensidad es igual a I=2n + 1.
Luego que nos dice esto, osea ahí ya tenemos expresado el factor de estructura, ahora como son
muchos atomos dentro de la estructura pues se va a producir una distribución sistemática de las
intensidades de sus átomos dentro de la estructura cristalina, entonces aqui usted debe
considerar la densidad de los electrones ρ(xyz) de varias partes que componen la estructura
cristalina, osea la formula que esta abajo, y porque?, como dijimos arriba…. Los factores de
estructura, F(hkl), son las magnitudes fundamentales de las que depende la función de la
densidad electrónica, ρ(xyz), y la densidad electrónica es la que define la localización de los
átomos, es decir, la estructura interna de los cristales.

Entonces por obvia razón verdad, habrá densidad electrónica tanto para los atomos pesados que
le llaman densidad electrónica de superposición, y para los atomos ligeros que le llaman densidad
electrónica complementaria, eso es lo que se conoce como estructura de superposición y
estructura complementaria!!!!!!!, y luego que hacen, pues esas densidades las comparan con los
reales, para ya ajustar sus posiciones donde están los atomos.

Entonces hasta aquí diríamos que bien, que ya sabemos las posiciones de los átomos… pero…

Pues bien, en lo que podemos denominar microscopio imposible de rayos X, nuestra fuente de
luz es especial, osea los rayos X y el cristal también dispersa (difracta) los haces. Sin embargo,
experimentalmente no disponemos de un sistema de lentes que hagan el papel de recombinar de
nuevo esos haces dispersados y nos tenemos que contentar con "la fotografía" que éstos nos
dejan, por ejemplo, en una placa fotográfica o en un detector. La señal medible sobre el detector
son las intensidades de los haces difractados, que son proporcionales a las amplitudes [F(hkl)].

Pero sobre las fases, Φ(hkl), nada podemos concluir y esta circunstancia nos impide la resolución
directa de la función de la densidad electrónica ya mencionada
 Como quien dice, sabemos la intensidad y que difracta, pero no sabemos el ángulo o la fase con
que difracto, por lo tanto sabemos a ciencia cierta donde se encuentra ese átomo, todas las
intensidades difractaban con fases distintas,

Necesitamos, pues, métodos alternativos para recuperar esa información perdida...

El apartado nos dice….

La trampa consiste en que Fhkl es una cantidad que corresponde a una suma de movimientos
ondulatorios oscilatorios que tienen amplitud y tienen fase, por desgracia, los detectores de rayos
x miden las intensidades acumulativas en el tiempo, I (hkl): no pueden detectarse las fases, todo lo
que se puede hallar directamente es el modulo del factor de estrcutura |F hkl |, el problema
central de la cristalografía de rayos X, el problema de las fases, es obtener estas fases del conjunto
de módulos.

Desfase entre las ondas

 Que hizo el señor Patterson?

El señor Arthur L. Patterson pudo medir las diferencias en las intensidades de las reflexiones
equivalentes de simetría en hidrocloruro de tirosina e hidrobromuro de tirosina

Formula de la Función de densidad electrónica.

Patterson derivó la función que lleva su nombre (P(uvw),

Formula de la Función de Patterson

 Formula de la Relación entre el cuadrado de la amplitud del factor de
estructura y su intensidad. K es un factor de escala, A es el factor de
absorción de los rayos X por el cristal, L es el factor de Lorentz, y p
representa el factor de polarización

para obtener gráficamente esta función a partir de la estructura conocida de un cristal (figura
izquierda) se trazan todos los vectores posibles entre cada pareja de átomos (figura central) y se
trasladan equipolentemente (paralelos a sí mismos) al origen de la celdilla de la función de
Patterson (figura derecha. Obsérvese que en el origen (las esquinas de la celdilla) existe un
máximo muy alto que corresponde al vector interatómico de cada átomo consigo mismo, de
coordendas [0, 0, 0].

• Disponer u obtener un cristal apropiado para el

experimento, con calidad y tamaño adecuados
• Obtener el patrón de difracción con la longitud
de onda adecuada.
• Evaluar el patrón de difracción para obtener
los parámetros reticulares (celdilla
elemental), simetría (grupo espacial) e
intensidades de difracción.
• Resolver la función de densidad electrónica,
obteniendo previamente algún tipo de
información sobre las fases de los haces
difractados.
• Construir un modelo estructural inicial,
interpretando la función de la densidad
electrónica y completar el modelo obteniendo
las posiciones de los átomos restantes.
• Refinar el modelo, ajustando todas las
posiciones atómicas para conseguir que el
patrón de difracción calculado con dichas
posiciones sea lo más parecido posible al
patrón de difracción experimental
• finalmente validar y representar el modelo total
obtenido.
2 ARTICULO

DISPERSION ANOMALA

Experimentalmente se mide la intensidad del pico difractado, proporcional al cuadrado complejo

de factor de estructura: Ihkl ∝ |Fhkl |2, y esta cantidad es lo que se conoce como el "factor de
estructura geométrica", que es un factor que depende exclusivamente de solo las posiciones
relativas de los átomos y no de las diferencias en su comportamiento de dispersión. Si la
naturaleza de la dispersión, incluido cualquier cambio de fáse, es idéntica para todos los átomos,
entonces | 𝐹 (ℎ𝑘𝑙)| = | F (ℎ 𝑘 𝑙 )|; este resultado se conoce como la ley de Friedel.

