DIFRACCIÓN DE RAYOS X

La difracción de rayos X (DRX) es una de las técnicas más eficaces para el análisis cualitativo y cuantitativo de fases
cristalinas de cualquier tipo de material, tanto natural como sintético. Los servicios ofertados en esta Unidad se
resumen en los siguientes puntos:

 Preparación de muestras de polvo y/o agregado orientado para análisis por DRX de materiales cristalinos,
fundamentalmente de muestras geológicas utilizando el método de polvo desorientado para análisis de la mineralogía
de muestra total y el método de agregados orientados para análisis de arcillas.
 Obtención e interpretación de los difractogramas de polvo.
 Cálculo de parámetros cristalográficos, tamaños de cristalito, grado de orden, coeficientes de dilatación térmica,
descomposición y deconvolución de perfiles de difracción, simulación de perfiles de difracción en arcillas, etc.
 Cuantificación de fases mediante el Método Rietveld con el Programa TOPAS.
 Ensayos específicos sobre mineralogía de arcillas:

a) Extracción y separación de fracciones finas

b) Eliminación de carbonatos, materia orgánica, hierro y sulfatos
c) Solvatación con etilenglicol
d) Tratamientos térmicos a 550ºC
e) Homoionización con distintos cationes (Na, K, Mg, Ca y Li)
f) Análisis de la reflexión (060).
INSTRUMENTACIÓN
 Difractómetro de polvo

 Fuente rayos X con ánodo de cobre, de alta estabilidad

 Detector SOL-X de dispersión de energías

 Intercambiador de muestras automático.

 El software que utiliza el equipo para la adquisición, tratamiento y evaluación de los datos difractométricos es el
DIFFRACplus.
FUNDAMENTOS
La Difracción de Rayos X está basada en las interferencias ópticas que se producen cuando una radiación monocromática
atraviesa una rendija de espesor comparable a la longitud de onda de la radiación. Los Rayos X tienen longitudes de
onda de Angstroms, del mismo orden que las distancias interatómicas de los componentes de las redes cristalinas. Al
ser irradiados sobre la muestra a analizar, los Rayos X se difractan con ángulos que dependen de las distancias
interatómicas. El método analítico del Polvo al Azar o de Debye-Scherrer consiste en irradiar con Rayos X sobre una
muestra formada por multitud de cristales colocados al azar en todas las direcciones posibles. Para ello es aplicable la
Ley de Bragg: nλ = 2d . senθ, en la que “d” es la distancia entre los planos interatómicos que producen la difracción.
APLICACIONES
La difracción de rayos-x es un método de alta tecnología no destructivo para el análisis de una amplia gama de materiales,
incluso fluidos, metales, minerales, polímeros, catalizadores, plásticos, productos farmacéuticos, recubrimientos de
capa fina, cerámica y semiconductora. La aplicación fundamental de la Difracción de Rayos X es la identificación
cualitativa de la composición mineralógica de una muestra cristalina
Otras aplicaciones son el análisis cuantitativo de compuestos cristalinos, la determinación de tamaños de cristales, la
determinación del coeficiente de dilatación térmica, así como cálculos sobre la simetría del cristal y en especial la
asignación de distancias a determinadas familias de planos y la obtención de los parámetros de la red.
Las áreas de aplicación de este servicio son muy amplias pero se pueden citar a modo de ejemplo: Cristalografía,
Estratigrafía, Geodinámica, Mineralogía, Paleontología, Petrología y Geoquímica, Geotecnia, Ingeniería civil, Ciencias
Ambientales, áreas de Química, Edafología, Metalurgia, Cerámica, Farmacia, Ciencia de Materiales.
REQUISITOS DE LAS MUESTRAS

 Las muestras deben entregarse adecuadamente etiquetadas, envasadas y acondicionadas para asegurar su
identificación, integridad y conservación durante el transporte y garantizar la seguridad del personal que lo realiza.
 Para un óptimo resultado, la muestra deberá ser una parte representativa y homogénea del conjunto total a analizar.
 Las cantidades de muestra necesarias para el análisis son:
o Muestra molida: cantidad equivalente al contenido de una cucharilla de café, con 15 micras de tamaño medio de
partícula.
o Muestra no molida: dimensiones compatibles con el porta muestras (4 cm de diámetro y 0,6 cm de altura).

MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO

FUNDAMENTOS

Las imágenes que se obtienen en el microscopio electrónico de barrido corresponden a electrones secundarios o electrones
retrodispersados emitidos tras la interacción con la muestra de un haz incidente de entre 5 y 30 KeV.

El haz de electrones se desplaza sobre la muestra realizando un barrido en las direcciones X e Y de tal modo que la posición
en la que se encuentra el haz en cada momento coincide con la aparición de brillo, proporcionalmente a la señal
emitida, en un determinado punto de la pantalla.

