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inspeccionPorArreglodeFase PDF
inspeccionPorArreglodeFase PDF
delay p/r
delay p/r
entre los elementos, generando
delay p/r direccionamiento y focalizacin.
...
...
...
delay p/r
Phased Array - Electronic Steering Phased Array - Electronic Focusing
delay p/r
delay p/r
Arreglo de fase Tipos de palpadores
Paso
Distancia centro a centro entre los
elementos;
Elevacin
Anchura de los elementos; Campo Campo
Cercano
Lejano
Palpador Virtual
Cuantidad de elementos que son
Cristal Foco ngulo de Divergencia
accionados simultneamente. Haz Acstico
6
Paso Elevacin
D0
N
Campo Cercano Campo Lejano
los elementos;
Generacin de distintos
haces snicos.
Arreglo de fase - Calibraciones
Retrasos en la cua
20mm
Cada haz snico debe tener su
retraso ajustado.
SDH 3mm
Atenuacin snica en la
cua
5
[dB] ecos
-10
ser ajustada por haz snico.
Amplitudes
Grfico S-Scan
Arreglo de fase - Vistas
Grfico C-Scan
Registro de la amplitud y recorrido snico del eco ms intenso de
cada haz snico al largo del desplazamiento del palpador
Arreglo de fase - Vistas
Vista lateral
Escaneo electrnico
Inspeccione ms rpidamente un cierto volumen, tanto en las soldaduras como en materiales.
Enfoque electrnico
Concentre la energa de un haz snico en un punto especfico, aumentando el POD y
mejorando la relacin seal/ruido.
Registro permanente
Permite que datos de inspeccin sean grabados para una posterior revisin y evaluacin.
Inspeccin por arreglo de fase de
acuerdo a ASME Seccin V
Aclara para que sirven los requerimientos que exigidos en toda la Seccin
V;
E-Scan S-Scan
IV-410 ESCOPE
Las tcnicas cubiertas son: simple (ngulo
fijo), E-scan (ngulo fijo) y S-scan (varios
ngulos)
IV-420 GENERAL
Los requerimientos del Articulo 4 se aplican, excepto si modificados por
esto apndice.
Apndice Mandatorio IV
IV-422 WRITTEN PROCEDURE
REQUIREMENTS
IV-422.1 Requirements.
Los requerimientos de la tabla
T-421 y IV-422 deben ser aplicados
IV-460 CALIBRATION
IV-461 INSTRUMENT LINEARITY
CHECKS
IV-461.2Amplitude Control Linearity
Conforme apndice mandatorio II
Apndice Mandatorio IV
V-410 SCOPE
Describe los requerimientos para E-scan
(ngulo fijo) y S-Scan (variacin de
ngulos), con barrido lineal y registro con
encoder.
V-420 GENERAL
Los requerimientos del Articulo 4 se aplican, excepto si modificados por
esto apndice
Apndice Mandatorio V
V-421.1 Requirements.
Los requerimientos de la tabla
T-421 y V-422 deben ser aplicados.
V-421.2 Procedure Qualification.
Los requerimientos de la tabla
T-421 y V-422 deben ser aplicados.
V-460 CALIBRATION
V-461 INSTRUMENT LINEARITY
CHECKS
V-461.2Amplitude Control Linearity
Conforme apndice mandatorio II
(a) 0.04 pulgadas (1 mm) para materiales con espesor < 3 pulgadas (75 mm);
(b) 0.08 pulgadas (2 mm) para materiales con espesor 3 pulgadas (75 mm) .
VII-410 SCOPE
Describe los requisitos para realizacin de examen ultrasnico
automtico o semiautomtico cuyo criterio de aceptacin es basado en la
mano de obra (workmanship).
VII-420 GENERAL
Los requerimientos del Articulo 4 se aplican, excepto si modificados por
esto apndice
VII-421 WRITTEN PROCEDURE
REQUIREMENTS
VII-421.3 Written Procedure and Procedure
Qualification.
Los requisitos de la Tabla T-421 y Tabla VII-
421 deben ser aplicados.
Apndice Mandatorio VII Requisitos de Examen Ultrasnico para un
Criterio de Aceptacin Basado en la Mano de Obra ( Workmanship)
VII-430 EQUIPMENT
VII-431 INSTRUMENT REQUIREMENTS
La inspeccin ultrasnica debe ser hecha utilizando un sistema automtico o
semiautomtico, con adquisicin y anlisis de los datos basada en computadora.
La inspeccin para deteccin de reflectores transversales puede ser hecha
manualmente conforme T-472.1.3, a no ser que la Seccin de referencia del cdigo
especifique que debe ser hecha por el sistema automtico o semiautomtico.
VII-480 EVALUATION
VII-485 EVALUATION.
La evaluacin final de las fallas deben ser hechas despus que se ajuste los
parmetros de presentacin (contraste, brillo, etc.)
Apndice Mandatorio VII Requisitos de Examen Ultrasnico para un
Criterio de Aceptacin Basado en la Mano de Obra ( Workmanship)
VIII-486.2 Category.
Las fallas deben ser categorizadas como superficial o sub-superficial,
basado en la distancia de separacin en relacin a la superficie ms
cercana del componente.
(a) Superficial - Si el espacio es igual o inferior a mitad o menos de la
altura de la falla.
(b) Sub-superficial Si el espacio es mayor que mitad de la altura de
la falla.
Apndice Mandatorio VIII Requisitos de Examen Ultrasnico
para un Criterio de Aceptacin Basado en la Mecnica de la
Fractura
VIII-487 SUPPLEMENTAL MANUAL TECHNIQUES
Fallas detectadas durante la exploracin automtica o semiautomtica poden ser
evaluadas, caso aplicable, por una tcnica manual suplementar