DIJIMOS QUE Los factores de estructura representan a las ondas difractadas, cada factor de
estructura puede considerarse como un vector, con módulo |F(hkl)| y fase Φ(hkl) (referida a un
origen arbitrario de fases), y representa la onda total resultante de la dispersión cooperativa,
provocada por todos los átomos de la celdilla, en una determinada dirección del espacio.

Los factores de estructura de reflexiones tales como F(h,k,l) y F(-h,-k,-l) aparecen como imágenes
especulares a través del eje real del llamado diagrama de Argand, es decir, que sus
correspondientes intensidades difractadas, I(h,k,l) e I(-h,-k,-l), son iguales; o lo que es lo mismo,
que se cumple la ley de Friedel.

Ya en 1930, Cóster y colaboradores realizaron un experimento donde pudieron demostrar una

falla de la ley de Friedel y demostrar que en la práctica surgen circunstancias en las que el cambio
de fase (ángulo) producido por cada átomo en una celda unidad no es el mismo. La diferente
resonancia que conduce a este efecto se conoce como dispersión anómala.
La dispersión anómala se produce cuando la radiación incidente lleva energía suficiente como
para ser absorbida por algún átomo de la estructura, provocando una transición electrónica, desde
un nivel de energía inferior a otro superior.

Luego de haberse encontrado ese fallo en la ley de Friedel, algunos autores comenzaron a hacer
determinaciones experimentales de algunas correcciones de la dispersión y la presencia de más
de un dispersor anómalo en la celda unitaria.

Como resolver ese

Problema de fases?

El señor Arthur L. Patterson pudo medir las diferencias en las intensidades de las reflexiones
equivalente de simetría en hidrocloruro de tirosina e hidrobromuro de tirosina

3 ARTICULO

MATRICES DE ROTACION Y VECTORES DE TRASLACION

Las matrices de rotación (R) y los vectores de traslación (t) son descripciones muy potentes
de la simetría dentro del cristal, porque nos ayudan y nos permiten conocer la inmensa
estructura cristalina estudiando solamente la configuración de sus átomos en la celda
unidad y son útiles porque con ellas se pueden clasificar y entender las estructuras
cristalinas

Las matrices de rotación definen una rotación en un espacio de 3 dimensiones considerando

un ángulo en el que está girando, y la traslación es una transformación puntual por la cual a
todo punto A del plano le corresponde otro punto A' también del plano de forma que viene
siendo el vector que define la traslación. El punto A' es el punto trasladado de A. Un punto
y su trasladado se dice que son homólogos.
Cada grupo espacial (representan la descripción de la simetría del cristal) tiene una
cantidad de posiciones equivalentes. Cada átomo en un punto (x, y , z ) también se
encuentra como resultado de la simetría en la posición ( ). Esas posiciones
equivalentes están relacionadas a través de operaciones de simetría (Es un movimiento que,
realizado sobre un cuerpo cualquiera, conduce a una configuración equivalente a la inicial).

La relación entre dos posiciones equivalentes se puede denotar como:

De esta manera, las coordenadas de un punto (x,y,z) y las de la su imagen (x’,y’,z’) se

relacionan por la matriz R y el vector que posiciona el elemento de simetría, que depende
de la posición del elemento y de su orden:
Ejemplo:

El grupo espacial P1 tiene solo una posición equivalente ( x , y , z ). La única operación de

simetría en ese grupo espacial es, por lo tanto, la matriz de la unidad, I

Ejemplo:

El grupo espacial P 3 1 tiene 3 posiciones equivalentes: ( x , y , z ), (- y , x - y , +z)y(y-

x, - x , + z ). Las operaciones de simetría son:

Reflexiones especiales

En un grupo espacial con n posiciones equivalentes ( R i x + t i ), i = 1, 2 ,, n , el factor

de estructura se puede calcular sumando las contribuciones al mismo de la siguiente
manera:

es decir, primero se agregan todos los átomos de la primera posición equivalente, luego se
agregan aquellos átomos relacionados con los primeros a través de R 2 + t 2 , y así
sucesivamente hasta que se agregan todos los átomos dentro de la celda unidad.
Por ejemplo, se demuestra que sólo existen cinco tipos de redes planas:

la traslación. Si trasladamos la celda unidad de un cristal una distancia periódica, la

estructura no cambia, es invariante. Eso nos permite representar una enorme
estructura cristalina por los pocos átomos de su celda unidad, olvidándonos del casi
infinito número de los otros átomos de la estructura. La simetría de traslación nos
permite conocer la inmensa estructura cristalina estudiando solamente la configuración
de sus átomos en la celda unidad