La señal de electrones secundarios se forma en una delgada capa superficial, del orden de 50 a 100 Å. Son electrones de
baja energía, menos de 50 eV, que pueden ser desviados fácilmente de su trayectoria emergente inicial y permiten
obtener información de zonas que no están a la vista del detector. Esta particularidad otorga a esta señal la
posibilidad de aportar información “en relieve”.

La emisión de electrones retrodispersados depende fuertemente del número atómico de la muestra. Esto implica que dos
partes de la muestra que tengan distinta composición se revelan con distinta intensidad aunque no exista ninguna
diferencia de topografía entre ellas.

Los rayos X que se generan en una muestra sometida a bombardeo electrónico permiten identificar los elementos
presentes y establecer su concentración.

APLICACIONES

Las aplicaciones de la técnica son muy numerosas tanto en ciencia de materiales, como en ciencia biomédica. Dentro
de la ciencia de materiales destacan las aplicaciones en metalurgia, petrología y mineralogía, materiales de
construcción, materiales cerámicos tradicionales y avanzados, electrónica, fractografía y estudio de superficies y
composición elemental de sólidos en general. La microscopía electrónica de barrido también se aplica en botánica, en
el estudio de cultivos celulares, en dermatología, en odontoestomatología y biomateriales, en hematología,
inmunología.

 Morteros y hormigones: Microestructura, fases cristalinas, impurezas, detección e identificación de sales,

microfisuración, etc.
 Materiales metálicos: Fases cristalinas, texturas, composición, tamaño de grano, patologías y deterioro (corrosión,
fatiga, defectos, fragilización, etc.)

 Análisis de fracturas en distintos materiales.

 Productos cerámicos: Microestructura, evaluación de la temperatura de cocción, fases cristalinas, impurezas,

detección e identificación de sales y esflorescencias, etc.

 Geología: Cristalografía, composición mineralógica, petrología, estudio de composición de arcillas, etc.

PREPARACIÓN DE MUESTRAS

Existen unos soportes especiales de superficie circular donde se colocan las muestras. Éstas deben estar
convenientemente adheridas a dicho soporte, para ello se suele emplear una cinta de carbono (para hacerla
conductora) con doble cara adhesiva. Si se utiliza otro tipo de adhesivo, éste debe ser: conductor, no gasificar en
vacío, de fácil uso y rápido secado. Una vez colocada la muestra, si no es conductora será necesario recubrirla con una
capa conductora. Casi todas las muestras de materiales cerámicos y de polímeros suelen ser no conductoras, por lo
que su observación con electrones secundarios es difícil o imposible debido a la acumulación de carga que se produce
en su superficie. La acumulación de carga produce una zona de carga espacial que deflecta el haz incidente
produciendo zonas blancas excesivamente brillantes durante la observación. Sin embargo, en otros materiales
cerámicos o vidrios, tales como: vidrios y vitrocerámicos de basalto, ferritas, arcillas o productos cerámicos
 tradicionales ricos en hierro, la conducción de la muestra es tal que su observación por SEM no requiere más que una
buena adhesión entre la muestra y el porta muestras. En el caso de muestras en polvo se suele emplear cinta de doble
cara adhesiva. En el caso de muestras fibrosas se suele recurrir a la observación directa o bien a embuticiones de las
fibras en polimetacrilato o en resinas termoplásticas

REQUISITOS DE LAS MUESTRAS

 Las muestras deben entregarse adecuadamente etiquetadas, envasadas y acondicionadas para asegurar su
identificación, integridad y conservación durante el transporte y garantizar la seguridad del personal que lo realiza
 Las muestras deberán ser conductoras, sólidas y estar exentas de humedad, disolventes y líquidos en general.
 Se procurará que tengan el menor tamaño que permitan las características particulares de cada una aceptándose
como tamaño máximo 4 cm de diámetro y 1 cm de altura.
 Independientemente de la naturaleza de la muestra siempre se procederá a su preparación sobre el soporte adecuado
al microscopio.
 Si las muestras no son conductoras se recubrirán con oro o carbono.
 Si el personal técnico lo considera necesario las muestras se someterán a un tratamiento térmico en vacío.

FUNCIONAMIENTO

Consiste en hacer incidir un barrido de haz de electrones sobre la muestra. La muestra (salvo que ya sea conductora)
está generalmente recubierta con una capa muy fina de oro o carbón, lo que le otorga propiedades conductoras. La
técnica de preparación de las muestras se denomina “sputtering” o pulverización catódica.

Al alcanzar el haz la superficie de la muestra se generan principalmente las siguientes partículas

– Electrones retrodispersados (e1)

– Electrones secundarios (e2)

Además de radiación electromagnética (rayos X) y otras partículas menos significativas.

El microscopio se encuentra internamente equipado con unos detectores que recogen la energía y la transforman en las
siguientes imágenes y datos:

– Detector de electrones secundarios: (SEI – Secundary Electron Image) con los que obtenemos las imágenes de alta
resolución.

– Detector de energía dispersiva: (EDS – Energy Dispersive Spectrometer) detecta los rayos X generados y permite realizar
un análisis espectrográfico de la composición de la muestra.